「sample s」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To efficiently recover a slight amount of water bled from a test piece S by pressing the test piece S formed from sampled soil or a soil sample or supplying pressurized water to the test piece S.例文帳に追加

サンプリングした土壌または土質試料から作成した供試体Ｓを加圧し、または加圧水を供給することにより供試体Ｓから染み出させた僅かな水を効率よく回収する。 - 特許庁

The spectrometer 1A includes an integrating sphere 20 internally containing a sample S, a spectroscopic analyzer 30 dispersing a measurement object light from the sample S to acquire a wavelength spectrum, and a data analyzer 50.例文帳に追加

試料Ｓが内部に配置される積分球２０と、試料Ｓからの被測定光を分光して波長スペクトルを取得する分光分析装置３０と、データ解析装置５０とを備えて分光測定装置１Ａを構成する。 - 特許庁

A polyethylene reflector 18 is arranged on one side of the measurement sample S, and a neutron radiation source 15 and a neutron measuring element 17, such as a boron trifluoride counter tube or the like, are arranged on the other side of the measurement sample S.例文帳に追加

この測定試験体Ｓの一方にポリエチレン製の反射材１８を配置し、測定試験体Ｓの他方に中性子線源１５と三ふっ化硼素計数管等の中性子測定素子１７とを配置する。 - 特許庁

Then, after the temperature of the sample S measured by the temperature measurement unit 14g reaches a prescribed temperature, a stage 15, an imaging unit 12, and the control unit operate to measure the Vickers hardness of the sample S.例文帳に追加

そして、温度計測部１４ｇによって計測された試料Ｓの温度が所定の温度に達した後に、ステージ１５、撮像部１２および制御部が動作することで試料Ｓのビッカース硬さを測定する。 - 特許庁

The rotating shafts 21, 31, and 41 and the sample holder 10 are arranged such that rotating at least one of the rotating shafts 30 and 40 brings the shaft of the sample S into coaxial with the rotating shaft 21.例文帳に追加

前記回転軸21、回転軸31、回転軸41及び試料ホルダ10は、回転体40及び回転体30の少なくとも一方を回転することで、試料Sの軸を回転軸21と同軸に調整するように配置されている。 - 特許庁

It is thereby possible to perform cutting and constituent evaluation of the membrane sample S by glow discharge optical emission and perform in-plane measurements on surfaces at different depths of the membrane sample S which have surfaced by the cutting.例文帳に追加

そのため、グロー放電発光による薄膜試料Ｓの掘削および組成評価を行い、それにより表出した薄膜試料Ｓの異なる深さの面にＩｎ−Ｐｌａｎｅ測定を行うことができる。 - 特許庁

As a result, the sample racks S are not supplied or recovered one by one frequently, and the sample racks S are thereby supplied or recovered efficiently to the sampler part 101 of the autoanalyzer 100.例文帳に追加

このため、サンプルラックＳを１つずつ頻繁に供給または回収することがないので、自動分析装置１００のサンプラ部１０１に対してサンプルラックＳを効率良く供給または回収することが可能になる。 - 特許庁

Furthermore, the analyzer 2 determines the calculation result of the element concentration calculated under the assumption that the theoretical value of the average atomic number is a value corresponding to the average atomic number of the sample S, as the concentration of each element in the sample S.例文帳に追加

更に解析装置２は、平均原子番号の理論値が試料Ｓの平均原子番号に相当する値になる仮定の元で計算した元素濃度の計算結果を、試料Ｓ中の各元素の濃度とする。 - 特許庁

A sample S is irradiated with an X-ray from an x-ray source F being regulated by incident side slits 22a, 22b so that the X-ray diffracted by the sample S is detected by an X-ray film 7a or a CCD sensor 7b.例文帳に追加

Ｘ線源ＦからのＸ線を入射側スリット２２ａ，２２ｂで規制して試料Ｓへ照射し、試料Ｓで回折したＸ線をＸ線フィルム７ａ又はＣＣＤセンサ７ｂによって検出する。 - 特許庁

The side surface of the columnar sample S is axisymmetrically excavated and the analysis of a component due to glow discharge emission analysis becomes possible and the side surface of the cleanly formed sample S can be observed by SEM or the like.例文帳に追加

円柱状の試料Ｓの側面が軸対称に掘削され、グロー放電発光分析による成分分析が可能となり、清浄に形成した試料Ｓの側面をＳＥＭ等で観察することも可能となる。 - 特許庁

The method for detecting protein S deficiency includes a step of measuring the total protein S activity value and the total protein S mass in a sample, and a step of comparing the total protein S activity value and the total protein S mass as obtained by the measurement.例文帳に追加

本発明のプロテインＳ異常症の検出方法は、試料中の総プロテインＳ活性値及び総プロテインＳタンパク質量を測定する工程、及び、前記測定により得た総プロテインＳ活性値と総プロテインＳタンパク質量とを比較する工程、を含むものである。 - 特許庁

A sample liquid LA to harden the baked test specimen S is stored in the vacuum vessel 5.例文帳に追加

真空容器５内には焼成された試験片Ｓの焼入れを行うための試料液ＬＡが収容されている。 - 特許庁

When force is applied in the direction shown by an arrow A, the fine wire sample S is bent and buckled on the way at one time.例文帳に追加

矢印Ａ方向に力を加えていくと細線試料Ｓはあるとき途中で折れ曲がり座屈する。 - 特許庁

On the other hand, an S/H circuit 23 holds and outputs the analog data outputted from a sample-hold section 10.例文帳に追加

一方、サンプルホールド部１０から出力されるアナログデータはＳ／Ｈ回路２３によりホールドされて出力される。 - 特許庁

To provide a characteristic measuring device capable of accurately measuring the dynamic characteristics of a high speed S/H(sample hold) circuit.例文帳に追加

高速Ｓ／Ｈ回路のダイナミック特性を高精度に測定することができる特性測定装置を提供する。 - 特許庁

To measure a load in real time while a sample s is set under an atmosphere different from that in a load measuring instrument 1 side.例文帳に追加

サンプルｓを荷重測定器１側と異なる雰囲気に置きながら、その荷重をリアルタイムに測定する。 - 特許庁

One end of the sample S to be subjected to fatigue test is held by a chuck 7, and the other end is held by a chuck 8.例文帳に追加

疲労試験をされるべき試験体Ｓは一端がチャック７で把持され他端がチャック８で把持される。 - 特許庁

An acceleration voltage Vacc of incident electrons is fixed, and an application voltage Vsub to the under surface of the sample S is changed.例文帳に追加

入射電子の加速電圧Ｖａｃｃを固定して試料Ｓの下面の印加電圧Ｖｓｕｂを変えていく。 - 特許庁

Also, a temperature measurement unit 14g measures temperature of the sample S cooled by the cooling control unit 14f.例文帳に追加

また、温度計測部１４ｇが、冷却制御部１４ｆによって冷却された試料Ｓの温度を計測する。 - 特許庁

An analyzer 2 calculates the average atomic number of the sample S from a scattering X-ray signal contained in the spectrum.例文帳に追加

解析装置２は、スペクトルに含まれる散乱Ｘ線信号から試料Ｓの平均原子番号を計算する。 - 特許庁

A focus F of the radiation source 20, the sample origin S and the detector origin D are arranged on a straight line.例文帳に追加

放射線源２０の焦点Ｆ、試料原点Ｓおよび検出器原点Ｄは一本の直線上にある。 - 特許庁

Accordingly, the axial orientation and phase difference of the sample S is measured with high precision using the polarizing probe 2.例文帳に追加

従って、偏光プローブ２を用いて試料Ｓの軸方位および位相差を高精度に測定することができる。 - 特許庁

The detected value of the element current is inputted to an S/H(sample hold) circuit 30 and a P/H(peak hold) circuit 31.例文帳に追加

ここで、素子電流の検出値は、Ｓ／Ｈ回路３０並びにＰ／Ｈ回路３１に入力される。 - 特許庁

Each of the plasma PBa and PBb conducts chemical vapor deposition on a sample S and forms a multi-element thin film.例文帳に追加

各プラズマＰＢａ，ＰＢｂは、試料Ｓ上で化学的気相成長を行って、多元素薄膜を成膜する。 - 特許庁

The beam reflected by the surface of the sample S is further throttled by a restriction slit 25 to be incident on a detector 27.例文帳に追加

試料表面で反射したビームは、さらに制限スリット２５により絞られ、検出器２７に入射する。 - 特許庁

This enclosed space includes a zone where an analyte in the sample reacts with reagent(s) deposited at the working electrode.例文帳に追加

この包囲されたスペースは、サンプル内のアナライトが作用電極に配置された試薬と反応する領域を含む。 - 特許庁

The image of a sample S observed with a fluorescent microscope 1 is formed on the basis of plural components.例文帳に追加

蛍光顕微鏡１において観測されるサンプルＳの画像は複数の成分に基づき形成されている。 - 特許庁

A sample/hold circuit (S/H) 35 samples and holds the voltage signal 101 in synchronization with the timing signal 104.例文帳に追加

サンプルホールド回路(Ｓ／Ｈ)３５は、タイミング信号１０４に同期して電圧信号１０１をサンプルホールドする。 - 特許庁

A sample S is scanned by using a movable stage 202 (in particular, a scanner 204) instead of running an electron beam B.例文帳に追加

また、電子線Ｂを走査する代わりに、可動ステージ２０２（特にスキャナ２０４）を用いて試料Ｓを走査する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for separating component(s) in a gas sample with a simple construction.例文帳に追加

簡易な装置構成で気体試料に含まれる成分の分離を行う方法および装置を提供する。 - 特許庁

Light transmitted through the sample S in the sample cell 7 relative to irradiation of the incoherent light is detected by a photodetector 8, and light scattered at many angles by the sample S relative to irradiation of the laser light is detected simultaneously by many photodetectors 9 arranged on the circumference E.例文帳に追加

インコヒーレント光の照射に対して試料セル７中の試料Ｓを透過して来た光を光検出器８で検出し、レーザ光の照射に対して試料Ｓで多角度に散乱した光を円周Ｅ上に配置した多数の光検出器９で同時に検出する。 - 特許庁

This puncture testing device is composed of a sample piece holding means 1 which can hold the sample tire piece S whose one side S1 is in a gaseous pressure applied state, and a puncture factor member driving means 3 for driving a puncture factor member 31 into the sample piece S held by the holding means 1.例文帳に追加

タイヤのサンプル片Ｓの一方の面Ｓ１に気体による圧力を付与した状態でサンプル片Ｓを保持可能なサンプル片保持手段１と、サンプル片保持手段１に保持されたサンプル片Ｓにパンク要因部材３１を打ち込むパンク要因部材打ち込み手段３から構成されている。 - 特許庁

The sample stocker 2 comprises a guide part 22 supporting the sample S, an opening part 22a formed on one side face of the guide part 22 in a state of being vertically continued to the guide part 22, and having a width larger than a width of the sample S, and an opening and closing member 24 for opening and closing the opening part 22a.例文帳に追加

試料ストッカ２は、試料Ｓを支持するガイド部２２と、ガイド部２２の一側面にガイド部２２の上下方向に連続して形成され、試料Ｓの幅よりも大きな幅を有する開口部２２ａと、開口部２２ａを開閉自在とする開閉部材２４と、を備える。 - 特許庁

This instrument has the impact-type sampler 4 having a sample bring-in part 8 enabling a sample gas S to be brought-in right downward with a piping connection part 6 formed in a center part and a measuring part 18 for measuring the concentration of the suspended particulate matter in the sample gas S having passed through the sampler 4.例文帳に追加

中心部に配管接続部６を形成してサンプルガスＳを真下に導入可能とするサンプル導入部８を有するインパクト式サンプラ４と、このインパクト式サンプラ４を通過したサンプルガスＳ中の浮遊粒子状物質の濃度を測定する測定部１８とを有する。 - 特許庁

The optical axis of the poly-capillary X-ray half lens 13 is orthogonal to the sample placing surface 141, and the fine part of the sample S is surely irradiated with the X-ray regardless of the height of the sample S, and the fluorescent X-ray from the fine part is detected, to thereby perform stable fluorescent X-ray analysis.例文帳に追加

ポリキャピラリＸ線ハーフレンズ１３の光軸は試料載置面１４１に直交しており、試料Ｓの高さに拘わらずに、確実に試料Ｓの微小部分にはＸ線が照射され、微小部分からの蛍光Ｘ線は検出され、安定した蛍光Ｘ線分析が行われる。 - 特許庁

This device comprises an X-ray source 6 generating X-ray, a sample holding base 8 holding a sample S, an X-ray detector 7 detecting X-ray emitted from the X-ray source 6 and penetrated the sample S, and an imaging system support means mounting the X-ray source 6 and the X-ray detector 7.例文帳に追加

Ｘ線を発生させるＸ線源６と、試料Ｓを保持する試料保持台８と、Ｘ線源６から放射され試料Ｓを透過してきたＸ線を検出するＸ線検出器７と、Ｘ線源６およびＸ線検出器７を搭載する撮像系支持手段とを備える。 - 特許庁

A weight weighed value W_a of a sample S in air, and a weight weighed value W_1 of the sample S in a liquid by elevating a water vessel 2 storing the liquid having a known specific gravity value ρ_W are weighed to calculate a specific gravity value ρ of the sample pursuant to a computation expression ρ=ρ_WW_a/(W_a-W_1).例文帳に追加

空気中の試料Ｓの重量計量値Ｗ_aと既知比重値ρ_wの液体を収容した水槽２を上昇させその液中での試料Ｓの重量計量値Ｗ_1を計量し、演算式ρ＝ρ_wＷ_a／（Ｗ_a−Ｗ_1）より試料Ｓの比重値ρを算出する。 - 特許庁

In the S/N matching pattern, a pattern where it is possible to jump from an arbitrary sample point to a next SP pass processing target sample point is set, thus jumping to the next SP pass processing target sample point according to a jump address value obtained from a pattern that coincides with the current S/N matching pattern.例文帳に追加

このＳ／Ｎマッチングパターンは、任意のサンプル点から次のＳＰパス処理対象サンプル点にジャンプ可能な場合におけるパターンが設定されたものであり、現在のＳ／Ｎマッチングパターンと一致するパターンから得られたジャンプアドレス値により、次のＳＰパス処理対象サンプル点にジャンプする。 - 特許庁

In the laser ablation device 2, when the laser ablation for the sample S is started, an arithmetic section 50 subtracts the energy of the laser beam measured by photodetectors 43 and 44 from the energy of the laser beam measured by a photodetector 45, and calculates the energy of the laser beam absorbed by the sample S of the laser beams radiated to the sample S.例文帳に追加

レーザアブレーション装置２においては、試料Ｓに対するレーザアブレーションが開始されると、演算部５０によって、光検出器４５により測定されたレーザ光のエネルギから、光検出器４３，４４により測定されたレーザ光のエネルギが減ぜられて、試料Ｓに照射されたレーザ光のうち試料Ｓに吸収されたレーザ光のエネルギが算出される。 - 特許庁

After the sample liquid has been introduced into the sample cell 5 by the aspirator 7, a first solenoid valve 3 is closed, and the operation of the aspirator 7 is stopped 0.5 s after that.例文帳に追加

また、アスピレータ７により試料セル５内に試料液が導入された後、第１電磁弁３が閉じられ、この後０．５秒後にアスピレータ７の動作が停止される。 - 特許庁

When the explorer 12 is brought into contact with the sample S, the lever 11 is bent, corresponding to the irregular shape of the sample surface, and the interval of the gap G of a bent part is changed.例文帳に追加

探針１２を試料Ｓに接触させると、試料表面の凹凸形状に応じてレバー１１が撓み、撓んだ部分のギャップＧの間隔が変化する。 - 特許庁

The sample extraction vessel 5 is disposed in the lower part of the centrifugation vessel 2 and reserves the sample S centrifugally separated by the circulation air flow in the centrifugation vessel 2.例文帳に追加

サンプル抽出容器５は、遠心分離容器２の下部に設けられ遠心分離容器２内で前記旋回気流により遠心分離されたサンプルＳを溜める。 - 特許庁

Raman scattering light R is generated from the sample S by evanescent light generated by a total internal reflection of the laser light L on the sample surface 111, and exits through the opening 212.例文帳に追加

試料面１１１でレーザ光Ｌが全反射して発生したエバネッセント光により試料Ｓから発生したラマン散乱光Ｒは、開口部２１２を通って放出される。 - 特許庁

Cooling water R with which a cooling tank 30 is filled up is set to a temperature at which film boiling by which a steam film is formed on the surface of the sample occurs when the water is brought into contact with the sample S.例文帳に追加

冷却槽３０に満たした冷却水Ｒを、サンプルＳに接触すると、その表面に水蒸気膜を形成する膜沸騰が起こる温度に設定する。 - 特許庁

Luminous flux S on a sample side is incident on the undersurface of a sample 21, in an almost vertical direction and the light transmitted through the sample upwardly is refracted by a reflecting mirror M1 to be sent to an integrating sphere 24 equipped with a detector.例文帳に追加

試料側光束Ｓは試料２１の下面に対し略鉛直方向に入射し、上方に透過した光は反射鏡Ｍ１で屈曲されて検出器を備えた積分球２４へ送られる。 - 特許庁