「reference-mark」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an image reader capable of correcting mark intervals of a reference pattern even when the mark intervals can not be accurately obtained.例文帳に追加

基準パターンにおけるマーク間隔を正確に得ることができない場合でも補正できる画像読み取り装置を提供する。 - 特許庁

(b) each reference in section 170 and 171 of the Act to a certification trade mark is taken to be a reference to a certification trade mark that is the subject of an IRDA or that is a protected international trade mark; and例文帳に追加

(b) 法律第170条及び第171条における証明商標についての各言及は、IRDAの対象であるか又は国際保護商標である証明保護商標についての言及であるとみなし、また - 特許庁

Section 41 (trade mark not distinguishing applicant’s goods or services) applies in relation to a collective trade mark as if a reference to the applicant were a reference to the members of the association that applied for registration of the collective trade mark. 例文帳に追加

第41条(出願人の商品又はサービスを識別しない商標)は，出願人への言及が団体商標登録を出願した団体の構成員への言及であるものとして，団体商標に適用する。 - 特許庁

To provide an apparatus for detecting an amount of positional shift, wherein detection accuracy of the amount of positional shift between a mark of a reference color and a mark of a color other than the reference color is improved using a mark of detecting the predetermined amount of positional shift.例文帳に追加

本発明は、所定の位置ずれ量検出マークを用いて、基準色マークとカラーマーク間の位置ずれ量の検出精度を高めた位置ずれ量検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a mark recognition device which can calculate an accurate reference point of an alignment mark even when the alignment mark includes a set of a plurality of marks.例文帳に追加

アライメントマークを複数のマークの集合体から構成した場合にも、アライメントマークの正確な基準点を算出することができる、マーク認識装置を提供する。 - 特許庁

To extract an alignment mark candidate becoming the reference of alignment of an FPD substrate surely, even when an alignment mark and a similar mark are attached to the FPD substrate.例文帳に追加

ＦＰＤ基板にアライメントマークと、これに類似するマークが付されている場合であっても、確実にＦＰＤ基板の位置合せの基準となるアライメントマーク候補を抽出する。 - 特許庁

With reference to the positioning mark 23 of an IC chip 20, a positioning mark 31 is formed on a core substrate 30 and a via hole 60 is made while matching with the positioning mark 31.例文帳に追加

ＩＣチップ２０の位置決めマーク２３を基準として、コア基板３０に位置決めマーク３１を形成し、該位置決めマーク３１に合わせてバイアホール６０を形成する。 - 特許庁

In another embodiment, the two reference mark tracks extended in parallel to a measuring direction have the reference marks respectively in at least one-reference positions, the reference marks are constituted to be mirror-symmetric with respect to one axis, and the incremental scale track is arranged between the reference mark tracks.例文帳に追加

別態様は、測定方向に平行に延びる２つの基準マークトラックがそれぞれ少なくとも１つの基準位置に基準マークを有し、基準マークが１つの軸に対して鏡面対称に測定方向に構成され、基準マークトラック間にインクリメンタル目盛トラックを配置する。 - 特許庁

To detect position data on a paper end and a reference mark without using a large-capacity memory.例文帳に追加

大容量のメモリを使用せずに紙端及び基準マークの位置データを検出すること。 - 特許庁

A reference mark is arranged on a substrate holding means for holding the processed substrate.例文帳に追加

前記被処理基板を保持する基板保持手段には基準マークが配置されている。 - 特許庁

A mask stage 14 has a mask stage reference mark 15, and supports a mask 30.例文帳に追加

マスクステージ１４は、マスクステージ基準マーク１５を備えると共にマスク３０を支持する。 - 特許庁

REFERENCE MARK STRUCTURE AND ITS MANUFACTURE, AND CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM USING THE SAME例文帳に追加

基準マーク構造体、その製造方法及びそれを用いた荷電粒子線露光装置 - 特許庁

To provide a method for correctly creating a reference mark model template of a circuit base material.例文帳に追加

回路基材の基準マークのモデルテンプレートを誤りなく作成し得る方法を得る。 - 特許庁

A position detection member 31 including a position reference mark 8 is fixed to the base member 1.例文帳に追加

支持部材１に位置基準マーク８を含む位置検出部材３１を固定する。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR RESTRICTING AND/OR INDICATING FAULT AT AUTOMOBILE REFERENCE MARK DETECTION例文帳に追加

自動車の基準マ—ク検出での傷害の抑制及び／又は指示用の装置及び方法 - 特許庁

In image formation in monochromatic image continuous formation, the reference mark detecting means 36 is turned OFF and after the image formation, the reference mark detecting means 36 is turned ON; and the intermediate transfer belt 2 is stopped at a specified position in response to the reference mark detection.例文帳に追加

また、単色画像連続形成時の画像形成中は基準マーク検出手段３６をＯＦＦにし、画像形成終了後は基準マーク検出手段３６をＯＮにし、基準マーク検出に基づき中間転写ベルト２を所定位置で停止させる。 - 特許庁

On an output unit as a touch panel, a mark representing a map image and a reference point is displayed.例文帳に追加

タッチパネルとしての出力部に地図画像と基準地点を表すマークを表示させる。 - 特許庁

REFERENCE HOLE BORING MACHINE, AND METHOD FOR ESTIMATING GUIDE MARK COORDINATES FOR MULTILAYER PRINTED CIRCUIT BOARD例文帳に追加

基準穴穴開け機、および、多層プリント配線板のガイドマーク座標値の推定法 - 特許庁

In this case, the reference mark comprises a structure having a scale period which varies in a locality.例文帳に追加

この場合、この基準マークは、場所で変化する目盛周期を有する構造から成る。 - 特許庁

A lens 41 is provided for adjusting the focusing of the camera 11 to the reference mark 10.例文帳に追加

この基準マーク１０に前記カメラ１１の焦点を合わせるレンズ４１を装備した。 - 特許庁

Therefore, the reference mark plates can be arranged in a small space on the substrate stage.例文帳に追加

このため、基板ステージ上の僅かなスペースに基準マーク板を設けることができる。 - 特許庁

In this printer, a reference mark is first recorded on each printing plate at a platemaking time.例文帳に追加

この印刷装置では、まず製版時には各印刷版に対し基準マークが記録される。 - 特許庁

Reference mark column having the front end and rear end edges equivalent to combination of the deflection volume with M stages is recorded similarly as the mark here and expectation data for performing the approximation analysis are acquired by reading the reference mark column similarly as in the case of the mark.例文帳に追加

ここで、Ｍ段階の偏倚量の組合わせに相当する前端及び後端エッジを有する基準マーク列を上記マークと同じように記録しておき、上記マークと同じようにして読取ることで近似解析を行うための期待値データを取得する。 - 特許庁

The reticle 20 and the reference treated substrate 30 are alignment with each other, so as to have the 3rd reference alignment mark 31 aligned with the 2nd reference alignment mark 21, the offset of the alignment is measured, and alignment is corrected.例文帳に追加

第２の基準アライメントマーク２１に第３の基準アライメントマーク３１を一致させるようにレチクル２０と基準処理基板３０との間でアライメントを行い、そのアライメントオフセットを測定し、アライメントを修正する。 - 特許庁

An encoding pattern is provided with a plurality of reference positions; each of plural marks is associated with one of the reference positions; and the value of each mark is determined from the position of the mark relative to the reference position.例文帳に追加

符号化パターンは、複数の基準位置を備えており、複数のマークのそれぞれが１つの前記基準位置に関連付けられ、前記各マークの値がその基準位置に対するその位置によって決定されている。 - 特許庁

Dummy patterns (patterns which are not used for measurement) 3 and 4 are formed inside and outside the reference pattern 11 as the reference mark 10.例文帳に追加

基準マーク１０として、基準パターン１１の内側と外側にダミーパターン（測定に使用しないパターン）３，４を形成する。 - 特許庁

The spectacle lens L has a reference mark 40, linearly provided continuously or intermittently, to show a reference line.例文帳に追加

眼鏡用のレンズＬは、基準線を示すように直線的に連続または断続的に設けられた基準マーク４０を有する。 - 特許庁

The reference plate 52 is equipped with a collation mark 60, which is linearly provided continuously or intermittently to show a reference line for lens shape processing of the holding tool 30 attached to the attaching part 51, which is the collation mark 60 for collating with the reference mark 40 of the lens L, by being transmitted through the reference plate 52.例文帳に追加

基準板５２は、取り付け部５１に取り付けられた保持具３０の玉型加工の基準線を示すように直線的に連続または断続的に設けられた照合マーク６０であって、基準板５２を透過してレンズＬの基準マーク４０と照合するための照合マーク６０を備えている。 - 特許庁

An exposure device 1 uses at least one alignment mark 45 formed on a mask M and comprises: a reference bar 51 having a plurality of reference marks 55 corresponding to the alignment mark 45 of each mask M; and at least one camera 59 for imaging the reference marks 55 of the reference bar 51, and the alignment mark 45 of the mask M.例文帳に追加

露光装置１は、マスクＭに少なくとも１つのアライメントマーク４５が形成されており、各マスクＭのアライメントマーク４５にそれぞれ対応する複数の基準マーク５５が設けられた基準バー５１と、基準バー５１の基準マーク５５とマスクＭのアライメントマーク４５とを撮像する少なくとも１つのカメラ５９と、を有する。 - 特許庁

A projecting mark 2 and a recessed mark 3 of the same shapes, which become the reference of the direction of a wafer, are formed on the same straight line on the wafer.例文帳に追加

ウェハ上にはウェハーの方向の基準となる同一形状の凸マーク２と凹マーク３が同一直線上に形成されている。 - 特許庁

When a first layer is exposed, reference mark detection is performed multiple times and a detected position and time are stored in a mark position storage section 54.例文帳に追加

第１層露光時に、複数回基準マーク検出を行ってその位置と検出時刻をマーク位置記憶部５４に記憶しておく。 - 特許庁

The owner of a registered mark may prevent traders from removing the reference to the mark from the product or its packaging.例文帳に追加

登録標章の所有者は，取扱業者が自己の標章を製品若しくはその容器から除去するのを阻止することができる。 - 特許庁

No offence is committed under section 19 of the Legal Profession Act by the use of the term trade mark attorney in reference to a registered trade mark agent. 例文帳に追加

商標代理人に関して，商標弁理士の用語を使用することは，弁護士法第19条に基づく犯罪とはならない。 - 特許庁

To shorten the depth of a printing apparatus to shorten a processing time in a printing apparatus aligning an alignment mark with the reference mark of a passbook.例文帳に追加

位置合せマークと帳票の基準マークを合わせる印字装置において、装置の奥行きを短くし、かつ処理時間を短縮する。 - 特許庁

(d) the reference in paragraph 187(c) of the Act to a trade mark that is not registered as a trade mark in the name of the applicant included a trade mark that is not a protected international trade mark held by the applicant; and例文帳に追加

(d) 出願人の名義で商標として登録されていない商標についての法律第 187条(c)における言及は、出願人が保有している国際保護商標でない商標を含むものとすること、及び - 特許庁

The planar reference board 71 is provided with an emissive opening mark 72, and a focal point correction mechanism for correcting the reference face is optically connected with the opening mark 72.例文帳に追加

その平面基準板７１に発光性の開口マーク７２を設け、その開口マーク７２に前記基準面の較正を行うための焦点較正機構を光学的に接続する。 - 特許庁

As a result, the positional relationship between the alignment mark on the wafer and the reference microscope can be known via the reference mark.例文帳に追加

他方のウェハに対しては、ウェハ上のアライメントマークとホルダ上の基準マークの位置位置関係を測定し、次いで、基準マークを測定用顕微鏡（基準顕微鏡との位置関係は既知）で検出する。 - 特許庁

(c) the reference in regulation 13.1 to the particulars of registration of the registered trade mark is taken to be a reference to the particulars of the protected international trade mark recorded in the Record of International Registrations.例文帳に追加

(c) 規則 13.1における登録商標の登録明細についての言及は、国際登録記録に記録されている国際保護商標の明細についての言及とみなす。 - 特許庁

(c) a reference to an association in whose name a collective trade mark is registered is taken to be a reference to the association that is the holder of the relevant protected international collective trade mark; and例文帳に追加

(c) 登録団体商標の名義人である団体についての言及は、関連する国際保護団体商標の名義人である団体についての言及であるとみなし、また - 特許庁

(2) Those subregulations apply for the purposes of this regulation as if a reference to the owner of the trade mark were a reference to the holder of the relevant IRDA or protected international trade mark.例文帳に追加

(2) これらの規定を、本条規則の適用上、登録所有者についての言及が関連するIRDA又は国際保護商標の名義人についての言及であるとして、適用する。 - 特許庁

The image-processing system (26) is further operable, to identify the reference mark in the image of the fringe pattern for constructing the shape of the object (12), based on the reference mark.例文帳に追加

画像処理システム（２６）はさらに、干渉縞パターンの画像内の基準マークを同定するように動作可能であり、この基準マークに基づき物体（１２）の形状を構築する。 - 特許庁

To provide a method of detecting a reference mark and a laser beam machine for printed boards wherein even when the surface of a Cu foil is black- treated, the reference mark can be surely identified.例文帳に追加

銅箔の表面が黒化処理されている場合であっても、基準マークを確実に判別することができる基準マークの検出方法およびプリント基板レーザ加工機を提供すること。 - 特許庁

The position of the reference mark in the photographed image is specified with a higher accuracy than photographing resolution by comparing the reference mark take in the photographed image with the plural mis-aligned marks.例文帳に追加

撮影画像に写った基準マークを複数のマークずれ画像と比較することにより、撮影画像中の基準マークの位置が撮影分解能より高い精度で特定される。 - 特許庁

The holder 10 has a reference mark which can be discriminated by the infrared detector 5, and the reference mark is moved on the same locus with the semiconductor wafer 1 by the rotation of the rotary base 2.例文帳に追加

ホルダ１０は、赤外線検出器５によって識別することができる基準マークを有し、基準マークは、回転台２の回転によって半導体ウエハ１と同じ軌跡上を移動する。 - 特許庁

Next, a sensor detects the reference mark on the continuous paper in conveyance (affirmative judgment at S106), and a timer starts measuring the elapsed time after the detection of this reference mark.例文帳に追加

次いで、搬送中の連続紙の基準マークがセンサによって検出され（Ｓ１０６で肯定判断）、この基準マークが検出されてから経過した時間がタイマによって計測開始される。 - 特許庁