「reference-mark」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

Further, when a monochromatic image is formed while held between a color image and a monochromatic image to form the color image and monochromatic image together, an image formation timing is generated in response to reference mark detection by the reference mark detecting means 36.例文帳に追加

また、カラー画像と単色画像を混載して形成する際のカラー画像／単色画像間に挟まれ形成される単色画像がある場合の単色画像形成時は、基準マーク検出手段３６の基準マーク検出に基づき画像形成タイミングを生成する。 - 特許庁

This system divides base material where reference marks 172 are equally provided into a plurality of image pickup ranges to image the image pickup ranges and respectively prepares correction tables 174 correcting the image deviation of each reference mark with respect to set mark coordinates preliminarily set in a virtual picture 162.例文帳に追加

基準マーク１７２が均一に設けられた基材を複数の撮像範囲に分けて撮像し、仮想画面１６２に予め設定された設定マーク座標に対する各基準マークの像のずれを補正する補正テーブル１７４をそれぞれ作成する。 - 特許庁

Upon the publication of a registered trade mark in a reference book, manual, textbook, professional journal or other publication, including electronic publications, the author and publisher shall ensure that the trade mark has the registered trade mark symbol next to it if the proprietor of the trade mark so requests. 例文帳に追加

登録商標を参考書，便覧，教科書，専門雑誌その他の出版物(電子出版物を含む)に掲載するときは，著者及び出版者は，当該商標の隣に登録商標符号が付されているようにしなければならない。ただし，商標所有者がそのように請求することを条件とする。 - 特許庁

When the mark is detected (S4: Yes), the difference between a predetermined reference position and the position of an actual mark detected by the optical sensor is used as a correction quantity to correct a printing position (S12).例文帳に追加

マークが検出された場合には（Ｓ４：ＹＥＳ）、予め定められた基準位置と、光学センサによって検出された実際のマークの位置との差分を補正量として、印刷位置を補正する（Ｓ１２）。 - 特許庁

In a backside illumination type solid state image sensor, an alignment mark (a polysilicon layer 9 of a predetermined shape) is formed on the surface of a substrate with reference to an alignment mark identical to that for a light-receiving sensor 4.例文帳に追加

裏面照射タイプにおいて、受光センサ４に対するアライメントマークと同一のアライメントマークを基準として基板表面に位置合わせ用マーク（所定形状のポリシリコン層９）形成する。 - 特許庁

(d) each reference in subparagraphs 44(1)(a)(ii) and (2)(a)(ii) to a trade mark whose registration is being sought by another person included a trade mark in respect of which the extension of protection to Australia is being sought by another person.例文帳に追加

(d) 法律第 44条(1)(a)(ii)及び(2)(a)(ii)における他の者が登録を求めている商標についての各言及は、他の者がオーストラリアへの保護の拡張を求めている商標を含むものとする。 - 特許庁

A property file generating part 301 generates a property tile having mark entry with attribute information of the animation contents and file entry with reference information to the play list file, for each play list mark.例文帳に追加

プロパティファイル生成部３０１は、プレイリストマーク毎に動画像コンテンツの属性情報を有するマークエントリと、プレイリストファイルへの参照情報を有するファイルエントリとを有するプロパティファイルを生成する。 - 特許庁

A positioning mark 31 is formed on a core substrate 30, and a via hole 60 for a connection with a pad 24 of an IC chip 20 is formed on an inter-layer resin insulating layer 50 on the basis of the positioning mark 31 as a reference.例文帳に追加

コア基板３０に位置決めマーク３１を形成し、該位置決めマーク３１を基準としてＩＣチップ２０のパッド２４への接続用バイアホール６０を層間樹脂絶縁層５０に形成する。 - 特許庁

To provide a fixture for body to be drawn, enabling positioning of an accurate and a quick drawing pattern to a mark that is a reference.例文帳に追加

基準となるマークに対する正確かつ迅速な描画パターンの位置決めを可能にする被描画体用の治具を提供とする。 - 特許庁

To easily perform post-processing, such as folding or cutting, and to prevent the deterioration of appearance due to remaining of a reference mark for the post-processing.例文帳に追加

折りや断裁等の後処理を容易に行い、かつ、後処理用の基準マークが残存することによる見栄えの悪化を防止する。 - 特許庁

The deviation associated value is determined from image data obtained by imaging the reference mark at the component mounting part of the substrate carried onto a thermocompression table 14.例文帳に追加

圧着台１４上に搬入された基板の部品実装部の基準マークを撮像した画像データから偏差関連値を求める。 - 特許庁

Moreover, the storage device is configured so as to stop a reference clock or change the interval when the servo mark detection timing is changed.例文帳に追加

また、サーボマーク検出タイミングの変更をおこなう場合に、基準クロックの停止あるいは間隔変更をおこなうよう構成する。 - 特許庁

A first distance d of the lateral registering mark 13 of a plate cylinder 12 is calculated about the frame 11a of a first printing unit 11 as a reference.例文帳に追加

第１の印刷ユニット１１のフレーム１１ａを基準として版胴１２の横見当マーク１３までの第１距離ｄを求める。 - 特許庁

Each calibration mark PRM on a reference wafer SW includes a first pattern and a second pattern each having a predetermined width and crossing perpendicularly to each other.例文帳に追加

基準ウエハＳＷ上の各較正用マークＰＲＭは、所定幅を有し、直交する第１パターンと第２パターンとを含んでいる。 - 特許庁

A deviation amount from an ideal state of the reference mark 116 is measured from the image, and is corrected by adjustment of a primary electron optical system 108 and the like.例文帳に追加

この画像から、基準マーク116の理想状態からのずれ量を計測し、一次電子光学系108他の調整によって補正する。 - 特許庁

(d) to an applicant for registration of a trade mark is taken to be a reference to the holder of an international registration designating Australia; and例文帳に追加

(d) 商標登録出願人についてのものは、オーストラリアを指定する国際登録の名義人についての言及であるとみなし、また - 特許庁

The EUV mask having a multilayer film and an absorber pattern is placed on a mask stage, and the position of a reference mark is detected (step S101).例文帳に追加

多層膜と吸収体パターンとを有するＥＵＶマスクをマスクステージに載置し、基準マークの位置を検出する（ステップＳ１０１）。 - 特許庁

The lens holder 12 is provided with a hole 28 to observe the position of the mark when it is fitted to the reference lens.例文帳に追加

レンズホルダ１２には、基準レンズに取り付けられたときに上記印の位置を観察できるように中空状孔２８が施される。 - 特許庁

The phase detection projection is thus detected as a phase reference (Step S3), and a phase detection mark is formed (Step S4).例文帳に追加

これによって位相基準となる位相検出用突起が検出され（ステップＳ３）、位相検出用マークの形成が行われる（ステップＳ４）。 - 特許庁

To conduct working of a flange molding unit and working of a mark molding unit in the same process by deteriorating no surface accuracy of a reference surface.例文帳に追加

基準面の面精度を劣化させることなく、かつフランジ成形部の加工と、マーク成形部の加工とを同一工程で行なう。 - 特許庁

The reference image 112 has an ultrasonic image 114 and a mark (diagnosing support information) 116 indicating the part with the possibility of abnormality.例文帳に追加

参照画像１１２は超音波画像１１４と異常の可能性がある部位を表すマーク（診断支援情報）１１６とを有する。 - 特許庁

The system comprises a projection system (14), operable to project a fringe pattern (18) having a reference mark onto the object (12).例文帳に追加

このシステムは、基準マークを有する干渉縞パターン（１８）を物体（１２）上に投影するように動作可能な投影システム（１４）を備える。 - 特許庁

The imprint device comprises a support for holding a mold on which a reference mark is formed, a substrate stage which holds a substrate having a first mark and a second mark formed in each shot region, and a detector which measures the relative position between the shot regions by detecting the first and second marks formed in each shot region and the reference mark formed on the mold.例文帳に追加

インプリント装置は、基準マークが形成されたモールドを保持する支持体と、各ショット領域に第１マーク及び第２マークが形成された基板を保持する基板ステージと、前記各ショット領域に形成された前記第１マーク及び前記第２マークと前記モールドに形成された前記基準マークとを検出することによって前記各ショット領域間の相対位置を計測する検出器とを備える。 - 特許庁

To fix a device substrate reliably without using any pressure-sensitive adhesive tapes; to enable positioning with an alignment mark as a reference; and to improve yields, in a dicing method or the like for positioning the device substrate where a plurality of devices are fabricated and the alignment mark for positioning is formed, with the alignment mark as a reference for dicing.例文帳に追加

本発明は、複数のデバイスが作り込まれるとともに位置決め用のアライメントマークが形成されたデバイス基板を、アライメントマークを基準に位置決めしてダイシングするダイシング方法等に関し、デバイス基板を粘着テープを用いずに確実に固定するとともに、アライメントマークを基準にした位置決めを可能とし、さらに歩留まりを向上させる。 - 特許庁

Subject to this Part, the provisions of this Act (other than subsection 20 (1), paragraph 27 (1) (b), sections 41 and 59, sections 121 and 127, Part 9 - Removal of trade mark from Register for non-use and Part 16 - Certification Trade Marks) apply to defensive trade marks and so apply as if a reference to a trade mark included a reference to a defensive trade mark. 例文帳に追加

この部に従うことを条件として，本法の規定(第20条 (1)，第27条 (1) (b)，第41条，第59条，第121条，第127条，第9部－不使用による商標の登録簿からの抹消，及び第16部－証明商標，を除く)を防護商標に適用するものとし，適用に際しては，商標への言及は防護商標への言及を含んでいるとみなす。 - 特許庁

In relation to a collective mark, the reference in section 3(1) of this Ordinance (meaning of “trade mark”) to distinguishing goods or services of one undertaking from those of other undertakings shall be construed as a reference to distinguishing goods or services of members of the association which is the owner of the collective mark from those of other undertakings. 例文帳に追加

団体標章に関しては，本条例第3条(1)(「商標」の意味)における1事業の商品又はサービスを他の事業の商品又はサービスから識別することへの言及は，団体標章の所有者である団体の構成員の商品又はサービスを他の事業の商品又はサービスから識別することへの言及と解釈する。 - 特許庁

Each mask M is aligned to the reference bar by displacing each mask holding part 11 to a predetermined position, based on relative position information read by the camera 59, between the reference marks 55 of the reference bar 51 and the alignment mark 45 of the mask M.例文帳に追加

カメラ５９が読み取った、基準バー５１の基準マーク５５と、マスクＭのアライメントマーク４５と、の相対的な位置情報に基づいて、各マスク保持部１１を所定の位置に変位させることによって各マスクＭを基準バーに対してアライメントする。 - 特許庁

The board support device supports a reference printed board 12, and the position of a center of imaging by a camera 190 when the center of a reference mark of the printed board 12 meets the center of imaging by the camera 190 is obtained as a reference position of the board support device.例文帳に追加

基準となるプリント基板１２を基板支持装置に支持させ、そのプリント基板１２の基準マークの中心とカメラ１９０の撮像中心とが一致した場合の撮像中心の位置を基板支持装置の基準位置として取得する。 - 特許庁

When performing alignment using the reference plate SP and the reference mark FM, a correction optical element G2 having thickness equal to the sum of thickness of the optical element G1 and the pellicle is interposed between the reference plate SP and the projection optical system 13.例文帳に追加

基準プレートＳＰと基準マークＦＭとを用いて位置合わせを行なう際には、基準プレートＳＰと投影光学系１３との間に、光学素子Ｇ１とペリクルの厚みの和に等しい厚みを有する補正用光学素子Ｇ２を介在させる。 - 特許庁

Time taken for mark detection sensors 520A and 520B to detect reference marks M1 and M2 from the time when an exposure section 430K starts writing the reference marks M1 and M2 on a photoreceptor 410K are clocked for the reference marks M1 and M2.例文帳に追加

露光部４３０Ｋによって感光体４１０Ｋに基準マークＭ１、Ｍ２の書込が開始された時からマーク検知センサ５２０Ａ、５２０Ｂによって基準マークＭ１、Ｍ２が検知された時間を基準マークＭ１、Ｍ２について各々計測する。 - 特許庁

In a sensor unit 3 of a reticle carrying device as a mask carrying device, drawing error of a pattern is estimated in advance by matching a reticle R mechanically with a predetermined reference in terms of an outer shape reference using a reference member 32, and measuring a mark RM of the reticle R.例文帳に追加

レチクル搬送装置のセンサユニット３において基準部材３２を用いてレチクルＲを外形基準で機械的に所定の基準に整合させて、レチクルＲのマークＲＭを計測することによりパターンの描画誤差を求めておく。 - 特許庁

A control section regards the reference hole for NC perforation pierced at the printed circuit board as the reference hole HH common to the front and the rear and aligns the mask MS for the front surface and mark MB for the rear surface of the mask films to the reference hole HH common to the front and the rear.例文帳に追加

制御部は、プリント基板に穿設されたＮＣ穴あけ用基準穴を表裏共通基準穴ＨＨと看做し、その表裏共通基準穴ＨＨにマスクフィルムの表面用マークＭＳおよび裏面用マークＭＢを位置合わせする。 - 特許庁

Each of the image position measuring devices 30, 50 is equipped with a photographing means 38 to photograph a reference mark M formed on a work piece 60, wherein the photographing means 38 comprises one-dimensionally arrayed image pickup elements 38A to photograph the reference mark M as divided in a scanning direction.例文帳に追加

ワーク６０に形成された基準マークＭを撮影する撮影手段３８を備えた画像位置計測装置３０、５０において、１次元に配列された撮像素子３８Ａで撮影手段３８を構成し、基準マークＭを走査方向に分割して撮影する。 - 特許庁

For defining a two-dimensional coordinate position of the printed wiring board face on which the component is to be installed, a size of a solder resist film opening 5 constituting a reference mark recognized by picture recognition technology of a component automatic installation machine is formed to be smaller than an external size of reference mark copper foil 3a.例文帳に追加

部品が装着されるべき印刷配線基板面の二次元座標位置を定義するために、部品自動装着機の画像認識技術により認識される基準マークを構成する半田レジスト膜開口部５の寸法を、基準マーク用銅箔３ａの外形寸法より小さく形成する。 - 特許庁

In the case of forming an image of A4 size, the image forming device makes the toner image on a first side being formed on a photoreceptor 11 transferred on the intermediate transfer belt 21 in making the first reference mark detected by the mark signal as reference.例文帳に追加

Ａ４サイズの画像を形成する場合に、中間転写ベルト２１上の第１の基準マーク２７ａを第１の基準位置センサ２５ａで検知したマーク検知信号を基準にして感光体１１に形成された１面目のトナー像を中間転写ベルト２１に１次転写する。 - 特許庁

In correspondence to that ID code, inherent information of the circuit board 52, e.g. relative position of the reference mark 266 of each child substrate part 260 to the reference mark 262 of the entire circuit board 52, is stored in the computer, or the like, in a system controller.例文帳に追加

その識別コードと対応付けて、回路基板５２全体の基板位置基準マーク２６２に対する各子基板部２６０の子基板位置基準マーク２６６の相対位置等、回路基板５２に固有の情報である固有情報をシステム制御装置のコンピュータ等に記憶させる。 - 特許庁

A sensor 70 photoelectrically converts the reflected light from the reflection mark for reference position detection which is provided to the transfer belt and the position where a peak value of the photoelectrically converted signal is detected is set as a positioning reference point as the center position of the reflection mark.例文帳に追加

この発明は、転写ベルトに設けられている基準位置検知用の反射マークからの反射光をセンサ７０により光電変換し、その光電変換した信号のピーク値を検出した位置を反射マークの中央位置として位置決めの基準点とするようにしたものである。 - 特許庁

To provide a lens manufacturing system capable of precisely and quickly detecting a provisional reference mark and a reference mark provided in different positions, in which both a lens for glasses with two lens sides processed and a lens with its single side processed are easily manufacturable by the same manufacturing line.例文帳に追加

異なる位置に施された仮基準マークと基準マークをそれぞれ精度良く短時間に検出可能にし、両側レンズ面が加工されて得られる眼鏡レンズと、片側レンズ面が加工されて得られる眼鏡レンズとを、同一の製造ラインで容易に製造することを可能にする。 - 特許庁

For example, a reference mark given to the component imaging device 316 is imaged by the substrate imaging device 314 or the reference mark of the mounting device 310 is imaged by the component imaging device 316 in order to detect the relative positioning error between the mounting device 310 and component imaging device 316.例文帳に追加

例えば、部品撮像装置３１６に付された基準マークを基板撮像装置３１４により撮像し、あるいは、装着装置３１０の基準マークを部品撮像装置３１６により撮像して、装着装置３１０と部品撮像装置３１６との相対位置誤差を検出する。 - 特許庁

On a reference mark plate FM, four reference marks WM_1, WM_2, WM_3, WM_4 for measuring the base line of an alignment system ALG are disposed in such a layout that the mean position of these marks aligns with the position of a measuring pattern ST for detecting a reticle alignment mark RM.例文帳に追加

基準マーク板ＦＭには、アライメント系ＡＬＧのベースライン計測用の４つの基準マークＷＭ_１，ＷＭ_２，ＷＭ_３，ＷＭ_４の平均位置が、レチクルアライメントマークＲＭを検出する計測用パターンＳＴの位置と一致するような配置で形成されている。 - 特許庁

(b) a protected international trade mark; as if the reference in subsection 217A(1) to the time particulars of the application for registration of the trade mark are published under section 30 were a reference to the time of inclusion of the particulars of the IRDA in the Record of International Registrations under subregulation 17A.66(2).例文帳に追加

(b) 国際保護商標、に関連して、第 217A条(1)における第 30条に基づいて商標登録出願の明細が公告された時への言及が、規則 17A.66(2)に基づいて国際登録記録にIRDAの明細が含まれた時への言及であるものとして、適用する。 - 特許庁

In relation to a collective mark, the reference in subsection (1) of section 4 to distinguishing goods or services of one undertaking from those of other undertakings shall be construed as a reference to distinguishing goods or services of members of the association which is the proprietor of the mark from those of other undertakings. 例文帳に追加

団体商標に関して，第4条でいう1つの事業の商品又はサービスを他の事業の商品又はサービスと区別することとは，当該標章の権利者である団体の構成員の商品又はサービスをその他の事業の商品又はサービスと区別することをいうものと解される。 - 特許庁

In relation to a collective mark the reference to clause (zb) of sub-section (1) of section 2 to distinguish the goods or services of one person from those of others shall be construed as a reference to distinguish the goods or services of members of an association of persons which is the proprietor of the mark from those of others. 例文帳に追加

団体標章に関して，ある者の商品又はサービスを他人のそれらから識別する旨の第2条(1)(zb)の言及は，商標の所有者である団体の構成員の商品又はサービスを他人のそれらから識別する旨の言及と解釈する。 - 特許庁

In an image forming part 50 of the image forming apparatus, in the case of forming a normal image, a reference mark provided at a prescribed position of an intermediate transfer belt 511 is detected by a reference mark sensor 517, then, a primary transfer from a photoreceptor drum 501 is performed, based on the detection timing.例文帳に追加

画像形成装置の画像形成部５０においては、通常の画像を形成するときには、中間転写ベルト５１１の所定の位置に設けられた基準マークを基準マークセンサ５１７により検知し、この検知タイミングに基づいて感光体ドラム５０１からの一次転写を行っている。 - 特許庁

The image forming device is provided with a detecting means for detecting a fouling state of a transfer area of the visible image in the intermediate transfer body specified by each reference mark, and a setting means for setting the reference mark in the transfer area of the lowest fouling state onto the transfer start position.例文帳に追加

そして、各基準マークが特定する上記中間転写体における可視像の転写領域の汚損状態を検知する検知手段と、上記汚損状態の最も低い上記転写領域の上記基準マークを上記転写開始位置に設定する設定手段とを設ける。 - 特許庁