「source testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

Dummy sunlight emitted from the LED light source for the testing devices is applied to solar cells housed in a testing chamber to evaluate the output characteristics of the solar cells.例文帳に追加

又、この試験装置用ＬＥＤ光源２３から出射される擬似太陽光を試験室内に収容された太陽電池に照射して太陽電池の出力特性を評価する。 - 特許庁

To provide a testing method for egg capable of judging the deterioration of the lamp of a light source and precisely executing the internal test of an egg, and a testing device for egg used for the execution of this method.例文帳に追加

光源のランプの劣化の有無を判断し、精度良く卵の内部検査を実施することができる検卵方法及びその実施に使用する検卵装置を提供する。 - 特許庁

To provide a power source device capable of space saving, cost reduction or the like of a performance board of a semiconductor testing device.例文帳に追加

半導体試験装置のパフォーマンスボードの省スペース化、低コスト化等を図ることができる電源装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing acquired electromagnetic data, which ensures generation of a reliable source reconstruction.例文帳に追加

信頼できるソース再構築を生じることができることを保証する、取得された電磁データの試験方法を提供する。 - 特許庁

A main circuit application charger 6 applies different testing voltages between two phases of a three-phase AC power source circuit.例文帳に追加

主回路印加チャージャー６は、三相交流電源回路の各二相間にそれぞれ異なる試験電圧を印加する。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor integrated circuit device capable of screening according to a power source current at the time of standing still.例文帳に追加

静止時、電源電流によるスクリーニングが可能な半導体集積回路装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To easily perform a test for arbitrarily setting the distance from a light source to a sample surface in a weathering light property-testing apparatus.例文帳に追加

耐候光性試験装置において、光源から試料面までの距離を任意とする試験を容易に行うこと。 - 特許庁

To select a mode and to evaluate the limit of the operation of an internal circuit only with a testing source voltage applied in test mode.例文帳に追加

テストモード時に印加するテスト用電源電圧だけでモード選択と内部回路の動作限界評価を可能にする。 - 特許庁

To provide a portable endoscope apparatus capable of preventing damage of a light source unit due to increase in an internal pressure and testing airtightness of the light source unit after the assembling.例文帳に追加

内圧上昇による光源ユニットの破損を防ぐとともに、光源ユニットの組立後の気密性を検査することができる携帯型内視鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of detecting instantly abnormality occurrence of a power source, corresponding to various states at a test time.例文帳に追加

試験時の様々な状況に対応して電源の異常発生を即時に検出できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device capable of quickly and easily judging an anomaly of static power source current existing in a device under testing.例文帳に追加

被試験デバイスに存在する静止電源電流の異常を高速かつ容易に判定できるデバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

A plurality of power source pads 17 for testing the wafer electrically connected to the line 13 are formed on the line 13.例文帳に追加

電源ライン１３上に、電源ライン１３と電気的に接続された複数のウェハテスト用電源パッド１７が形成されている。 - 特許庁

The means for arranging the testing object is arranged between the wide range X-ray source and a smaller end face of the X-ray capillary lens.例文帳に追加

テスト物体を配置する手段は、広域Ｘ線源と、Ｘ線キャピラリレンズのより小さい端面との間に配置される。 - 特許庁

To provide a ray path testing system and a light source power level monitoring method capable of easily monitoring abnormal emission of light source to be a cause of erroneous measurement and instable power.例文帳に追加

誤認測定の原因となる光源の異常発光、不安定出力を簡単に監視できる光線路試験装置及び光源出力レベルの監視方法を提供する。 - 特許庁

To provide a search device for acoustic source to highly precisely search an acoustic source by reducing deterioration of a sound wave by influence of a free shear layer, and to provide a wind tunnel testing device.例文帳に追加

自由せん断層の影響により生じる音波の劣化を低減して高精度に音源を探査することができる音源探査装置及び風洞試験装置を提供する。 - 特許庁

The testing terminals 80, 81, 82 are electrically connected to the source lines 6, or the gate lines 3 or the counter electrode, respectively.例文帳に追加

検査用端子８０，８１，８２は、各ソース線６に、又は各ゲート線３に、又は対向電極に夫々電気的に接続されている。 - 特許庁

The drainage testing device (1) of an indoor unit of an air conditioner uses a powder source voltage different from the rated voltage of the air conditioner.例文帳に追加

空気調和機の定格電圧とは異なる電源電圧を用いる、前記空気調和機の室内機のドレン排水試験装置（１）。 - 特許庁

A chip 1 is provided with a power source terminal TDD used for both power supply in normal use and power supply in IDDq testing.例文帳に追加

チップ１は、通常使用時の電力供給とＩ_DDq テスト時の電力供給とに共用される電源端子Ｔ_DDを備えている。 - 特許庁

To provide a small and lightweight triaxial vibration testing apparatus requiring no hydraulic pressure source and allowing easy maintenance and management.例文帳に追加

油圧発生源を必要とせず、小型、軽量で且つ組立、保守管理の容易な３軸方向振動試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an LED light source for testing devices, capable of fixedly maintaining the temperatures of LEDs and restraining the output variations and color unevenness of the LEDs, and to provide a solar cell evaluation device capable of precisely evaluating the output characteristics of solar cells by the LED light source for the testing devices.例文帳に追加

ＬＥＤの温度を一定に保って該ＬＥＤの出力変動及び照射光の色ムラの発生を抑えることができる試験装置用ＬＥＤ光源とこれを用いて太陽電池の出力特性を高精度に評価することができる太陽電池評価装置を提供すること。 - 特許庁

To restrain or block power transmission between a testing object and a motor for generating simulation torque for a driving source, when trouble is generated by locking of input and output shafts in the testing object or the like.例文帳に追加

トランスミッションの試験装置において、供試体の入出力軸のロックなどによる不具合発生時に供試体及びこれに駆動源の模擬トルク発生用モータとの動力伝達を抑制乃至遮断すること。 - 特許庁

The DebugRunner class, and the special exceptions it may raise,are of most interest to testing framework authors, and will only besketched here. See the source code, and especially DebugRunner'sdocstring (which is a doctest!) for more details: 例文帳に追加

DebugRunner クラス自体やDebugRunner クラスが送出する特殊な例外は、テストフレームワークの作者にとって非常に興味のあるところでThe DebugRunner class, and the special exceptions it may raise,are of most interest to testing framework authors, and will only besketched here. 詳しくはソースコード、とりわけDebugRunner の docstring(それ自体 doctest ですよ!) を参照してください。 - Python

To provide a testing device, a quality determination reference setting device, a testing method and a test program capable of detecting highly sensitively and reliably abnormality in a static electric power source current value by taking dispersion in a process condition into account.例文帳に追加

プロセス条件のばらつきを考慮した、静的電源電流値の異常を高い感度・及び信頼性で検出可能な試験装置、良否判定基準設定装置、試験方法及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a testing system equipped with a back annotation processing function for automatically reflecting the correction content of debugging on an original source file.例文帳に追加

デバッグの修正内容を元のソースファイルに自動的に反映させることのできるバックアノテーション処理機能を備えた試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device, capable of returning a peripheral circuit power source which is capable of dispensing with executing self-diagnosis program and a calibration when a protection circuit of the periphery circuit power source operates.例文帳に追加

周辺回路用電源の保護回路が動作したとき、自己診断プログラムを実行したり、キャリブレーションをしなくてもすむように周辺回路用電源の復帰ができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

In the testing device, a mechanical filter (18) is disposed between the radiation source (14) and the receptacle member (12), whereby the intensity of light which is radiated by the radiation source and impacts on the receptacle, is homogenized over the whole sample.例文帳に追加

放射源（１４）と受台部材（１２）との間に機械的フィルタ（１８）を配置し、これによって、放射源から受台部材上の試料全体にわたり放射源からの光度が均一に分配される。 - 特許庁

An automatic testing part 66 performs an automatic test to determine and report presence/no presence of the failure of a battery power source 40 and a sensor part 16 in every prescribed time.例文帳に追加

自動試験部６６は、所定時間毎に電池電源４０及びセンサ部１６の障害の有無を判定して報知する自動試験を行う。 - 特許庁

To provide light source equipment and imaging device text equipment having the same capable of testing phase shift characteristics with respect to the incident light of each pixel of a CCD.例文帳に追加

ＣＣＤの各画素の入射光に対する位相シフト特性検査を可能にする光源装置とこれを有する撮像素子検査装置を提供すること。 - 特許庁

This method and device are used when testing an electronic device having source synchronizing signal output by use of an automatic test equipment(ATE).例文帳に追加

源同期信号出力を有する電子デバイスを自動試験装置（ＡＴＥ）を用いて試験するための方法および関連の装置を記載している。 - 特許庁

You can also run a single test file rather than testing the entire project.Select the LibClass.java tab in the Source Editor and choose Run Test File. 例文帳に追加

プロジェクト全体をテストするのではなく、1 つのテストファイルを実行することもできます。 ソースエディタで「LibClass.java」タブを選択し、「実行」「ファイルをテスト」を選択します。 - NetBeans

To provide a substrate for testing, capable of displaying an execution state by supplying power source to a magnetic disk unit and executing a function injection program.例文帳に追加

磁気ディスク装置に電源を供給して機能注入プログラムを実行させ、実行状態の表示をすることができる試験用基板を提供する。 - 特許庁

A closed circuit from a testing power source to loads (various kinds of circuit components) is stably formed through the clip 25 and the terminal pin 13.例文帳に追加

鰐口クリップ２５及び端子ピン１３を通じての試験用電源からプリント基板２３上の負荷（各種の回路部品）への閉回路が安定的に形成される。 - 特許庁

The force line FL and the sense line SL are not connected on the testing board, the sense line SL is connected to the power source terminal BP4 (power source terminal for detecting voltage) through the socket pin 511, and the force line FL is connected to the power source terminals BP1-BP3 (power source terminal for supplying voltage) through the socket pins 511.例文帳に追加

フォースラインＦＬとセンスラインＳＬは試験用ボード上では接続されず、センスラインＳＬは電源端子ＢＰ４（電圧検出用電源端子）へとソケットピン５１１を介して接続され、フォースラインＦＬは電源端子ＢＰ１〜３（電圧供給用電源端子）へとソケットピン５１１を介して接続される。 - 特許庁

To perform the evaluation of the noise resisting performance resulted from a DC power source in the noise test of an electric applied device loaded with a switching type DC power source which could not be performed by the application of a noise from an external noise testing device.例文帳に追加

スイッチング方式の直流電源を搭載した電気応用装置のノイズ試験に、外部のノイズ試験装置からノイズを印加するのでは、直流電源に起因する耐ノイズ性能評価ができない。 - 特許庁

An X-ray microscope includes a wide range X-ray source, and a means for arranging a testing object 3 and a recording means, and an X-ray capillary lens is arranged therebetween.例文帳に追加

Ｘ線顕微鏡は、広域Ｘ線源と、テスト物体３および記録手段を配置する手段とを備え、これらの間にＸ線キャピラリレンズが配置される。 - 特許庁

When the Etherframe(R) is received, the loop-back testing apparatus 2 sends the received Etherframe(R) onto the network after mutually switching the destination MAC address and the source MAC address thereof.例文帳に追加

ループバック試験装置２は、イーサフレームを受信すると、受信したイーサフレームの宛先ＭＡＣアドレスと送信元ＭＡＣアドレスとを互いに付け替えてネットワーク上に送出する。 - 特許庁

To provide a disconnection detection device capable of testing a radio tag reader without performing actual operation or even when a noise source exists in the periphery.例文帳に追加

実動作を行わなくても、また、周囲にノイズ源が存在する状況であっても、無線タグリーダの試験を行うことができる断線検出装置を提供する。 - 特許庁

A character string restriction extraction part 11 of a data generation device 1 extracts character string variables appearing in source restriction information of testing and classifies them into an equivalence relationship and an inequivalence relationship.例文帳に追加

データ生成装置１の文字列制約抽出部１１は，テストの元制約情報に出現する文字列変数を抽出し，等価関係／非等価関係に分類する。 - 特許庁

To provide a small-sized rotary vibration testing machine which is wide in a measurement frequency band by directly rotating and vibrating a turntable with the torque generated by an excitation source.例文帳に追加

本発明は、加振源で発生したトルクで直接回転テーブルを回転振動させることにより、測定周波数帯域の広い、小型の回転振動試験機を得る。 - 特許庁

The element substrate 91 has a plurality of testing terminals 80, 81, 82, source lines 6, gate lines 3, the connection terminal 7, TFT elements, pixel electrodes and a driver IC 40, etc.例文帳に追加

素子基板９１は、複数の検査用端子８０，８１，８２、ソース線６、ゲート線３、接続用端子７、ＴＦＴ素子、画素電極、ドライバＩＣ４０等を有している。 - 特許庁

To efficiently conduct a test by an inexpensive facility, and to quickly obtain a test result, when testing a light resistance of an optical component for coping with a specified short wavelength light source.例文帳に追加

特定の短波長光源に対応する光学部品の耐光性試験を行う場合に、廉価な設備で効率的な試験を行い、迅速に試験結果を得る。 - 特許庁

You can also run a single test file rather than testing the entire project.Select the LibClass.java tab in the Source Editor and choose Run Run File TestLibClass.java from the Run menu.例文帳に追加

プロジェクト全体をテストするのではなく、1 つのテストファイルを実行することもできます。 ソースエディタで「 LibClass.java 」タブを選択し、「実行」メニューから「実行」「ファイルを実行」「LibClass.java をテスト」を選択します。 - NetBeans

To achieve a testing method on the basis of source current in static state of a semiconductor integrated circuit by which the determination of good or no-good is exactly made even if there are manufacturing variations.例文帳に追加

製造バラツキがあっても良否判定が正しく行われる半導体集積回路の静止状態電源電流に基づいた検査方法の実現を課題とする。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing light stability, which can easily carry out an exchanging work and a dimmer control for a light source and can effectively carry out a test under a high temperature and a low temperature conditions.例文帳に追加

光源の交換及び調光が容易で、高温及び低温の条件下での試験を効率的に実施することが可能な耐光性試験装置を提供する。 - 特許庁

To generate a fault list of a delay fault, a wire breaking fault, and a path delay fault which can be detected by a transient source current testing method with high observableness and a test pattern series.例文帳に追加

可観測性の高い過渡電源電流試験法により、検出可能な遅延故障、断線故障、パス遅延故障と又テストパターン系列との故障リストを生成する。 - 特許庁