「sample s」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

In the figure, a coefficient of permeability of 6.0×10^-4 m/s or more of No.7 crushed stone is obtained if the above conditions of the sample No.9 are met.例文帳に追加

図において、試料番号９の上記条件を満たせば７号砕石の６．０×１０^-4ｍ／ｓ以上の透水係数となる。 - 特許庁

Specific heat CM of the sample S to be measured are calculated, based on the extracted temperatures of Th and Tho of the heat source 3 at respective times t1 and t2.例文帳に追加

各時刻ｔ_1 ，ｔ_2 における熱源３の抽出温度Ｔh ，Ｔhoに基づき、被測定試料Ｓの比熱ＣＭを算出する。 - 特許庁

The attachment lens PA for correcting optical performance forms the fluorescent image of a sample S, in such a state that the attachment lens PA is combined with a master lens PB.例文帳に追加

光学性能補正用のアタッチメントレンズＰＡは、マスターレンズＰＢと組み合わされた状態で試料Ｓの蛍光像を形成する。 - 特許庁

The surface potential Vs of the photoreceptor sample S is measured by discriminating a boundary (|Vacc|=|Vs|) between a secondary electron image and an inverted electron image.例文帳に追加

２次電子像と反転電子像の境界（｜Ｖａｃｃ｜＝｜Ｖｓ｜）を識別することにより感光体試料Ｓの表面電位Ｖｓを計測する。 - 特許庁

To carry out in short time and efficiently replacement of the shading material M of the mask in the etching process of the sample S by ion beam irradiation.例文帳に追加

イオンビーム照射による試料Ｓのエッチング加工において、マスクとなる遮蔽材Ｍの交換を短時間で効率良く行う。 - 特許庁

One or more of step(s) selected from the following group comprising (1) and (2) is(are) executed to detect an IgA nephropathy-related antibody in a sample.例文帳に追加

以下の(1)及び(2)からなる群より選択される一以上のステップを実施して試料中のIgA腎症関連抗体を検出する。 - 特許庁

The electron beam (e) scans the surface of the assessment sample S in any arbitrary direction such as in a diametric direction, for example, using a scan coil 4 as needed.例文帳に追加

電子線ｅは必要に応じ走査コイル４で評価試料Ｓの面上を任意の方向、例えば直径方向に走査される。 - 特許庁

As a result, the thickness of the liquid sample S in a cell can be uniformly held and measurement of high precision and good reproducibility can be performed.例文帳に追加

その結果、セル内の液体試料Ｓの厚さを均一に保つことができ、高精度で再現性の良い測定を行うことができる。 - 特許庁

Therefore, the solution sample S is condensed on the carbon vapor deposition film 3, resulting in excellent generation of the fluorescent X-rays as the secondary X-rays.例文帳に追加

したがって溶液試料Ｓはカーボン蒸着膜３に凝縮し２次Ｘ線である蛍光Ｘ線の発生が良好となる。 - 特許庁

To provide a method for preparing an oil sample, or the like, for concentrating S contained in the oil sample by sedimentation and filtration and applying a fluorescent X-ray analysis with the quantitative lower limit on the order of 10-30 ppb.例文帳に追加

油試料に含まれるＳを沈降またはろ過により濃縮して１０〜３０ｐｐｂ程度の定量下限で蛍光Ｘ線分析するための油試料の調製法等を提供する。 - 特許庁

Then, the intensity of the scattered light 7 is detected by the scattered light intensity detector 46, and the position of the sample 2 is detected from an image forming position (light receiving position) of the S-polarized light 7s by the sample position detector 49.例文帳に追加

そして、散乱光強度検出器４６では散乱光７の強度を検出し、試料位置検出器４９ではＳ偏光７ｓの結像位置（受光位置）から、試料２の位置を検出する。 - 特許庁

The side surface of the columnar sample S such as a rod material or the like is arranged in a counter relation to the electrode installed in a glow discharge tube 1 in a sample chamber (treatment chamber) 3 into which an argon gas (inert gas) is supplied.例文帳に追加

アルゴンガス（不活性ガス）が供給される試料室（処理室）３内で、グロー放電管１が備える電極に対して、棒材等の円柱状の試料Ｓの側面を対向配置する。 - 特許庁

A luminous flux R on the reference side incident, in parallel with the luminous flux S on the sample side, is refracted by reflecting mirrors M2-M4 so as to bypass the sample 21 to be introduced into the integrating sphere 24.例文帳に追加

一方、試料側光束Ｓと平行に入射する対照側光束Ｒは反射鏡Ｍ２〜Ｍ４により試料２１を迂回するように屈曲されて積分球２４に導入される。 - 特許庁

The sample-side light flux S is incident in a nearly vertical direction to the undersurface of sample 21, while the light transmitted upward is inflected with a reflecting mirror M to send to an integrating sphere 24 equipped with a detector.例文帳に追加

試料側光束Ｓは試料２１の下面に対し略鉛直方向に入射し、上方に透過した光は反射鏡Ｍ１で屈曲されて検出器を備えた積分球２４へ送られる。 - 特許庁

The control-side light flux R incident in parallel to the sample-side light flux S is inflected with reflecting mirrors M2 to M4 so as to bypass the sample 21 to be introduced to the integrating sphere 24.例文帳に追加

一方、試料側光束Ｓと平行に入射する対照側光束Ｒは反射鏡Ｍ２〜Ｍ４により試料２１を迂回するように屈曲されて積分球２４に導入される。 - 特許庁

Shaped X-rays S are allowed to be incident very closely to the surface of the measuring sample, and the reflected X-rays from the surface of the measuring sample are measured by the reflected X-ray measuring means 6.例文帳に追加

整形されたＸ線Ｓを前記測定試料の表面にすれすれに入射させ、前記測定試料表面よりの反射Ｘ線を前記反射Ｘ線測定手段６により測定する。 - 特許庁

To provide a microwell plate which can detect fluorescence generated from a sample with a higher S/N ratio by reducing the irradiation of excitation light to others than the sample and a fluorescence detector with the same.例文帳に追加

試料以外に対する励起光の照射を低減して高いＳ／Ｎ比で試料から発生する蛍光を検出できるマイクロウエルプレート及びマイクロウエルプレートを備える蛍光検出装置を提供する。 - 特許庁

The thickness adjustment part 5a is a circular ring having a rectangular cross section and arranged so that the etching rate of the sample S placed on a sample stand 9 in a reaction chamber 10 corresponds to the highest region.例文帳に追加

厚み調整部５ａは、矩形断面を有する円環であり、反応室１０内部の試料台９に載置される試料Ｓのエッチングレートが最も高い領域に対応するように配置してある。 - 特許庁

The additional ϕ rotary device 7 is driven by the ϕ rotary device 8 to be rotated centering around the ϕ axial line and can rotate the sample S centering around the ϕ' axial line passing the sample position.例文帳に追加

付加φ回転装置７は、φ回転装置８によって駆動されてφ軸線を中心として回転でき、試料位置を通るφ’軸線を中心として試料Ｓを回転させることができる。 - 特許庁

The sample liquid L is drawn in the housing chamber S along the upper surfaces 7Ra of the comb-like teeth, that is, the introducing direction of the sample liquid L so as to be repelled in the spaces between the comb-like teeth.例文帳に追加

試料液Ｌは、櫛歯の間の空間で撥液されるように櫛歯上面７Ｒａに沿って、すなわち試料液Ｌの導入方向に沿って収容室Ｓの内部に引き込まれる。 - 特許庁

Cut lawn leaves are washed and dried to form a sample S, and the sample is analyzed for the inorganic components necessary for growth of lawn by the near infrared ray 6 of a near infrared spectral analyzer 1.例文帳に追加

刈り取った芝草葉を洗浄し、該芝草葉を乾燥してサンプルＳとし、近赤外分光分析装置１の近赤外光６により芝草の生育に必要な無機成分を分析する。 - 特許庁

A rectangular electron beam formed from an electron beam emitted from an electron gun 11 is made to irradiate a sample S, and a secondary electron, a reflecting electron or a transmitting electron from the sample is detected.例文帳に追加

電子銃１１から放出された電子線を成形した長方形の電子ビームを試料Ｓに照射させ、試料からの二次電子又は反射電子或いは透過電子を検出する。 - 特許庁

The sample- holding member 21 is constituted of a holding member body 23 with a plurality of fixing hooks 25 for holding and fixing an outer circumferential part of a sample S placed on the sample stage 11, and a sample-retaining lid 22 having a plurality of through holes 22b formed in a circumferential direction through which upper parts of the fixing hooks 25 are inserted.例文帳に追加

試料保持部材２１は、試料台１１に載置された試料Ｓの外周部を挟持してこれを固定するための複数の固定爪２５を有する保持部材本体２３と、固定爪２５の上部が挿通される固定爪用貫通孔２２ｂが周方向に複数形成された試料押え蓋２２とで構成する。 - 特許庁

The fluorescence microscope system is provided with: a sample (S) containing fluorescent substance; a glass plate (G) for supporting the sample; an illumination light source (I_L) used for illuminating the sample; and a microscopic optical system (M) including an objective lens (Ob) facing the sample so as to obtain the illuminated image.例文帳に追加

本発明による蛍光顕微鏡システムは、蛍光物質を含む標本（Ｓ）と、前記標本を支持するガラスプレート（Ｇ）と、前記標本の照明に用いられる照明光源（Ｉ_L ）と、前記照明による像を取得するために前記標本に向けられている対物レンズ（Ｏｂ）を含む顕微鏡光学系（Ｍ）を備えている。 - 特許庁

A table 10 supporting a lower sample fixing block 60 to which the lower part of the sample S is fixed is provided on a base 1, and a block support 20 supporting an upper sample fixing block 70 to which the upper part of the sample is fixed is provided on the base while opposing the table and being free to move horizontally.例文帳に追加

供試体Ｓの下部を固定した下部供試体固定ブロック６０を支持するテーブル１０を基台１上に設けると共に、供試体の上部を固定した上部供試体固定ブロック７０を支持するブロック支持体２０をテーブルに対峙させて水平方向に移動自在に前記基台に設ける。 - 特許庁

The auxililary sample-holding implement 2 is provided with the cylindrical support 4, the airtight film 5 which closes one opening 41 of the cylindrical support 4 and in which the adhesive sample S is stuck to its inner face and the filter material 10 which covers the other opening 42 of the cylindrical support 4, which adsorbs the volatile component from the sample S and which passes the air.例文帳に追加

試料保持用の補助具２は、筒状支持体４と、前記筒状支持体４の一方の開口部４１を閉塞し、かつ内面に粘着性試料Ｓが付着される気密性のフィルム５と、筒状支持体４の他方の開口部４２を覆い、前記試料Ｓからの揮発成分を吸着して空気を通過させるフィルタ材１０とを有している。 - 特許庁

Since the inflow of the atmosphere into the laser beam irradiation part 4 at the time of feed of the next order sample S to the laser beam irradiation part 4 from the sample standby part 5 is prevented, it is unnecessary to perform the substitution of the gas of the laser beam irradiation part 4 with the carrier gas at each time when the next order sample S is introduced into the laser beam irradiation part 4.例文帳に追加

このように、試料待機部５からレーザ光照射部４への次位の試料Ｓの搬送に際してはレーザ光照射部４への大気の流入が防止されるため、レーザ光照射部４に次位の試料Ｓを導入する度にキャリアガスによってレーザ光照射部４のガスの置換を行うことが不要となる。 - 特許庁

The glow discharge analysis apparatus 1 analyzes components in a depth direction of the sample S by sputtering to a surface of the sample S using a glow discharge, and has a display 35 for displaying a depth component ratio graph 36 for indicating so as to correspond an average of the component ratio of each layer classified by the component ratio of each region of the sample to a location in the depth direction.例文帳に追加

グロー放電による試料Ｓ表面へのスパッタリングを用いて試料Ｓの深さ方向の成分分析を行なうグロー放電分析装置１であって、試料の各部の成分比によって層に分類した各層の成分比の平均を、深さ方向の位置に対応させて表わす深さ成分比グラフ３６の表示部３５を有する。 - 特許庁

When the measuring region B of the sample S is wider than the X-ray irradiation region by the collimator 1, the sample S is moved in parallel to the collimator 1 by an XY parallel moving device 6 to scan and move the X-ray irradiation field A to regulate the measuring region B.例文帳に追加

試料Ｓの測定領域Ｂがコリメータ１によるＸ線照射領域Ａよりも広い場合には、ＸＹ平行移動装置６によって試料Ｓをコリメータ１に対して平行移動させることにより、Ｘ線照射野Ａを走査移動させて測定領域Ｂを規定する。 - 特許庁

Since a communication passage 206a is provided for allowing a recess 205a which holds the liquid sample S to communicate with the atmosphere, even if the liquid sample S is leaked from the recess 205a by a capillary phenomenon, the distortion of the substrate 205 caused by the penetration of air in the recess 205a from the communication passage can be prevented.例文帳に追加

そして、液体試料Ｓが保持される凹部２０５ａと大気とを連通する連通路２０６ａを設けたので、毛細管現象により液体試料Ｓが凹部２０５ａから漏れ出ても、連通路から空気が凹部２０５ａに侵入し基板２０５が歪むのを防止することができる。 - 特許庁

When the minute object 100 is attached to the tip part 10A of the probe 10 and the minute object 100 is arranged in a specified point P2 on a sample S, the outside force is applied to the probe 10 to which the minute object is attached in the vicinity of the point P2 on the sample S.例文帳に追加

プローブ１０の先端部１０Ａに微小物体１００を付着させ、当該微小物体１００を試料Ｓ上の所定ポイントＰ２に配置する際に、試料Ｓ上の当該ポイントＰ２の近傍において、微小物体１００が付着したプローブ１０に外力を加える。 - 特許庁

In a hardness tester 1 which measure the hardness of a sample S by pushing an indenter 11 against the sample S and is provided with an optical system which can observe the recess, a probe microscope 17 which can scan the surface of the recess with a probe 18 is provided.例文帳に追加

試料Ｓに圧子１１を押し付けることによって形成されるくぼみから硬さを測定し、前記くぼみを観察可能な光学システムを備える硬さ試験機１において、前記くぼみの表面をプローブ１８によって走査可能であるプローブ顕微鏡１７を備えている。 - 特許庁

This X-ray analyzer has an X-ray source for generating an X-ray with which the sample S placed on a measuring position is irradiated, an X-ray detector for detecting the X-ray diffracted by the sample S, and the vacuum path 17 provided between the X-ray source and the X-ray detector.例文帳に追加

測定位置に置かれた試料Ｓに照射するＸ線を発生するＸ線源と、試料Ｓで回折したＸ線を検出するＸ線検出器と、Ｘ線源とＸ線検出器との間に設けられた真空路１７とを有するＸ線分析装置である。 - 特許庁

Hereby, the reflected and scattered light from the sample S can be detected without passage through the optical probe 10, and photodetection can be performed with a high S/N ratio regardless of the shape or optical characteristics of the sample surface Sa and the material or the thickness of a shielding coating film 13 of the optical probe 10, or the like.例文帳に追加

したがって、試料Ｓからの反射・散乱光を光プローブ１０を通すことなく検出することができ、試料表面Ｓａの形状、光学特性及び光プローブ１０の遮光性被覆膜１３の材質、膜厚等に関わらず、高Ｓ／Ｎ比で光検出を行うことができる。 - 特許庁

The foul breath-measuring instrument comprises a sensor S at a chamber C where sample air is supplied, and a processing unit U for continuous measurement using the sensor S over set time when the sample air is supplied into the chamber C and for displaying the measured result on a liquid display D.例文帳に追加

サンプルエアーが供給されるチャンバーＣにセンサＳを備え、このチャンバーＣ内にサンプルエアーが供給された場合には、設定された時間に亘ってセンサＳでの測定を継続的に行い、この測定の結果を液晶ディスプレイＤに表示する処理ユニットＵを備えた。 - 特許庁

The negatively charged objective substance contained in a liquid sample S is made to flow into a slender tube 1 by charging an electrode 2 in the tube 1 positively and an electrode 6 in a container A negatively in such a state that the tube 1 is soaked in the sample S since the objective substance has the negative polarity.例文帳に追加

本発明では、液体サンプルＳに含まれるマイナスに荷電した対象物質は、細管１を液体サンプルＳにつけた状態で、細管１内の電極２をプラスに、容器Ａ内の電極６をマイナスに荷電することにより、目的物質はその極性から、細管１内へ流入する。 - 特許庁

The surface of the sample is inspected by irradiating the electron beams on the surface S of the sample, and after extracting defective sites of the sample according to the inspection, the electron beams are irradiated again on the extracted defective sites to carry out enlargement or detailed observation of the same.例文帳に追加

電子ビームを試料表面Ｓに照射して試料表面の検査を行い、その検査に基づいて試料の欠陥部位を抽出した後、抽出された欠陥部位に再度電子ビームを照射して欠陥部位の拡大または詳細観察を行う。 - 特許庁

The measuring part 20 includes a pressure gage 36, an air-blowing pump 32, and a compressive force variable mechanism 34 for compressing a compost sample S.例文帳に追加

計測部２０は、圧力計３６と、送風用ポンプ３２と、堆肥サンプルＳを圧縮するための圧縮力可変機構３４とを備える。 - 特許庁

A cut surface S including the constitutional member of a sample 122 formed by cutting the tire is irradiated with light reflected by the reflection surface.例文帳に追加

このタイヤを切断して形成されたサンプル１２２の、上記構成部材を含む切断面Ｓは、この反射面で反射した光で照らされる。 - 特許庁

When the movable part 2 receives the effect of external force (the atomic force between the probe 3 and a sample S), the admittance of the comb tooth drive 10a changes.例文帳に追加

可動部２が外力（探針３−試料Ｓ間の原子間力）の影響を受けると、櫛歯ドライブ１０ａのアドミッタンスが変化する。 - 特許庁

The surface analyzer 1 includes an electron beam lens barrel 3 for irradiating a sample S surface with primary electron beams, and the spin detector 5.例文帳に追加

また、表面分析装置１は、試料Ｓ表面に１次電子線を照射する電子線鏡筒３と、上記スピン検出器５と、を有する。 - 特許庁

A printed board sample S is disposed on the underside of the supporting plate 3 and a bonding wire W extends upward through the through hole in the supporting plate 3.例文帳に追加

プリント基板試料Ｓは支え板３の下側に配置されボンディングワイヤＷは支え板３の貫通穴を通して上方に延びている。 - 特許庁

A reference electrode layer 7R having comb-like teeth along the introducing direction of a sample liquid L is formed in the housing chamber S of the biosensor.例文帳に追加

バイオセンサの収容室Ｓには、試料液Ｌの導入方向に沿った櫛歯を有する参照電極層７Ｒが形成されている。 - 特許庁

The holding member 1 is equipped with a container 11, to which the sample piece S is attached, and which is transparent at least at a part and can hold its inside pressure.例文帳に追加

サンプル片保持手段１は、サンプル片Ｓを取り付ける、少なくとも一部を透明にした内圧保持可能な容器１１を備えている。 - 特許庁

To provide a sample/hold(S/H) circuit, with which there is no error caused by parasitic capacitance in the input side of a buffer amplifier and current consumption is not enlarged.例文帳に追加

バッファアンプの入力側の寄生容量による誤差がなく、かつ消費電流が大きくならないサンプル・ホールド回路を提供する。 - 特許庁