「test」に関連した英語例文の一覧と使い方(33ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a test item creation device which can be used in an upstream step of a software test, and to provide a test item creation system, a test item creation method, and a test item creation program.例文帳に追加

ソフトウェア・テストの上流工程においても用いることの可能なテスト項目生成装置、テスト項目生成システム、テスト項目生成方法、およびテスト項目生成プログラムを提供すること。 - 特許庁

To provide a test circuit and a test method of a semiconductor integrated circuit, by which macro and the like of a test object can be tested without adding an external connection pin for a test which is necessary for a test.例文帳に追加

テスト時に必要となるテスト用の外部接続ピンを追加することなく、テスト対象のマクロ等をテストすることができる半導体集積回路のテスト回路およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test information processing system, test information processing method, and test information processing program capable of accessing test information stored in a data base in a short time and of easy altering test specifications.例文帳に追加

データベースに格納されたテスト情報に短時間でアクセス可能な、且つテスト仕様の変更が容易なテスト情報処理システム、テスト情報処理方法及びテスト情報処理プログラムを提供する。 - 特許庁

The semiconductor test device 1 includes a test device body 10 for performing the test of DUT 30, and a terminal device 20 having a display part 26 for displaying the test results obtained by the test device body 10.例文帳に追加

半導体試験装置１は、ＤＵＴ３０の試験を行う試験装置本体１０と、試験装置本体１０で得られた試験結果を表示する表示部２６を有する端末装置２０とを備える。 - 特許庁

Every time when a new test vector is generated and added to a test vector buffer 106 by a test vector generating/adding means 112, a test vector score calculating means 114 calculates a score showing the performance of the test vector.例文帳に追加

テストベクトル生成・追加手段１１２が新たなテストベクトルを生成してテストベクトルバッファ１０６に追加するごとに、テストベクトル得点計算手段１１４は、テストベクトルの性能を表す得点を計算する。 - 特許庁

With respect to each test item of the analysis object test result table, a determination rule defined to the test item is applied to a test analysis rule table 24 to determine the final test result.例文帳に追加

そして、解析対象テスト結果テーブルの各テスト項目について、テスト解析ルールテーブル２４に、そのテスト項目に対して定義されている判定ルールを適用し最終的なテスト結果を求める。 - 特許庁

When one of a plurality of test items is specified, a test device 19 generates a test code and a test item identification code corresponding to the specified item to generate a modulated test signal T.例文帳に追加

試験装置１９では、複数のテスト項目の１つを指定すると、テスト符号と指定テスト項目に応じたテスト項目識別符号が生成され、被変調試験信号Ｔが生成される。 - 特許庁

To test one item of test data by one pattern when inputting test data at the testing of combinational circuits, to simplify the circuit configuration of a test circuit, and to shorten test time.例文帳に追加

組合わせ回路をテストする際のテストデータの入力に際し、１つのテストデータを１パターンでテストすることを可能とし、テスト回路の回路構成を簡略化し、かつテスト時間の短縮を可能にする。 - 特許庁

In this case, a memory test is performed through a single board processing sequence, in which the test starts from a test board which is finished mounting semiconductor devices, and a semiconductor device is outputted from a test board whose test is finished.例文帳に追加

この場合、半導体装置を詰め終わったテストボードからテストスタート、テスト終了したテストボードから半導体装置を払い出すという枚葉処理のシーケンスによってメモリテストが実行される。 - 特許庁

A skew value of each pin of the tester is calculated from a result h measured by the test pattern f and the test program g created, and a test program i for an actual test is created by reflecting the skew value in the original test program c.例文帳に追加

生成したテストパタンｆとテストプログラムｇで測定した結果ｈから、テスタの各ピンのスキュー値を算出し、それを元のテストプログラムｃに反映させ、本テスト用のテストプログラムｉを生成する。 - 特許庁

To provide an optical member which clears various environment tests such as a test on adhesive force, a durability test, a high-temperature test, a cycle temperature test and a humidity test without reducing transmittance, and to provide its manufacture method.例文帳に追加

透過率を低減させず、密着力、耐久性試験、高温試験、サイクル温度試験、湿度試験等の種々の環境試験をクリアする光学部材およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

The microcontroller as one embodiment of this invention is provided with the test terminal 2, to which a test signal can be inputted, and a test signal generation circuit connected to the test terminal 2 for generating the test signal inside.例文帳に追加

本発明に記載の１つのマイクロコントローラは、テスト信号を入力可能なテスト端子２と、テスト端子２に接続され、テスト信号を内部で生成するテスト信号生成回路とを備えている。 - 特許庁

To provide a test device and a test method for a semiconductor device, for realizing reduction of test cost and the number of test processes, in a functional test in the semiconductor having a large number of signal terminals.例文帳に追加

多数の信号端子を有する半導体装置の機能試験において、その試験工程数及び試験コストの削減を実現するための半導体装置の試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

An individual user data insertion circuit 1 receives a test mode selection signal and a test data input signal from a test mode setting/test data generating circuit 19 to discriminate whether or not the setting of the test mode is valid.例文帳に追加

個別ユーザーデータ挿入回路１は、テストモード設定／テストデータ生成回路１９からのテストモード選択信号とテストデータ入力信号を受け取り、テストモード設定が有効か否かを判断する。 - 特許庁

This class implements the portion of the TestCase interface which allows the test runner to drive the test, but does not provide the methods which test code can use to check and report errors. This is used to create test cases using legacy test code, allowing it to be integrated into a例文帳に追加

このクラスではTestCaseインターフェースの内、テストランナーがテストを実行するためのインターフェースだけを実装しており、テスト結果のチェックやレポートに関するメソッドは実装していません。 既存のテストコードを - Python

There is provided the test method for the computer system including a test environment in which one or more test servers are installed and a test management server which manages an operation test of a system to be tested in the tests environment.例文帳に追加

１以上のテスト用サーバを備えたテスト環境と、テスト環境におけるテスト対象システムの動作テストを管理するテスト管理サーバとを備えた計算機システムにおけるテスト方法である。 - 特許庁

A frame reception processing part 11 delivers the test frame to a test frame transmission/reception part 12 at the time of receiving the test frame.例文帳に追加

フレーム受信処理部１１は試験フレームの受信時に、その試験フレームを試験フレーム送受信部１２に渡す。 - 特許庁

To provide a device for determining the performance of a test plug, which can readily and quickly conduct insulation test of the test plug.例文帳に追加

テストプラグの絶縁試験を容易且つ迅速に実施することができるテストプラグの性能判定器を提供する。 - 特許庁

To reduce test cost by using a simple test pattern to perform a test of a circuit operated upon receiving the output of a functional block.例文帳に追加

機能ブロックの出力を受けて動作する回路のテストを簡易なテストパターンを用いて実施し、テストコストを削減する。 - 特許庁

The test program 10 selects a real table to be used for the test based on a test procedure and gives an instruction to a data selection program 30 (S2).例文帳に追加

テストプログラム10は、テスト手順に基づいて、テストに使用する実テーブルを選択し、データ切替プログラム30に指示を出す（S2）。 - 特許庁

To secure contact points for an in-circuit test of a test probe on a printed board without executing the additional design of a test pad.例文帳に追加

テストパッドの追加設計せずにプリント基板上におけるテストプローブのインサーキットテスト用の接触ポイントを確保する。 - 特許庁

After the execution, the test case manager loads the first test case onto the second processor and loads the second test case onto the first processor.例文帳に追加

実行後、テスト・ケース・マネジャは第１テスト・ケースを第２プロセッサへロードし、第２テスト・ケースを第１プロセッサへロードする。 - 特許庁

The outer periphery of a test air-pressure chamber 27 for supplying test air to a test piece 1 is surrounded by a sealing pressure chamber 35.例文帳に追加

試験片１に試験空気を供給する試験空気圧室２７の外周を、シール圧室３５で囲む構成とした。 - 特許庁

To suppress test costs by enabling a DC burn-in test using an equalizer circuit in place of a dynamic burn-in test.例文帳に追加

ダイナミックバーンイン試験に代えてイコライズ回路を使用したＤＣ的なバーンイン試験を可能としてテストコストを抑制する。 - 特許庁

The test instruction sequence constitution information 61 and test execution information 62 are information generated according to the purpose of the test.例文帳に追加

試験命令列構成情報６１と試験実行情報６２は、試験の目的に応じて作成される情報である。 - 特許庁

By correcting the image data of the test pattern by using the correction table, the test pattern is printed (second test pattern output).例文帳に追加

補正テーブルを用いて上記テストパターンの画像データを補正してテストパターンを印刷する（第２のテストパターン出力）。 - 特許庁

To perform a JTAG test without requiring a test device of another configuration and without including a test-only device in an information processor.例文帳に追加

ＪＴＡＧテストを別構成のテスト装置を必要とせず、またテスト専用の装置を内蔵せずに実行する。 - 特許庁

To easily determine the density nonuniformity in a test area and a false positive outside the test area, and to accurately analyze a test target material.例文帳に追加

テスト領域の濃度ムラやテスト領域外の擬陽性を容易に判別し精度良く被検物質の分析を行う。 - 特許庁

The present invention is a test method for testing the characteristics of a columnar test object by loading compressive or tensile force on the test object.例文帳に追加

柱状の試験体の特性を試験するために当該試験体を圧縮・引張する載荷試験方法である。 - 特許庁

The test relates to a reliability test of flexible separator configured so that a cycle speed in a test can be raised.例文帳に追加

試験におけるサイクルの速度を上げることが可能なように構成された可撓セパレータの信頼性試験に関する。 - 特許庁

To insert and extract a testing board inside the test head in a state where a connection for placing a test device is disposed on the test head.例文帳に追加

テストヘッド上に被試験デバイスを載置するための接続部を載置している状態で、内部の試験ボードを挿抜する。 - 特許庁

The (p) well test voltage is varied by initial program load(IPL) of a test code.例文帳に追加

ｐウェル電圧はテスト・コードの初期プログラム・ロード（ＩＰＬ）によって変化させる。 - 特許庁

A test management server 3 transmits, to each user terminal 1, load test notification information indicating a test execution period.例文帳に追加

テスト管理サーバ３は、各ユーザ端末１に対して、テスト実行期間を提示した負荷テストの告知情報を送信する。 - 特許庁

The second test module detects an error in response to reception of the test pattern.例文帳に追加

第２のテストモジュールは、テストパターンの受け取りに応答して、エラーを検出する。 - 特許庁

The test program 10 instructs execution of the test to an application program 20 to be tested (S4).例文帳に追加

テストプログラム10は、テスト対象のアプリケーションプログラム20にテスト実行を指示する（S4）。 - 特許庁

It is possible to test a plurality of the memories in parallel by supplying the test address information from the common test bus to a plurality of the memories in parallel.例文帳に追加

複数のメモリに共通テストバスから並列にテストアドレス情報を供給して並列テスト可能になる。 - 特許庁

The same process is repeated to a test pattern set of merged test patterns.例文帳に追加

テストパタンの併合されたテストパタンセットに対しても、同様の処理を繰り返す。 - 特許庁

To provide a subordinate unit opposite test system that can reduce a test time for a test opposite to a subordinate unit by conducting subordinate unit opposite tests at the same time.例文帳に追加

複数の下位装置対向試験を同時に行い、下位装置対向試験の試験時間を短縮する。 - 特許庁

In a final test of a multi-layer memory IC1, a test of a SRAM chip 2 and a test of a flash memory chip 3 are performed in parallel.例文帳に追加

多層メモリＩＣ１のファイナルテストにおいて、ＳＲＡＭチップ２のテストとフラッシュメモリチップ３のテストを並列に行なう。 - 特許庁

A test pattern is generated in a step S1.例文帳に追加

ステップＳ_１ でテストパターンを作成する。 - 特許庁

The electric test system is equipped with: an electric test device; and an electronic device to be tested by the electric test device.例文帳に追加

電気的試験システムは、電気的試験装置と、電気的試験装置によって試験される電子装置と、を備える。 - 特許庁

In the test state, the test fuse is cut so as to realize two test delay time reduction modes.例文帳に追加

前記テスト状態において、テスト用ヒューズの切る状況によって、二つのテスト用遅延時間短縮モードを実現する。 - 特許庁

I completely flopped the test.例文帳に追加

私は試験で完璧に失敗しました。 - Weblio Email例文集

This is in order to test the results of the meeting. 例文帳に追加

この会合の成果を試すために。 - Weblio Email例文集

I had that test returned.例文帳に追加

私はそのテストを返してもらいました。 - Weblio Email例文集