「source testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a frequency variable fatigue testing device using an electrically operated vibration generator targeting a mold material of a ground coil for a superconducting magnetically levitated railroad, and making a fatigue test by applying a bend fatigue load to a material test piece by an electrically operated vibration generator as a drive source.例文帳に追加

超電導磁気浮上式鉄道用地上コイルのモールド材を対象に、駆動源として動電型振動発生装置を用いて材料試験片に曲げ疲労負荷を与えて疲労試験を実施する、動電型振動発生装置を用いた周波数可変疲労試験装置を提供する。 - 特許庁

A testing circuit to determine whether the mask that has been used to from the source/drain and gate electrode of a transistor, contact and wiring of each layer thereof is correct or not is formed within a chip or in the scribe region, and this circuit is then coupled with formation of the pattern of mask used.例文帳に追加

トランジスタのソース・ドレイン、ゲート電極とその上各層のコンタクトと配線を形成する際に使用したマスクが正しい物か否かを判定する為の試験回路をチップ内又はスクライブ領域に形成しておき、この回路を使用マスクのパターン形成により連結される。 - 特許庁

The inspection device for ISPs is provided with a placing unit for placing an ISP on for testing, an inspection portion which performs an electric and image test of the ISP, with a lens and a light source arranged above the ISP, and a controlling and processing unit, having a tester module for performing the electric and image test of the ISP.例文帳に追加

ＩＳＰの検査装置は、ＩＳＰがテストのために載置される載置ユニットと、ＩＳＰの上部にレンズ及び光源を設けて前記ISPを電気及びイメージテストする検査部と、ＩＳＰの電気及びイメージテストを行うテスターモジュールを有する制御及び処理ユニットと、を備える。 - 特許庁

When a hold switch is in an on-state, a play key 11 is turned on, a power source Vdd of a microcomputer is turned on by linking, after an initial setting period elapses, as it is confirmed that the play key is turned off by testing the play key 11, after the prescribed period Tw, a control output 1A of the microcomputer is about to be started.例文帳に追加

ホールドスイッチがオンである場合、プレイキー１１がオンになると、連動してマイコン電源Ｖｄｄがオンし、初期設定期間経過後にはプレイキー検査をすると、すでにプレイキー１１はオフとなっているので、所定期間Ｔｗ待って、マイコン制御出力１Ａを立ち上げようとする。 - 特許庁

In a drive circuit IC3 of an FET3 which becomes an output switch for testing, a voltage is detected by means of a Zener diode ZD and a resistor R1, and when insufficient voltage is detected from the voltage detection by means of a comparison circuit COM, the FET3 is forcibly turned off by dropping the voltage across the gate and source of the FET3 to zero volt.例文帳に追加

試験用出力スイッチとなるＦＥＴ３のドライブ回路ＩＣ３において、ツェナーダイオードＺＤと抵抗Ｒ_1で電圧を検出し、この電圧検出で比較回路ＣＯＭで電圧不足を検出したときにＦＥＴ３のゲートソース間を０ボルトにしてその強制オフを行う。 - 特許庁

The control/electric source 4 for generating high voltage, a capacitor 15 to be charged by the high voltage, a discharge chip 6 for impressing charges accumulated in the capacitor 15 on the testing object, a switch 16 for connection with discharge chip 6 while switching capacitor 15 and grand level.例文帳に追加

高電圧を発生するコントロール／電源４と、この高電圧によって充電するコンデンサー１５と、このコンデンサー１５に蓄積された電荷を被験体７に印加する放電チップ７と、放電チップ６をコンデンサー１６またはグランドレベルに切り換え接続するスイッチ１６を設けている。 - 特許庁

When a transmission source MAC address of the test frame (a) in each of learning tables T1 to T4 of respective MAC bridging apparatuses is learned by a port which is not a port direction nearest to the testing apparatus 6 logically from a MAC bridging apparatus, the loop generating direction judgment apparatus judges the loop exists in the direction.例文帳に追加

該ループ発生方向判定装置は、各MACブリッジング装置の学習テーブルＴ１〜Ｔ４における試験フレームの送信元MACアドレスが、そのMACブリッジング装置から見て論理的に試験装置６に最も近いポート方向ではないポートに学習されている場合に、その方向にループがあると判定する。 - 特許庁

In this combined degradation accelerator 1, a holding table 30 for a testing body and a salt spray device 40 are provided in a test chamber 11 with temperature and humidity controllable while a light source unit 33 is installed outside a partition board 32 attached to one surface of the test chamber 11 so as to right confront a surface of the holding table 30.例文帳に追加

複合劣化促進装置１は、温湿度の制御可能な試験室１１内に、試験体の保持台３０と塩水噴霧装置４０とが設けられるととともに、この試験室１１の一面に取り付けられた仕切り板３２の外側に、保持台３０の表面に正対するようにして光源ユニット３３が設置される。 - 特許庁

The problem to be solved is solved by the staining evaluation device of the present invention having the optical waveguide substrate 1 installed to contact closely with the testing object 3, a light source for making the light 2 get incident into the one end side of the optical waveguide substrate 1, and a detector for detecting the light 2 emitted from the other end side of the optical waveguide substrate 1.例文帳に追加

また、試験体３を密着して設置する光導波路基板１と、光導波路基板１の一端側に光２を入射する光源と、光導波路基板１の他端側から出射される光２を検出する検出器と、を有する汚染性評価装置により上記課題を解決する。 - 特許庁

This semiconductor testing device 1 having a pattern memory circuit 12 used for performing functional tests on semiconductor integrated circuits is provided with a backup power source 14 which supplies electric power to the pattern memory circuit 12 when the power supply from a power supply unit 11 which supplies electric power to the pattern memory circuit 12 at normal time is shut off.例文帳に追加

半導体集積回路の機能試験をするためのパターンメモリ回路１２を有する半導体試験装置１において、通常時にパターンメモリ回路１２に電源を供給する電源ユニット１１からの電源の供給が遮断されたとき、パターンメモリ回路１２に電源を供給するバックアップ電源１４を備えた。 - 特許庁

This device includes the first electrode 12 and the second electrode 14 installed separately on an insulator which is an object for testing the high conductivity state or the high dielectric constant state, and a high voltage power source for supplying the power to the first electrode and the second electrode with each different potential.例文帳に追加

この装置は、高導電性の状態又は高誘電率の状態を試験する対象の絶縁体上に、離れて設置される第１の電極１２及び第２の電極１４と、第１の電極及び第２の電極に異なる電位で電力供給する高電圧電源とを含んでいる。 - 特許庁

To quickly and flexibly narrow down any problematic operation and an object being the factor of the problematic operation without depending on the source code of an object mounted on a system and the hardware and OS of the system at the time of tracking an object being the factor of any problematic operation at the time of testing this system.例文帳に追加

システムの試験時に、問題となる動作を起こしたオブジェクトを追跡する場合において、システムに実装されたオブジェクトのソースコードおよびシステムのハード、ＯＳ等に依存せずに、問題となる動作および問題となる動作の原因となるオブジェクトの迅速かつ柔軟な絞り込みを可能とすること。 - 特許庁

In the burn-in testing method carrying out the test by operating the semiconductor device in a predetermined temperature atmosphere, while supplying power to the semiconductor device, an operation command signal commanding operation of the semiconductor device is repeatedly supplied, and varying of a power source current corresponding to the operation command signal is counted.例文帳に追加

半導体デバイスを所定の温度雰囲気中で動作させて試験を行うバーンイン試験方法において、半導体デバイスに電源を供給しながら、半導体デバイスの動作を指令する動作指令信号を繰り返し供給し、動作指令信号に対応する電源電流の増減をカウントする。 - 特許庁

A direct current voltage for testing the short-circuited pixel, generated at a direct current source 18B, is impressed between a plurality of positive electrodes 13 exposed at the side end part of the organic EL panel 11 and a plurality of negative electrodes 17 with a polarity reversed from that at the light emission, namely, the voltage is impressed by reversing the positive side and negative side.例文帳に追加

有機ＥＬ表示パネル１１の側端縁に露出された複数の陽極１３と、複数の陰極１７に対し短絡画素検査用の直流電源１８Ｂからの直流電圧を、発光用の直流電圧の印加方向とは逆に、即ちプラス側とマイナス側とを逆にして電圧を印加する。 - 特許庁

The light-resistance testing equipment 1 includes a laser 18 emitting a laser beam to the sample, a light detecting element 14 detecting the laser beam transmitted through the sample, and a control part 16 calculating the light transmittance of the sample on the basis of the quantity of the light emitted from the laser 18 and the quantity of the laser beam detected by the light detecting element 14 and controlling a light source.例文帳に追加

耐光性試験装置１は、試料に対して光を出射するレーザ１８と、試料を透過した光を受光する受光素子１４と、レーザ１８から出射された光の光量と受光素子１４により受光された光の光量とに基づいて試料の光透過率を算出すると共に、光源を制御する制御部１６とを備える。 - 特許庁

A method and system for testing sugar contents irradiates the measured object with a generated electromagnetic wave to obtain a transmission or reflection intensity thereof, using an electromagnetic wave generation source having 10GHz-10THz of oscillation frequency constituted of a terahertz generator, and using a suitable frequency of oscillation element, and obtains thereby the sugar content in the measured object and a distribution situation thereof.例文帳に追加

テラヘルツ発生装置によって構成される１０ＧＨｚから１０ＴＨｚの発振周波数を持つ電磁波発生源を用い、適した周波数の発振素子を用い、被測定物に前記発生電磁波を照射しその透過あるいは反射強度を得ることによって、被測定物中の糖度およびその分布状況を得ることを可能にした。 - 特許庁

From the viewpoint of creating the cluster “core” and enhancing centripetal force, Chubu Bureau of Economy, Trade and Industry should push ahead with creating further advanced clusters by enhancing state-of-the-art hardware that plays important roles in the creation of clusters, such as (1) testing equipment necessary for form certification of large wind tunnels and large joint testing machines because Japanese manufacturers are currently using overseas facilities and (2) an R&D base (National Composite Center) capable of comprehensively providing design technologies, processing technologies and repair services on CFRP (composite Source: METI data (January 2011) materials) usable for automobiles and aircraft. 例文帳に追加

中部経済産業局においては、クラスターの「核」を創出し求心力を高める観点からも、①現在、海外の設備を利用している、大型風洞、大型共同試験機等の型式証明取得に必要な試験設備、②自動車や航空機等に波及するCFRP＇複合材（について、設計技術・加工技術・補修サービスまでをパッケージ化した研究開発拠点＇ナショナルコンポジットセンター（、といったハード面において、集積の中核となる最新鋭の設備整備を進め、更なる高度な集積を推進することが望まれる。 - 経済産業省

The testing is conducted from the surface side of the impervious sheet utilizing a system that electrostatic coupling occurs between the first electrode and the bottom side, and as a result, an electric current path is formed to thereby turn on electric current when the second electrode is moved to a nonconformity place of the impervious sheet by connecting an alternating current power source 13 via an ammeter 14 between the first electrode and the second electrode.例文帳に追加

第一及び第二電極間に電流計１４を介して交流電源１３を接続することにより、第二電極が移動して遮水シートの不良箇所に来た時、第一電極と遮水シート下側の間に静電結合が生じて電流経路が形成され電流が流れることを利用して遮水シートの表面側から検査を行う。 - 特許庁

In a technique for testing a semiconductor device 1 provided with a memory circuit block 28, the self-diagnosis circuit 34, and other circuit blocks (a logic circuit block 20, an analogue circuit block 24 and the like), at least supply of a power source voltage and an electric signal to the memory circuit block 28 and the self-diagnosis circuit 34 is controlled independently of supply of them to other circuit blocks.例文帳に追加

メモリ回路ブロック２８と自己診断回路３４、及びその他の回路ブロック（ロジック回路ブロック２０、アナログ回路ブロック２４等）を備えた半導体装置１をテストする手法において、各回路ブロックへの電源電圧及び電気信号の供給に関し、少なくともメモリ回路ブロック２８と自己診断回路３４に対する供給と、その他の回路ブロックに対する供給とを個別に制御する。 - 特許庁

A test device of testing a device under test includes: a plurality of capacitors charged at predetermined respective prescribed voltages; a switching part for performing the switching from which of the capacitors charged at the prescribed voltages the power source voltage is to be supplied to the device under test; and a determination part determining the quality of the device under test on the basis of the operation result of the device under test.例文帳に追加

被試験デバイスを試験する試験装置であって、それぞれ予め定められた所定の電圧で充電される複数のコンデンサと、所定の電圧に充電されたコンデンサのうち、いずれから被試験デバイスに電源電力を供給するかを切り替える切替部と、被試験デバイスの動作結果に基づいて、被試験デバイスの良否を判定する判定部とを備える試験装置を提供する。 - 特許庁