「sample s」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

The scanning electron microscope is constructed so as to emit high-energy charged particles from an electron source 2 and irradiate the high-energy charged particles on a sample S by reducing the speed of the high-energy charged particles between an objective lens 6 of an electron gun 1 and the sample.例文帳に追加

電子源２から高エネルギーの荷電粒子を放出し、この高エネルギーの荷電粒子を電子銃１の対物レンズ６と試料との間で減速させて試料Ｓに照射する構成とする。 - 特許庁

The sample stand 30 is tilted or rotated with a sample origin S as the center, and the two-dimensional radiation detector 40 is tilted or rotated with a detector origin D as the center by being controlled by a scanning part 60.例文帳に追加

走査部６０により制御されて、試料台３０は試料原点Ｓを中心に傾斜または回転し、２次元放射線検出器４０は検出器原点Ｄを中心に傾斜または回転する。 - 特許庁

Since the diffracted X-rays from the single crystal sample plate 21 are not included in the operation of X-ray intensity, X-ray intensity distribution can be accurately calculated in relation to only the diffracted X-rays from the sample S.例文帳に追加

単結晶試料板２１からの回折Ｘ線がＸ線強度の演算に算入されないので、試料Ｓからの回折Ｘ線だけに関して正確にＸ線強度分布を求めることができる。 - 特許庁

To provide an image pickup device of a microscope, which can ensure a frame rate without losing the framing or focus operability even when a sample is dark and avoid disturbance in sample observation due to deteriorated S/N.例文帳に追加

標本が暗い場合でもフレーミングや合焦の操作性を損なうことのないフレームレートを確保できるとともに、Ｓ／Ｎ劣化による標本観察の妨げを回避できる顕微鏡用撮像装置を提供する。 - 特許庁

At this time, since heat conduction becomes bad when food or the like adheres to the inner surface of the sample S, temperature irregularity is produced in the surface of the sample and appears corresponding to the adhesion degree of food to change with the elapse of time.例文帳に追加

このとき、サンプルＳ内面に食品などが付着していると熱伝導が悪くなるため、サンプル表面には温度ムラが生じ、そのムラは、食品の付着度合によって現われ、また、経時的に変化する。 - 特許庁

A sample is irradiated with terahertz pulse light L6 generated in a terahertz light generator 5, so as to detect a time-serial change with time of intensity in an electric field of a terahertz pulse light L8 transmitted through the sample S by a terahertz light detector 8.例文帳に追加

テラヘルツ光発生器５から発生したテラヘルツパルス光Ｌ６を試料Ｓに照射し、試料Ｓを透過したテラヘルツパルス光Ｌ８の電場強度の時間的変化をテラヘルツ光検出器８により検出する。 - 特許庁

In the measuring reagent and measuring method for measuring the total protein S level in a sample, C4b-binding protein is contained or present during measurement reaction of the protein S level.例文帳に追加

試料中の総プロテインＳタンパク質量を測定する測定試薬及び測定方法において、当該プロテインＳタンパク質量の測定反応時にＣ４ｂ結合タンパク質を含有又は存在させるものである。 - 特許庁

Inside an analysis chamber 3, an electron beam irradiation part 4 is provided to generate electron beams B made to irradiate a sample S, an X-ray spectral detector 5 which spectrally detects X rays R generated from the sample, an electron detector 6 which detects electrons E generated from the sample and the like.例文帳に追加

分析室３の内部には試料Ｓに照射するための電子ビームＢを発生する電子線照射部４や試料から発生するＸ線Ｒを分光して検出するＸ線分光検出部５、試料から発生する電子Ｅを検出する電子検出部６などを備えている。 - 特許庁

A surface of the sample W before cut is imaged by an optical system having an objective lens 1, a ring illumination 2 and the like, and then the sample W is cut at a prescribed height by a cutter 25, to image the surface of the sample W including a cut cross section S after cut.例文帳に追加

対物レンズ１、リング照明２等を有する光学系によって、まず切断前の試料Ｗの表面を撮像し、次いで、切削装置２５によって試料Ｗを所定の高さで切断し、切断面Ｓを含む切断後の試料Ｗの表面を撮像する。 - 特許庁

The membrane electrode 2 is used for collecting bacteria S' in a sample solution S by an electrophoretic force in a bacteriological examination device 9 for measuring electrode impedance to quantitatively measure the state of the bacteria S' and has a comb-tooth part 13 and a resist treatment part 14.例文帳に追加

薄膜電極２は、電極インピーダンスを測定して細菌Ｓ’の状態を定量的に測定する細菌検査装置９において、試料液Ｓ中の細菌Ｓ’を電気泳動力によって捕集するための薄膜電極であって、櫛歯部１３と、レジスト処理部１４とを備えている。 - 特許庁

Each of sample bottles 1 mounted on a heating block 5 at a prescribed loading position L is moved to a sampling position S on the heating 5, by a sample feed mechanism 8 through the same route structurally by a groove 54, and a sample is collected from each sample bottle 1 at that position by a syringe 61 to be introduced into an analytical apparatus (gas chromatograph 7).例文帳に追加

加熱ブロック５上の所定装填位置Ｌに装填された試料ビン１が、試料送り機構８により加熱ブロック５上を溝５４等により構造的に規定された同一経路を通ってサンプリング位置Ｓまで移動し、その位置で試料ビン１からシリンジ６１に試料を採取し、分析装置（ガスクロマトグラフ７）に導入するように構成した。 - 特許庁

In the measuring process, using a glow discharge light emission analysis method, concentration distribution of a component element in the depth direction from the surface of the sample S is measured.例文帳に追加

測定工程では、グロー放電発光分析法を用いて、試料Ｓの表面からの深さ方向における成分元素の濃度分布を測定する。 - 特許庁

A measuring voltage is applied between a detection electrode 1 in contact with the sample liquid S and a measuring counter electrode 2 at the measuring time, and a flowing measuring current is measured.例文帳に追加

測定時には、試料液Ｓに接する検知極１と測定用対極２との間に測定電圧を印加し、流れる測定電流を計測する。 - 特許庁

A diffraction line image is provided in the stimulable phophor 2 by omitting a conventional χ-axial rotation to conduct only ϕ-axial rotation, i.e., in-plane rotation of the sample S.例文帳に追加

従来のχ軸回転を省略して、φ軸回転すなわち試料Ｓの面内回転だけで輝尽性蛍光体２に回折線像が得られる。 - 特許庁

Substrates 205 and 206 function as a pair of housing members for holding a liquid sample S and is integrally held by a base 201 and a cover 202.例文帳に追加

基板２０５，２０６は液体試料Ｓを挟持する一対の収容部材として機能し、それらはベース２０１およびカバー２０２により一体に保持される。 - 特許庁

To provide a radiation detection device, capable of improving S/N by inputting into a radiation detection element, a radiation flux after transmission through a sample without reduction.例文帳に追加

試料透過後の線束を減ずる事無く、放射線検出素子に入力させることでＳ／Ｎを改善した放射線検出装置を提供する。 - 特許庁

This method is a micro X-ray diffraction measuring method for irradiating a micro part of a sample S with an X-ray to detect the diffracted X-ray generated in the micro part.例文帳に追加

試料Ｓの微小部にＸ線を照射してその微小部に発生する回折Ｘ線を検出する微小部Ｘ線回折測定方法である。 - 特許庁

The micro sample piece S is fixed onto the fourth stage 14-54 to make a surface thereof, i.e. a plane for thinning preparation, in parallel to an XZ-plane.例文帳に追加

微小試料片Ｓは、その表面、すなわち薄片化調製が行われる平面がＸＺ面に平行となるように、第４段１４〜５４に固定される。 - 特許庁

The sample S is exposed to the atmosphere to be irradiated with X rays L and the angle dependence of the reflection intensity thereof can be measured.例文帳に追加

試料Ｓは大気中に露出されており、Ｘ線Ｌが照射され、その反射強度の角度依存性を測定することができるように構成されている。 - 特許庁

At this point, the light from the sample S is focused near the light receiving surface of the light detector 14 by the focusing system 13 after passing the objective lens 3a.例文帳に追加

このときの標本Ｓからの光は、対物レンズ３ａを通った後に、結像光学系１３により受光素子１４の受光面付近で結像する。 - 特許庁

In the measurement chamber, a fixed clamp 24 and a moving clamp 26 are provided, and a measurement sample S is gripped by the fixed clamp and the moving clamp to be held.例文帳に追加

この計測室内には、固定クランプ２４と移動クランプ２６が設けられており、計測試料Ｓが固定クランプと移動クランプに把持されて保持される。 - 特許庁

Another X-ray spectrum is obtained from the fluorescent X rays emitted from the sample S in a fluorescent X-ray yield spectrum detecting section 26.例文帳に追加

蛍光Ｘ線収量スペクトル検出部２６において試料Ｓから放出された蛍光Ｘ線に基づいてＸ線吸収スペクトルを得る。 - 特許庁

Measurement is performed relative to residual points on the sample S by the second spectroscope 9, and an analysis result acquired by using the result is corrected on the basis of the approximate expression.例文帳に追加

試料Ｓの残りのポイントに対しては、第２分光器９で測定を行い、その結果を用いた解析の結果を近似式に基づき補正する。 - 特許庁

The helium path 13 has a first window 54a for passing the diffracted rays emitted from the sample S, and a second window positioned in front of the stimulable phosphor plate.例文帳に追加

また、ヘリウムパス１３は試料Ｓから出る回折線を通過させる第１窓５４ａと蓄積性蛍光体プレートの前に位置する第２窓とを有する。 - 特許庁

A surface density of the neutron absorbing material is obtained by counting, by the neutron measuring element 17, thermal neutrons permeating the measurement sample S among the thermal neutrons, a part of the scattered and reflected neutrons R, and the content rate of the neutron absorbing material in the measurement sample S is measured.例文帳に追加

この散乱反射中性子Ｒの一部である熱中性子のうち測定試験体Ｓを透過する熱中性子を中性子測定素子１７により計数することで中性子吸収物質の表面密度を求め、この測定試験体Ｓの中性子吸収物質の含有率を測定する。 - 特許庁

An apparatus (10) of simulating mastication by crushing and triturating a sample (S) includes at least a container (20A) in which the sample (S) is contained and a pair of mastication simulating teeth (31, 32) disposed facing each other so that one of the simulating teeth slides toward the other along the inner wall surface (22) of the container (20A).例文帳に追加

試料（Ｓ）を破砕及び摩砕することにより、咀嚼を模擬するための装置（１０）であって、前記試料（Ｓ）を収容するための容体（２０Ａ）と、該容体（２０Ａ）の内壁面（２２）に沿って一方が他方に向かって摺動するように、対向して配設された一対の咀嚼擬似歯（３１，３２）と、を少なくとも備えてなる。 - 特許庁

A CPU 102 determines an insertion position where the operation stylus 30a should be inserted into a sample in a sample container S and an insertion direction in which the operation stylus 30a should be inserted while taking conditions set by an operator into consideration.例文帳に追加

ＣＰＵ１０２は、標本容器Ｓに入っている標本に操作針３０ａを刺すべき挿入位置、及びその操作針３０ａを刺すべき挿入方向を、作業者が設定する条件を考慮して決定する。 - 特許庁

To obtain a scanning Kelvin probe microscope in which a frequency component not required to detect potential information on the surface of a sample to be measured is suppressed and in which the S/N ratio of the potential information on the surface of the sample is enhanced.例文帳に追加

走査型ケルビンプローブ顕微鏡において、試料表面の電位情報を検出する場合に不要となる周波数成分を抑圧し、測定される試料表面の電位情報のＳ／Ｎを向上させることを目的とする。 - 特許庁

The quantity-of-light detection sections S comprises a detection section 20 for reference samples for a sample that becomes a reference when evaluating photocatalyst functions; and a detection section 21 for evaluating samples for the sample whose photocatalyst functions are evaluated.例文帳に追加

光量検出部Ｓは、光触媒機能を評価する際の基準となる試料のための基準試料用検出部２０と、光触媒機能が評価される試料のための評価試料用検出部２１とから構成されている。 - 特許庁

The measuring luminous flux L in the ultramicro cell 7 is thus sufficiently condensed, with the results that loss of the luminous flux can be reduced and scattered light except from the sample S can be prevented.例文帳に追加

したがって超ミクロセル７内の測定光束Ｌは十分に絞られ光束の損失を低下し、試料Ｓ以外からの散乱光を防止することができる。 - 特許庁

A change with the lapse of time in the state of laser beam projection to the position detecting sample S is analyzed by a controller 60 to control galvano mirrors 13X, 13Y.例文帳に追加

位置検出試料Ｓへのレーザ光の投影状態の時間の経過に基づく変化を制御部６０で解析してガルバノミラー１３Ｘ，１３Ｙを制御する。 - 特許庁

Further, the imaging system support means is adapted so that either or both of the X-ray source 6 and the X-ray detector 7 are moved in a direction approaching to and separating from the sample S.例文帳に追加

さらに、撮像系支持手段は、Ｘ線源６およびＸ線検出器７の一方または双方を、試料Ｓに対して接離する方向へ移動可能である。 - 特許庁

A stage control part 51 controls the two-dimensional moving stage 12, so as to move the sample S to a predetermined photographing position along a moving path extended to a plurality of observation ranges.例文帳に追加

ステージ制御部５１は、二次元移動ステージ１２を制御して複数の観察範囲に及ぶ移動経路に沿って試料Ｓを所定の撮影位置へ移動させる。 - 特許庁

An X-ray apparatus has a monochromator 17 disposed on an optical axis L of X ray passing through a focus F of the X ray, a sample S, and X-ray detector 21.例文帳に追加

Ｘ線焦点Ｆ、試料Ｓ及びＸ線検出器２１を通るＸ線光軸Ｌ上に配設されたモノクロメータ１７を有するＸ線装置である。 - 特許庁

Terahertz pulsed light T1 emitted from a terahertz light generating element 10 is transmitted through a sample S to be terahertz pulsed light T2 and made incident onto a terahertz photodetection element 20.例文帳に追加

テラヘルツ光発生素子１０から発するテラヘルツパルス光Ｔ１は、試料Ｓを透過し、テラヘルツパルス光Ｔ２となってテラヘルツ光検出素子２０へ入射する。 - 特許庁

The fluorescent X-ray analysis is performed by dripping a solution sample S on the carbon vapor deposition film 3 on the drip film 1, and drying it.例文帳に追加

そして、このようにして製作した点滴フイルム１のカーボン蒸着膜３に、溶液試料Ｓを点滴した後乾燥させてから蛍光Ｘ線分析を行う。 - 特許庁

IR light L5 emitted from an LED light source 63 is condensed by a condensing lens 64, then, made obliquely incident on a biological sample S in a petri dish 100.例文帳に追加

ＬＥＤ光源６３から射出した赤外光Ｌ５は、集光レンズ６４によって集光され、ペトリディッシュ１００中の生体試料Ｓへ斜め入射する。 - 特許庁

To provide a substrate and apparatus for fluorometric analysis in which fluorometric analysis can be conducted while prolonging the lifetime of fluorescence from a sample and enhancing S/N ration.例文帳に追加

試料からの蛍光の蛍光寿命が長く、Ｓ／Ｎ比が向上された蛍光分析を行うことが可能な蛍光分析用基板及び蛍光分析装置を提供する。 - 特許庁

Causing the laser beam L directly bringing the focus F to the sample S and the laser beam L reflected by the reflection surface 10a to interfere with each other generates the standing wave.例文帳に追加

直接的に試料Ｓに焦点Ｆを結ぶレーザ光Ｌと反射面１０ａで反射したレーザ光Ｌとを干渉させて定在波を発生させている。 - 特許庁

To enable reliable measurement high in S/N in a scanning probe microscope measuring the surface state or surface vol. distribution of a sample.例文帳に追加

試料２５の表面状態や表面の容量分布を測定する走査型プロ−ブ顕微鏡において、Ｓ／Ｎが高く信頼性のある測定ができるようにする。 - 特許庁

The analyzing region specifying device 20 outputs a region specifying signal for specifying the analyzing region of the sample S irradiated with exciting light to the analyzer 30.例文帳に追加

分析部位特定装置２０は、励起光が照射される試料Ｓの分析部位を特定するための部位特定信号を分析装置３０に対して出力する。 - 特許庁

An imaging element 21 picks up an optical image of an observation sample S obtained by image-forming observation light coming via an objective lens 3 from a focusing position of an objective lens 2.例文帳に追加

撮像素子２１は、対物レンズ２の合焦位置から対物レンズ３を介して到来する観察光を結像させて得られる観察試料Ｓの光学像を撮像する。 - 特許庁

An A/D conversion circuit 38 converts the subtracted voltage signal into a digital signal in synchronization with the sample timing in the S/H circuit 34 and outputs it to a PSD processing circuit 7.例文帳に追加

Ａ／Ｄ変換回路３８は、減算電圧信号を、Ｓ／Ｈ回路３４におけるサンプルタイミングに同期してデジタル信号に変換し、ＰＳＤ処理回路７に出力する。 - 特許庁

A first input unit 10 inputs a plurality of images G supplied by the user, and a second input unit 40 inputs a sample image S specified by the user.例文帳に追加

ユーザにより供給される複数の画像Ｇを第１の入力部１０から入力し、ユーザの指定するサンプル画像Ｓを第２の入力部４０から入力する。 - 特許庁

The operation part 160 performs correlation analysis based on the wavelength of the excitation light irradiating the sample S and intensity of the fluorescence detected by the fluorescence detection part 140.例文帳に追加

演算部１６０は、試料Ｓに照射される励起光の波長と蛍光検出部１４０で検出される蛍光の強度とに基づいて相関分析を行なう。 - 特許庁