「sample s」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

A resonance peak, showing a high emission rate, appears in the emission spectrum, and the angle and the wavelength of the resonance peak depend on the real part of the refractive index of the sample S, and the intensity of the resonance peak depends on the imaginary part of the refractive index of the sample S.例文帳に追加

出射スペクトルには高い出射率を示す共鳴ピークが現れるが、その共鳴ピークの角度や波長は試料Ｓの屈折率の実部に依存し、共鳴ピークの強度は試料Ｓの屈折率の虚部に依存する。 - 特許庁

A sample S is set on an X.Y.Z stage 8, raised by a motor Z11, and when the sample S touches an ATR prism 5 and closely stuck thereto, a base element 21 holding the ATR prism 5 actuates a pressure sensor 20 in the upper part.例文帳に追加

試料ＳをＸ・Ｙ・Ｚステージ８にセットし、モータＺ１１で上昇させ、試料ＳがＡＴＲプリズム５に接触し、さらに密着すると、ＡＴＲプリズム５を保持している基体２１が上部の圧力センサ２０を動作させる。 - 特許庁

The inside of a sequence forming path 45 is decompressed, the sample material S, air A and pressurized water W are supplied in the order, and a sequence part comprising the order of the pressurized water W, the air A, the sample material S, the air A and the pressurized water W is formed.例文帳に追加

シーケンス形成通路４５内を減圧して供試材Ｓ、空気Ａ、加圧水Ｗを順番に供給し、加圧水Ｗ、空気Ａ、供試材Ｓ、空気Ａ、加圧水Ｗの順番からなるシーケンス部を形成する。 - 特許庁

The sample S is uniformly heated using a heater (uniform heating means) 14 or a part of the sample S is locally heated using an ignition line (local heating means) 12, thus the titanium based hydrogen storage alloy is burnt and synthesized.例文帳に追加

ヒータ（均一加熱手段）１４を用いて試料Ｓを均一に加熱するか、又は着火線（局所加熱手段）１２を用いて試料Ｓの一部を局所的に加熱することにより、チタン基水素吸蔵合金が燃焼合成される。 - 特許庁

The second container 50b is thus located facing the interior of the integrating sphere 20 to thereby control the temperature of the sample S by the medium R while controlling effect from an external environment of the integrating sphere 20 upon the sample S.例文帳に追加

第２容器部５０ｂが積分球２０内に臨むように位置することにより、積分球２０の外部環境からの試料Ｓへの影響を抑制しつつ、試料Ｓの温度を媒体Ｒにより調節することができる。 - 特許庁

When the sample S is at the measurement position Ps, by making the balance beam 23b to linearly slide in the arrow A direction subsequently to with an axial line X0 as center, to thereby carry the sample S to the distant position Pr.例文帳に追加

試料Ｓが測定位置Ｐｓにある状態で天秤ビーム２３ｂを矢印Ａ方向へ直線スライド移動させ、さらに軸線Ｘ０を中心として旋回させることにより、試料Ｓを離隔位置Ｐｒへ持ち運ぶことができる。 - 特許庁

To break the vacuum in the vacuum vessel 3 for the work of taking out or replacing the IP 20, the sample S is covered with the airtight vessel 10 in the vicinity thereof beforehand and working is carried out keeping the sample S in a vacuum in the vicinity thereof.例文帳に追加

ＩＰ２０の取り出し作業または交換作業をおこなうため真空容器３０内の真空を破る際は、予め試料Ｓ近傍を気密容器１０で覆い、試料Ｓ近傍の真空を保ったままで作業をおこなう。 - 特許庁

The sample rod 23 moves to form a conical surface with the sample S being the apex when the sample rod rotates around the ω axis as center, and the nozzle 26 is disposed so that the sample rod 23 and a gas spraying direction of the nozzle 26 possibly form an acute angle between them.例文帳に追加

試料棒２３はω軸線を中心として回転するときに試料Ｓを頂点とする円錐面を形成するように移動し、ノズル２６は試料棒２３とノズル２６のガス吹付方向とが９０度以下の鋭角になることがあるように設けられている。 - 特許庁

A diffracted X-ray generated in the sample S is converged by a solar slit 9 to be received by an X-ray detector 10.例文帳に追加

そして、試料Ｓで発生した回折Ｘ線をソーラースリット９で収束しＸ線検出器１０で受光する。 - 特許庁

The imaging system support means is adapted to arrange the X-ray source 6 and the X-ray detector 7 oppositely across the sample S.例文帳に追加

また、撮像系支持手段は、試料Ｓを挟んでＸ線源６とＸ線検出器７とを対向配置する。 - 特許庁

The liquid sample S is irradiated with measuring light from directly above to perform spectral analysis on transmitted light emergent downward.例文帳に追加

この液体試料Ｓに対し真上から測定光を照射し、下方に出射された透過光を分光分析する。 - 特許庁

For each pixel in the skin color area in a sample image, a histogram is generated concerning a hue H and saturation S.例文帳に追加

サンプル画像中の肌色領域における各画素について、色相Ｈおよび彩度Ｓに関してヒストグラムを生成する。 - 特許庁

A potential is applied to the back of a photosensor sample S, and an electron beam is scanned in a charged particle optical system 10.例文帳に追加

感光体試料Ｓに対して裏面に電位を加えて、荷電粒子光学系１０で電子ビームを走査する。 - 特許庁

Moreover, the ions discharged from the sample S is introduced into the ion trap 7 and placed for mass analysis without flection.例文帳に追加

また、サンプルＳから放出されたイオンは屈曲されることなくイオントラップ７に導入され質量分析に供される。 - 特許庁

The device 1 performs measurement by filling or flowing down the sample S including the object substance that has electrophoresis or is previously adjusted so as to have electrophoresis, in the sample cell 10; and includes a voltage applying unit 50 for electrophoresing the object substance in the sample S to the sample contacting surface 20s of the device 20, via the sample cell 10.例文帳に追加

ラマン分光装置１は、試料セル１０内に、電気泳動性を有する、若しくは電気泳動性を有するようあらかじめ調整された被測定物質を含む試料Ｓが充填又は流下されて、測定が行われるものであり、試料セル１０に、試料Ｓ中の被測定物質をラマン散乱デバイス２０の試料接触面２０ｓ側に電気泳動させる電圧印加手段５０が備えられたものである。 - 特許庁

The sampling of the sample from the specimen S is separated from the thermal decomposition of the sampled sample, and the sample is sampled by a low-temperature probe and the sampled sample is thermally decomposed at a high temperature, thus restraining the heating temperature of the probe to a low temperature for preventing the probe from deteriorating, and reducing the time until thermal decomposition occurs.例文帳に追加

被検体Ｓからのサンプルの採取と採取したサンプルの熱分解とを分離し、低温のプローブでサンプルを採取し採取したサンプルを高温で熱分解することによって、プローブの加熱温度を低温に抑えてプローブの劣化を防ぎ、熱分解が起きるまでの時間を短縮する。 - 特許庁

In the Raman spectroscopic measuring apparatus which is used to analyze a sample S, such as a living body sample, pulse-shaped near-infrared light at a wavelength of 1,064 nm from an Nd:YAG laser light source 10 is used as the excitation light, with which the sample is irradiated.例文帳に追加

生体試料などの試料Ｓの分析に用いるラマン分光測定装置において、試料に照射する励起光として、Ｎｄ：ＹＡＧレーザ光源１０からの波長１０６４ｎｍのパルス状の近赤外光を用いる。 - 特許庁

A plurality of potentials to be applied to the back of the sample S are set, and the Vth distribution when some position on the sample S surface is put on a boundary between reflection and absorption of the electron beam is defined by expression: (Vacc-Vsub) from an acceleration voltage Vacc and an application voltage Vsub to the back.例文帳に追加

試料Ｓ裏面に加える電位を複数設定し、試料Ｓの表面のある位置が電子ビームが反射するか吸収される境界となった場合のＶｔｈ分布を加速電圧Vaccと、裏面の印加電圧Vsubから、Vacc-Vsub により定義する。 - 特許庁

Voltage is applied across the sample S and the electrode while applying vibration to the placing part 31 from an ultrasonic oscillator (oscillator) 33 to generate glow discharge and the surface of the sample S is excavated by the ionic shock of argon ions accompanying glow discharge.例文帳に追加

超音波発振器（発振器）３３から振動を載置部３１に加えながら試料Ｓと電極との間に電圧を印加してグロー放電を発生させ、グロー放電に伴うアルゴンイオンのイオン衝撃により試料Ｓの表面を掘削する。 - 特許庁

Since a group, to which the sample S belongs is selected from a qualitative or semi-quantitative analytical result based on a first measured result, even if there are fluctuations in the measured value of the intensity of fluorescent X-rays, the errors in judgment of the sample S can be reduced.例文帳に追加

さらに、第１の測定結果に基づく定性分析結果または半定量分析結果から、試料Ｓが属するグループを選択するので、蛍光Ｘ線強度の測定値の変動があっても、試料Ｓの誤判定を少なくできる。 - 特許庁

The sample S is almost isotropically excavated by vibration while rotated at random, the analysis of a component in a radial direction due to glow discharge emission analysis become possible and surface of the cleanly formed sample S can be observed by SEM or the like.例文帳に追加

振動によって試料Ｓはランダムに回転しながらほぼ等方的に掘削され、グロー放電発光分析による半径方向の成分分析が可能となり、清浄に形成した試料Ｓの表面をＳＥＭ等で観察することも可能となる。 - 特許庁

The confocal measuring system applies a measuring system 2 comprising a scanning trigger supply part 15 corresponding to a scanning cycle of a sample S by the Nieuwpoort disk 10 by detecting rotation of the Nieuwpoort disk 10 to the confocal microscope 1 acquiring a confocal image of the sample S generated by the Nieuwpoort disk 10 and an image acquiring device 20 for acquiring the confocal image of the sample S.例文帳に追加

ニポウ円盤１０によって生成される試料Ｓの共焦点像を取得する共焦点顕微鏡１に対し、ニポウ円盤１０の回転を検出し、ニポウ円盤１０による試料Ｓの走査周期に対応する走査トリガ信号を供給する走査トリガ供給部１５と、試料Ｓの共焦点像を取得する画像取得装置２０とを備える計測システム２を適用する。 - 特許庁

The kind and the amount of the substance contained in the sample liquid X are measured easily in this manner, because the resistance difference ΔR between the reference liquid S and the sample liquid X is obtained instantaneously.例文帳に追加

このように、基準液Ｓと試料液Ｘとの抵抗差ΔＲが瞬時に得られるので、試料液Ｘに含まれる物質の種類や量の測定が簡便になる。 - 特許庁

The fine sample inserting container 1 is equipped with a fine pipe 2 in which the fine sample S is inserted and the reinforcing member 3 mounted on the appropriate part of the outer periphery of the fine pipe 2.例文帳に追加

本発明の微小試料挿入容器１は、微小試料Ｓが挿入される細管２と、細管２の外周適宜部分に装着される補強部材３とを備える。 - 特許庁

To provide a two-dimensional sample reader capable of reading a two-dimensional sample with world's highest-level high resolution, and realizing a high S/N ratio with small distortion.例文帳に追加

世界最高水準の高分解能で２次元試料を読み込むことができ、かつ、歪みが少なく高いＳ／Ｎ比を実現することができる２次元試料読み取り装置を提供する。 - 特許庁

The heat source 30 is arranged to one focal point of the rotary oval surface, and a sample S is arranged at the other focal point to converge the infrared rays from the heat source 30 to the sample.例文帳に追加

この回転楕円面の一方の焦点円に熱源３０を配置し、他方の焦点に試料Ｓを配置することで、熱源３０からの赤外線を試料に収束させる。 - 特許庁

This fluorescent X-ray analyzer is equipped with a sample stand 3 for supporting the sample S; an X-ray source 4 for irradiating the center of a prescribed irradiation position P1 with a primary X-ray P; and a detector 5 arranged toward the irradiation position P1, for detecting a fluorescent X-ray Q generated from the sample S.例文帳に追加

蛍光Ｘ線分析装置は、試料Ｓを支持する試料台３と、所定の照射位置Ｐ１を中心として一次Ｘ線Ｐを照射するＸ線源４と、照射位置Ｐ１に向って配置され、試料Ｓから発生する蛍光Ｘ線Ｑを検出する検出器５とを備えている。 - 特許庁

In a preferred embodiment, the liquid sample is tested for the presence of soluble constituent(s) by contacting a sample with a sensor array under specific conditions, removing unbound sample constituent(s), determining the mass increase on the surface and comparing the mass increase data with a reference standard using pattern recognition software.例文帳に追加

好ましい態様において、特殊な条件下で試料とセンサーアレイとを接触し、非結合性の試料成分を除去し、表面上の質量増加を決定し、パターン認識ソフトウェアを用いて前記質量増加データと参照用基準とを比較し、可溶性成分の存在に関して液体試料を測定する。 - 特許庁

The liquid sample is smoothly introduced into the reserving space part S without leaving air bubbles by forming a protruded part 51 to the single side of a spacer 5 for forming the reserving space part S to accelerate the introduction of the liquid sample into the reserving space part S due to a capillary phenomenon on the side of the protruded part 51.例文帳に追加

保留空間部Ｓを形成するスペーサ５の片側に突出部５１を形成することによって、保留空間部Ｓ内への毛細管現象による液体試料の導入を突出部５１側で促進させ、保留空間部Ｓに気泡を残さずスムーズに液体試料を導入できるようにした。 - 特許庁

The RF probe 16 contains an RF coil 22 for applying a high-frequency magnetic field to the sample 102 disposed within the space S and for detecting a magnetic resonance signal from the sample 102, and an RF shield 26 arranged within the RF coil 22 so as to surround the space S for shielding the space S.例文帳に追加

ＲＦプローブ１６は、空間Ｓに配置された試料１０２に高周波磁場を印加しかつ試料１０２からの核磁気共鳴信号を検出するためのＲＦコイル２２と、空間ＳをシールドするためにＲＦコイル２２の内側かつ空間Ｓを包囲するように設けられるＲＦシールド２６とを含む。 - 特許庁

A deviation between an output signal S-A detected by a pressure detecting element 32 and a pre-variation reference signal S-B held by a sample hold circuit 34 is computed by a difference circuit 35.例文帳に追加

圧力検出素子３２が検出した出力信号Ｓ_A は、サンプル・ホールド回路３４で保持された変動前の基準信号Ｓ_B との偏差が差分回路３５で演算される。 - 特許庁

The S contained in the oil sample 16 is concentrated by extraction and sedimentation as a sulfur compound 18 containing silver sulfide using a liquid catalyst 15 from which the S is almost completely removed.例文帳に追加

Ｓをほぼ完全に除去した液体触媒１５を用いて、油試料１６に含まれるＳを、硫化銀を含む硫黄化合物１８として抽出、沈降させて、濃縮する。 - 特許庁

Detection data is processed at a control/arithmetic operation part 9 to acquire measurement values of electrical characteristics, impurity concentrations, etc. of the sample S.例文帳に追加

検出データは、制御・演算処理部９で処理され、試料Ｓの電気的特性や不純物濃度などの測定値を得る。 - 特許庁

The micro sample piece S is surely fixed because smoothing treatment is executed on the side faces P, Q of the fourth stage 14-54.例文帳に追加

第４段１４〜５４の側面Ｐ，Ｑには平滑化処理が施されているので、微小試料片Ｓを確実に固定できる。 - 特許庁

An inverted particle detection member 21 having a mesh structure or the like is arranged on an upper part of the photoreceptor sample S in a detection part 20.例文帳に追加

検出部２０において、感光体試料Ｓの上部にメッシュ構造等の反転粒子検知部材２１を配置する。 - 特許庁

The diameter of the narrow hole 1 is a size of a degree allowing a single cell C included in the sample fluid S to pass.例文帳に追加

狭窄孔１の径は、試料流体Ｓに含まれる細胞Ｃが単一で通過することが可能な程度の大きさとされる。 - 特許庁

The sample S is held by the holding members 6s and 6s, while the reference material R is held by the holding members 6r and 6r.例文帳に追加

把持部材６ｓ、６ｓによって試料Ｓを把持し、同時に、把持部材６ｒ，６ｒによって標準物質Ｒを把持する。 - 特許庁

An X-ray detector 13 detects a secondary X-ray from a sample S and an MCA 14 acquires a spectrum of the secondary X-ray.例文帳に追加

Ｘ線検出器１３は試料Ｓから二次Ｘ線を検出し、ＭＣＡ１４は二次Ｘ線のスペクトルを取得する。 - 特許庁

After the sample S is water-cooled to a prescribed temperature by dipping it into the cooling tank 30, it is taken out and its dimensions is measured.例文帳に追加

冷却槽３０にサンプルＳを浸漬して所定温度まで水冷した後、取出してサンプルＳの寸法を測定する。 - 特許庁

An operator confirms the kind of electric wire and a mounting position by the sample electric wire S, and performs insertion and mounting work of the electric wire.例文帳に追加

作業者はサンプル電線Ｓで電線の種類及び取付位置を確認して、電線の挿入取付作業を行う。 - 特許庁

The method for selectively isolating cell component(s) comprises the step of centrifuging a sample treated by the cell-disintegrating method.例文帳に追加

細胞破砕方法により処理した試料を遠心分離する遠心分離工程を含む細胞成分の選択的分離方法。 - 特許庁

The attachment lens PA is telecentric on the side of the sample S and includes an exit pupil in the vicinity of the entrance pupil of the master lens PB.例文帳に追加

アタッチメントレンズＰＡは、試料Ｓ側にテレセントリックであり、射出瞳をマスターレンズＰＢの入射瞳付近に有する。 - 特許庁

An S/H circuit 34 holds an input voltage signal at each sample timing and outputs the held voltage signal to a subtractor 35.例文帳に追加

Ｓ／Ｈ回路３４は、サンプルタイミングごとに入力電圧信号をホールドし、ホールド電圧信号を減算器３５に出力する。 - 特許庁

In this ellipsometer 1, measurement is performed relative to some point on a sample S by a first spectroscope 8 and a second spectroscope 9.例文帳に追加

エリプソメータ１は試料Ｓのいずれかのポイントに対し第１分光器８及び第２分光器９で測定を行う。 - 特許庁

In this sample introduction device 3, switching from introduction of the sample solution S to introduction of cleaning liquid W is performed at the point of time retroactive as long as a time required for the sample solution S to reach a mass analyzer 2 from a sample container 4 on the basis of the analysis finish point of time operated based on an analysis condition in the ICP mass analyzer 2.例文帳に追加

試料導入装置３によれば、試料溶液Ｓの導入から洗浄液Ｗの導入への切り替えは、ＩＣＰ質量分析装置２における分析条件に基づいて演算された分析終了時点を基準として、試料溶液Ｓが試料容器４から質量分析装置２に達するのに要する時間を遡った時点において行われる。 - 特許庁