「probe block」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The probe system is equipped with a probe block for integrally supporting a plurality of probes, a suspension block for supporting the probe block and a TCP connecting section for electrically connecting each probe of the probe block to a signal substrate on the probe base side.例文帳に追加

複数のプローブを一体的に支持するプローブブロックと、当該プローブブロックを支持するサスペンションブロックと、前記プローブブロックの各プローブとプローブベース側の信号基板とを電気的に接続するＴＣＰ接続部とを備えたプローブ装置である。 - 特許庁

SUPPORT FRAMES FOR FLAT PANEL DISPLAY OR PROBE BLOCK例文帳に追加

フラットパネルディスプレイ又はプローブブロックの支持枠体 - 特許庁

To provide a spring probe block assembly with a high cost-performance so as to mount an electrically common probe and an electrically separate probe within a probe block.例文帳に追加

電気的に共通のプローブおよび電気的に分離したプローブをプローブブロック内に設けるための、費用効率が高いバネプローブブロック組立体を提供する。 - 特許庁

The probe holding section is attached to the base block.例文帳に追加

そのベースブロックにはプローブ保持部が取付けられる。 - 特許庁

The spring probe block assembly includes an insulative housing.例文帳に追加

スプリングプローブブロックアセンブリは、絶縁性ハウジングを有する。 - 特許庁

ELECTRIC CONTACT, CONTACT BLOCK, HIGH-FREQUENCY PROBE, AND HIGH-FREQUENCY PROBE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

電気接触子、コンタクトブロック、高周波プローブ及び高周波プローブの製造方法 - 特許庁

A probe block 1a and a measuring instrument 2a are provided.例文帳に追加

プローブブロック１ａ及び測定器２ａが設けられている。 - 特許庁

Each contact probe 35 has conductivity, and each probe position regulation block is arranged oppositely to the main side surface of the contact probe 35.例文帳に追加

コンタクトプローブ３５は、導電性を有し、プローブ位置規制ブロックが、コンタクトプローブ３５の主側面に対向して配置される。 - 特許庁

PROBE BLOCK FOR INSPECTING LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE, AND ITS MANUFACTURE例文帳に追加

液晶表示装置検査用プローブブロック、及びその製造方法 - 特許庁

This probe unit 21 is equipped with a probe base 23 fixed to the body side, a probe block 24 for supporting a probe needle 80 on an accurate position in the mounted state on the probe base 23, and a lateral direction position adjusting mechanism 34 for positioning the probe needle 80 by adjusting the position of the probe block 24.例文帳に追加

本体側に固定されたプローブベース２３と、プローブベース２３に取り付けられた状態でプローブ針８０を正確な位置に支持するプローブブロック２４と、プローブブロック２４の位置を調整してプローブ針８０の位置決めをする横方向位置調整機構３４とを備えたプローブユニット２１である。 - 特許庁

This probe unit 21 is equipped with a probe base 23 fixed to the body side, the probe block 24 for supporting a probe needle 80 on an accurate position in the mounted state on the probe base 23.例文帳に追加

本体側に固定されたプローブベース２３と、プローブベース２３に取り付けられた状態でプローブ針８０を正確な位置に支持するプローブブロック２４とを備えたプローブユニット２１である。 - 特許庁

A probe embedding block 11b embeds a probe into a source program 21 on the basis of the ID correspondence table.例文帳に追加

プローブ埋め込みブロック１１ｂは、ソースプログラム２１に対し、ＩＤ対応テーブルに基づいてプローブを埋め込む。 - 特許庁

In this inspection device to be constituted, a test is performed by bringing the probe needle 13 of a probe block 12 into contact with the liquid crystal panel 5.例文帳に追加

液晶パネル５にプローブブロック１２のプローブ針１３を接触させて試験を行う検査装置である。 - 特許庁

The probe block 1a is connected to the measuring instrument 2a through a cable.例文帳に追加

プローブブロック１ａはケーブルを介して測定器２ａに接続されている。 - 特許庁

A probe block 23 is fixed to a block 24 for connection where a flexible substrate 32 is mounted, and an inspection tool 12 where wiring 14a for inspection whose tip section is composed of an inspection probe 14 is mounted is assembled to the probe block 23.例文帳に追加

フレキシブル基板３２が取り付けられた接続用ブロック２４にプローブブロック２３を固定し、プローブブロック２３に、先端部が検査用プローブ１４で構成される検査用配線１４ａが取り付けられた検査治具１２を組み付けた。 - 特許庁

A probe 2 is installed in cylindrical holding holes 12, 15 formed in an upper block 10 and a lower block 11.例文帳に追加

上ブロック１０及び下ブロック１１に形成された円筒状の保持孔１２，１５にプローブ２が装着される。 - 特許庁

The probe apparatus includes a probe block extended in a front-back direction, a flexible wiring sheet support attached to the lower side of a front part of the probe block and a wiring sheet supported on the lower side of the wiring sheet support.例文帳に追加

プローブ装置は、前後方向に延びるプローブブロックと、該プローブブロックの前部の下側に取り付けられた可撓性の配線シート支持体と、該配線シート支持体の下側に支持された配線シートとを含む。 - 特許庁

An anchor block 42 is placed on a surface to be measured, a gear ring 34 supported by a bearing 40 is meshed with a probe 14 on one end side of a rack 44, and the probe 14 moves along the probe anchor block 42.例文帳に追加

被測定面に固定台４２を置き、ラック４４の一端側にプローブ１４にベアリング４０で支持された歯車リング３４を噛みあわせ、プローブ１４をプローブ固定台４２に沿って移動する。 - 特許庁

To provide a spring probe block assembly for use in a high bandwidth application.例文帳に追加

高帯域幅アプリケーションで使用されるスプリングプローブブロックアセンブリを提供する。 - 特許庁

The adjustment mechanism includes a pair of adjustment bodies corresponding to each probe block.例文帳に追加

調整機構は、個々のプローブブロックに対応する一対の調整体を含む。 - 特許庁

In a state in which each contact piece is provided at the tip of a film type probe, the tip extends out from a probe block, and is freely flexible, the film type probe is supported by the probe block, and a pressing mechanism has a pressing face that comes into contact with the tip of the film type probe.例文帳に追加

フィルムタイププローブの先端部に各接触子が備えられると共に当該先端部がプローブブロックから延出して自由に撓み得る状態で当該フィルムタイププローブが上記プローブブロックに支持され、加圧機構が、上記フィルムタイププローブの先端部に接触する加圧面を有する。 - 特許庁

The measuring instrument 10 comprises: a body block 20; a both end contact-type multiple pin loop probe 30 mounted to a probe positioning block 24; and a relay unit 40.例文帳に追加

測定器具１０は、本体ブロック２０と、プローブ位置決めブロック２４に取り付けられた両端接触型の多ピンループプローブ３０と、中継ユニット４０とを備える。 - 特許庁

A probe group 11 is mounted on the tip of a support block 12, and receives a prescribed load by a movable part base 15 which is a load block of an upper block 13.例文帳に追加

プローブ群１１は支持ブロック１２の先端に装着され、上部ブロック１３の荷重ブロックである可動部ベース１５により所定の加重を受ける。 - 特許庁

The method of forming the probe array includes forming a layer of tip material 101 over a block of probe material 102.例文帳に追加

プローブアレイを形成する方法は、プローブ材料１０２のブロックにわたって先端部材料１０１の層を形成することを含む。 - 特許庁

To facilitate the confirmation for aligning the positions of respective electrodes when establishing contact of a probe block electrode with an electrode of a liquid crystal panel, in a probe block for an inspection probe device for inspecting the electric characteristics of the liquid crystal panel.例文帳に追加

液晶パネルの電気特性を検査する検査用プローブ装置のプローブブロックにおいて、プローブブロック電極と液晶パネルの電極とを接触させる際における相互の電極の位置合わせ確認を容易にする。 - 特許庁

The distance between the probe arranged at the lower pin block 40 and the upper pin block 42 and the probe arranged in the position adjustment block 48 is adjusted according to the distance between terminals arranged in two rows of the connector at a side to be inspected, thus fixing the position adjustment block 48.例文帳に追加

下ピンブロック４０と上ピンブロック４２に配設したプローブと、位置調整ブロック４８に配設したプローブの間の距離を、被検査側コネクタの２列に配列され端子間の距離に応じて調整して、位置調整ブロック４８を固定する。 - 特許庁

An ultrasonic transmitting probe 1a and an ultrasonic receiving probe 1b are held in a holder block 2 with a required space in the longitudinal direction.例文帳に追加

超音波送信用探触子１ａと超音波受信用探触子１ｂを、前後に所要間隔を隔ててホルダーブロック２に保持させる。 - 特許庁

The probe needle block 29 is equipped with a mounting locking part 83 for mounting/dismounting the probe needle block 29 by interfitting a mounding/dismounting handle 85 and taking the mounding/dismounting handle 85.例文帳に追加

プローブ針ブロック２９には、着脱用取っ手８５を嵌合して当該着脱用取っ手８５を持ってプローブ針ブロック２９を着脱させる装着用係止部８３を備えた。 - 特許庁

A probe control unit 142 chooses a measurement probe from the plurality of the probes depending on the size of the cell block, and the probe chosen is arranged on the selected cell block using image data of the semiconductor wafer.例文帳に追加

プローブ制御部142は、前記セルブロックの大きさによって前記複数の測定プローブから一つを選択し、前記半導体基板のイメージデータを用いて前記選択された測定プローブを前記選択されたセルブロック上に整列させる。 - 特許庁

A plurality of probes such as a probe 3 for signals, a probe 4 for the power source, and a probe 5 for grounding are provided in such a way as to pass through the metal block 1 so that tip parts of movable pins 11 may protrude to one surface side of the metal block 1.例文帳に追加

金属ブロック１の一面側に可動ピン１１の先端部が突出するように、信号用プローブ３、電源用プローブ４および接地用プローブ５など複数のプローブが、金属ブロック１を貫通して設けられている。 - 特許庁

The probe sheet body is fixed to the supporting surface and the stepped section of the block.例文帳に追加

前記プローブシート本体は、前記ブロックの前記支持面および前記段部に固着されている。 - 特許庁

The membrane probe card includes a pressure mechanism 20 having an upper-housing 30 and a support block 34.例文帳に追加

メンブレン・プローブ・カードは、上部ハウジング３０と支持ブロック３４とを有する圧力機構２０を含む。 - 特許庁

The semiconductor tester comprises a heat block 41 for keeping the probe needles 26 at the given inspection temperature when the probe needles 26 are in contact therewith.例文帳に追加

この半導体試験装置は、プローブ針２６を接触させてプローブ針２６を上記所定検査温度にするヒートブロック４１を備えている。 - 特許庁

A designated number of probe block electrodes 3 disposed vertically and horizontally are arranged on the respective transparent base plates 2 divided into plural parts and made adhere thereto to form a probe block 1 unit, and probe blocks 1 of the number corresponding to the side of a liquid crystal panel are combined.例文帳に追加

縦横に並べ配置するプロ−ブブロック電極３を複数に分割されたそれぞれの透明基板２に所定数並べて被着させユニット化されたプロ−ブブロック１にし、液晶パネルの大きさに応じてプロ−ブブロック１の数を組み合わせる。 - 特許庁

The movement quantity of the probe 12 at this time is calculated from the size of the center block gauge 78 and then the very thin diameter of the probe 12 can accurately be measured.例文帳に追加

この時のプローブ１２の移動量を、中央のブロックゲージ７８の寸法から減算すれば、極細のプローブ１２の径を正確に測定することができる。 - 特許庁

To provide a probe unit capable of simply and highly precisely adjust the direction of each probe block fitted to a frame, and excellent in workability.例文帳に追加

フレームに取り付けられた個々のプローブブロックの向きを簡単かつ精度よく調整することができ、作業性に優れるプローブユニットを得ることにある。 - 特許庁

Even if the forward contact section 36 is damaged by an accident or the like, only the multiple pin loop probe 30 is removed from the probe positioning block 24 for exchange.例文帳に追加

前方接触部３６が事故等で損傷しても、多ピンループプローブ３０のみをプローブ位置決めブロック２４から取外し交換することができる。 - 特許庁

Light is transmitted through the transparent base plates 2 to align the probe block electrodes 3 with an electrode 12.例文帳に追加

そして、透明基板２に光を透してプロ−ブブロック電極３と電極１２の位置合わせする。 - 特許庁

An input/output probe transmits a microwave signal, by connecting to a dielectric block plated with metal.例文帳に追加

入力／出力プローブは、金属メッキした誘電体ブロックに接続してマイクロ波信号を送信する。 - 特許庁

The inclination-absorbing means is constituted of a block lift mechanism 50 for supporting and moving the probe needle 7 up, down or, a probe block mount flexible part at a gate side or data side for integrally supporting the plurality of probe needles and changing a bend amount in accordance with a size of the stylus pressure of the probe needles.例文帳に追加

傾き吸収手段として、プローブ針７を支持して昇降させるブロック昇降機構５０、又は可撓性を有すると共に複数のプローブ針を一体的に支持し、プローブ針の針圧の大きさに応じて撓み量が変化するゲート側又はデータ側のプローブブロック取付部１０４，１０５によって構成した。 - 特許庁

To provide a probe block of a probe device for testing a liquid crystal panel, which facilitates alignment of a probe block electrode with an electrode, has high flexibility to cope with a difference in size of a liquid crystal panel and enables a test with reliability.例文帳に追加

液晶パネル検査用のプロ−ブ装置のプロ−ブブロックにおいて、プロ−ブブロック電極３と電極１２との位置合わせし易く、液晶パネル１１の大きさの違いがあっても対応できる汎用性が高く信頼性のある検査ができるようにする。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a probe carrier capable of dealing with various probe pitches without replacing an ink jet-type liquid discharge head (a block) for different probe pitches, to provide an apparatus used for the method and to provide the probe carrier manufactured by the method.例文帳に追加

異なるプローブピッチごとにインクジェット方式の液体吐出ヘッド（ブロック）を交換することなく種々のプローブピッチに対応できるプローブ担体の製造方法、それに用いる装置、および該方法によって製造されるプローブ担体を提供すること。 - 特許庁

The first probe pin 2 is fixed to a plate 6 via a first block 4, and the first block 4 can be attached to and removed from the plate 6.例文帳に追加

第１プローブピン２は第１ブロック４を介してプレート６に固定されており、第１ブロック４はプレート６に対して着脱可能になっている。 - 特許庁

The TCP connecting section has a connecting means which can be detachably attached to the signal substrate on the probe base side, and the TCP connecting section and the probe block are configured integrally and attached to/detached from the suspension block.例文帳に追加

前記ＴＣＰ接続部は、前記プローブベース側の信号基板に対して着脱可能な接続手段を備え、当該ＴＣＰ接続部と前記プローブブロックとが一体となって前記サスペンションブロックに対して着脱される。 - 特許庁

To provide a probe film for a probe block and a manufacturing method of the probe film, which are capable of effectively inspecting a display panel having micro electrodes arrayed with high density and capable of decreasing a pin miss in an inspection process.例文帳に追加

高密度に微細電極が配列されたディスプレーパネルを効果的に検査することができ、検査工程中のピンミスを減少させることができるプローブブロック用プローブフィルム、及びその製造方法を提供する。 - 特許庁