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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > sample sの意味・解説 > sample sに関連した英語例文

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sample sの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 567



例文

This method for measuring with X-rays includes supplying cold air to the sample S by means of a cooling gas supply device 17, irradiating the sample S with X-rays while cooling a CCD X-ray detector 26, and detecting, using the CCD X-ray detector 26, the X-rays exiting the sample S.例文帳に追加

冷却ガス供給装置17によって試料Sに冷気を供給すると共にCCDX線検出器26を冷却しながら、試料SにX線を照射し、試料Sから出るX線をCCDX線検出器26によって検出するX線測定方法である。 - 特許庁

After only the cell 10 is heated up to the same as a temperature of the sample S of a high temperature or a temperature close thereto and kept in the temperature, the sample S is fed into the cell 10, and the cell 10 is fitted between the sensor electrode 6 and the guard electrode 8 to measure the moisture in the sample S.例文帳に追加

そして、まず、セル10のみを、高温の試料Sの温度と同一または近傍となるように加熱恒温した後、セル10に試料Sを投入し、そのセル10を、センサ電極6およびガード電極8の間に装着して、試料S中の水分を測定する。 - 特許庁

This X-ray analyzer has an X-ray source F for generating the characteristic X-ray of Cr emitted to the sample S, a stimulable phosphor plate for receiving the diffracted rays emitted from the sample S, and a helium path 13 arranged between the sample S and the stimulable phosphor plate.例文帳に追加

試料Sに照射するCrの特性X線を発生するX線源Fと、試料Sから出る回折線を受光する蓄積性蛍光体プレートと、試料Sと蓄積性蛍光体プレートとの間に配置されたヘリウムパス13とを有するX線分析装置である。 - 特許庁

The sample rack supply and recovery system also has a rack recovery part 2 for holding the plurality of trays T that are arranged arrayed with the plurality of sample racks S, and carries the sample racks S existing in the sampler part 101 into the trays T held by the rack recovery part 2.例文帳に追加

また、サンプルラックSが複数並べて配置される複数のトレイTを保持したラック回収部2を有し、このラック回収部2が保持したトレイTに対してサンプラ部101にあるサンプルラックSを搬入する。 - 特許庁

例文

This sample rack supply-and-recovery system has a rack supply part 1 for holding a plurality of trays T, that are arranged arrayed with the plurality of sample racks S, and carries out the sample racks S arranged in the trays T held by the rack supply part 1 to the sampler part 101.例文帳に追加

サンプルラックSが複数並べて配置される複数のトレイTを保持したラック供給部1を有し、このラック供給部1が保持したトレイTに配置してあるサンプルラックSをサンプラ部101に対して搬出する。 - 特許庁


例文

To provide an antioxidative stress agent containing an S-II protein as an active ingredient, a method for screening a sample inhibiting viviparous lethality of a multicellular organism by utilizing the S-II protein, a new protein interacting with the S-II protein, a method for utilizing the protein or the like.例文帳に追加

S-IIタンパク質を有効成分として含有する抗酸化ストレス剤、S-IIタンパク質を利用した多細胞生物の胎生致死性を抑制する試料のスクリーニング方法、S-IIタンパク質と相互作用する新規なタンパク質とその利用方法などを提供することを目的とする。 - 特許庁

One end of a sample pressing member 13 is pressed by a pressing member 14, and thereby the sample S placed on the sample stand 12 is pressed by an energizing force generated on the free end side of the sample pressing member 13.例文帳に追加

試料押え部材13の一端を押圧部材14により押圧することにより、当該試料押え部材13の自由端側に生じる付勢力により、試料台12に載置された試料Sを押える。 - 特許庁

When a sample cross section S2 is obtained for a sample S by cutting at the plane AA extending through the center of the broken-line surrounding site Z necessary to observe existing inside the sample, a masking shield 43 is position-adjusted so that the edge of the masking shield comes to the position of the plane AA on the sample S.例文帳に追加

試料Sについて、試料内部に存在する波線で囲まれた要観察部位Zの中央を通る平面AAで切断し試料断面S2を得たい場合、遮蔽板43のエッジが試料S上で平面AAの位置に来るように遮蔽板を位置合わせする。 - 特許庁

A reflection measurement optical system for irradiating a sample S (a location A) with terahertz pulse light and detecting a reflection light reflected from the sample and a transmission measurement optical system for irradiating the sample S (a location B) with the terahertz pulse light and detecting a transmission light transmitted through the sample can be switched.例文帳に追加

テラヘルツパルス光を試料S(位置A)に照射し試料から反射した反射光を検出する反射測定光学系と、テラヘルツパルス光を試料S(位置B)に照射し試料を透過した透過光を検出する透過測定光学系とを切り換え可能とする。 - 特許庁

例文

An X-ray receiving face of the stimulable phosphor plate is curved around the sample S as the center.例文帳に追加

蓄積性蛍光体プレートのX線受光面は試料Sを中心として湾曲する。 - 特許庁

例文

The fluorescence labeled protein is mixed with the sample S in order to make mixed liquid, and an FCS measurement is carried out for the mixed liquid.例文帳に追加

蛍光標識タンパク質とサンプルSを混合して混合液を作り、FCS測定を行う。 - 特許庁

A photoreceptor sample S to which an electron beam is radiated in a charged particle optical system 10 is irradiated.例文帳に追加

荷電粒子光学系10で電子ビームを放射した感光体試料Sに照射する。 - 特許庁

This constitution can measure the spectrum of the sample S with a prescribed pressure applied thereto.例文帳に追加

これにより、試料Sに一定の圧力がかかった状態でスペクトル測定をすることができる。 - 特許庁

The present invention is applicable to a confocal microscope to acquire three-dimensional data of a sample S.例文帳に追加

本発明は、例えば、試料Sの3次元データを取得するコンフォーカル顕微鏡に適用できる。 - 特許庁

Subsequently, a high purity gas G is applied to the surface of the sample S from a gas supply device 41.例文帳に追加

次いで、ガス供給器41から高純度ガスGが試料の表面に照射される。 - 特許庁

To optimally and quickly perform the detection and adjustment of S/H (Sample Hold) timing in darkness.例文帳に追加

暗時状態でS/Hタイミングの検出と調整を最適かつ高速に行えるようにする。 - 特許庁

The container 1 is inclined smoothly and a sample S is injected smoothly.例文帳に追加

したがって収容容器1が円滑に傾動して試料Sの注ぎ入れが円滑に行われる。 - 特許庁

The solid sample S is placed on a sample stand 11 arranged in a vacuum container 12 so that the magnetic stable surface becomes nearly parallel to a support side 11A of the sample stand 11.例文帳に追加

固体試料Sを真空容器12内に配置された試料台11上に、その磁気的安定面が試料台11の支持側面11Aと略平行となるように載置する。 - 特許庁

A sample support 200 for placing the sample S is connected with a driving means 210, located outside the vacuum case (inside the first chamber 21).例文帳に追加

試料Sを載置する試料台200は、真空容器(第1のチャンバー室21)の外部に配置された駆動手段210に連結されている。 - 特許庁

When the measured temperature comes to a reference temperature or more, a voltage value of a voltage impressed to the sample S for carrying out the excavation work is reduced to reduce a heat value supplied to the sample S, and deterioration such as melting is prevented from being generated even when the sample S is a thermally weak material, to form a sample face favorable for observation.例文帳に追加

測定した温度が基準温度以上になった場合は、掘削加工を行うために試料Sへ印加する電圧の電力値を低下させて、試料Sに与えられる熱量を低下し、試料Sが熱に弱い材料であっても溶融などの変質が生じることを防止して、観察に良好な試料面を形成する。 - 特許庁

In the analytical method for the metal element in the solid sample, the solid sample S is heated inside a furnace 3, a metal component discharged from the solid sample S is introduced into an inductively coupled plasma mass spectrometer 1 together with a carrier gas, and the metal element is analyzed.例文帳に追加

固体試料Sを炉3内で加熱し、固体試料Sから放出される金属成分をキャリアガスと共に誘導結合プラズマ質量分析装置1内に導入して金属元素を分析する固体試料の金属元素分析方法である。 - 特許庁

To be concrete, the sample S is irradiated with exciting light Le and simultaneously with measuring light L2 for measuring photothermal effects generated in the sample S by the irradiation of the exciting light Le.例文帳に追加

具体的には、試料Sに対して励起光Leを照射するとともに、この励起光Leの照射により試料S内に生ずる光熱効果を測定するための測定光L2を照射する。 - 特許庁

This X-ray analyzer 16 emits an X-ray emitted from an X-ray source 18 toward a sample S and detects the X-ray diffracted by the sample S by a two-dimensional CCD sensor 27.例文帳に追加

X線源18から放射されたX線を試料Sに照射すると共にその試料Sで回折したX線を2次元CCDセンサ27によって検出するX線分析装置16である。 - 特許庁

The dichroich mirror 150 transmits a component of wavelength of a side band from among the fluorescent beam generated from a sample S, and reflects a component of wavelength of a center band from among the fluorescent beam generated from the sample S.例文帳に追加

ダイクロイックミラー150は、標本Sから発生する蛍光のうちサイドバンドの波長範囲の成分を透過し、標本Sから発生する蛍光のうち中心バンドの波長範囲の成分を反射する。 - 特許庁

The sample S to be inspected is housed in the spaces 4, and the reagent (substrate) R which can react with a specimen in the sample S is supplied to the spaces 5.例文帳に追加

試料収納空間4には、検査に供されるサンプル(試料)Sが収納され、一方、試薬供給空間5には、サンプルS中の検出対象物と反応し得る試薬(基質)Rが供給される。 - 特許庁

Accordingly, excess adhesive 6 for bonding the sample S is trapped in the groove 4, the sample S can be fixed horizontally at the bottom of the recess, and the adhesive 6 does not stick to the surface of the holding base 2.例文帳に追加

これにより、試料Sを接着するときの余剰の接着剤6が溝4に取り込まれ、凹部底面に試料Sを平行に固定できるし、保持台2の表面に接着剤6が付着しない。 - 特許庁

This X-ray analyzer 16 is a device for irradiating a sample S with an X-ray radiated from an X-ray source 17, and detecting the X-ray diffracted by the sample S by a two-dimensional CCD sensor 22.例文帳に追加

X線源17から放射されたX線を試料Sに照射すると共に試料Sで回折したX線を2次元CCDセンサ22によって検出するX線分析装置16である。 - 特許庁

The sample S is efficiently drilled to obtain the observation face for the satisfactory observation, by supplying the electric power by the continuous mode, when the sample S does not have the characteristic easily molten or broken.例文帳に追加

試料Sが溶解しやすい及び壊れやすい特性を具備しないときは、連続モードで給電を行うことにより効率良く良好な観察面が得られるように試料Sの掘削を行う。 - 特許庁

The plate-like sample S as a wafer having a fine pattern is drilled from the surface toward the depth by glow discharge, and drilled cross section is formed, from the surface of the sample S toward the depth direction.例文帳に追加

微細パターンが形成されたウエハである平板状の試料Sに対して、グロー放電によって表面から深さ方向に掘削し、試料Sの表面から深さ方向に掘削断面を形成する。 - 特許庁

The characteristic X-rays generated from the sample S by electron beams EB are detected by the X-ray detecting element 1 located directly under the sample in high sensitivity.例文帳に追加

電子線EBにより試料Sから発生した特性X線は、試料の直下にあるX線検出素子1により高感度で検出される。 - 特許庁

Based on the letter sample data stored in the memory means 11, a letter sample (a stroke line C and a linking line S)is displayed in a display means 2.例文帳に追加

そして、当該記憶手段11に記憶された文字見本データに基づいて表示手段2に文字見本(字画線Cおよび気脈線S)が表示される。 - 特許庁

To obtain the state analysis of a sample in a two-dimensional image with an improved S/N ratio by the amount of irradiation of electron rays for restraining damage by irradiating the sample with electron rays.例文帳に追加

試料への電子線照射ダメージが抑えられる電子線照射量で、S/Nが良く試料の状態分析を2次元イメージとして得る。 - 特許庁

A surface of the sample irradiated with the ion beam can be directly cooled by the gaseous refrigerant by supplying the gaseous refrigerant inside the sample chamber.例文帳に追加

気体冷媒を試料チャンバ内に供給することで、試料Sにおけるイオンビームの照射面を直接気体冷媒で冷却することができる。 - 特許庁

The micro sample piece S is fixed onto any of the fourth stage 14-54 of the micro sample block 10, and a three ways of fixing positions are allowed therein as follows.例文帳に追加

微小試料片Sは、微小試料台10の第4段14〜54のいずれかに固定されるが、固定する位置としては、次の3通りがある。 - 特許庁

The sample S is sandwiched and fixed between the X-ray transmission sheet 14 and the X-ray transmission sheet 15.例文帳に追加

試料Sは、X線透過シート14及びX線透過シート15の間に挟まれて固定される。 - 特許庁

This measuring method includes a process of preparing a substrate (sample S), and a measuring process.例文帳に追加

本発明に従った測定方法は、基板(試料S)を準備する工程と、測定工程とを備える。 - 特許庁

The spectral measuring device includes: an integrating sphere 20 in which a sample S to be measured is disposed in the interior, and which observes light to be measured emitted from the sample S; and a dewer 50 holding a refrigerant R for cooling the sample S and located with at least part thereof facing the interior of the integrating sphere 20.例文帳に追加

分光測定装置は、測定対象の試料Sが内部に配置され、試料Sから発せられる被測定光を観測する積分球20と、試料Sを冷却するための冷媒Rを保持すると共に、少なくとも一部が積分球20内に臨むように位置するデュワ50とを備えている。 - 特許庁

Since the response to the movement of the linear motor is rapid, a quick repeated load can be given to the sample S.例文帳に追加

リニアモータは動きの応答が速いので速い繰り返し荷重を試験体Sに与えることができる。 - 特許庁

A measurement sample S is a board-shaped stainless steel containing neutron absorbing material, such as boron or the like.例文帳に追加

測定試験体Sはボロン等の中性子吸収物質を含んだ板状のステンレス鋼である。 - 特許庁

To maintain improved S/N ratio and resolution regardless of the incidence angle of X rays for a sample.例文帳に追加

試料に対するX線の入射角にかかわらず良好なS/N比および分解能を維持する。 - 特許庁

A servo motor 61 enables push-in force for forming indentation on the surface of a sample S to operate on a penetrator 3.例文帳に追加

サーボモータ61は、試料Sの表面に圧痕を形成させる押込力を圧子3に作用させる。 - 特許庁

In the measuring process, the energy of the light whose intensity is measured is larger than band gap energy of the sample S.例文帳に追加

測定工程において、強度を測定する光のエネルギーは試料Sのバンドギャップエネルギーより大きい。 - 特許庁

This spectral measuring device 1A includes: an integrating sphere 20 for observing light to be measured emitted from a sample S to be measured; and a dewer 50 holding a medium R for controlling the temperature of the sample S to cover the sample S and whose second container 50b is located facing the interior of the integrating sphere 20.例文帳に追加

分光測定装置1Aは、測定対象の試料Sから発せられる被測定光を観測するための積分球20と、試料Sが覆われるように試料Sの温度を調節するための媒体Rを保持すると共に、第2容器部50bが積分球20内に臨むように位置するデュワ50と、を備えている。 - 特許庁

The segment includes four sample segments A-D divided by a segment S through which only a solvent flows.例文帳に追加

セグメントは、溶媒のみが流れるセグメントSによって分かたれた4つのサンプルセグメントA〜Dを含む。 - 特許庁

The presence or absence of the occurrence of interactions between nucleic acids and proteins in a sample S is optically detected.例文帳に追加

試料S中での核酸と蛋白質との相互作用の発生の有無を光学的に検出する。 - 特許庁

(a) The sample S of the refractory material is brought into contact with a two-layered melt comprising a molten metal 1 and the molten slag 2 placed on the molten metal 1 over both layers 1 and 2 and the sample S and the melts 1 and 2 are relatively vibrated, to make the sample S worn out by the melts 1 and 2.例文帳に追加

(a)溶融メタル1と該溶融メタル1上に載った溶融スラグ2とよりなる二層状の溶融物に、両層1及び2にわたって耐火物の試料Sを接触させた状態で、試料Sと溶融物1及び2とを相対的に振動させて、溶融物1及び2により試料Sを損耗させる。 - 特許庁

A correction calculating section 23 corrects the gain misalignment and an offset to data actually measured on a sample S.例文帳に追加

補正演算部23は試料Sについて実測されたデータに対しゲインずれとオフセットの補正を行う。 - 特許庁

(b) The wearing of the sample S is performed, while replenishing the melt 1 and 2 with a carbonaceous raw material at appropriate times.例文帳に追加

試料Sの損耗は、適時に溶融物1及び2にカーボン質原料を補充しつつ行う。 - 特許庁

An output signal S' is obtained by amplifying only the signals of predetermined frequency among the output signals S by a lock-in amplifier 84, to obtain the characteristic of the sample liquid 15.例文帳に追加

ロックインアンプ84により、出力信号Sのうち所定周波数の信号のみを増幅した出力信号S’を求めて、試料液15の特性を求める。 - 特許庁

例文

K slave sample/hold(S/H) circuits 114 and 118 are connected to the outputs of a master S/H circuit 104 and operated at a 1/k-fold clock speed.例文帳に追加

k個のスレーブ・サンプル及びホールド回路114、118がマスター・サンプル及びホールド回路104の出力に接続され、クロック速度の1/k倍で動作する。 - 特許庁




  
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