「sample s」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

The upper surface of the sample stand 12 is formed into a curved surface changed in height in the longitudinal direction of the long sample S placed on the sample stand 12.例文帳に追加

長尺試料Ｓの測定部分を支持する試料台１２と、該試料台１２と協働して長尺試料Ｓを支持すると共に該長尺試料Ｓを支持する高さを変化することにより長尺試料Ｓの水平姿勢を調整する水平姿勢調整手段１３と、を備えていて、試料台１２の上面が、該試料台１２に載せた状態の長尺試料Ｓの長手方向に、高さが変化する曲面状となっている。 - 特許庁

An optical measurement apparatus is provided and includes at least a light irradiation means 11 for irradiating the sample S flowing through the flow path 2 with light, a light detection means 12 for detecting optical information generated from the sample S by light irradiation with the light irradiation means 11, and a sound conversion means 13 for converting the optical information detected by the light detection means 12 into sound information.例文帳に追加

本発明では、流路２を通流中の試料Ｓに対して光を照射する光照射手段１１と、該光照射手段１１による光照射によって、前記試料Ｓから発せられる光学的情報を検出する光検出手段１２と、該光検出手段１２により検出された光学的情報を音声情報に変換する音声変換手段１３と、が少なくとも備えられた光学的測定装置を提供する。 - 特許庁

This A/D converter 101 is provided with a sample-and-hold S/H circuit 11, a comparator 13, a D/A converter circuit 15, a control circuit 17, an expectation value discrimination circuit 111, a correction value storage section 113 as a data storage section, and a selector 115.例文帳に追加

Ａ／Ｄ変換器１０１は，Ｓ／Ｈ回路１１，コンパレータ１３，Ｄ／Ａ変換回路１５，コントロール回路１７，期待値判定回路１１１，データ格納部としての補正値格納部１１３，およびセレクタ１１５を備えている。 - 特許庁

A multiplier 13' of this matched filter is not provided with a +1 adder and gives no change to input data of a sample-hold circuit S/H 11, when a reference signal of a cord register 12 is set 'positive' but will invert bits, when the reference signal of the cord register 12 is set 'negative'.例文帳に追加

本発明のマッチドフィルタにおける乗算器１３′では＋１加算器を備えず、Ｓ／Ｈ１１の入力データをコードレジスタ１２の参照信号が「正」とするときはそのままとし、「負」とするときはビット反転する。 - 特許庁

The intensity in the electric field of the terahertz pulse light L8 transmitted through the sample S is detected finely with a prescribed delay time interval, during the one time delay operation for moving a turning mirror 11 by a distance d along an A direction from an original position.例文帳に追加

原点位置からＡ方向に距離ｄだけ折り返しミラー１１を移動させる１回の時間遅延動作中に、、試料Ｓを透過したテラヘルツパルス光Ｌ８の電場強度を所定遅延時間間隔で細かく検出する。 - 特許庁

A helium gas atmosphere is formed in a small space enclosed by three parts, namely, a sample S, the head of the beam introduction pipe 2 and the head of the X-ray introduction sleeve 3a, and ion beam irradiation and introduction of a characteristic X-ray are executed in the atmosphere.例文帳に追加

試料Ｓ、ビーム導入管２の先端、Ｘ線導入用スリーブ３ａの先端の三者に囲まれた小空間にヘリウムガス雰囲気を形成し、この雰囲気内でイオンビーム照射、特性Ｘ線の導入を行う。 - 特許庁

A shielding material M of a long shape (wire-like), supplied from the supply wheel 101, is bridged and supported in between the pair of support wheels 102, and the shielding material M of that part is arranged above the processing surface SA of the sample S.例文帳に追加

供給ホイール１０１から供給された長尺状（ワイヤ状）の遮蔽材Ｍは、一対の支持ホイール１０２の間で架橋されて支持され、この部分の遮蔽材Ｍが試料Ｓの加工面ＳＡの上方に配置される。 - 特許庁

By parallelly moving the stimulable phosphor 12 intermittently corresponding to the state change of the sample S as shown by an arrow C, a plurality of sets of Debye rings DR can be recorded at the difference places of the stimulable phosphor 12.例文帳に追加

試料Ｓの状態変化に対応させて輝尽性蛍光体１２を矢印Ｃのように間欠的に平行移動させることにより、１つの輝尽性蛍光体１２の異なる個所に複数組のデバイ環Ｄ_Ｒ を記録できる。 - 特許庁

The method is to be used for extracting protein, protein fragment(s) and/or peptide from a biological sample, wherein an extractant to be used is an ionic liquid represented by the general formula:K^+A^-.例文帳に追加

生物学的サンプルから、タンパク質、タンパク質断片および／またはペプチドを抽出するための方法であって、使用される抽出剤が一般式Ｋ^＋Ａ^−で表されるイオン性液体である前記方法により、前記課題は解決される。 - 特許庁

To provide an X-ray analyzer for adjusting an X-ray application position that can easily analyze XAFS(X-ray absorption fine structure) with high sensitivity under a low S/B by measuring the amount of electron being generated by applying X-rays to a sample.例文帳に追加

試料にＸ線照射して発生する電子量を低いＳ／Ｂの下、高い感度で測定して容易にＸＡＦＳ解析をすることができるＸ線照射位置調整が簡単なＸ線分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device capable of shortening time needed for two-dimensional scanning, obtaining images of high resolution with a good S/N ratio, and decreasing an adverse effect of static charge on a sample due to beam irradiation.例文帳に追加

二次元走査に要する時間を短縮することができ、Ｓ／Ｎ比の良い高分解能の画像を取得することができ、ビーム照射による試料の帯電の影響を低減できる荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

To realize still faster image formation with improvement of S/N ratio by enabling speeding up and delayed storage concerning an electron beam image formation device which forms images by applying electron beams on a sample.例文帳に追加

本発明は、電子ビームをサンプルに照射して画像を生成する電子ビーム画像生成装置に関し、高速化および遅延蓄積可能にしてＳ／Ｎ比を向上させて更らなる高速画像生成を実現することを目的とする。 - 特許庁

When the S(i, j) is less than the prescribed value T, on the other hand, the shape of the subject has changed gradually, so that pixels are thinned out horizontally by M and vertically by N to sample the distance information (i, j) (step 207 to 210).例文帳に追加

一方、Ｓ（ｉ，ｊ）が所定値Ｔ以下ならば、被写体の形状は緩やかに変化しているので、水平方向にＭ画素、垂直方向にＮ画素間引いて距離情報Ｄ（ｉ，ｊ）をサンプリングする（ステップ２０７〜２１０）。 - 特許庁

The rectangular edge of a blade is used in a Thomson blade blanking the sample S for control from the continuous grid 1, a longitudinal directional dimension V of the edge of the Thomson blade is set in the lateral dimension t1 or more of a lateral rail 102 of the continuous grid.例文帳に追加

連続格子体１から管理用サンプルＳを打ち抜くトムソン刃として矩形状の刃先を有するものを用い、トムソン刃の刃先の縦方向寸法Ｖを連続格子体の横骨１０２の幅寸法ｔ1以上に設定する。 - 特許庁

The capillary optical element 6 is formed by bundling a plurality of capillary tubes 10, and its X-ray incidence port 6a is formed to be smaller than an X-ray emission port 6b so that it anticipates the small region of the sample S.例文帳に追加

キャピラリ光学素子６は、複数のキャピラリチューブ１０を束ねることによって形成され、そのＸ線入射口６ａは試料Ｓの微小領域を見込むようにＸ線出射口６ｂに比べて小さく形成される。 - 特許庁

The photothermal effect of the sample S caused by the excitation light Le is measured from a phase change of the measuring light L2, and generation of the interaction between the small biomolecules and the aptamer is determined based on a change with time of a measuring signal.例文帳に追加

この測定光Ｌ２の位相変化から、励起光Ｌｅによる試料Ｓの光熱効果を測定し、その測定信号の時間変化に基づいて生体小分子とそのアプタマーとの相互作用の発生の有無を判断する。 - 特許庁

A sample gas S and a comparison gas R are alternately supplied to an ionization section 3 in the mass spectrometer 1 via a gas channel switching apparatus 10 to modulate fluid and alternately amplify an output signal.例文帳に追加

ガス流路切換え装置１０を介して、質量分析計１のイオン化部３に対して試料ガスＳと比較ガスＲとを交互に供給することによって流体変調を行い、出力信号を交流増幅するようにした。 - 特許庁

A long (wire-shape) shielding material M supplied from the feeding wheel 101 is supported bridged between the pair of support wheels 102 and the shading material M in this portion is arranged over the processing face Sa of the sample S.例文帳に追加

供給ホイール１０１から供給された長尺状（ワイヤ状）の遮蔽材Ｍは、一対の支持ホイール１０２の間で架橋されて支持され、この部分の遮蔽材Ｍが試料Ｓの加工面ＳＡの上方に配置される。 - 特許庁

A parameter adjustment part 14 selects an optimum imaging parameter from an initial group of the imaging parameters based on an error between the estimated number of objects and the number of objects existing in the sample image acquired from the camera(s) 2.例文帳に追加

パラメータ調整部１４は前記推定された被写体数とカメラ２から取得された標本画像に存在する被写体の数との誤差に基づき前記撮像パラメータの初期集団から最適な撮像パラメータを選択する。 - 特許庁

In an infrared gas analyser wherein a pressure pump 17 is provided to the line 10 supplying sample gas S to a gas analyzing part 12, one critical flow Venturi 18 is provided on the upstream side of the sample gas supplying line 10 and other critical flow Venturi 19 is provided to the gas discharge line 11 of the gas analyzing part 12.例文帳に追加

ガス分析部１２に試料ガスＳを供給するライン１０に加圧ポンプ１７を設けた赤外線ガス分析装置において、前記試料ガス供給ライン１０の加圧ポンプ１７より上流側に一つのクリチカルフローベンチュリ１８を設けるとともに、ガス分析部１２のガス排出ライン１１に他のクリチカルフローベンチュリ１９を設けた。 - 特許庁

This glow discharge excavation device 1 is provided with an infrared sensor 31 of a radiation temperature measuring instrument 30 in parallel to a glow discharge tube 2, and receives an infrared ray radiated from a sample surface drilled by spattering accompanied to the glow discharge, by the infrared sensor 31, when light emission is not generated accompanied to the spattering, to measure the temperature of the excavated portion in the sample S.例文帳に追加

グロー放電掘削装置１は、グロー放電管２に放射温度測定器３０の赤外線センサ３１を併設し、グロー放電に伴うスパッタリングで掘削される試料表面から放射される赤外線をスパッタリングに伴う発光が生じていないときに赤外線センサ３１で受光して、試料Ｓの掘削箇所の温度を測定する。 - 特許庁

The electron beam device comprises a primary optical system 10 which scans a plurality of locations on the sample by a plurality of electron beams, a secondary optical system 20 which converges the secondary electrons emitted from the sample S by the scanning of electron beams into a plurality of secondary electrons and introduces into each detector 31, and a detection system 30 which detects respectively the plurality of introduced secondary electrons.例文帳に追加

複数の電子ビームで試料上の複数の箇所を走査する一次光学系１０と、電子ビームの走査により試料Ｓから放出された二次電子を複数の二次電子に集束して、各々の検出器３１に導入する二次光学系２０と、導入された複数の二次電子をそれぞれ検出する検出系３０とを備えている。 - 特許庁

The image acquisition device is constituted of a macro image acquiring part 20 for acquiring respective macro images of the plurality of samples S and a control part 60 including a macro image acquisition control part for controlling a macro image acquisition operation and an imaging condition setting part for setting the imaging condition of the micro image of the sample S while referring to the macro image.例文帳に追加

複数の試料Ｓのそれぞれについてマクロ画像を取得するためのマクロ画像取得部２０と、マクロ画像の取得動作を制御するマクロ画像取得制御部、及びマクロ画像を参照して試料Ｓのミクロ画像の撮像条件を設定する撮像条件設定部を有する制御部６０とによって画像取得装置を構成する。 - 特許庁

The optical microscope 100 is equipped with a refractive power variable lens 20, a refractive power changing mechanism 30 and a lens driving mechanism 40, and a microplate M in which the sample S is stored together with the culture solution is placed on an XY moving stage 6.例文帳に追加

光学顕微鏡１００には、屈折力可変レンズ２０、屈折力変更機構３０およびレンズ駆動機構４０とが備えられ、マイクロプレートＭは、標本Ｓを培養液とともに収容し、ＸＹ移動ステージ６上に載置されている。 - 特許庁

A medium layer covering a grating layer 4 of a waveguide mode resonance filter 50 is prepared as the sample S, and an end face of a waveguide layer 3 is irradiated with monochromatic light, and emitted light therefrom is detected by a detector 14, and an emission spectrum is created by a data processing part.例文帳に追加

導波モード共鳴フィルタ５０の格子層４を覆う媒体層を試料Ｓとし、導波層３の端面に単色光を照射して、検出器１４によりその出射光を検出し、データ処理部で出射スペクトルを作成する。 - 特許庁

To provide a high vacuum analyzer including a preliminary exhaust chamber 20 before a analyzing chamber 10 wherein a degree of vacuum of the preliminary exhaust chamber is made higher for a short time and contamination of a sample S and walls of the analyzing chamber caused by residual gas is prevented.例文帳に追加

分析室１０の前に予備排気室２０を備える形態の高真空分析装置において、短い時間で予備排気室の真空度をより高くすると共に、残留ガスによる試料Ｓおよび分析室壁の汚染を防止する。 - 特許庁

To provide an electron beam type dimension measuring device capable of achieving highly accurate dimension measurement even in the case of a sample requiring dimension measurement by a low S/N signal waveform such as a photoresist for ArF exposure, and a dimension measuring method using it.例文帳に追加

ＡｒＦ露光用のフォトレジスト等、低Ｓ／Ｎの信号波形による寸法計測が必要な試料においても、精度の高い寸法計測を実現する電子線式寸法計測装置及びそれを用いた寸法計測方法を提供する。 - 特許庁

The curved PSPC 20 is arranged to be so positioned that a virtual plane containing a circular arc-like core line 22 built therein 20 shifts parallel from the optical axis O of X rays R made to irradiate a sample S through a collimator 10.例文帳に追加

コリメータ１０を通して試料Ｓに照射されるＸ線Ｒの光軸Ｏに対し、湾曲ＰＳＰＣ２０に内蔵した円弧状の芯線２２を含む仮想平面が平行にずれた位置となるように、湾曲ＰＳＰＣ２０を配置する。 - 特許庁

A focusing signal processing section 17 detects that a surface of the observation sample S is positioned at the focusing position of the objective lens 2 based on AF light that is emitted from a reference light source 3, is reflected on the surface, and comes via the objective lens 2.例文帳に追加

合焦信号処理部１７は、対物レンズ２の合焦位置に観察試料Ｓの表面が位置したことの検出を、基準光源３から発せられて該表面で反射して対物レンズ２を介して到来するＡＦ光に基づいて行う。 - 特許庁

Coordinate data Z of a height position in the confocal image data acquired by an infrared confocal scanning microscope 1 are corrected by a data correction-computing part 19, based on a refractive index data of the sample S input from a user interface 17.例文帳に追加

ユーザインタフェース１７からインプットされた試料Ｓの屈折率データに基づいてデータ補正演算部１９により赤外共焦点走査型顕微鏡１により取得された共焦点画像データの高さ位置の座標データＺを補正する。 - 特許庁

A laser irradiation part 10 including a laser light source 11, and lenses 12, 13, 14 is arranged on the center axis C at a position further away from the detection part 9 as the farthest site from the sample S, and a light axis of the laser light matches the center axis C.例文帳に追加

レーザ光源１０、レンズ１２、１３、１４を含むレーザ照射部１０は中心軸Ｃ上で、サンプルＳから最も離れた部位である検出部９よりもさらに離れた位置に配置され、レーザ光の光軸と中心軸Ｃとも一致させる。 - 特許庁

Rayleigh scattering light caused by the Raman scattering light and the excitation laser light 1 from a sample S and reference light 13 are introduced into a multiple wavelength simultaneous detection means 8, and a spectrum of each scattering light 1a and a spectrum of the reference light 13 are measured.例文帳に追加

試料Ｓからのラマン散乱光及び励起レーザ光１に起因するレーリー散乱光と基準光１３とを多波長同時検出手段８に導入し、各散乱光１ａのスペクトル及び基準光１３のスペクトルを測定する。 - 特許庁

An interference light detection means 7 detects interference light L5 obtained when the reflected light L3 and the reference light L2 are multiplexed, and a fluorescence detection means 8 detects fluorescence L4 emitted by stimulating the fluorochrome of the sample S.例文帳に追加

干渉光検出手段７が反射光Ｌ３と参照光Ｌ２とが合波されたときの干渉光Ｌ５を検出するとともに、蛍光検出手段８が試料Ｓの蛍光色素が励起されることにより射出された蛍光Ｌ４を検出する。 - 特許庁

A Peltier element 27 is cooled by a heat exchanger 28 by use of the cold air supplied to the sample S and the X-ray detector 26 is cooled by the Peltier element 27 to prevent thermal noises at the X-ray detector 26.例文帳に追加

試料Ｓに供給した冷気を利用して熱交換器２８によってペルチエ素子２７を冷却し、ペルチエ素子２７によってＣＣＤＸ線検出器２６を冷却して、ＣＣＤＸ線検出器２６におけるサーマルノイズの発生を防止する。 - 特許庁

This charged particle beam device 1 is provided with: a chamber 2 capable of evacuating the inside 2a thereof by an in-chamber evacuation means 4; and a lens barrel 3 for irradiating a sample S arranged in the inside 2a of the chamber 2 with a charged particle beam B1.例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置１は、チャンバー内排気手段４によって内部２ａを排気可能なチャンバー２と、チャンバー２の内部２ａに配置された試料Ｓに対して荷電粒子ビームＢ１を照射する鏡筒３とを備えている。 - 特許庁

Laser light L output from an ArF excimer laser light source 1 passes through a beam reshaping optical system 2 with its energy adjusted by an ND filter 3, and further, is applied via an aperture 4 to a sample S, with its energy density measured by an energy monitor 5.例文帳に追加

ＡｒＦエキシマレーザー光源１から出射されたレーザー光Ｌは、ビーム整形光学系２を通過し、ＮＤフィルタ３によりエネルギが調整され、更にアパーチャ４を介してサンプルＳに照射され、エネルギモニタ５によってエネルギ密度が測定される。 - 特許庁

The device for measuring ion chromatograph with the separation column 2 for introducing an eluate L1 and a sample S, includes a six-way valve V2 that selectively introduces a cleaning liquid L2 to the upstream stage of the separation column 2.例文帳に追加

溶離液Ｌ１とともにサンプルＳが導入される分離カラム２を備えたイオンクロマトグラフ測定装置において、 前記分離カラム２の前段に、前記分離カラム２に選択的に洗浄液Ｌ２を導入する六方バルブＶ２を備えたことを特徴とする。 - 特許庁

The detecting part 4 is composed of a sensor 23 for detecting measuring points A, B installed in upper and lower two points of the gauge head 3 sinking into the sample S; and a measuring instrument 24 for finding the sinking speed of the gauge head 3.例文帳に追加

試料Ｓへ沈入する測定子３の上下の２点に設けられた測定点Ａ、Ｂを検出するセンサ２３と、センサ２３からの検出結果に基づいて、測定子３の沈入速度を求める計測器２４とから検出部４を構成する。 - 特許庁

When a light flux diameter of measuring light irradiated on a sample S is relatively large, a nonuniform film thickness in the irradiated area provides an interference spectrum with a form represented by an integration of a plurality of cosine functions having different periods.例文帳に追加

試料Ｓに照射される測定光の光束径が或る程度大きいとき、その照射領域内で膜厚が不均一であると、得られる干渉スペクトルは周期の異なる複数の余弦関数の積分で表される形式となる。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus with an enhanced S/N by revising a phase timing of a sample hold pulse attended with revision of a drive condition such as reduction of a drive frequency when a correlation double sampling circuit or the like samples and holds an imaging signal.例文帳に追加

低輝度被写体に対する視認性を向上させるためには、ゲインを高くして映像信号を増幅させることが容易な手法ではあるが、ノイズやシェーディング等の信号変動の問題で、容易にゲインを高くすることができない。 - 特許庁

A defect inspection device is provided with a first irradiating means S for irradiating a sample 9 by emitting primary electron beams, mapping optical mechanisms 11 to 13 or imaging secondary electrons emitted from the surface of the sample 9 irradiated with the secondary electron beams, a detector D for detecting the secondary electrons, and an image treatment mechanism 18 for treating signals from the detector D.例文帳に追加

欠陥検査装置は、一次電子線を放出して試料９を照射するための第１の照射手段Ｓと、一次電子線で照射された試料９の表面から放出された二次電子を結像させるための写像光学機構１１〜１３と、二次電子を検出するための検出器Ｄと、検出器Ｄからの信号を処理する画像処理機構１８とを具備する。 - 特許庁

When performing mass spectrometry, the material S to be analyzed for the mass spectrometry included in the sample is ionized and desorbed, by utilizing an electric field on the surface 1s of the first reflector 10 enhanced by resonance generated in the optical resonator by irradiating laser light L to a sample in contact with the surface 1s of the first reflector 10.例文帳に追加

質量分析を行う際には、第１の反射体１０の表面１ｓに接触された試料に対してレーザ光Ｌを照射することにより、光共振体内に生じる共振によって増強された第１の反射体１０の表面１ｓにおける電場を利用して、試料中に含まれる質量分析の被分析物質Ｓをイオン化させると共に脱離させる。 - 特許庁

The gas G discharged from an internal combustion engine 1 is sampled and charge (e) is applied to the soot 2a in the particulate substance 2 contained in the sample gas S and the mass or mass concentration of the soot 2a is calculated on the basis of the measured value of the charge quantity of the soot 2a.例文帳に追加

内燃機関１から排出されるガスＧをサンプリングし、そのサンプルガスＳに含まれる粒子状物質２中のスート２ａに電荷ｅを付与し、スート２ａの電荷量の計測値に基づいてスート２ａの質量または質量濃度を算出する。 - 特許庁

The relation storage section 30 stores the relation information IR between a plurality of kinds of hair parameters (hair volume parameter, a friction parameter and curvature parameter) obtained from the hair HS of a sample provider S and the degree of entanglement LS showing the strength of entanglement of the hair HS.例文帳に追加

関係記憶部３０は、サンプル提供者Ｓの毛髪ＨＳより求められた、複数種類の毛髪パラメータ（毛量パラメータ、摩擦パラメータおよび曲率パラメータ）と毛髪ＨＳの絡まりの強さを示す絡まり度ＬＳとの関係情報ＩＲを記憶する。 - 特許庁

A pupil diameter R is calculated on the basis of brightness Y1 calculated by spectrum information S1(λ) on a stimulus light HS of a sample S, and spectral retina illuminance Er(λ) is then calculated on the basis of the spectrum information S1(λ) and the pupil diameter R.例文帳に追加

試料Ｓの刺激光ＨＳについてのスペクトル情報Ｓ１（λ）によって算出される輝度Ｙ１に基づいて瞳孔径Ｒを算出した後に、そのスペクトル情報Ｓ１（λ）と瞳孔径Ｒとに基づいて分光網膜照度Ｅｒ（λ）を算出する。 - 特許庁