「test data compression」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

INFORMATION PROCESSOR, TEST PATTERN DATA COMPRESSION METHOD FOR INFORMATION PROCESSOR, AND PROGRAM例文帳に追加

情報処理装置、情報処理装置のテストパターンデータ圧縮方法及びプログラム - 特許庁

By changing the number of bits (data compression rate) for distributing the first and second test data TWD 1 and 2, a data compression test to the parity memory block PMB can be carried out without increasing the number of test terminals.例文帳に追加

第１および第２試験データＴＷＤ１−２を分配するビット数（データの圧縮率）を変えることで、試験端子の数を増やすことなく、パリティメモリブロックＰＭＢに対するデータ圧縮試験を実施できる。 - 特許庁

To provide test data compression method applicable to System-on Chip (SoC) which can attain maximum compression, while shortening the test run time.例文帳に追加

試験実行時間を短縮するとともに最大圧縮を達成可能な、システムオンチップ（ＳｏＣ；System-on Chip）チップに適用可能なデータ圧縮方法を提供する。 - 特許庁

TEST DATA COMPRESSION METHOD FOR SYSTEM-ON-CHIP USING RE-SEED FOR LINEAR FEEDBACK SHIFT REGISTER例文帳に追加

線形フィードバックシフトレジスタの再シードを使用するシステムオンチップの試験データ圧縮方法 - 特許庁

In the normal mode, a test data compression circuit 100 outputs compression data TD0123 compressed to one bit every four bits (TD0 to TD3) of test output data of a plurality of bits as data DQ0.例文帳に追加

テストデータ圧縮回路１００は、通常モードでは、複数ビットのテスト出力データの４ビット毎（ＴＤ０〜ＴＤ３）に１ビットに圧縮した圧縮データＴＤ０１２３をデータＤＱ０として出力する。 - 特許庁

To provide test data for evaluating dynamic compression breaking strength of a ceramic material.例文帳に追加

セラミックス材料の動的圧縮破壊強度を評価する試験データを得ることを可能にする。 - 特許庁

To reduce costs for a test by shortening time for testing a semiconductor memory having an error correction function and a data compression test function.例文帳に追加

誤り訂正機能およびデータ圧縮試験を有する半導体メモリの試験時間を短縮し、試験コストを削減する。 - 特許庁

The test plan of each circuit element for composing a data path is subjected to scheduling in parallel in a form to be compressed, and a compression operation is made to generate a compression test plan (step 1006).例文帳に追加

データパスを構成する各回路要素のテストプランを圧縮可能な形で並列にスケジューリングし、圧縮演算を施して圧縮テストプランを生成する（ステップ１００６）。 - 特許庁

In a first data compression test mode for invalidating the error correction function, first test data TWD1 is written in a first regular memory block MB1.例文帳に追加

誤り訂正機能を無効にする第１データ圧縮試験モード中に、第１試験データＴＷＤ１は、第１レギュラーメモリブロックＭＢ１に書き込まれる。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system capable of storing a test result in a small-capacity data fail memory by using a compression technique.例文帳に追加

圧縮技術を用いて、小さな容量のデータフェイルメモリにテスト結果を格納することができる、半導体テストシステムを提供する。 - 特許庁

COMPRESSION/DECOMPRESSION METHOD FOR PATTERN DATA FOR SEMICONDUCTOR-TESTING APPARATUS AND TEST PATTERN- COMPRESSING/EXPANDING APPARATUS例文帳に追加

半導体試験装置用パタ—ンデ—タのコンプレッション・デコンプレッション方法及びテストパタ—ン圧縮・伸張装置 - 特許庁

To realize an efficient data compression test by a smaller number of wirings in a data compression testing technique of a memory chip.例文帳に追加

本発明は、メモリチップのデータ圧縮テスト技術に関し、より少ない配線数で、効率の良いデータ圧縮テストを実現できるようにすることを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

The test data compression method comprises a step for acquiring equivalent core of plural cores in the System-on Chip circuit, and a step for applying reseeding of linear feedback shift register (LFSR) for test data compression of the equivalent core.例文帳に追加

データ圧縮方法は、システムオンチップ回路内の複数のコアの等価コアを取得するステップと、線形フィードバックシフトレジスタ（ＬＦＳＲ）の再シード（reseeding）を等価コアの試験データの圧縮に適用するステップと、を有する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device executing a test during data compression even when parity data are stored.例文帳に追加

パリティデータを格納した場合においてもデータ圧縮を行いつつテストを実行することを可能にした半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory having a data compression test function provided with an input circuit superior in load balance.例文帳に追加

負荷バランスの優れた入力回路を備えたデータ圧縮テスト機能を有する半導体記憶装置を提供すること。 - 特許庁

When a microcomputer 2 outputs measurement data stored in a data compression circuit 17 composed of a linear feedback register to this test device 3, by shifting out the measurement data in synchronism with monitor clock signals outputted from the test device, test data outputted from all the microcomputer 2 are synchronously read to the test device 3.例文帳に追加

マイクロコンピュータ２が、リニアフィードバックレジスタからなるデータ圧縮回路１７に格納された測定データをテスト装置３に出力する際に、テスト装置から出力されるモニタクロック信号に同期して測定データをシフトアウトすることにより、全てのマイクロコンピュータ２から出力される試験データを同期させてテスタ装置３に読み込むことができる。 - 特許庁

The data file 101 is built in by a test format, document image data 105 are built in by encoding image compression data and text information 107 is built in by the text format as it is.例文帳に追加

データファイル１０１はＴＥＸＴ形式で組み込まれ、文書画像データ１０５は画像圧縮データを符号化して組み込まれ、テキスト情報１０７はＴＥＸＴ形式のまま組み込まれる。 - 特許庁

The compressing means stores the fail data at a predetermined compression ratio by allocating a plurality of addresses of the pattern memory to the single address of the data fail memory in the execution of the first test and executes the second test without compression on only the group having a plurality of addresses of the pattern memory corresponding to the fail data stored in the data fail memory.例文帳に追加

その圧縮手段は、第１回目のテスト実行において、パターンメモリの複数のアドレスをデータフェイルメモリの単一アドレスに割り当てることにより、フェイルデータを、あらかじめ定めた圧縮比率で格納し、そのデータフェイルメモリに格納されたフェイルデータに対応するパターンメモリの複数のアドレスを有するグループのみについて、圧縮をすることなく、第２回目のテストを実行する。 - 特許庁

When the recording opeartion is executed, digital audio data are stored up in a memory 24 in order after compressing the data by a data compression circuit 22, and also a test signal is supplied to a recording head 31 to execute the recording and reproducing operations of the test signal with respect to a calibration area of a magneto-optical disk 11.例文帳に追加

記録の操作が行われたとき、デジタルオーディオデータをデータ圧縮回路２２によりデータ圧縮してからメモリ２４に順にため込んでいくとともに、記録ヘッド３１にテスト信号を供給して光磁気ディスク１１のキャリブレーションエリアに対してテスト信号の記録および再生を実行する。 - 特許庁

In a non-compression mode, simple test data output time series compression circuits 2-5 to 2-8 output comparison information for a prescribed period, and in a compression mode, when comparison information is information indicating non-coincidence, they output non-coincidence information until completion of the prescribed period.例文帳に追加

簡易テストデータ出力時系列圧縮回路２−５〜２−８は、圧縮モードでないときは、所定期間、比較情報を出力し、圧縮モードでは、比較情報が不一致を示す情報であれば不一致情報を所定期間終了まで出力する。 - 特許庁

An IC chip 20 is made up of a PLL(phase-lock loop) circuit 3 for supplying a system clock, a logic circuit 4 to be tested at an actual operation speed, and a BIST circuit 5 for compression-storing a test result as test result data 17.例文帳に追加

ＩＣチップ２０は、システムクロックを供給するＰＬＬ回路３、実動作速度によるテストされる論理回路４、及び、テスト結果をテスト結果データ１７として圧縮格納するＢＩＳＴ回路５で構成される。 - 特許庁

To record music on a CD or the like in the server device, the compressed voice data of the compression ratio set by the distribution test is created and recorded in an HDD.例文帳に追加

そして、サーバ装置にＣＤなどの楽曲を録音する際には、配信テストにより設定した圧縮率の圧縮音声データを作成して、ＨＤＤに記録する。 - 特許庁

A test piece 9 is arranged between an input rod 2 and an output rod 3 via a replaceable collision plate 8, the test piece 9 is compressed in a state of not exerting influence of bending force, and a dynamic compression breaking test is performed by replacing the collision plate 8 without replacing the input rod 2 and the output rod 3 to obtain test data for evaluating dynamic compression breaking strength of a ceramic material.例文帳に追加

交換可能な衝突板８を介して入力ロッド２と出力ロッド３の間に試験片９を配置し、曲げ力の影響を与えない状態で試験片９を圧縮し、入力ロッド２と出力ロッド３を取り替えることなく衝突板８を交換することで、動的圧縮破壊試験を実施してセラミックス材料の動的圧縮破壊強度を評価する試験データを得る。 - 特許庁

This circuit DD for preventing data inversion takes in data compression signals TDATA1-TDATA4 only in a period in which a main amplifier data output control signal MAEQiR is outputted at the time of on-chip compare-test, and prevents output errors of data inversion caused by coupling noise or the like.例文帳に追加

このデータ反転防止回路ＤＤは、オンチップコンペアテスト時において、メインアンプデータ出力制御信号ＭＡＥＱｉＲが出力されている期間のみ、データ圧縮信号ＴＤＡＴＡ１〜ＴＤＡＴＡ４を取り込み、カップリングノイズなどによるデータ反転の誤出力を防止する。 - 特許庁

In the case of generating the simulation test bench of a digital LSI circuit with plural input signal lines, test patterns are generated for every input signal line (a step 10), the test patterns with the same input timing are connected by bit connection for at least two or more input lines and the test pattern file to which the data compression is performed is generated (a step 11).例文帳に追加

複数の入力信号線を持つデジタルＬＳＩ回路のシミュレーションテストベンチを生成する場合において、各入力信号線ごとにテストパターンを作成し（ステップ１０）、それらを少なくとも２本以上の入力信号線について、入力するタイミングが同じものをビット連接により接合し、データ圧縮したテストパターンファイルを生成する（ステップ１１）。 - 特許庁

A distribution test for compressed voice data is conducted after system installation and the like, and one or two optimal compression ratios that match the system's installation environment and the position of a client device are set.例文帳に追加

システムの設置後などに圧縮音声データの配信テストを行って、その設置環境やクライアント装置の位置に応じた最適な圧縮率を１つ又は２つ設定する。 - 特許庁

On the other hand, in the fine mode, a parallel-serial conversion circuit 130 converts compression data TD01 and TD23 obtained by compressing every 2 bits (TD0, TD1 and TD2, TD3) of the test output data of the plurality of bits to one bit into one piece of serial data and then sequentially outputs the one piece of serial data as data DQ0.例文帳に追加

一方、ファインモードでは、複数ビットのテスト出力データの２ビット毎（ＴＤ０，ＴＤ１およびＴＤ２，ＴＤ３）を１ビットに圧縮した圧縮データＴＤ０１およびＴＤ２３を、パラレルシリアル変換回路１３０によって１シリアルデータに変換した上で、データＤＱ０として順次出力される。 - 特許庁

To dispense with a self-test circuit, composed of a linear feedback shift register(an LFSR) which is required, in addition to an inspected circuit to reduce a circuit area by dispensing with a built-in data compression circuit for executing a self-test for the inspected circuit, in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路内の被検査回路の自己テストを行うために、データ圧縮回路を内蔵する方法では、被検査回路の他に線形フィードバックレジスタ（ＬＦＳＲ）で構成される自己テスト回路が必要になるため回路面積が増大する。 - 特許庁

The physical property ratio of a reinforced concrete member, wherein ASR has caused in a healthy reinforced concrete member, is determined from the existing compression test data related to the reinforced concrete member corresponding to a reinforcing rod ratio.例文帳に追加

鉄筋コンクリート部材に関する既存の圧縮試験データから、健全な鉄筋コンクリート部材に対するＡＳＲを発症した鉄筋コンクリート部材の物性比を、鉄筋比に応じて求める。 - 特許庁

The data controller (16) receives text and EPG information from one or many permission data sources 20 through a communication connection, processes the received data with the internal database managing device of the controller (16), performs data compression and subsequently transmits the test information to the viewers under the control of a head end controller (34).例文帳に追加

データコントローラー（１６）は、１つまたは多数の許可データソース２０からのテキストおよびＥＰＧ情報を通信連結を通して受け取り、この受け取ったデータをそれの内部データベース管理装置で処理してデータ圧縮などを実施した後、ヘッドエンドコントローラー（３４）のコントロール下で上記テキスト情報をその視聴者に伝える。 - 特許庁

Average resistance values and compression strength values in interpenetration of a drill 22 are separately measured with respect to the test pieces cut from a plurality of woods: from these correlation data, the relational expression of the average resistance values and the compression strength values in interpenetration of the drill 22 into the woods is calculated.例文帳に追加

複数の木材から切り出した試験片について、ドリル２２貫入時の平均抵抗値と圧縮強度値とが別々に測定され、これらの相関データから、木材へのドリル２２貫入時の平均抵抗値と圧縮強度値との関係式が求められている。 - 特許庁

To provide a life estimating method of a rubber product capable of estimating the life of the rubber product at an early stage without performing a durability test over a long period of time until the rubber product is damaged and without lowering precision, and also to develop a data compression processing method for timewise compressing the time series waveform of the measured rubber product.例文帳に追加

ゴム製品を損傷するまでの長期に亘る耐久試験を行うことなく、早期に、そして精度を落とすことなくその製品寿命を予測することが可能となるゴム製品の寿命予測方法を実現させるとともに、計測されたゴム製品の時系列波形を時間的圧縮させる点にも着目し、そのためのデータ圧縮処理方法をも開発する。 - 特許庁

To realize a life estimating method of a rubber product capable of estimating the life of the rubber product in its early stages without lowering precision without performing a durability test over a long period of time until the rubber product is damaged and to develop a data compression processing method for noticing that the time series waveform of the measured rubber product is timewise compressed.例文帳に追加

ゴム製品を損傷するまでの長期に亘る耐久試験を行うことなく、早期に、そして精度を落とすことなくその製品寿命を予測することが可能となるゴム製品の寿命予測方法を実現させるとともに、計測されたゴム製品の時系列波形を時間的圧縮させる点にも着目し、そのためのデータ圧縮処理方法をも開発する。 - 特許庁