「sample s」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

A collimator 3 having an opening for controlling the shape of the X-rays from the X-ray lens and having a tapered shape wherein the opening on the sample side is formed smaller than the X-ray lens side is installed between the X-ray lens 2 and the sample S.例文帳に追加

Ｘ線レンズ２と試料Ｓの間に、Ｘ線レンズからのＸ線を形状を制御するために開口部を備え、Ｘレンズ側よりも試料側の開口が小さくなっている先細りの形状を有するコリメータ３を設置した。 - 特許庁

The polarization (alpha)(an angle (alpha) from s-polarization) of light irradiated to a sample, an object under defect detection, is calculated by substituting the condition of the circuit pattern of the sample, and the azimuth angle, and incident angle of irradiation light into a prescribed formula.例文帳に追加

欠陥検出を行なう被対象物である試料に照射する光の偏光（アルファ）（ｓ偏光からの角度（アルファ））を、試料の回路パターンの条件、照射光の方位角及び入射角を所定の計算式に代入して算出する。 - 特許庁

The sample container 11 includes a container body 17 for sealing the blood and the sample S in an outside air non-contact state, and the container body 17 includes a gas exchange part 25 capable of transmitting oxygen and carbon dioxide between the inside and outside of the container body 17.例文帳に追加

サンプル容器１１は、血液、サンプルＳを外気非接触の状態で封入する容器本体１７を含み、容器本体１７には、その内外間で酸素及び二酸化炭素を透過可能にするガス交換部２５が設けられている。 - 特許庁

Polarization (alpha) (an angle (alpha) from s polarization) of light to be emitted on a sample which is an object for performing defect detection is calculated by substituting a condition of a circuit pattern of the sample, an azimuth angle and an incident angle of irradiation light in a predetermined formula.例文帳に追加

欠陥検出を行なう被対象物である試料に照射する光の偏光（アルファ）（ｓ偏光からの角度（アルファ））を、試料の回路パターンの条件、照射光の方位角及び入射角を所定の計算式に代入して算出する。 - 特許庁

Light transmitted through a sample S is allowed to pass a wideband wave plate 14 and a polarized light separation part 15, and thereby a righthanded circularly-polarized component and a lefthanded polarized component are separated spatially on the sample position, and the difference thereof is measured.例文帳に追加

試料Ｓを透過した光を広帯域波長板１４と偏光分離部１５に通すことで、試料位置において右回り円偏光だった成分と左回り偏光だった成分とを空間的に分離し、その差分を測定する。 - 特許庁

The polarization (α)(an angle (α) from s-polarized light) of light irradiated to a sample of an object of defect detection is computed by substituting conditions of circuit patterns of the sample and an azimuth angle and an angle of incidence of irradiation light into a prescribed formula.例文帳に追加

欠陥検出を行なう被対象物である試料に照射する光の偏光（アルファ）（ｓ偏光からの角度（アルファ））を、試料の回路パターンの条件、照射光の方位角及び入射角を所定の計算式に代入して算出する。 - 特許庁

A polarizing prism 4 spectrally disperses reflected light from a sample into P-polarized light and S-polarized light, and the P-polarized light and S-polarized light dispersed spectrally by the polarizing prism 4 are picked up by two dimensional CCD image sensors 5p and 5s.例文帳に追加

偏光プリズム４は試料からの反射光をＰ偏光およびＳ偏光に分光するものであり、偏光プリズム４が分光したＰ偏光およびＳ偏光は２次元のＣＣＤ画像センサ５ｐおよび５ｓにより撮像される。 - 特許庁

The method is configured such that one or more species of biopolymer(s) present in a sample, when identified, is(are) captured by a plurality of probes each capable of specifically binding to the biopolymer(s) for such identification.例文帳に追加

試料中に存在する１種類以上の生体高分子を同定するに当たって、生体高分子を、その及び（又は）それらの生体高分子にそれぞれが特異的に結合可能な複数個のプローブで一括して捕捉し、同定するように、構成する。 - 特許庁

A deflection surface 25A of an optical deflecting element 25, on which a plurality of micromirrors are provided, of the confocal microscope 1 is disposed at a position conjugate to a prescribed observation surface of a sample S, and the optical deflecting element 25 controls the deflection directions of an observation light emitted from the sample S, focused with an objective lens 29 and made incident on the deflecting surface 25A by a micromirror.例文帳に追加

コンフォーカル顕微鏡１の光偏向素子２５は、複数の微小ミラーが設けられている偏向面２５Ａが試料Ｓの所定の観察面と共役な位置に配置され、対物レンズ２９により集光されて偏向面２５Ａに入射する試料Ｓからの観察光の偏光方向を微小ミラー毎に制御する。 - 特許庁

The device comprises a Raman device 2 that radiates a laser beam for excitation for exciting Raman scattered light to a sample S made of the ceramics and detects the Raman scattered light from a sample S with a detector, and a determining means 3 for investigating the existence of the peak within a frequency range of 330 cm^-1 ± 20 cm^-1 based on the detection result by the Raman device 2.例文帳に追加

セラミックスからなる試料Ｓにラマン散乱光を励起する励起用レーザー光を照射して、試料Ｓからのラマン散乱光を検出器で検出するラマン装置２と、ラマン装置２による検出結果より、振動数が３３０ｃｍ^−１±２０ｃｍ^−１の範囲内でのピークの有無を調べる判定手段３と、を備えてなる。 - 特許庁

In addition, by bringing the sample S close to the electron-permeable membrane (collodion membrane) 132, electrons R (and secondary electrons) reflected from the sample S by radiation of the electron beam B are detected by using an upper reflected electron detector 304 on the high vacuum side and a lower reflected electron detector 306 on the atmospheric-pressure side (and a secondary electron detector 302 on the high vacuum side).例文帳に追加

さらに、試料Ｓを電子透過膜（コロジオン膜）１３２に近づけて、電子線Ｂの照射による試料Ｓからの反射電子Ｒ（および二次電子）を、高真空側の上部反射電子検出器３０４と大気圧側の下部反射電子検出器３０６（ならびに高真空側の二次電子検出器３０２）を用いて検出する。 - 特許庁

The apparatus has a measurement electrode 6 that brings liquid or a measurement target into contact with a sample S that is wetted by water or the like, a comparison electrode 8 that approaches while opposing the measurement electrode 6, and an apparatus body 2 that has a signal processor such as a CPU 4 for calculating a chemical physical property of the sample S that is sandwiched between both the electrodes 6 and 8.例文帳に追加

液体または測定対象を水などで湿らせたサンプルＳに接触する測定電極６と、この測定電極６に対向した状態で近接する比較電極８と、両電極６，８の間に挟み込まれたサンプルＳの化学物性を算出するＣＰＵ４などの信号処理装置を有する装置本体２とを備えた。 - 特許庁

The spectral measuring instrument 1A is equipped with the integrating sphere 20 arranged in a sample S and having an incident opening part 21 on which exciting light is thrown and an emitting opening part 22 for emitting the light to be measured from the sample S, a spectral analyzer 30 for spectrally diffracting the light to be measured to acquire a wavelength spectrum, and a data analyzer 50.例文帳に追加

試料Ｓが内部に配置され、励起光を入射する入射開口部２１及び試料Ｓからの被測定光を出射する出射開口部２２を有する積分球２０と、被測定光を分光して波長スペクトルを取得する分光分析装置３０と、データ解析装置５０とを備えて分光測定装置１Ａを構成する。 - 特許庁

Consequently, when the sample 210 sandwiched by the two support members 310, 320 is moved to a desired position of the waveguide 110, the sample 210 resides at that position, and a S parameter can be correctly measured using a meter 120.例文帳に追加

これにより、図示しない治具を用いて、支持部材３１０，３２０に挟み込まれた試料２１０を導波管１１０の所望の位置に移動させれば、試料２１０はその位置に留まり、測定器１２０を用いてＳパラメータを正しく測定することが可能となる。 - 特許庁

The control part 60 has a session management part that defines a session corresponding to the sample group of the plurality of samples S and manages a data group including the macro image data and the imaging condition of the macro image as session data correlated with the sample group for every session.例文帳に追加

また、制御部６０は、複数の試料Ｓの試料グループに対応してセッションを定義し、マクロ画像のデータ及び撮像条件を含むデータグループを、試料グループに関連付けられたセッションデータとしてセッション毎に管理するセッション管理部を有する。 - 特許庁

The joint 82 is inserted into the adapter 84, and the box nut 83 is tightened and fixed in the state where the direction of the slit part of the tension side detection bar 81 agrees with the slit part of a fixing side sample support tube 2 for supporting the other end of the film sample S.例文帳に追加

前記接手８２をアダプター８４に挿入し、前記引張り側検出棒８１のスリット部の方向を、前記フィルム状試料Ｓの他端を支持する固定側試料支持管２のスリット部に一致させた状態で、袋ナット８３を締め付けて固定する。 - 特許庁

You may want to install some plugins for extra functionality. alsa-plugins is a collection of useful plugins, which include: PulseAudiooutput, a sample rate converter, jack (a low-latency audio server), and an encoder that lets you output 6-channel audio through digital S/PDIF connections(both optical and coaxial).例文帳に追加

特別な機能を求めて、プラグインをいくつかインストールすることもあるでしょう。 alsa-pluginsは有用なプラグインのコレクションで、PulseAudio出力、サンプリングレートの変換、jack（低遅延サウンドサーバ）、そして、デジタルS/PDIF接続を通した6チャンネルオーディオ出力を可能にするエンコーダが含まれています。 - Gentoo Linux

On a sample holder 20 for an electron microscope, the electron beam that transmits through a sample S supported by a grid 28 and passes through an aperture member 31 with a main body portion 21 attached to a sample stand of a scanning electron microscope is irradiated on a secondary electron generating surface 32, resulting in a secondary electron being generated from the secondary electron generating surface 32.例文帳に追加

電子顕微鏡用試料ホルダ２０においては、走査型電子顕微鏡の試料台に本体部２１が取り付けられた状態で、グリッド２８によって支持された試料Ｓを透過し且つ絞り部材３１を通過した電子線が２次電子発生面３２に照射され、それにより、２次電子発生面３２から２次電子が発生させられる。 - 特許庁

Further, an X-ray transmission sheet 15 is overlapped on the sample S and the X-ray transmission sheet 14 to be extended at the opening end of the cylindrical member 11, and fixed by an O-ring (second fitting member) 13.例文帳に追加

更に、Ｘ線透過シート１５を、試料Ｓ及びＸ線透過シート１４に重ねて筒状部材１１の開口端に張設し、オーリング（第２の嵌合部材）１３で固定する。 - 特許庁

A base 100 of a shielding material support stage 23a, forming a shielding material support means, is equipped with a notch part 100a enabling a processing surface SA of the sample S to in the vertical directions.例文帳に追加

遮蔽材支持手段をなす遮蔽材支持ステージ２３ａの基台１００は、試料Ｓの加工面ＳＡが上下に通過可能とされた切り欠き部１００ａを備える。 - 特許庁

Further, since the electrode plates 6 and 7 are provided on the outer surface of the receiving part 15, the passage or reception of the sample S is not obstructed and good measurement can be achieved.例文帳に追加

しかも、各電極６および７は、受入部１５の外面に設けられているので、試料Ｓの通過あるいは受け入れが阻害されず、良好な測定を達成することができる。 - 特許庁

To provide an optical microscope with which appropriate microscopic observation can be realized in the center of observation field even when a sample S is at a position deviated from the center axis of the curved liquid level of a culture solution.例文帳に追加

標本Ｓが培養液の彎曲液面の中心軸から外れた位置にあっても観察視野の中央で適正な顕微鏡観察ができる光学顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide an FPD having a structure which is suitable for separating and shielding noisy luminescence from luminescence derived from a sample component so that a noise in the FPD is reduced and that an S/N ratio is enhanced.例文帳に追加

ノイズ性発光を試料成分由来の発光から分離遮蔽するに適した構造のＦＰＤを提供し、以てＦＰＤにおけるノイズを減少させＳ／Ｎ比の向上を図る。 - 特許庁

The fluorescent cube 10 is replaced and arranged at a predetermined position by a driving gear 12 in a fluorescent illumination device 20 which illuminates a sample S with exciting light L2 so as to generate fluorescence L3.例文帳に追加

蛍光キューブ１０は、試料Ｓを励起光Ｌ２で照明して蛍光Ｌ３を発生させる蛍光照明装置２０において、駆動歯車１２により所定位置に交換配置される。 - 特許庁

The digital modulator is characterized in an interpolation means INT that can interpolate a new sample OUT on the basis of an interpolation parameter and a signal derived from the digital signal S(TA).例文帳に追加

それは、補間パラメータと、ディジタル信号Ｓ（ＴＡ）から誘導された信号とに基づいて新しいサンプルＯＵＴを補間することができる補間手段ＩＮＴによって特徴付けられる。 - 特許庁

The sample to be disinfected is placed inside a medical disinfection/sterilization box and the flow velocity of the rare gas flow or the dry air flow inside the tube is 0-500 cm/s.例文帳に追加

前記被殺菌試料が、医療用の殺菌・滅菌ボックス内に置かれており、前記チューブ内における希ガス流または乾燥空気流の流速が０〜５００ｃｍ／ｓである。 - 特許庁

The laser light which is emitted from the long focus lens 14 and of which the light flux diameter is gradually narrowed passes through an emission port 75 and an incident port 74 or the like, and hits the sample S without interception.例文帳に追加

長焦点のレンズ１４から出て徐々に光束径が絞られるレーザ光は出射口７５、入射口７４などを通過し、遮られることなくサンプルＳに当たる。 - 特許庁

Adjacently to an XY table 21 for holding the workpiece W, an XY table 31 for holding a position detecting sample S which is irradiated with a laser beam with a prescribed timing is arranged.例文帳に追加

被加工物Ｗを保持するＸＹテーブル２１に隣接して、所定のタイミングでレーザ光を照射される位置検出試料Ｓを保持するＸＹテーブル３１が配置されている。 - 特許庁

The switching output from the circuit 121 performs the sample holding processing and amplification processing by an S/H circuit 122 and an amplifier circuit 123 respectively and then is outputted from an output circuit 124.例文帳に追加

ＳＷ回路１２１からの切換出力は、Ｓ／Ｈ回路１２２によるサンプルホールド処理、増幅回路１２３による増幅処理の後、出力回路１２４より出力される。 - 特許庁

In this Raman spectroscopic device 10, the laser beam L emitted from a laser beam source 20 is passed through a cylindrical lens 22 and a slit plate 23 to be linearly deformed to irradiate the sample S.例文帳に追加

ラマン分光装置１０は、レーザ光源２０から発したレーザ光Ｌをシリンドリカルレンズ２２及びスリット板２３の通過により直線状に変形して試料Ｓへ照射する。 - 特許庁

In this X-ray apparatus, the X ray is detected by the X-ray detector 21 while rotating the X-ray detector 21 and the monochromator 17 around the sample S by 2θ.例文帳に追加

このＸ線装置では、Ｘ線検出器２１及びモノクロメータ１７を試料Ｓを中心として２θ回転させながら、そのＸ線検出器２１によってＸ線を検出する。 - 特許庁

To execute the measurement by the suitable positional resolution, an analyzing radioactive ray is transmitted to the sample by an X-ray transmission capillary tube directed toward the s ample through the surface of a detector.例文帳に追加

適切な位置分解能で測定を実施するには、検出器面を通って試料に向けられたＸ線伝導毛細管により分析放射線が試料に伝導される。 - 特許庁

In this optical measuring instrument 1, feature such that the sample S is moved through the flow channel 2 is put to practical use and respective second means are provided on the downstream side of respective first means.例文帳に追加

本発明に係る光学的測定装置１では、試料Ｓが流路１内を移動するという特徴を生かし、第１の各手段より下流に、第２の各手段を設けている。 - 特許庁

The base table 100 of the shading material support stage 23a which functions as a shading material support means comprises a cut-out part 100a in which the processing face SA of the sample S can pass vertically.例文帳に追加

遮蔽材支持手段をなす遮蔽材支持ステージ２３ａの基台１００は、試料Ｓの加工面ＳＡが上下に通過可能とされた切り欠き部１００ａを備える。 - 特許庁

One X-ray spectrum is obtained from the photoelectrons and Auger electrons emitted from the sample S in an electron yield spectrum detecting section 25 of an XAFS analysis apparatus 1.例文帳に追加

ＸＡＦＳ分析装置１の電子収量スペクトル検出部２５において試料Ｓから放出された光電子及びオージェ電子に基づいてＸ線吸収スペクトルを得る。 - 特許庁

The controller 23 detects the displacement between the image by the objective lens 3a and the sample S from the electric signals which the light detector 14 outputs by converting the received light.例文帳に追加

コントロール部２３は、受光素子１４が受光した光を変換して出力した電気信号に基づいて、対物レンズ３ａの結像面と標本Ｓとの位置のずれを検出する。 - 特許庁

In the quantitative analyzing method of asbestos, the diffraction line intensity of asbestos contained in a sample S to be inspected is calculated and the weight of asbestos is calculated from the diffraction line intensity on the basis of a calibration curve.例文帳に追加

被検試料Ｓに含まれるアスベストの回折線強度を求め、検量線に基づいてその回折線強度からアスベストの重量を求める定量分析方法である。 - 特許庁

To determine with high sensitivity, quantitatively trace amounts of elements such as C, S, N, or H contained in a metal sample such as iron and steel.例文帳に追加

鉄鋼などの金属試料に微量に含まれるＣ、Ｓ、Ｎ、Ｈなどの元素を高感度に定量分析することができる金属試料中の元素分析装置を提供すること。 - 特許庁

On the basis of the result of the dimension measurement of the sample S, rolling conditions such as the gap between grooved rolling rolls 22, 22, the correction of the center deviation of a groove, rolling speed and tension are adjusted.例文帳に追加

そして、サンプルＳの寸法測定結果に基づき、孔型圧延ロール２２,２２の隙間や孔型の芯ずれの矯正、圧延速度、テンション等の圧延条件を調整する。 - 特許庁

In particular, the detection signal generation part 41 includes a dividing part 43 dividing the transmission section by first timing to divide it into two or more signals, an S/H part 44 sample-holding each divided signal by second timing in the transmission section, and a subtraction part 45 subtracting each signal after the sample-holding.例文帳に追加

特に、検出信号生成部４１は、透過区間を第１タイミングで区切り２以上の信号に分割する分割部４３、分割された各信号を透過区間内における第２タイミングにてサンプルホールドするＳ／Ｈ部４４及びサンプルホールド後の各信号を減算する減算部４５を有する。 - 特許庁

Since the chemical input part 7 is disposed on the furthermore base end side with respect to the sampling domain S, sampling and measurement of the sample water can be performed, without having to mount/dismount the slide member 6 on/from the container 4, each time chemical input or sampling and measurement of the sample water is performed.例文帳に追加

薬品投入部７が採取領域Ｓに対して基端側に配設されているので、薬品投入、試料水の採取並びに測定の際に、いちいちスライド部材６を容器４から取付け取外しすることなく試料水の採取測定を行うことができる。 - 特許庁

To provide a means reducing positron annihilation γ ray constituents generated in a part other than a sample and included in a positron annihilation γray to be measured so as to improve an S/N ratio for providing a measurement result independent of a sample shape, structure, performance, or characteristics of a measurement device.例文帳に追加

測定される陽電子消滅γ線に含まれる、試料以外で発生した陽電子消滅γ線の成分を低減してＳ／Ｎ比を向上させ、試料形状や測定装置の構造・性能・性質等に依存しない測定結果が得られる手段を提供することを目的とする。 - 特許庁

This electron beam device is equipped with an optical system 10 forming an electron beam emitted from an electron gun 11 in a plurality of electron beams and scanning the electron beams on a sample S for irradiation; and a plurality of detectors 21 for detecting secondary electrons emitted from the sample by irradiation of the electron beams.例文帳に追加

電子銃１１から放出された電子線を複数の電子ビームに形成し、電子ビームで試料Ｓ上を走査して照射する光学系１０と、電子ビームの照射により試料から放出された二次電子を検出する複数の検出器２１とを備えている。 - 特許庁

A Faraday cup for measuring the current of the ion beam is installed oppositely to the head of the beam introduction pipe 2 across the sample S under a table 1, and a nitrogen gas introduction pipe is connected thereto, and the air in the space from the under surface of the sample to the Faraday cup is evacuated to form a nitrogen gas atmosphere.例文帳に追加

テーブル１の下方には、試料Ｓを挟んでビーム導入管２の先端と対向するようにイオンビームの電流測定用ファラディカップを設け、これに窒素ガス導入管を接続し、試料の下面からファラディカップまで空間の空気を排除して窒素ガス雰囲気を形成する。 - 特許庁

Then, an image generation means 9 generates the optical tomographic image of the sample from the interference light L5 detected by the interference light detection means 7 and also generates the fluorescent tomographic image of the sample S from the fluorescence L4 detected by the fluorescence detection means 8.例文帳に追加

そして、画像生成手段９が干渉光検出手段７により検出された干渉光Ｌ５から試料の光断層画像を生成するとともに、蛍光検出手段８により検出された蛍光Ｌ４から試料Ｓの蛍光断層画像を生成する。 - 特許庁