「source testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor testing device having a voltage impression current measuring function shortening a testing time by preventing lowering of a response rate while maintaining the minimum phase margin even if a bypass capacitor having any capacitance value is connected to a power source pin of a device to be measured.例文帳に追加

被測定デバイスの電源ピンにバイパスコンデンサとしてどのような容量値のものが接続されたとしても、最低限の位相余裕を確保しつつ応答速度の低下を防止し、テスト時間を短縮することができる電圧印加電流測定機能を備えた半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a radiation detection apparatus in which a radiation source is stabilized, highly accurate measurement is achieved by correcting the measurement error due to radiation dosage change from the measurement result of a transit dose, the cost of the testing instrument is reduced, the measurement sensitivity is improved and the longer operating life of the radiation source is aimed by lowering the output of the X-ray source.例文帳に追加

線源の安定化をはかり、透過線量の測定結果から線量変動による測定誤差補正することで高精度な測定を実現し、検査装置の低価格化、計測感度向上、Ｘ線源の低出力化を図ることにより線源の長寿命化を図った放射線検出装置を提供する。 - 特許庁

This noise testing device comprises a smoothing part 13 imitating a DC power source 2A built in a device to be tested 2 and a filter part 14, and performs the noise resisting performance test of the circuit resulted from the DC power source by substituting the DC power source to supply the power to an internal circuit 2B.例文帳に追加

ノイズ試験装置は、被試験装置２に内蔵する直流電源２Ａを模擬した平滑部１３やフィルタ部１４をもつ構成にし、ノイズ試験には直流電源に置き換えて内部回路２Ｂに電源供給を行うことによって、直流電源に因る回路の耐ノイズ性能試験を行う。 - 特許庁

A plurality of light sources 20 contain the light source irradiating light having several different colors, and intensity of the light of each color is controlled according to predetermined testing contents.例文帳に追加

複数の光源２０には、何種類かの異なる色の光を放射する光源が含まれており、各色の光の強さは、所定の試験内容に応じてそれぞれ制御される。 - 特許庁

To provide an environmental testing device capable of uniformly irradiating an entire sample with electromagnetic wave in a prescribed frequency range while suppressing heat generation of an electromagnetic wave source.例文帳に追加

電磁波の発生源の発熱量を抑制しつつサンプルの全体に所定の周波数領域の電磁波を均一に照射することが可能な環境試験装置を提供する。 - 特許庁

A test terminal 4 sends the Etherframe(R), in which a destination MAC address is a MAC address of the present terminal and a source MAC address of a MAC address of a loop-back testing apparatus 2, onto a network.例文帳に追加

試験用端末４は、宛先ＭＡＣアドレスが自端末のＭＡＣアドレス、送信元ＭＡＣアドレスがループバック試験装置２のＭＡＣアドレスであるイーサフレームをネットワーク上に送出する。 - 特許庁

The BIST unit receives the selection commanding signal and outputs the enable signal, and at the same time, regulates the output voltage of the testing voltage source to a predetermined level, on the basis of the compared result.例文帳に追加

ＢＩＳＴ装置は選択指示信号を受信してイネーブル信号を出力にすると共に、比較結果に基づいてテスト電圧源の出力電圧を所定の電圧に調整する。 - 特許庁

This bench testing device 1 is equipped with a flat base (ground plane) 2, a noise source electric wire 3 connected to a noise generator 5, and an electric wire to be measured connected to a noise measuring device 6.例文帳に追加

このベンチ試験装置１は、平板状基台（グランドプレーン）２と、ノイズ発生器５に接続されたノイズ源電線３と、ノイズ測定器６に接続された被測定電線とを備えている。 - 特許庁

To achieve a highly reliable test by enabling to test at the most suitable operating ratio to a circuit margin of an circuit to be tested with an excellent efficiency against an electric power source noise in a short testing period of time.例文帳に追加

電源ノイズに対応して効率良く、短い試験時間で、被検査回路の回路マージンに最適な動作率で試験を行うことを可能とし、信頼性の高い試験を実現する。 - 特許庁

To prevent an overvoltage from being applied to a load and facilitate wire connection work at the time of testing by detecting a state of phase interruption of a neutral line extending from a power source to a load connection point.例文帳に追加

電源から負荷接続点に達する中性線路の欠相状態を検出して、負荷への過電圧印加を防止すると共に、試験する際の結線作業を容易にする。 - 特許庁

White-box testing strategies include designing tests such that every line of source code is executed at least once, or requiring every function to be individually tested. 例文帳に追加

ホワイトボックス法の戦略には、ソースコードのすべての行が最低一回実行されるようにテストを設計する、またはすべての関数が独立にテストされることを要する、ということが含まれる。 - コンピューター用語辞典

To provide a DUT board hardly affected by an electric power source/a ground bounce and hardly generating operation failure even in a high-speed operation and a low voltage in a tested LSI, and to provide a testing method using the DUT board.例文帳に追加

被試験用ＬＳＩの動作が高速化かつ低電圧化しても電源／グランドバウンスの影響を受け難く、動作不良を起こし難いＤＵＴボード及びそれを用いるテスト方法を得ることである。 - 特許庁

Apparatus for testing an opto-switch includes a first sense resistor coupled between a power source and an input of the opto-switch, and a second sense resistor coupled to an output of the opto-switch.例文帳に追加

光スイッチをテストする装置は、電源と光スイッチの入力部との間に接続する第１の検出抵抗器と、光スイッチの出力部に接続する第２の検出抵抗器とを含む。 - 特許庁

A probe card 18 is equipped with a relay 38 for connecting a probe 16A to a voltage source of a tester 14 at the wafer 12 testing time, and grounding the probe 16A at the contact resistance measuring time of the probe.例文帳に追加

プローブカード１８は、ウェハ１２の試験時にはプローブ１６Ａをテスタ１４の電圧源と接続し、プローブの接触抵抗測定時にはプローブ１６Ａを接地するリレー３８を備えている。 - 特許庁

To provide an internal pressure fatigue testing machine capable of performing a more accurate test by suppressing fluctuation of a test pressure at the driving/stopping time of an auxiliary oil pressure source regardless of the pressure of an internal pressure test.例文帳に追加

内圧試験の圧力に係わらず、補助油圧源の駆動／停止時における試験圧力の変動を抑制し、より正確な試験を行うことのできる内圧疲労試験機を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for accelerated wheathering testing specimens having discharge lamps as a concentrated light source for accelerating fading, and deteriorating of composition and structure of specimens and also having an improved control, calibration structure, and operations method.例文帳に追加

試料の退色、組成、構造の劣化を促進する集中光源である放電ランプを有し、制御、較正構造及び動作方法の改良された耐候性試料促進装置の提供。 - 特許庁

To provide a weathering light testing method for precisely controlling the temperature in a test tank and uniformizing the radiation luminous intensity from a light source over a wide humidity region to enable energy saving operation in a weathering light testing machine for irradiating the sample with predetermined light under a predetermined temperature and humidity condition.例文帳に追加

所定の温度及び湿度のもとで所定の光を試料に照射する耐候光試験機において、試験槽内の温度を精度良く制御すると共に、広範な湿度域において、光源からの放射照度を均一にして、省エネルギーで運転可能な耐候光試験方法及び耐候光試験機を提供する。 - 特許庁

The latch circuit 1 constituted of two inverters connected in inversely parallel so as to operate as a storage element holding data of one bit is a latch circuit for testing a power source which reverses surely a stored and held logic value when power source voltage is dropped from the rated voltage to the prescribed voltage.例文帳に追加

１ビットのデータを保持する記憶素子として働くように逆並列に接続された二つのインバータで構成されるラッチ回路１は、電源電圧が定格電圧から所定の電圧に低下したときに記憶保持する論理値を確実に反転させる電源検査用ラッチ回路である。 - 特許庁

Each of various glass face materials 3 supposed as the window glass is provided between an artificial light source 1 in a light resistance testing machine and a sample installation part 2, and a plurality of samples 4, 4, etc. installed on the sample installation part 2 are irradiated with light from the artificial light source 1 transmitted through the glass face material 3.例文帳に追加

耐光性試験機における人工光源１とサンプル設置部２との間に、窓ガラスを想定した各種ガラス面材３を設けて、そのガラス面材３を透過した人工光源１からの光を、サンプル設置部２に設置したサンプル４，４…に照射させる。 - 特許庁

When a command (positions of SW1-SW4) acquired at the time of switching on a power source is 1110, a sound source substrate is set in a test mode, and when the switches SW1-SW4 are made ON after commanded to start testing, they start to pronounce a scale corresponding to them.例文帳に追加

電源投入時に取得したコマンド（スイッチＳＷ１〜４のポジション）が１１１０であるとテストモードになり（Ｓ１０１：ＹＥＳ）、テスト開始のコマンド（Ｓ１０２：ＹＥＳ）の後、スイッチＳＷ１〜４がオンにされると（Ｓ１０３：ＹＥＳ）、それに対応する音階の発音を開始する（Ｓ１０４）。 - 特許庁

Since the power source testing means tests the electric capacity every predetermined cycle and notifies the results, periodical tests are performed also between periodical tests performed by the manager, the power supply means such as the auxiliary power source can be normally operated.例文帳に追加

所定の周期で電源試験手段が電気容量の試験を行い、その結果を通報するようにしたので、管理者による定期的な試験と試験との間でも定期試験が行われるようになるので、予備電源などの電源手段を正常に動作させることが可能となる。 - 特許庁

To provide a biological power generation apparatus which has simple structure and which is inexpensive, disposable and has safety by avoiding using of an external power source as to a testing apparatus of a subcutaneous contaminant substance of an inverse iontophoresis type.例文帳に追加

逆イオントフォレシス型皮下含有物質の検査装置に関し、外部電源を用いないため構造が簡単で低コスト、使い捨て可能且つ高い安全性の生体発電式装置の提供を目的とする。 - 特許庁

In this semiconductor testing device 100, each limit value is set, corresponding to various states of cards to which each power source section 11, 12, etc., is connected beforehand before a test, and set in each memory 11b, 12b, etc..例文帳に追加

半導体試験装置１００では、試験前に予め電源部１１、１２，・・・が接続されたカードでの様々な状況に対応したリミット値を設定してメモリ１１ｂ、１２ｂ，・・・のそれぞれ毎に設定しておく。 - 特許庁

To provide an inexpensive anemometer for a weather/light resistance testing machine capable of measuring wind speed accurately even when a sample is rotated around a light source without disturbing wind passing along the sample surface.例文帳に追加

安価で、試料表面を通過する風を乱すことなく、試料が光源の周囲を回転した場合においても、風速を精度良く測定することが可能な、耐候光試験機用の風速計を提供する。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit is provided with a data collecting section for fetching a flip-flop setting value at a time of turning on a power source from a plurality of flip-flops connected to a scan chain set as a pass for testing an integrated circuit, such as, LSI.例文帳に追加

ＬＳＩなどの集積回路のテスト用パスとして設定されたスキャンチェーンに接続された複数のフリップフロップから、電源投入時のフリップフロップ設定値を入力するデータ収集部を設けた。 - 特許庁

To improve the efficiency of the program development, testing, modification, maintenance and management and to improve the reliability of the machine device where the object code which is generated from the source code of a computer program is built in as the control means.例文帳に追加

コンピュータプログラムのソースコードより生成されるオブジェクトコードを制御手順として内蔵する機械装置において、プログラム開発、テスト、変更、維持・管理の効率をあげること、機械装置の信頼性をあげること。 - 特許庁

The MHLW mission conducted the water quality testing of the wells (shallow wells) in temples and a rain water storage pond which low income citizens and the poor in Pathein City use as the source of their drinking water. In all water sources tested, E-Coli were found.例文帳に追加

パテインの低所得者層や貧困層が飲料水として利用している寺院などの井戸（浅井戸）や、雨水貯留池の水質検査を行った結果、いずれの水源からも大腸菌が検出された。 - 厚生労働省

When a pulse rising time of an inverter pulse testing power source used when inspecting or diagnosing a motor is different from a rising time of a surge voltage observed in a motor terminal of an inspection diagnosis object at an inverter driving time, the magnitude ΔV of the surge voltage of the inverter pulse testing power source is heightened or lowered as much as a value necessary for applying a peak voltage Vm generated at the inverter driving time between motor winding turns.例文帳に追加

モータを検査又は診断する際に用いるインバータパルス試験電源のパルス立ち上がり時間が、インバータ駆動時に検査診断対象のモータ端子で観測されるサージ電圧の立ち上がり時間と異なる際には、モータ巻線ターン間にインバータ駆動時に発生するピーク電圧Ｖｍを印加するのに必要な値だけ、前記インバータパルス試験電源のサージ電圧の大きさΔＶを高くあるいは低くすることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a material testing machine eliminated in the setting a gain prior to a test in a material testing machine having a motor as a drive source, automatically optimized in gain accompanied by the advance of the test and capable of performing more accurate control even if there is noise in the detection value of a control quantity and processing such as filtering or the like is applied.例文帳に追加

モータを駆動源とする材料試験機において、試験に先立ってゲインを設定する必要がなく、かつ、そのゲインを試験の進行に伴って自動的に最適化され、なおかつ、制御量の検出値にノイズがあったり、フィルタなどの処理が施されていても、より正確な制御を行うことのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a materials testing machine capable of always performing an accurate material test without requiring skills, without performing trial and error, or without requiring a long time when setting a control gain, and dispensing with setting of initial speed of a load mechanism at a test starting time, concerning the materials testing machine using a motor as a driving source of the load mechanism.例文帳に追加

モータを負荷機構の駆動源とする材料試験機において、制御ゲインの設定に際して熟練を要したり、試行錯誤を行ったり、あるいは長時間を要することなく、常に正確な材料試験を行うことができ、しかも、試験開始時における負荷機構の初期速度の設定をも不要とした材料試験機を提供する。 - 特許庁

The apparatus for testing semiconductor device for testing a DUT (device under test) while supplying power voltage comprises a voltage detecting part for outputting a detection signal by detecting the voltage of the power source arrival at a threshold voltage set previously, an operation control part for setting the threshold voltage, and a test performing part for starting the test using the detection signal.例文帳に追加

ＤＵＴに電源電圧を供給して試験を行う半導体試験装置において、電源電圧が予め設定された閾値電圧に到達したことを検出して検出信号を出力する電圧検出部と、閾値電圧を設定する演算制御部と検出信号に基づいて試験を開始する試験実行部とを備える。 - 特許庁

The semiconductor testing device 1 includes a prober 2, the measuring device 3 and an electronic control device 4, and can perform gate leakage current measurement of a semiconductor element 10, reverse withstand voltage measurement between a gate and a drain, and between the gate and a source, breakdown voltage measurement between the gate and the source, and gate threshold voltage measurement.例文帳に追加

本発明に係る半導体試験装置１は、プローバ２、測定装置３、電子制御装置４を備えており、半導体素子１０のゲート漏れ電流測定、ゲート・ドレイン間およびゲート・ソース間の逆耐圧測定、ゲート・ソース間の降伏電圧測定、およびゲート閾値電圧測定が可能である。 - 特許庁

To provide a load test support system, connected with a power source being a test sample as a load for testing of response to the load of the power source, which can be adapted to the actual load current value for enabling the minimum width of the load resistance, adjustable in each electric power range, to be set as small as possible.例文帳に追加

本発明は、試料である電力源に負荷として接続され、その電力源の負荷に対する応答の試験に供される負荷試験支援装置に関し、実際の負荷電流の値に適応し、各電力レンジにおいて可変できる負荷抵抗の最小の幅を小さく設定できることを目的とする。 - 特許庁

For conducting a development test, etc. on an electric vehicle which employs a motor as a power source, a test measuring system for the electric vehicle 1 reproduces a driving state of the electric vehicle to be tested by using a reproduction object testing device 10.例文帳に追加

モータを動力源とする電動車両の開発試験等を行うために試験対象電動車両の走行状態を再現対象試験装置１０において再現する電動車両用試験測定システム１である。 - 特許庁

The posture changing device 100 is provided with a rotor 110 positioned inside the soaking chamber, and for changing a posture by grasping the testing tray, and the first power source 111 for providing power for posture-changing the rotor.例文帳に追加

姿勢変換装置１００はソークチャンバーの内部に位置しテストトレーを把持することで姿勢変換を可能にさせる回転体１１０と、回転体を姿勢変換させるための動力を提供する第１動力源１１１とを備える。 - 特許庁

To obtain an electronic instrument transformer which has a plurality of sensors, and performs efficient gain readjustment, without performing power interruption to an energized part, and preparing a testing power source and a transformer for a standard.例文帳に追加

複数のセンサを有する電子式計器用変成器において、課電部の電源遮断や試験用電源、標準用変成器を準備することなく、効率良く利得再調整を実施できる電子式計器用変成器を得る。 - 特許庁

To provide a method for testing vibration that substitutes a small mechanical piston cylinder for an electro-dynamic vibration tester of a vibration generation source and uses compressed air capable of easily generating a large excitation force, as power, and a device therefor.例文帳に追加

振動発生源である動電型振動試験機の代わりに、小さな機械系ピストンシリンダを用い、大きな加振力を簡単に発生できる圧縮空気を動力とする振動試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

In this method, every testing emitted light separately containing different energy density for measuring or predefined radiation is simultaneously-irradiated on some sample volumes 1211-1233 in the optical material, in order to determine radiation damage resistance of the optical material, where any radiation used for all sample volumes arises from a common radiation source 13.例文帳に追加

光学材料の耐照射損傷性を決定するために、光学材料内の幾つかのサンプル体積１２１１〜１２３３に、異なった測定または所定放射エネルギ密度を有する試験放射光線を同時に照射する。 - 特許庁

To use a ceramic piezoelectric element as a driving source for vibration of a driving rod in a testing machine for generating high-frequency vibration in a material of a test piece, when imparting the high-frequency vibration to the test piece to conduct a fatigue test.例文帳に追加

試験片に高周波振動を付与して疲労試験を行う際に、その材料に高周波振動を発生させるための試験機のにおける駆動棒の振動駆動源としてセラミック圧電素子を使用するセラミック圧電素子駆動型材料試験機。 - 特許庁

To provide a voice signal processing device which automatically changes an emphasis degree of utterance voice, according to articulation of voice in an input voice signal which is actual utterance voice, without using a sound source for testing, such as impulse.例文帳に追加

インパルス等の試験用音源を用いることなく、実際の発話音声である入力された音声信号における音声の明瞭度に応じて、自動的に発話音声の強調度合いを変更する音声信号処理装置を提供する。 - 特許庁

A light assembly comprises a light source, an optically transmissive self-supporting substrate, and coupled with but unattached to the substrate, a voided high Tg semi-crystalline polymeric optical diffuser film that shrinks less than 1% as a result of thermal shrinkage testing.例文帳に追加

光源、光学的透過性の自己支持性基体、及び、基体と一体にされるが付着しておらず、熱収縮試験の結果として１％未満で収縮するボイドを含む高Ｔｇ半結晶ポリマー光学ディフューザーフィルムを備える光アセンブリ。 - 特許庁

To provide a device for testing drain-up function of an air conditioner, which can test the drain-up function of the air conditioner before power source construction applied to the air conditioner, and thus can efficiently conduct the relevant test before busy season for interior construction.例文帳に追加

空調機に対する電源工事前に当該空調機のドレンアップ機能の試験を行うことができ、よって内装工事の煩雑期前に、効率的に当該試験を行うことが可能となる空調機のドレンアップ機能の試験装置を提供する。 - 特許庁

In this semiconductor device testing device, a waiting time proportional to the stopping time of a device power source up to the application timing of power source to the auxiliary circuit and the device to be tested is generated from the application timing, and the test is started after the delay of this waiting time, whereby the influence of the jitter generated in the auxiliary device is removed.例文帳に追加

補助回路と被試験半導体デバイスに電源を印可したタイミングからその印可タイミングに至るまでにデバイス電源が停止していた時間に比例する待ち時間を発生させ、この待ち時間の遅延後に試験を開始させることにより補助回路で発生するジッタの影響を除去する構成とした半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

The durability testing device 1 is provided with a light source 3 emitting light, a dichroic mirror 9 disposed so as to cut light having ≥500 nm wavelength of light emitted from the light source 3 and a cut filter 5 cutting light having ≤380 nm wavelength of light emitted from the dichroic mirror 9.例文帳に追加

本発明の耐久性試験装置１は、光を出射する光源３と、光源３から出射された光のうち、５００ｎｍ以上の波長の光をカットするよう配置されたダイクロイックミラー９と、ダイクロイックミラー９から出射された光のうち、３８０ｎｍ以下の波長の光をカットするカットフィルタ５とを備えている点に特徴を有する。 - 特許庁

A test pattern data is input into a data input of the IP core 12, an output data output from a data output of the IP core 12 is compared with an expected value for the test pattern data, and the power source noise resistance is inspected when testing a function of the IP core 12.例文帳に追加

ＩＰコア１２のデータ入力にはテストパターンデータが印加され、ＩＰコア１２のデータ出力から出力される出力データとテストパターンデータに対する期待値と比較してＩＰコア１２のファンクションテスト時に電源ノイズ耐性の検査を行う。 - 特許庁