「optical microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(24ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a confocal microscope capable of obtaining a confocal effect in all the directions in an observation image field by using a multi-pinhole array as an optical filtering element for obtaining the confocal effect.例文帳に追加

共焦点効果を得るための光学的フィルタリング素子としてマルチピンホールアレイを使用することにより、観察像面内のすべての方向について共焦点効果を得られる共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Since illumination light reaches a ceramic substrate 12a in an uppermost layer through the groove 19, a shadow boundary X' by an outer circumferential edge X of the ceramic substrate 12a in an uppermost layer can be observed by an optical microscope.例文帳に追加

照明光は溝１９を通って最上層のセラミック基板１２ａに達するから、光学顕微鏡で最上層のセラミック基板１２ａの外周縁Ｘによる陰影境界線Ｘ’を観察することができる。 - 特許庁

The camera port 50 is provided on an upper part of a microscope body 32 on the opposite side to the side on which the eye lens 39 is held as viewed from the optical axial direction of the light entering the lens barrel 38.例文帳に追加

そして、カメラポート５０は、鏡筒３８に入射する光軸の軸方向から見て、接眼レンズ３９が保持されている方向に対して反対側であって、顕微鏡本体３２の上部に設けられている。 - 特許庁

The operation microscope 100 has an observation light path 109 that passes through a microscopic imaging optical system including a microscopic main objective lens system 101 and a magnification system 108 with variable magnification.例文帳に追加

本発明は、顕微鏡主対物レンズ系１０１および拡大率を可変な拡大システム１０８を含む顕微鏡結像光学系を通る観察光路１０９を備える、手術用顕微鏡１００に関するものである。 - 特許庁

To provide a supporting device capable of easily making the optical axis (center of field) of an imaging means orthogonal to the turning shaft (center of turning) of a supporting member for supporting the imaging means, and a microscope equipped therewith.例文帳に追加

撮像手段の光軸（視野中心）と撮像手段を支持する支持部材の回動軸（回動中心）とを容易に直交させることが可能な支持装置およびそれを備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a method for determining the angle of incidence of the irradiating light to irradiate a portion in the vicinity of a tip of a probe to realize the high resolution and high contrast, and a scan near-field optical microscope.例文帳に追加

本発明は、高分解能及び高コントラストを実現可能としたプローブ先端近傍を照射する照射光の入射角度を決定する方法及び走査型近接場光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To perform X-ray analysis without requiring the move of a specimen or the aligning of an analysis object position accompanying the move of the specimen, as to X-ray analysis at an analysis position detected by an optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡によって検出した分析位置におけるＸ線分析において、試料の移動、および試料の移動に伴う分析対象位置の位置合わせを要することなくＸ線分析を行う。 - 特許庁

The bacteria measuring device 56 uses a CCD camera 60 with an optical microscope for observing bacterial threads deposited on a film 58 and uses an analyzer 62 for analysis to find the quantity and speed of the growth of the bacteria.例文帳に追加

細菌測定装置５６は、フィルム５８に付着した菌糸を、光学顕微鏡付きのＣＣＤカメラ６０で観察し、解析装置６２で解析することによって、細菌の成長量と成長速度を求める。 - 特許庁

The shape of the surface of a disk 10 is captured as an image due to interference by using a differential interference microscope constituted of an optical detection head 16 and an analyser 22 and this image is converted to an electric signal by a photodiode 28.例文帳に追加

光学検出ヘッド１６〜検光子２２で構成される微分干渉顕微鏡を用いてディスク１０表面の形状を干渉による画像として捕らえ、この画像をホトダイオード２８で電気信号に変換する。 - 特許庁

The positions relative to the developed images of both marks Mip and Mop are detected by a wafer alignment microscope and the image formation characteristics including various aberrations of the projection optical system are measured on the basis of the result of the detection.例文帳に追加

そして、現像された両マークＭｉｐ，Ｍｏｐの像の相対位置をウエハアライメント顕微鏡で検出し、その検出結果に基づいて投影光学系の諸収差を含む結像特性を計測する。 - 特許庁

The first blur image is an image of at least a part of the observation region of the sample, obtained by relatively moving an objective lens of a microscope and the sample along the optical axis direction of the objective lens.例文帳に追加

前記第１のぼやけ画像は、顕微鏡の対物レンズ及び試料を、前記対物レンズの光軸方向に沿って相対的に移動させて得られる、前記試料の少なくとも一部の観察領域の画像である。 - 特許庁

The two electron beams transmitting the sample at the same time are spatially separated and imaged by a second electron-beam biprism arranged in an imaging optical system to obtain two electron microscope images with different irradiation angles.例文帳に追加

この同時に試料を透過した２つの電子線を結像光学系に配置した第２の電子線バイプリズムにより空間的に分離して結像させ、照射角度の異なる２つの電子顕微鏡像を得る。 - 特許庁

A light-receiving diode 14 is provided in the lens-barrel 11 of an optical microscope 3 of the Vickers hardness tester 1 to detect the quantity of light, which is reflected at the surface of a sample and passes through an object lens 5 and through the lens-barrel 11.例文帳に追加

ビッカース硬さ試験機１の光学顕微鏡３の鏡筒１１内に受光ダイオード１４を設け、試料表面にて反射し、対物レンズ５を通過して鏡筒１１を通る光の光量を検出する。 - 特許庁

The illuminating optical system has a first lens group and a second lens group for forming an image of the field iris 124 on an object's region 108 via a microscopic main objective lens 101 of the operation microscope 100.例文帳に追加

照明光学系は、視野絞り１２４を手術用顕微鏡１００の顕微鏡主対物レンズ１０１を介して物体領域１０８へ結像する役目をする第１のレンズ群と第２のレンズ群を有している。 - 特許庁

The liquid permeable film has pores with 50μm-1mm film thickness and 1μm-10μm diameters and optical transparency observable by a microscope, is disposed on a solid medium such as an agar medium and used.例文帳に追加

上記液体透過性フィルムは膜厚が５０μｍ〜１ｍｍ、直径１μｍ〜１０μｍの孔を有し、顕微鏡観察が可能な光透過性であり、寒天培地のような固体培地上に配置して使用することができる。 - 特許庁

In the scattering near-field optical microscope, an excited laser beam is an ultraviolet/deep-ultraviolet laser beam and a metal is employed as a material for a probe end, the metal having dielectric constant of -2 or lower at the wavelength of the excited laser.例文帳に追加

散乱型近接場光学顕微鏡において、励起レーザー光が紫外・深紫外レーザー光であり、プローブ先端の材料に励起レーザーの波長で誘電率が−２以下である金属を採用する。 - 特許庁

To provide an electron gun capable of obtaining an electron beam with high luminance and high stability used for an electron beam and an electron beam apparatus or a vacuum tube, especially, electronic optical apparatuses such as an electron microscope and an electron beam drawing apparatus.例文帳に追加

電子線及び電子ビーム機器や真空管、特に、電子顕微鏡や電子ビーム描画装置等の電子光学機器に使用される、高輝度高安定性を有する電子ビームが得られる電子銃を提供する。 - 特許庁

To provide a method of analyzing a spin polarization in an optical column of a mapping electron microscope or in a beam outgoing port back part of an electron spectrometer, and to provide a suitable system in which the above method is performed.例文帳に追加

写像する電子顕微鏡の光学コラム内、または電子分光計のビーム出射口後部において、スピン偏極を分析するための方法と、その方法を実施するための適切なシステムを提供する。 - 特許庁

In this microscopic observation method of metallic soap particles in grease, the grease is sandwiched between the two transparent plates with a force having prescribed strength and observed by an optical microscope having differential interference or polarization function.例文帳に追加

グリース中の金属石鹸粒子の顕微鏡観察方法において、グリースを透明な２枚の板の間に所定の強度の力で挟み、微分干渉もしくは偏光機能を有した光学顕微鏡で観察する。 - 特許庁

Using a plurality of optical elements in a transmission electron microscope 500, an unscattered electron beam is adjusted to deflect to prevent incidence of the electron beam onto a contrast enhancing element 518 disposed in the diffraction plane.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡５００の複数の光学素子を用いることにより非散乱電子ビームを偏向して、回折平面に配置されたコントラスト向上素子５１８に該電子ビームが照射されないように調節する。 - 特許庁

In laser position regulation, an operator regulates a laser position regulating mechanism 27 so that laser spot is located in a proper position of the back surface of a cantilever 10 while observing the cantilever 10 through an optical microscope 29.例文帳に追加

また、レーザ位置調整時には、オペレータは、光学顕微鏡２９でカンチレバ１０を観察しながら、カンチレバ背面の適当な位置にレーザスポットが位置するように、前記レーザ位置調整機構２７を調整する。 - 特許庁

To provide a zoom lens that has a small size and a superior optical performance and that, while securing a working distance longer than that of a microscope, has the ability to continuously perform variable magnification from reduced magnification to unmagnification, and also to provide an image pickup unit.例文帳に追加

小型で良好な光学性能を有し、顕微鏡よりも長い作動距離を確保しつつ、縮小倍率から等倍率まで連続的に変倍できるズームレンズ、および撮像装置を提供する。 - 特許庁

To shorten an inspection time, to always allow the optical axis of a microscope to coincide with that of a transmission illumination part by positionally correcting the same at an arbitrary position and to hold the uniformity of luminous intensity at the time of microscopic observation.例文帳に追加

検査時間の短縮化が図れ、かつ、任意の位置で位置補正して、常に顕微鏡と透過照明部との光軸を一致させ、しかも顕微鏡による観察時における照度の均一性を保つ。 - 特許庁

In a device body comprising an analysis cell 1 and substrates 2A and 2B for supporting this, an excitation light source 3, a detection light source 4, and at least a part of a thermal lens microscope optical system are disposed integrally with each other.例文帳に追加

分析セル（１）とこれを支持する基板（２Ａ）（２Ｂ）とにより構成されるデバイス本体において、励起光源（３）、検出光源（４）および熱レンズ顕微鏡光学系の少くとも一部が一体配設されていること - 特許庁

This microscope system is equipped with a microscope mirror part 4 equipped with a stereomicroscope optical system for stereomicroscopically observing an operating part, an endoscope 18 performing the auxiliary observation of the dead angle of the mirror part 4 and an endoscope connection part 12 provided in the mirror part 4 and optically connecting the endoscope 18 to the mirror part 4.例文帳に追加

術部を実体観察するための実体顕微鏡光学系を備えた顕微鏡鏡体部４と、この顕微鏡鏡体部４の死角を補助観察する内視鏡１８と、顕微鏡鏡体部４に設けられてこの内視鏡１８を顕微鏡鏡体部４に光学的に接続する内視鏡接続部１２とを備えた手術用顕微鏡装置。 - 特許庁

Or, the gallium injected into the surface is crystallized and removed by a chelating agent which specifically couples with gallium by local heating by irradiation with proximity field light from a probe of a submerge proximity field optical microscope with addition of a chelating agent which specifically couples with gallium, or by local heating by allowing the heated probe of a submerge scanning probe microscope to approach the surface.例文帳に追加

もしくはガリウムと特異的に結合するキレート剤を添加した液中近接場光学顕微鏡の探針から近接場光を照射した局所過熱、または液中走査プローブ顕微鏡の加熱した探針を接近させた局所過熱により表面に注入されたガリウムを析出させ、ガリウムと特異的に結合するキレート剤で除去する。 - 特許庁

The problem to be solved is solved by this fiber illumination-type microscope system which is provided with a light source part, a microscope body having an objective lens, a single-core fiber for transmitting a light from the light source part, a mode scrambler for mode-scrambling the light incident into the fiber, and an illumination optical system for illuminating a sample with the emitted light from the fiber.例文帳に追加

光源部と、対物レンズを有する顕微鏡本体と、前記光源部からの光を伝達する単芯コアのファイバと、前記ファイバに入射した光に対してモードスクランブルをかけるモードスクランブラと、前記ファイバの出射光を標本に照明する照明光学系と、を備えるファイバ照明型顕微鏡システムにより、上記課題の解決を図る。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope that accurately specifies the measuring region of a sample having a minute pattern that cannot be observed easily by an optical microscope, is capable of alignment, and can correct measuring profile distortion caused by the variation of a probe shape or probe wear, based on the state of the probe shape and probe wear.例文帳に追加

光学顕微鏡では観察が困難であるような微細パターンを有する試料の計測領域を正確に特定し、位置合わせすることができ、探針形状および探針磨耗の状態に基づいて、探針形状のばらつき、もしくは探針磨耗に起因する計測プロファイル歪みの補正を行うことのできる走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The imaging device applied to imaging of the observed image by the microscope displays the focusing information of the image formed by the imaging device according to at least one state of the combinations of optical systems relating to at least objective lens (27) and photographic eyepiece (35a) on the microscope (1) side and a speculum method.例文帳に追加

顕微鏡による観察像の撮像に適用される撮像装置において、前記顕微鏡（１）側の少なくとも対物レンズ（２７）と写真接眼レンズ（３５ａ）の投影倍率に係る光学系の組み合わせ、及び検鏡方法の少なくとも１つの状態に応じて、前記撮像装置で撮像された画像の合焦情報を表示する。 - 特許庁

This method is applied for the scanning type probe microscope provided with a measuring part for measuring atomic force or the like as to the sample surface by scanning a sample 12 using a probe 25, a fine motion mechanism 24 for moving the probe finely, a prove approaching mechanism 11 for changing a space between the probe and the sample, the optical microscope 22, and a focusing driving mechanism 21.例文帳に追加

この焦点合せ方法は、探針２５で試料１２を走査して試料表面に関する原子間力等を測定する測定部と、探針を微動させる微動機構２４と、探針と試料の間隔を探針接近機構１１と、光学顕微鏡２２と、その焦点合せ用駆動機構２１を備える走査型プローブ顕微鏡に適用される。 - 特許庁

The immersion objective lens OL for a microscope is arranged on the object side in the observation optical system of a microscope and the surface of the lens OL closest to the object side is located in immersion liquid and used to emit an enlarged image of the object, wherein the lens surface closest to the object side of a lens L1 which is located closest to the object is formed concave with respect to the object.例文帳に追加

顕微鏡の観察光学系において物体側に配置され、最も物体側の面が浸液内に位置して物体の拡大像を出射する液浸系顕微鏡対物レンズＯＬにおいて、最も物体側に位置するレンズＬ１の最も物体側のレンズ面が物体側に凹面となるように形成される。 - 特許庁

An image 22 acquired by a laser microscope function part and a color image 23 acquired by an optical microscope function part are developed on a memory in a processor 4, addresses which should be stored in an image data file 24 are calculated from, for example, the size of each piece of image data by a CPU of the processor 4 and pieces of image data are sequentially stored in the addresses.例文帳に追加

レーザ顕微鏡機能部で取得した画像２２及び光学顕微鏡機能部で取得したカラー画像２３は、処理装置４内のメモリ上に展開され、処理装置４のＣＰＵによって、例えばそれぞれの画像データのサイズから画像データファイル２４内に格納すべきアドレスが算出され、そのアドレスに順次画像データを格納される。 - 特許庁

A microscopic observation method for observing an observation object by an optical microscope is provided for performing the steps including: a thin film-forming step of forming a thin film at least absorbing or scattering light on a surface of the observation object containing a plurality of types of constituent materials to thereby prepare an observation sample; and an observing step of observing the observation sample by the optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡によって観察対象物を観察するための顕微観察方法であって、複数種の構成材料を含む観察対象物の表面に少なくとも光を吸収又は散乱する薄膜を形成する薄膜形成工程を実施することにより観察用試料を作製し、さらに、該観察用試料を光学顕微鏡によって観察する観察工程を実施する顕微観察方法を提供する。 - 特許庁

The scanning laser microscope 100 is equipped with a stage 101 on which a specimen 105 is placed, a first scanning optical system A for scanning the specimen 105 placed on the stage 101 with a first light beam, a second scanning optical system B for scanning the specimen 105 placed on the stage 101 with a second light beam, and a detecting optical system C for obtaining the confocal scanning image.例文帳に追加

走査型レーザー顕微鏡１００は、標本１０５が載置されるステージ１０１と、ステージ１０１に載置された標本１０５に対して第一光ビームを走査する第一走査光学系Ａと、ステージ１０１に載置された標本１０５に対して第二光ビームを走査する第二走査光学系Ｂと、共焦点走査画像を得るための検出光学系Ｃを備えている。 - 特許庁

The stereoscopic microscope possesses the pair of the photographing optical systems separated by a prescribed base line length and forming the pair of images for the same observation object and a convergence prism 260 to guide the optical axis of each photographing optical system to right and left image pickup areas on the image pickup surface of a CCD 116 by respectively shifting in parallel in directions in which they approach with each other.例文帳に追加

立体顕微鏡は、所定の基線長に隔てられるとともに同一観察対象物に対する一対の像を形成する一対の撮影光学系と，各撮影光学系の光軸を互いに接近する方向に夫々平行にシフトさせてＣＣＤ１１６の撮像面上の左右の撮像領域に導く輻輳寄せプリズム２６０とを有している。 - 特許庁

The confocal microscope has the spectroscopic unit which spectroscopes an optical image outputted from the Nipkow disk system confocal scanner and performs multicolor observation of the sample, wherein the spectroscopic unit is provided with a plurality of spectroscopic means having the different reflection and transmission characteristics according to the spectroscopy for the optical image and an inversion means that inverts the optical image reflected by the spectroscopic means.例文帳に追加

ニポウディスク方式共焦点スキャナから出力される光学像を分光する分光光学ユニットを有し、試料の多色観察を行う共焦点顕微鏡において、 前記分光光学ユニットは、前記光学像を分光する反射透過特性の異なる複数の分光手段と、 これら分光手段で反射された光学像を反転させる反転手段と、を備えた構成とする。 - 特許庁

This scanning near-field optical microscope according to one embodiment includes means for illuminating a sample with light, scanning means for bringing a probe close to the sample and scanning the sample, a plurality of collecting optical systems with different optical axes for collecting the scattering light generated by the illumination, and a plurality of scattering light- detecting mechanisms set respectively the plurality of the collecting optical systems.例文帳に追加

本発明の一態様によると、試料に光を照射する手段と、試料にプローブを近接させ走査する走査手段と、照射により発生した散乱光を集光するもので、それぞれ、異なる光軸を持った複数の集光光学系と、前記複数の集光光学系にそれぞれ設けられた複数の散乱光検出機構とを有することを特徴とする走査型近接場光学顕微鏡が提供される。 - 特許庁

The method for making a preparation for an optical microscope for observation includes a process for bonding side edge parts of at least one side of a cover glass to the lower material by sealing a gap between them with at least one kind of a sealing material.例文帳に追加

試料を観察するための光学顕微鏡用プレパラートを作製する方法であって、以下：カバーガラスの少なくとも片面の辺縁部と下部材との間を、少なくとも一種のシーリング材で接着する工程、を包含する、方法。 - 特許庁

To provide a sample chamber which ensures an electron accelerating space, can easily adjust an optical position and makes exchange of a sample easy in a novel X-ray microscope that an X-ray image of the sample is converted to an electron image to observe it.例文帳に追加

試料のＸ線像を電子像に変換して観察する新規なＸ線顕微鏡において、電子加速空間を確保し容易に光学的位置調整ができさらに試料の交換を容易にする試料室を提供する。 - 特許庁

The optical microscope 100 has a ring diaphragm 14 through which illuminating light from a light source 11 is made to pass in an illumination part, and a light shielding ring 17 corresponding to the ring diaphragm 14 on the rear side focal plane of a dispersion objective lens 8.例文帳に追加

光学顕微鏡１００は、照明部に光源１１からの照明光を通過させるリング絞り１４を有し、分散対物レンズ８の後ろ側焦点面にリング絞り１４に対応する遮光リング１７を有する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope enabling a user to correct deviation between the optical axis of fluorescence and a detection-side pinhole without operating a tilt adjusting mechanism of a detection-side condenser lens every time a beam splitter is exchanged.例文帳に追加

ビームスプリッタの交換の度に使用者が検出側集光レンズのチルト調整機構を操作することなく、蛍光の光軸と検出側ピンホールとのずれを補正することができるコンフォーカル顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

A microscope for intraocular observation is designed to view an eyeball as an observation object, and includes an observation optical system for observing the interior of the eye illuminated with illumination light and a filter unit 15 mounted on the lower end of a lens barrel 16.例文帳に追加

眼球を観察の対象物とするとともに、照明光が照射された眼内を観察する観察光学系を備える眼内観察用顕微鏡であって、鏡筒１６の下端部に装着されるフィルタユニット１５を備える。 - 特許庁

The microscope includes a means for changing an aperture angle of an optical system by varying diameters of a plurality of convergence lenses and diaphragms to change the aperture angle α of an electron beam in accordance with a virtual field corresponding to a single pixel, which is called as a pixel size.例文帳に追加

複数の収束レンズ及び絞りの穴径を変化させることにより光学系の開き角を変化させる手段をもち、１画素に相当する視野範囲、いわゆる画素サイズに応じて電子ビーム開き角αを変化させる。 - 特許庁

To project images while maintaining the characteristics of an interchangeable lens and an intermediate when projecting the image of a CCD on the receiving surface of an CDD for instance by mounting the intermediate such as an interchangeable lens and an interference filter in an optical system such as a microscope.例文帳に追加

顕微鏡などの光学系に交換レンズと干渉フィルタのような中間物を装着し、ＣＣＤなどの受光部に物体像を投影するとき、交換レンズと中間物の特性、特徴を生かしたままで投影する。 - 特許庁

An image focusing optical system of the microscope image-focuses a measuring objective face of the measured object in an imaging system, and a regular reflectance (gloss value) of the light source is measured in every picture element by the image processing part, since the toner printed matter is expressed with a fine pattern.例文帳に追加

トナー印刷物は、微小パタンで表現されるため、顕微鏡である結像光学系が非測定物の測定対称面を撮像系に結像し、その像処理部で各画素ごとに光源の正反射率（グロス値）を測定する。 - 特許庁