| 意味 | 例文 |
reference-markの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 966件
That is, each cutting reference mark 11 is positioned just above each reference hole 10.例文帳に追加
つまり、各切断基準マーク11は各基準孔10の直上に位置している。 - 特許庁
The positions of each inherent calibration mark and the common calibration mark are acquired by means of the reference mark camera of the first unit.例文帳に追加
第一ユニットの基準マークカメラにより1つずつの固有較正マークと共通較正マークとの位置を取得する。 - 特許庁
A mark reference program 22 receives control by the detection of a mark and extracts the digital watermark information from the mark image.例文帳に追加
マーク参照プログラム22は、マークの検出によって制御を受け、マーク画像から電子透かし情報を抽出する。 - 特許庁
The reference plate for irradiating the observational light to a reference mark pattern, detecting the light reflected by it, and obtaining the position of the reference mark pattern is set to a place, where the reference mark pattern is not exposed directly to the observational light.例文帳に追加
基準マークパターンに観察光を照射し、そこで反射された光を検出し、基準マークパターンの位置を求めるための基準プレートにおいて、基準マークパターンを観察光に直接曝されない位置に設ける。 - 特許庁
(a) the reference in section 35(4) of the Act to the registration of the trade mark shall be treated as a reference to the protection of a protected international trade mark (Singapore); and例文帳に追加
(a)商標法第35条(4)にいう商標登録は,保護国際商標(シンガポール)の保護として扱われる。及び - 特許庁
Also, a distance between the first reference position mark 41a and a second reference position mark 41b is measured by a second measuring means 82.例文帳に追加
さらに第1基準位置マーク41aと第2基準位置マーク41bとの距離を第2測定手段82により測定する。 - 特許庁
The position of the reference mark corresponding to the area to be machined is first measured, and positional information of the reference mark is stored.例文帳に追加
最初に加工すべき被加工領域に対応する基準マークの位置を計測し、基準マークの位置情報を記憶する。 - 特許庁
A reference mark BM is provided on the entrance part 24b of the mask mark detection microscope 24.例文帳に追加
また、基準マークBMをマスクマーク検出顕微鏡24の光入射部24bに配置する。 - 特許庁
A reference reticle having a 1st reference alignment mark is used to form a reticle 20 with a 2nd reference alignment 21 identical with the 1st reference alignment mark.例文帳に追加
アライメント方法において、まず第1の基準アライメントマークを有する基準レチクルから第1の基準アライメントマークと同一の第2の基準アライメントマーク21を有するレチクル20を形成する。 - 特許庁
By a punch reference mark adding control means 1262, the printing plate, including a punch reference mark P, is formed on the basis of printing plate data in which the punch reference mark data are added to corrected printing data.例文帳に追加
パンチ基準マーク付加制御手段1262により、補正後の印刷用データにパンチ基準マークデータが付加された印刷版データに基づいてパンチ基準マークPを含む印刷版が形成される。 - 特許庁
A reference mark detection section 272 detects the position of an intersection P corresponding to a reference mark (rm) included in the printed matter image data.例文帳に追加
基準マーク検出部272は、印刷物画像データに含まれる基準マークrmに対応する交点Pの位置を検出する。 - 特許庁
A reference mark detection section 272 detects a reference mark rm relative to the printing matter image data Dpd and generates its position data.例文帳に追加
基準マーク検出部272は、印刷物画像データDpdに対して基準マークrmを検出し、その位置データを生成する。 - 特許庁
(b) a reference to an application for the registration of a collective trade mark is taken to be a reference to an IRDA in respect of the collective trade mark; and例文帳に追加
(b) 団体商標の登録出願についての言及は、団体商標に関する IRDAについての言及であるとみなし、また - 特許庁
The difference between the stop start- time reference mark and the stop end-time reference mark is the service stop continuation time for the data cell stream.例文帳に追加
停止開始時間順基準標識と停止終了時間順基準標識の差が、データセルストリームのサービス停止継続時間になる。 - 特許庁
Reference mark image data (reference image data) representing a mark is acquired from drawing data to be drawn on the drawing screen, and picked-up mark image data (picked-up image data) are acquired, and template data are generated on the basis of the reference mark image data (reference image data) and the picked-up mark image data (picked-up image data).例文帳に追加
描画面に描画すべき描画データからマークを表す基準マーク画像データ(基準画像データ)を取得するとともに、撮像マーク画像データ(撮像画像データ)を取得し、基準マーク画像データ(基準画像データ)と撮像マーク画像データ(撮像画像データ)とに基づいてテンプレートデータを作成する。 - 特許庁
A mask alignment sensor attached on the fine-adjustment top table observes a mask mark and the reference mark simultaneously.例文帳に追加
微動トップテーブルに取り付けられたマスクアライメントセンサが、マスクマークと基準マークとを同時に観測する。 - 特許庁
A "primary lane mark candidate" overlapping the "reference area" is detected as a "secondary lane mark candidate".例文帳に追加
また「1次レーンマーク候補」のうち「基準領域」に重なるものが「2次レーンマーク候補」として検出される。 - 特許庁
A mark light source 1120 for illuminating a reference mark 1118 is provided in the finder 1140.例文帳に追加
基準マーク1118を照明するためのマーク光源1120がファインダー1140に設けられる。 - 特許庁
The arranging intervals of the patterns 21 of the reference mark 20 are made shorter than those of the patterns 11 of the alignment mark 10.例文帳に追加
基準マーク20のパターン21の配置間隔をアライメントマーク10のパターン11よりも小さくした。 - 特許庁
The registration pattern 121 is set so that all of the reference position of the mark group of black marks 119K, the reference position of the mark group of yellow marks 119Y, the reference position of the mark group of magenta marks 119M and the reference position of the mark group of cyan marks 119C are aligned with one another.例文帳に追加
レジストレーションパターン121は、ブラックのマーク119Kのマーク群の基準位置と、イエローのマーク119Yのマーク群の基準位置と、マゼンタのマーク119Mのマーク群の基準位置と、シアンのマーク119Cのマーク群の基準位置とが全て一致するように設定されている。 - 特許庁
The reference measure has two incremental scale tracks in parallel to a measuring direction, and has a reference mark track provided with at least one reference mark in a reference position between the incremental scale tracks.例文帳に追加
基準尺は測定方向に平行に2つのインクリメンタル目盛トラックを有し、インクリメンタル目盛トラック間の基準位置に少なくとも1つの基準マークを具備する基準マークトラックを有する。 - 特許庁
In a predetermined space, a calibration chart 92 provided with a target mark 93 (first mark), and a stereo camera 1 provided with a reference mark 43 (second mark) identifiable in appearance are arranged.例文帳に追加
所定の空間に、ターゲットマーク93(第1マーク)を備えた較正チャート92と、外観上識別可能な基点マーク43(第2マーク)を備えたステレオカメラ1を配置する。 - 特許庁
Then, this mark information are converted into mark information with respect to a presentation becoming a reference in a mark information converting part 8 to be managed in a mark information management part 9.例文帳に追加
そのマーク情報は、マーク情報変換部8にて基準となるプレゼンテーションに対するマーク情報に変換され、マーク情報管理部9にて管理される。 - 特許庁
(c) a reference in that Part to the registered owner of a trade mark were a reference to the holder of the protected international trade mark; and例文帳に追加
(c) 前記の部における商標の登録所有者についての言及は、国際保護商標の名義人についての言及とすること、及び - 特許庁
A reference mark 21 is formed on the rotary shaft of a color wheel 12, the reference mark 21 is detected by a photosensor 22 and the detected result is led to a correction part 7.例文帳に追加
カラーホイール12の回転軸には基準マーク21が設けられ、この基準マーク21をフォトセンサ22で検出して補正部7に導く。 - 特許庁
When the reference mark 206 becomes equal in size to the designated point 208, a display for emitting light from the reference mark 206 is made.例文帳に追加
そして、指標206が指示ポイント208の大きさとほぼ同じ大きさになった時点で、指標206から光が発する表示を行う。 - 特許庁
The reference mark 288 is provided at the base 266, and reference holes 298, 299 are provided at the gage 290.例文帳に追加
較正台266には基準マーク288を、較正ゲージ290には基準穴298,299を設ける。 - 特許庁
(b) the reference in paragraph 129(1)(b) to a trade mark alleged to be registered is taken to be a reference to a trade mark alleged to be a protected international trade mark; and例文帳に追加
(b) 第129条(1)(b)における登録を受けていると主張されている商標についての言及は、国際保護商標であると主張されている商標についての言及とみなし、また - 特許庁
Based on the calibration values, position coordinates of the target mark 93, and position coordinates of the reference mark 43, the setting device 91 calculates position coordinates of the reference mark 43 in the inherent coordinate system.例文帳に追加
設定装置91は、較正値、ターゲットマーク93の位置座標および基点マーク43の位置座標に基づいて、固有座標系における基点マーク43の位置座標を算出する。 - 特許庁
A reference mark 1 consists of an L-shaped lower reference pattern 11 formed on a lower reference layer 32, and an L-shaped upper reference pattern 12 formed on an upper reference layer 33.例文帳に追加
基準マーク1は、下側基準層32に形成されたL字状の下側基準パターン11と、上側基準層33に形成されたL字状の上側基準パターン12とからなる。 - 特許庁
The reference coordinate position of the recognition mark is made to coincide with the coordinate position of the recognition mark M obtained from the luminance data.例文帳に追加
認識マークの基準座標位置と輝度データから得られる認識マークMの座標位置とを一致させる。 - 特許庁
By processing time order reference data cells, a stop start-time reference mark and a stop end-time reference mark for the data cell stream are determined.例文帳に追加
時間順参照データセルを処理して、データセルストリームについての停止開始時間順基準標識とそのデータセルストリームについての停止終了時間順基準標識を決定する。 - 特許庁
In machining a reference mark, the pitch of the irradiation spot may be shortened.例文帳に追加
基準マークを加工するときに照射スポットのピッチを短くしてもよい。 - 特許庁
To reduce the effect of the unevenness of the edge of a reference mark at the time of detection of the reference mark and to correct color shift with high accuracy.例文帳に追加
基準マーク検出時における基準マークの縁の凹凸の影響を小さくすることができ、高精度で色ずれ補正を行うことができるようにする。 - 特許庁
An essential parameter is correlated to a name to make reference to the book mark.例文帳に追加
必須パラメータはそのブックマークを参照する名前に関連付けられている。 - 特許庁
To improve a detecting accuracy of a relative positional deviation of a reference mark camera for photographing a reference mark of a printed circuit board from the rotation center of the nozzle.例文帳に追加
吸着ノズルの回転中心とプリント配線板の基準マークを撮像する基準マークカメラとの相対位置ずれの検出精度を向上させる。 - 特許庁
(b) the reference in paragraph 60(a) to the priority date for the registration of the trade mark were a reference to the priority date for the trade mark that is the subject of the IRDA.例文帳に追加
(b) 第 60条(a)における商標登録の優先日についての言及は、IRDAの対象である商標の優先日についての言及とする。 - 特許庁
The relative positional relation between the position of a reticle reference mark and the position of a photoreceptor reference mark is kept before and after the photoreceptor is intermittently moved.例文帳に追加
感光体を間歇的に移動させる前後において、レチクル基準マークの位置と感光体基準マークの位置との相対位置関係が、維持されるようにする。 - 特許庁
Reference timing TM is detected from an MSK mark of a wobbling WBL.例文帳に追加
ウォブルWBLのMSKマークから基準タイミングTMを検出する。 - 特許庁
A mark 70 indicating a reference pitch is put above the memory 68.例文帳に追加
また、メモリ68の上方には基準ピッチを示すマーク70が付されている。 - 特許庁
In the position-indicating member, a reference position mark imaged by the reference camera and at least one corresponding position mark imaged by the adjacent camera are formed.例文帳に追加
位置表示部材は、基準カメラによって撮像される基準位置マーク及び隣接カメラに撮像される少なくとも一つの対応位置マークが形成される。 - 特許庁
The reference mark 35a of the first color and the reference mark 35b of the second color printed on an object 12 to be printed are photographed at the same time by a CCD camera.例文帳に追加
印刷対象物12に印刷された1色目の基準マーク35aと2色目の基準マーク35bをCCDカメラによって同時に撮影する。 - 特許庁
On the basis of the position data of the plurality of recognition marks and data relating to normal positions of the plurality of reference marks, by selecting the reference mark from the plurality of recognition marks by the reference mark selection part 100, the position of the correct reference mark is acquired.例文帳に追加
それら複数の認識マークの位置データと複数の基準マークの正規の位置に関するデータとに基づいて、基準マーク選出部100により、複数の認識マークの中から基準マークを選出することにより、正しい基準マークの位置が取得される。 - 特許庁
The reference signal detection device has detector arrays 22.1 to 22.4, scans the reference mark to detect the reference mark with the detector arrays, and forms a partial reference signal being in reverse phase relation to a first set and a partial reference signal being in reverse phase relation to a second set offset from the partial reference signal.例文帳に追加
基準信号検出装置は、検出器アレイ22.1〜22.4を有し、基準マークを走査して検出器アレイで検出して、第1の対の逆相関係にある部分基準信号、該部分基準信号からオフセットされている第2の対の逆相関係にある部分基準信号を形成する。 - 特許庁
A position where a reference mark is to be formed is found based on the image data of the internal electrode pattern obtained by irradiating the X ray 38 to the ceramic green block 27, the reference mark is formed at the position where the reference mark is to be formed, and the ceramic green block 27 is cut based on the reference mark.例文帳に追加
セラミックグリーンブロック27にX線38を照射して得た内部電極パターンの画像データに基づいて、基準マーク形成予定位置を求め、この基準マーク形成予定位置に基準マークを形成し、基準マークに基づいて、セラミックグリーンブロック27に対して切断加工を行なうようにする。 - 特許庁
The method includes a step of detecting a base line quantity which is the spacing between the treating optical system 4 and the alignment optical systems 12a to 12d by using the first reference mark and the second reference mark and a step of correcting the base line quantity detected in accordance with the relative position error of the first reference mark and the second reference mark.例文帳に追加
第1基準マークと第2基準マークとを用いて、処理光学系4とアライメント光学系12a〜12dとの間隔であるベースライン量を検出するステップと、第1基準マークと第2基準マークとの相対的な位置誤差に基づいて、検出したベースライン量を補正するステップとを含む。 - 特許庁
Thereby, ink is charged to a group of projection bars, and a reference mark 31, first determination mark 32, and second determination mark 33 are formed on the surface of each of the dummy lenses 10 (mark forming step).例文帳に追加
これにより突起バー群にインクが充填され、ダミーレンズ10の表面に基準マーク31、第1の判定マーク32、および第2の判定マーク33が形成される(マーク形成工程)。 - 特許庁
(a) to a registered trade mark or a trade mark that is registered or entered on the Register is taken to be a reference to a protected international trade mark or a trade mark that is a protected international trade mark; and例文帳に追加
(a) 登録商標又は登録されている若しくは登録簿に記入されている商標についてのものは、国際保護商標又は国際保護商標である商標についての言及であるとみなし、また - 特許庁
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