「plane defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The beam F irradiates a sample LA placed on an analysis plane P_D and having a defect D_1.例文帳に追加

ビーム（Ｆ）は、解析平面（Ｐ_Ｄ）上で欠陥（Ｄ_１）を有したサンプル（ＬＡ）を照射する。 - 特許庁

A plane coordinate acquisition part 302 acquires plane coordinates of pixels showing the defect of the test object included in image data.例文帳に追加

平面座標取得部３０２は、画像データに含まれる検査対象の欠陥を示す画素の平面座標を取得する。 - 特許庁

After obtained ruggedness information of the recording medium plane is Fourier-converted, defect is detected.例文帳に追加

得られた記録媒体面の凹凸情報をフーリエ変換により処理した後、欠陥を検出する。 - 特許庁

On a picture plane of thumbnail display for a defect, an image most saliently showing the features of a defect is determined/displayed for each of defects from inspection information, the kind of defect, etc.例文帳に追加

欠陥のサムネイル表示画面において、検査情報や欠陥種類等から、欠陥毎にその欠陥の特徴を最も顕著に表すような画像を決定し、表示する。 - 特許庁

In particular, the micropipe defect and in-base-plane defect can be discriminated from other defects by using the classifying method.例文帳に追加

特に、本発明による分類方法を用いることにより、マイクロパイプ欠陥及び基底面内欠陥を他の欠陥から区別することが可能である。 - 特許庁

To provide a three-dimensional defect inspection apparatus which is an automatic defect inspection apparatus of a color filter substrate and is capable of performing extremely efficient defect inspection of a defect on the color filter substrate by performing not only area size determination of a plane but also simultaneously performing defect determination in a height direction.例文帳に追加

本発明はカラーフィルタ基板の自動欠陥検査装置で、前記カラーフィルタ基板上の欠陥を平面の面積サイズ判定だけでなく、同時に高さ方向の欠陥判定を行うことで、極めて効率のよい欠陥検査が行える立体欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

On a detailed display picture plane for a defect, images and displaying order of the images are determined/displayed for displaying so that the features of the defect are saliently shown based on the inspection information, the kind of defect, etc.例文帳に追加

また、欠陥の詳細表示画面において、検査情報や欠陥種類等を基に、その欠陥の特徴を顕著に表すように表示する画像やその画像の表示順序を定め、表示する。 - 特許庁

The kind of the defect is determined based on the acquired secondary electron image to display a wafer 18 in-plane distribution.例文帳に追加

取得した二次電子画像から欠陥の種類の判定を行ない、ウエハ１８面内分布を表示する。 - 特許庁

Consequently, in-plane unevenness is suppressed in all density regions and image quality defect (e.g. false contour line) caused by in-plane unevenness correction processing can be prevented from being actualized.例文帳に追加

これにより、全ての濃度領域における面内むらを抑制し、かつ、面内むら補正処理に起因する画質欠陥（擬似輪郭など）の顕在化を防止することができる。 - 特許庁

The control unit then determines defect according to a change in information of the relevant equal potential plane in the composite image for decision.例文帳に追加

そして、制御部が、判定用の合成画像における該当等電位面の情報の変化から欠陥を判定する。 - 特許庁

PHOTOGRAPHING METHOD OF CRYSTAL DEFECT HAVING IN-PLANE ORIENTED DISLOCATION LINE IN SINGLE CRYSTAL SAMPLE BY X-RAY TOPOGRAPH例文帳に追加

単結晶試料における面内配向した転位線を有する結晶欠陥のＸ線トポグラフによる撮影方法 - 特許庁

Successively, a control unit included in the defect correction device generates a composite image for decision by compositing the defect region image with an image including information of a relevant equal potential plane of the repeated pattern.例文帳に追加

続いて、欠陥修正装置が備える制御部が、その欠陥領域画像と繰り返しパターンの該当する等電位面の情報を含む画像とを合成して判定用の合成画像を生成する。 - 特許庁

To rapidly detect a solid form of a solid defect on plane of a paid-out workpiece by an image processing technique.例文帳に追加

繰り出されるワークの平面上の立体的な欠陥の立体形状を画像処理技術により高速で検出できるようにする。 - 特許庁

To provide a positioning device capable of preventing a positioning defect when positioning a workpiece mounted on a workpiece placing table by moving the workpiece in a plane direction.例文帳に追加

ワーク載せ台上に載せたワークを平面方向に移動して位置決めする際の位置決め不良を防止できる位置決め装置を提供する。 - 特許庁

This processing is implemented for the entire captured image plane of the inspected object, repeated patterns are removed, and only the defect region is extracted with sensitivity.例文帳に追加

この処理を被検査対象物を撮像画像の全面に施し、繰り返しパターンを除去し欠陥部分のみを感度良く抽出する。 - 特許庁

To provide an equipment for forming a phosphor plane of a cathode- ray tube capable of preventing an occurrence of a defect caused by a bounce of the phosphor on a panel 1.例文帳に追加

パネル１への蛍光体の跳ね返りに起因した欠陥の発生を防止できる陰極線管の蛍光面形成装置を提供する。 - 特許庁

A state plane including the defect ratio and the covering rate is set in an evaluation arithmetic means 4, and the quality of the inspection target is specified as a coordinate point on the basis of the defect rate and the covering rate after the measurement.例文帳に追加

そして、評価演算手段４において、不良比率と網羅率を含む状態平面を設定し、計測後の不良率及び網羅率に基づき検査対象の品質を座標点として特定する。 - 特許庁

To provide an antireflection film having a low refractive index layer excellent in strength and having a very low refractive index and causing no plane trouble (spot defect).例文帳に追加

強度が優れ、かつ屈折率が非常に低い低屈折率層を有して、面状故障（点欠陥）が発生しない反射防止膜を提供する。 - 特許庁

Here, a perfect crystal means a parallel-sided slab of defect-free crystalline material, which produces an ideal point diffraction pattern when illuminated by a plane wave. 例文帳に追加

ここで、「完全結晶」とは欠陥がない結晶性の平行平板を意味し、これは平面波で照らされるとき理想的な「点状の」回折図形を作る。 - 科学技術論文動詞集

In a defect detection apparatus 1, luminous flux from a light source part 11, a spot light source, is irradiated to the object plane 91 via a beam splitter 141 and a lens 142 as parallel light, and light reflected from the object plane 91 is condensed onto a condensing plane at which a pinhole plate 15 is positioned.例文帳に追加

欠陥検出装置１では、点光源である光源部１１からの光束がビームスプリッタ１４１およびレンズ１４２を介して平行光として対象面９１に照射され、対象面９１からの反射光がピンホール板１５が位置する集光面に集光される。 - 特許庁

When the cholesteric liquid crystal layer 20 to be inspected has a defect, the polarization state of light generates abnormality in the position where the defect is present on the plane of the cholesteric liquid crystal layer 20, which generates irregularity in brightness (in-plane distribution) of the illumination light L exiting from the second absorption type linearly polarizing layer 13.例文帳に追加

検査対象となるコレステリック液晶層２０に欠陥がある場合には、コレステリック液晶層２０の平面のうち欠陥が存在する箇所で光の偏光状態に異常が生じるので、第２の吸収型直線偏光層１３から出射した照明光Ｌに明暗の差（面内分布）が生じる。 - 特許庁

When the cholesteric liquid crystal layer 20 as the object has a defect, abnormality is generated in the polarization state of light at the spot where the defect is present on the plane of the cholesteric liquid crystal layer 20, and this generates difference in brightness (in-plane distribution) of the illumination light L emitted from the absorption type linearly polarizing layer 12.例文帳に追加

検査対象となるコレステリック液晶層２０に欠陥がある場合には、コレステリック液晶層２０の平面のうち欠陥が存在する箇所で光の偏光状態に異常が生じるので、吸収型直線偏光層１２から出射した照明光Ｌに明暗の差（面内分布）が生じる。 - 特許庁

When reading data recorded in DVD-RAM at the time of rewriting the data to DVD-RAM 130, a disk driver 121 generates defect information presenting the position of the defect or the like on the recording plane of the DVD-RAM.例文帳に追加

ディスクドライバ１２１は、ＤＶＤ−ＲＡＭ１３０に対するデータの書換時において、ＤＶＤ−ＲＡＭに記録されたデータを読み出すときに、ＤＶＤ−ＲＡＭの記録面上の欠陥位置等を示す欠陥情報を生成する。 - 特許庁

To provide a thin-film transistor capable of reducing a defect generated in a film of the thin-film transistor and also reducing variations in a defect generation position in a substrate plane, and to provide a display device using the same.例文帳に追加

薄膜トランジスタの膜中に発生する欠陥を低減させると共に、基板面内における欠陥発生位置のバラつきを低減させることが可能な薄膜トランジスタ及びそれを用いた表示装置を提供することである。 - 特許庁

To prevent a display defect caused by a change in characteristics of a thin film transistor and a display defect caused by a short circuit between a pixel electrode and a common electrode and to enlarge an aperture ratio, in an in-plane switching mode liquid crystal display.例文帳に追加

横電界方式の液晶表示装置において、薄膜トランジスタ特性の変化に起因する表示不良及び画素電極と共通電極との間のショートに起因する表示不良を防止し、さらに、開口率を大きくする。 - 特許庁

To provide a bent part manufacturing method to manufacture a bent part by bending in the plane parallel to its surface without generating a defect of crack, etc.例文帳に追加

亀裂などの不具合を発生させずに板材をその表面に平行な面内で曲げて曲げ加工品を製造する曲げ加工品製造方法を提供する。 - 特許庁

The fine pattern correcting device is provided for correcting a pattern defect part of a fine pattern provided on a plane substrate by applying correcting liquid with the coating stylus 13.例文帳に追加

この微細パターン修正装置は、平面基板上に設けた微細パターンのパターン欠陥部に塗布針１３によって修正液を塗布して修正するものである。 - 特許庁

A component of vapor deposition gas is accumulated at the detected defect place of the recording medium plane by introducing vapor deposition gas to the recording medium plane by a gas introducing means 9 irradiating the recording medium with electron rays, and a mark is formed.例文帳に追加

さらに、電子線を記録媒体に照射しながら、ガス導入手段９により記録媒体面に蒸着ガスを導入することにより、記録媒体面の検出された欠陥場所に蒸着ガスの成分を堆積させ、マークを形成する。 - 特許庁

To provide a gallium nitride substrate capable of reducing an abnormal growth of a compound semiconductor at a boundary part of a defect formed by a facet plane growth and a region formed by a C plane growth and to provide a manufacturing method of the gallium nitride substrate.例文帳に追加

ファセット面成長により形成された欠陥とＣ面成長により形成された領域との境界部における化合物半導体の異常成長を低減できる窒化ガリウム基板及び窒化ガリウム基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a nitride semiconductor apparatus having a nitride-gallium semiconductor layer having a growing main plane other than a c-face and having a flat plane and less crystal defect, and to provide a nitride semiconductor manufacturing method for forming such a nitride-gallium semiconductor layer.例文帳に追加

ｃ面以外の成長主面を持ち、平坦でかつ結晶欠陥が少ない窒化ガリウム半導体層を有する窒化物半導体装置およびそのような窒化ガリウム半導体層を形成するための窒化物半導体製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection apparatus capable of shortening an imaging tact as further as possible when detecting a defect in a plane display panel such as a liquid crystal panel in which pixels of a plurality of colors constituting a picture element are arranged in a matrix shape through pixel displacement.例文帳に追加

絵素を構成する複数色の画素がマトリクス状に配列された液晶パネルなどの平面表示パネルにおける欠陥を画素ずらしによって検出する場合に、撮像タクトを可及的に短縮することができる欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

An in-plane distribution display result of a defect or foreign matter on a sample surface and haze distribution display are comparatively displayed on the same screen, and those of inaccurate size and depth are colored and displayed in the distribution in a defect screen, so that the accurately measured defects are clearly displayed.例文帳に追加

欠陥または試料表面の異物の面内分布表示結果と、ヘイズ分布表示を同一画面で比較表示させ、さらに、欠陥面内分布内でサイズと深さの不正確なものを色をつけて表示し、正確に計測された欠陥を明示する。 - 特許庁

In the method for applying the defect correction and the calibration to image data (100) in the image system using a plane spatial optical modulator (146), a tone correction LUT (148') is applied to the image data (100) and the calibration correction is applied before the defect correction of using a defect map (122) and an associated gain table (124).例文帳に追加

面空間光変調器（１４６）を使う画像システムにおいて画像データ（１００）に欠陥修正及び較正を適用する方法であって、画像データ（１００）にトーン修正ＬＵＴ（１４８’）を適用し、欠陥マップ（１２２）及び関連する利得テーブル（１２４）を使う欠陥修正を適用する前に、較正修正を適用する。 - 特許庁

To provide a transmission line inspection system using an unpiloted plane capable of automatically inspecting whether a cap defect and a crack are caused in the insulator used in a transmission line.例文帳に追加

送電線に使用されている碍子に笠欠および亀裂が生じているか否かを自動的に点検することができる無人飛行体を用いた送電線点検システムを提供する。 - 特許庁

To provide a control method of a plane shape in a thick plate rolling by which the trouble of conveyance and defect in length which are caused by the generation of a crop are mostly prevented and yield is more improved.例文帳に追加

クロップの発生による搬送トラブルや長さ不良がほとんど無く、歩留りの一層の改善を図ることができる厚板圧延における平面形状制御方法を提供する。 - 特許庁

To enable a polishing pad to entirely satisfy the polishing rate, the in-plane uniformity of polishing rate, flattening property, defect characteristic, etc., when the pad is used for the chemical mechanical polishing of a film to be polished.例文帳に追加

被研磨膜に対して化学的機械研磨を行なう際に、研磨レート、研磨レートの面内均一性、平坦化特性及び欠陥特性等のすべてを満足できるようにする。 - 特許庁

The plane lighting device comprises a light guide plate 2, a light source (cold cathode tube) 3, a hot-side socket 4, a cold-side socket 5, an adjusting socket 6, a groove 7, a machine screw hole 8, a frame 9, a defect portion 9a, a reflector 10 and lead wires 11.例文帳に追加

導光板２、光源（冷陰極管）３、ホット側ソッケト４、コールド側ソッケト５、アジャストソッケト６、溝部７、ビス穴８、フレーム９、欠損部９ａ、リフレクタ１０、リード線１１。 - 特許庁

To provide a metal layered resin film for a plane antenna, with which a high-quality plane antenna can be obtained without incurring any defect such as peeling or pinhole in a portion constituting a circuit pattern even when providing a thick aluminum metal layer whose layer thickness is 1 μ or more.例文帳に追加

層厚１μ以上の厚いアルミニウム金属層を設ける場合であっても、回路パターンを構成する部分に剥がれやピンホールなどの欠点が発生することなく、良質な平面アンテナを得られる平面アンテナ用金属積層樹脂フィルムを提供すること。 - 特許庁

A plot controller stores two-dimensional defect position data as plot data produced by projecting a position of the micro-defect generated in the painted surface of the vehicle onto the horizontal or vertical two-dimensional projecting plane, retrieves the plot data sequentially, in response to switch operation and plots them on the painted surface of the vehicle.例文帳に追加

プロット制御部が、車両塗面に生じている微小欠陥位置を水平もしくは垂直の二次元投影面に投影した二次元の欠陥位置データをプロットデータとして格納し、スイッチ操作に応答して順にプロットデータを検索して車両塗面にプロットする。 - 特許庁

To provide an inspection method and device for a semiconductor device which can discriminate a defect position in the semiconductor device, even if it is the case where voltage is applied to a non-electrode plane which does not form an electrode of the semiconductor device, by using infrared ray irradiated to non-electrode plane or infrared ray radiated from non-electrode plane.例文帳に追加

半導体装置の電極を形成していない非電極面に電圧を印加する場合であっても、非電極面へ照射される赤外線、又は非電極面から放射される赤外線を用いて、半導体装置の欠陥部位を容易に判別できる半導体装置の検査方法、及び半導体装置の検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor substrate for suppressing the generation of any crystal defect in the case of creating a region having different crystal plane orientation on the substrate surface by using a semiconductor substrate where a semiconductor layer having the different crystal plane orientation is laminated.例文帳に追加

異なる結晶面方位を有する半導体層が積層された半導体基板を用いて、基板表面に異なる結晶面方位を有する領域を作成する場合に、結晶欠陥の発生を抑制することを可能にする半導体基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for modifying a silicon carbide single crystal substrate, by which the specific dislocation defect such as basal plane dislocation or spiral dislocation is reduced, and to provide an apparatus for modifying a silicon carbide single crystal substrate.例文帳に追加

基底面転位、螺旋転位などの特定の転位欠陥を低減させることができる炭化ケイ素単結晶基板の改質方法、及び炭化ケイ素単結晶基板の改質装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection method for easily detecting defects in an SOI substrate by performing etching while restraining deterioration in the surface roughness of a silicon film and uniformity in a film thickness within a plane.例文帳に追加

シリコン膜の表面粗さおよび面内の膜厚均一性の悪化を抑えながらエッチングすることで、ＳＯＩ基板の欠陥を検出容易にする、欠陥検出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method of cutting a heat development photosensitive material, inhibiting the peeling of a film in a cut plane and poor carriage in an exposure and development system, the defect of an image and the deposition of a peeled layer onto equipment resulting therefrom.例文帳に追加

切断面での膜剥がれやそれに起因する露光・現像系での搬送不良、画像欠陥、剥離層の機器への付着が抑えられる熱現像感光材料の切断方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for detecting the defect of a photovoltaic element module in which the defective part of a photovoltaic element having a protective layer on the plane of incident can be detected with high sensitivity from above the protective layer without removing it, and a method for repairing the defect of a photovoltaic element from above the protective layer.例文帳に追加

光入射面上に保護層を有する光起電力素子の欠陥部分を、保護層を除去せずに、保護層の上から感度良く検出できる光起電力素子モジュールの欠陥検出方法、及び保護層の上から修復できる光起電力素子の欠陥修復方法を提供する。 - 特許庁