「test spring」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

If the test plug 21 is mounted on the main body 11 of the test spring, the lock pawl portion 25a is engaged into the lock recess 15b, and the test plug 21 is locked on the main body 11 of the test spring.例文帳に追加

試験用プラグ２１が試験弾器本体１１に装着されると、係止爪部２５ａが係止用凹部１５ｂに係合し、試験用プラグ２１は試験弾器本体１１にロックされる。 - 特許庁

To provide a tester for performing a test by inputting an initial spring height and a maximally deformed spring height.例文帳に追加

初期ばね高さと最大変形ばね高さを入力して試験を行う試験機を提供すること。 - 特許庁

To prevent a test plug which is mounted in a main body of a test spring, from being erroneously pulled out or disengaging.例文帳に追加

試験弾器本体に装着されている試験用プラグが誤って引き抜かれたり、外れたりしないようにすること。 - 特許庁

In a practical test, a sample 1 and a sample 2 in the evaluations of the spring properties of pins were [○].例文帳に追加

実用試験において、ピンのバネ性の評価は、試料１と試料６が「○」であった。 - 特許庁

To easily and surely perform the work of a worker or the like to a test spring module.例文帳に追加

試験弾器モジュールに対する作業員等の作業を容易で確実に実現させる。 - 特許庁

To provide a tester for an air spring for a railroad vehicle to test the characteristic of the multidegree of freedom of the air spring.例文帳に追加

鉄道車両用空気ばねの多自由度の特性を試験することができる鉄道車両用空気ばねの試験装置を提供する。 - 特許庁

The pin unit for testing comprises a coil spring 12, a movable piece 20, a supporting part 30, and a test pin 40.例文帳に追加

テスト用ピンユニットは、コイルバネ１２と、可動片２０と、保持部３０と、テストピン４０とを備える。 - 特許庁

To enable a sticking test to be carried out even for an acceleration sensor whose movable electrode has a large spring constant.例文帳に追加

可動電極のバネ定数が大きな加速度センサに対しても、スティッキング検査が行えるようにする。 - 特許庁

To provide an optimum-specification decision apparatus, for a leaf spring, by which an optimum leaf spring can be selected without performing a repetitive test by actually using a hearing mechanism part.例文帳に追加

実際に軸受機構部を使って繰り返しテストをしなくても、最適な板ばねが選択できる板ばねの最適仕様決定装置を提供する。 - 特許庁

An optimum C-value is similarly obtained for each value of spring constant K, and the spring constant K is measured in real time during test, and then an optimum C value corresponding to that value is used for pseudodynamic test.例文帳に追加

異なるバネ定数Ｋの値に対してそれぞれ同様に最適なＣの値を求めておき、試験実行中にバネ定数Ｋをリアルタイムで計測して、その値に対応した最適なＣの値を用いてスード試験を実行する。 - 特許庁

After two years of test runs, the N700 is expected to begin service on the Tokaido-Sanyo Shinkansen Line in the spring of 2007. 例文帳に追加

２年間の試運転の後，N700系は2007年春に東海道・山陽新幹線で運行を開始する予定だ。 - 浜島書店 Catch a Wave

This spring device is provided with: a terminal connected either to a terminal board or a cable connected to a terminal board having a security function; and a test spring means for carrying out the spring test of at least one line of the terminal board or the terminal board having the safety function.例文帳に追加

端子板又は保安機能を有した端子板に接続されたケーブルに接続される端子と、前記端子板又は保安機能を有した端子板の少なくとも１つの回線の弾器試験を行うための試験弾器手段とを有することにより上記課題を解決する。 - 特許庁

When the test piece 58 is slid, the plate spring 44 is deformed and the resistance of the strain gage is changed, and thereby a resistance force when test piece 58 is moved can be acquired.例文帳に追加

試験片５８が摺動すると板ばね４４が変形してストレインゲージの抵抗が変化するので、試験片５８を移動させたときの抵抗力を求めることができる。 - 特許庁

To obtain a continuity test device capable of bringing a tightly coiled spring and a compression spring into stable contact and stabilizing the electric resistance value between a contact pin and a lead wire.例文帳に追加

密着バネと圧縮バネとを安定的に接触させ，コンタクトピンとリードワイヤーとの間の電気抵抗値を安定化できる導通検査装置を提供すること。 - 特許庁

When it reaches the test position, the point of application 52b of a spring 55 supersedes the line L passing the point of application of the spring of a first lever 51 and the centers of the rotations of this lever 51.例文帳に追加

試験位置に達したとき、ばね５５の作用点５２ｂが第１レバー５１のばねの作用点５１ａと第１レバー５１の回転中心を通る直線Ｌを超える。 - 特許庁

The continuity test device comprises a contact pin 11 to be brought into contact with the wiring circuit 71 of a printed board 7, a tight contact spring 13 connected to a lead wire 14, and a compression spring 12 arranged between the contact pin 11 and the tight contact spring 13 to press both of them outward.例文帳に追加

プリント基板７の配線回路７１に当接させるコンタクトピン１１と，リードワイヤー１４と接続した密着バネ１３と，両者間に配設して両者を外方に押圧する圧縮バネ１２とを有する。 - 特許庁

A number of spring probe apparatuses thus configured are provided in a test board and test signals and output signals are exchanged with a semiconductor integrated circuit via the spring probe apparatus, thereby testing the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

このような構成のスプリングプローブ装置をテストボードに多数備え、スプリングプローブ装置を介して半導体集積回路との間で試験信号及び出力信号のやり取りを行い、半導体集積回路の試験を行なう。 - 特許庁

To accurately and precisely manufacture an extrafine and thin contact for an energization test fixture provided with a spring structure.例文帳に追加

スプリング構造を備えている極細、肉薄の通電検査治具用接触子を、より精度高く、より精密に製造する。 - 特許庁

To provide a spring contact suitable for high-speed transmission of mutual connection and the like between a semiconductor package and a test device.例文帳に追加

半導体パッケージとテスト装置との間の相互接続等の高速伝送に好適なスプリングコンタクトを提供する。 - 特許庁

Such a tray panel 5 is not deformed even when the high temperature test of the device is performed since no spring is used.例文帳に追加

このようなトレイパネル５は、ばねを使用していないので、装置の高温試験を行っても変形することがない。 - 特許庁

A plurality of spring probes 168 are positioned in the holes 166 of the housing 162, so as to provide a spring force for the electrical contact of the spring probes 168 between test points 170 of the integrated circuit package 172 and load board 164.例文帳に追加

ハウジング１６２の孔１６６内には複数のスプリングプローブ１６８が位置決めされ、集積回路パッケージ１７２の試験部位１７０とロードボード１６４との間でスプリングプローブ１６８が電気接触するようにばね力を提供する。 - 特許庁

To solve problems that a diameter of a spring probe used in a probe test of an integrated circuit chip cannot be sufficiently reduced, many spring probes cannot be arranged at a narrow pitch, the number of parts is large, and manufacturing cost cannot be easily reduced because the spring probe is energized by a coil spring stored in a barrel.例文帳に追加

集積回路チップのプローブテストに用いるスプリングプローブは、バレル内に収容したコイルスプリングでプローブを付勢する構造であるから、十分に小径化できず、多数のスプリングプローブを狭ピッチで配置することができず、部品数も多く製作費を低減するのが難しい。 - 特許庁

Accordingly, when the test piece 3 is extended, the tensile spring 9 is also extended to minimize the deformation of the strain gauge 8, and the displacement quantity by the extension of the test piece 3 can be precisely measured.例文帳に追加

したがって、試験片３が伸長したとき引張バネ９も伸びて歪ゲージ８の変形は小さく、精度よく試験片３の伸長による変位量を測定できる。 - 特許庁

To provide a sample fixing jig used in a method for evaluating the durability of a spring portion in a more accurate spring member by effectively avoiding the tightening effect to a test piece.例文帳に追加

試料片に対する締め付けによる影響を有効に回避して、より正確なバネ部材におけるバネ部の耐久性評価方法に使用される試料固定用治具を提供する。 - 特許庁

A lock recess 15b is formed on a window frame 15 of a main body 11 of the test spring formed with a plurality of pin windows 15a.例文帳に追加

複数のピン窓１５ａが形成された試験弾器本体１１の窓フレーム１５には、係止用凹部１５ｂが形成されている。 - 特許庁

To provide an integrated circuit test probe constituted of an elongated screw machining contact biased by a coil spring and attached to a through hole of a non-conductive substrate.例文帳に追加

コイルばねによってバイアスされ、不導性基板のスルーホールに取り付けられた伸長ねじ加工接点より構成されるテストプローブ。 - 特許庁

A through-hole 12a is made at a head plate 12 with a specified layout, a coil spring 40 is set in the through-hole 12a, and the test head is formed by setting the head of the coil spring 40 protruded from the head plate 12.例文帳に追加

ヘッドプレート１２に所定レイアウトで挿通孔１２ａを開孔し、挿通孔１２ａにコイルバネ４０を収納し、コイルバネ４０の頭部をヘッドプレート１２から突設して検査ヘッドを形成する。 - 特許庁

The solder ball 8 is pressed by a first plunger 1, brought into contact with the plunger 1, and electrically connected to the pad 10 on a test board 9 via a first spring 3 having a internal spring constant set to a small value, a separating part 6 fixed to a barrel 5, a second spring 4 having a large spring constant, and a second plunger 2.例文帳に追加

半田ボール８は第１のプランジャー１に押圧され接触し、内部のバネ定数を小さく設定した第１のスプリング３、バレル５に固定されスプリング分離部６、バネ定数を大きくした第２のスプリング４、第２のプランジャー２を介してテストボード上９のパッド１０に電気的に接続される。 - 特許庁

The member (46) is formed from synthetic rubber having 50-70 hardness when measured by the spring-used hardness test A method stipulated in JIS-K-6301.例文帳に追加

トナー搬送パイプ部材を、ＪＩＳ−Ｋ−６３０１に規定されているスプリング式硬さ試験Ａ型による硬度が５０乃至７０である合成ゴムから形成する。 - 特許庁

Injection quantity can be adjusted by adjusting spring load to adjust valve open time and valve close time under the environment not using test liquid.例文帳に追加

試験液体を使用しない環境においてスプリング荷重を調整し、開弁時間および閉弁時間を調整することにより噴射量を調整できる。 - 特許庁

The test piece grasping device is equipped with outer frames 203 allowed to fall by the energizing force of a compression spring and grasping teeth 204 driven by the outer frames 203 so as to be closed.例文帳に追加

つかみ具は、圧縮バネの付勢力によって降下する外枠２０３と、その外枠２０３によって閉駆動されるつかみ歯２０４を備えている。 - 特許庁

This test instrument 14 for matched impedance of a printed circuit board has an upper plate 26 holding the printed circuit board, a matched impedance circuit trace 36 which is elongated from a test position on the printed board which needs an impedance test, and a spring probe transmitting a test signal from the test position on the printed circuit board to the matched impedance circuit trace is elongated via a hole 33 of the upper plate.例文帳に追加

プリント回路基板の整合インピーダンステスト用器具(14)は、前記プリント回路基板を支持する上端プレート(26)を有し、整合インピーダンステストを必要とする前記プリント回路基板上にあるテスト位置から延びる整合インピーダンス回路トレース(36)を有し、前記プリント回路基板上のテスト位置から前記整合インピーダンス回路トレースにテスト信号を伝送するスプリングプローブが、上端プレートにある穴(33)を通して延びる。 - 特許庁

The body for locking is made up as a spring element, having a clip section 17, and the clip section is placed at a position 24, whereby the spring element is locked, when the test strip is pushed into an aperture for pushing of the rapid diagnostic apparatus.例文帳に追加

このロック用本体は、クリップ部分17を有するバネ要素として形成されており、このクリップ部分は、テストストリップが迅速診断装置の押し込み用開口部の中に押し込まれたとき、上記バネ要素をロックする位置24をとる。 - 特許庁

The piston 3 can occupy two visualization position corresponding to a pressure level of the test object circuit larger than the force of a calibration spring 5 applied thereon and a pressure level smaller than the force of the calibration spring.例文帳に追加

また、ピストン（３）は、その上に加えられる較正ばね（５）の力よりも大きいテスト対象回路の圧力レベル及びこの較正ばねの力よりも小さい圧力レベルにそれぞれ対応する２つの視覚化位置を占めることができる。 - 特許庁

The wiring testing machine 100 includes a producing machine 10 for test data, a package testing machine 20 forming with a test jig 21 using a spring probe and test jig 41 using a conductive rubber 42, a flying prober 30 using a probe 31 of the flying prober, and an object 50 to be tested composed of wiring substrates and others.例文帳に追加

本発明の布線検査機１００は、検査データ作製機１０と、スプリングプローブを使った検査治具２１と、導電ゴム４２を使った検査治具４１とで構成された一括検査機２０と、フライングプローバのプローブ３１を用いたフライングプローバ３０と、配線基板等からなる被検査体５０とで構成されている。 - 特許庁

A mattress selection system comprises a test bed including a box spring 22 and a compartmented air mattress 24 which generates electrical outputs indicative of the weight distribution of a subject.例文帳に追加

マットレス選択システムは、ボックススプリング２２と被験者の体重配分を示す電気的出力を生成する区分されたエアーマットレス２４を含むテストベッドを具備する。 - 特許庁

A drop tester is equipped with a rebounding preventing means 5 and arranged so as to prevent the rebounding of the test object W by grasping the test object, which collides with the landing surface 6f in a free dropping state to spring up, in the air by the rebounding preventing means.例文帳に追加

落下試験装置は、リバウンド防止手段５を備えており、自由落下状態で着地面６ｆに衝突して跳ね上がった試験対象物Ｗをリバウンド防止手段にて空中で把持することによりリバウンドを防止できるようにしている。 - 特許庁

Contact levers TL1 configurating measurement levers for measuring the elongation of the test piece TP are oscillatably held on a spindle S1 for clamping the test piece TP from its both sides and elastically abutting thereon, and a tension spring SP is hung between both contact levers.例文帳に追加

試験片ＴＰの伸びを計測する計測レバーを構成する接触レバーＴＬ１は、試験片ＴＰを両側から挟持して弾接するよう支軸Ｓ１に対して揺動自在に保持するとともに、両接触レバー間には引張バネＳＰを張架する。 - 特許庁

This device includes a head pressure part for applying a pressing force to the prove card by an elastic force of a spring, which is disposed to the test head at a position facing the central part of the surface of the prove card.例文帳に追加

本装置は、プローブカードの面中央部に対向する位置の前記テストヘッドに設けられ、バネの弾性力によりプローブカードを押圧する押圧部を備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

The spring contact component is located on a semiconductor device existent on a semiconductor wafer for burn-in and/or test the semiconductor device by performing temporary connection with the semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスと一時的な接続を行って半導体デバイスをバーンイン及び／又はテストできるように、ばね接触部品が半導体ウエハに存在する半導体デバイス上に配置される。 - 特許庁

The probe 10 for a semiconductor device comprises a double- conical test pin 1 to contact a semiconductor wafer, a lead pin arm 2 for rotatably supporting the test pin 1 and electrically connecting to the test pin 1, a frame 3 for turnably supporting the lead pin arm 2 with a spring 4 and a lead wire 5 for electrically connecting the lead pin arm 2 to a tester.例文帳に追加

半導体ウェーハに接触させるそろばん珠形状のテストピン１と、テストピン１を回転自在に支持するとともに、テストピン１と電気的接続をとるためのリードピンアーム２と、リードピンアーム２を回動自在に支持するフレーム３およびバネ４と、リードピンアーム２とテスター装置との電気的接続をとるためのリード線５と、からなる半導体用プローブ１０。 - 特許庁

In the test spring module that is attached with an arrester module having a protection circuit therein and makes wiring connection terminals electrically conductive via the attached arrester module, an earth bar installed between the arrester module and the test spring module is characterized by having an earth terminal opening engaged with an earth terminal of the arrester module, thus solving the problem.例文帳に追加

内部に保護回路を有するアレスタモジュールを装着し、装着されたアレスタモジュールを介して配線接続用端子間を電気的に導通させる試験弾器モジュールにおいて、前記アレスタモジュールと前記試験弾器モジュールとの間に装着されるアースバーは、前記アレスタモジュールのアース端子と嵌合するためのアース端子用開口部を有することを特徴とすることにより上記課題を解決する。 - 特許庁

The inner angle θ2 of the ridge portion 11a formed by both ridge surfaces 11b is formed to the test piece fixing angle corresponding to the displacement of the bending angle θ1 of the test piece 15, and a recessed portion 11c to avoid the interference with the spring portion 15a corresponding to the ridge portion 11a is formed.例文帳に追加

両稜面１１ｂにより構成される稜線部１１ａの内角θ２が、試料片１５の曲げ角度θ１の変位に対応する試料片固定角度に形成されると共に、稜線部１１ａに対応バネ部１５ａとの干渉を回避する逃し部１１ｃが形成される。 - 特許庁

A detection value of a load cell 19 and that of a pulse encoder 18 are collected while imposing a load on the test piece TP by a servo motor 16 in between a state in which the counter value of the height counter 38 designates an initial spring height and a state in which it designates a predetermined maximum spring deformation amount.例文帳に追加

ばね高さカウンタ３８のカウント値が初期ばね高さを示す状態と予め定めた最大ばね変形量を示す状態との間で、ばね供試体ＴＰにサーボモータ１６で負荷を与えながら、ロードセル１９とパルスエンコーダ１８の検出値を採取する。 - 特許庁

The downward force is continuously energized to the head 8 by the spring 9 during application of a collision stroke s for collapsing the test body 6, to thereby suppress the deceleration of the head 8 caused by a collision reaction.例文帳に追加

試験体６を圧壊させる衝突ストロークｓの間も、スプリング９にてヘッド８へ下向きの力を継続して付勢させることで、衝突反力によるヘッド８の減速を抑制させる。 - 特許庁