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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > testing conditionの意味・解説 > testing conditionに関連した英語例文

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testing conditionの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 186



例文

This device sets a test condition of a signal protection system by a test condition setting means 9 of a display operation part 7 and the set testing condition is input to an instrument status simulation means 11 of a site simulation part 8 to simulate a status of a site instrument 2 based on the test condition.例文帳に追加

表示操作部7の試験条件設定手段9で信号保安システムの試験条件を設定し、その設定された試験条件は現場模擬部8の機器状態模擬手段11に入力され、ここで、その試験条件に基づいて現場機器2の状態が模擬される。 - 特許庁

To solve the problem wherein a chassis dynamometer, provided with an electrical inertia compensation function is incapable of high precision of performance evaluation of the load condition at testing.例文帳に追加

電気慣性補償機能を有するシャシダイナモメータにおいては、試験時における負荷状態の精度の高い性能評価ができない。 - 特許庁

To provide a method of estimating a rapture limit load of a spot welding part under a new testing condition or in an actual member.例文帳に追加

新たな試験条件あるいは実部材でのスポット溶接部の破断限界荷重の推定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a vehicle for testing a soil condition by which soil at the predetermined position in a field can be easily tested.例文帳に追加

圃場内の所定位置の土壌を容易に測定することができる土壌状態測定車両を提供することを課題としている。 - 特許庁

例文

The cooling water temperature-controlled by the cooling water supply device 14 is made to flow all the time through the water cooled hole of the testing object 12 to bring a water-cooled condition, and a heating step is carried out to elevate a temperature up to an upper limit temperature by heating the testing object 12 by the heater 16, under the water-cooled condition.例文帳に追加

試験体12の水冷孔に、冷却水供給装置14で温度制御された冷却水を常時流通して水冷状態としたもとで、加熱装置16で試験体12を加熱して上限温度まで昇温する加熱工程を行なう。 - 特許庁


例文

To perform delay testing in an actual operating condition for a semiconductor integrated circuit having a plurality of logical circuits that respectively operate on the basis of testing clocks having different frequencies without trouble which may occur when the testing clocks are set to a high-frequency side or a low-frequency side.例文帳に追加

テストクロックを高周波側及び低周波側のいずれかに設定した場合に生じる不都合を伴うことなく、互いに異なる周波数のクロックに基づいて動作する複数の論理回路を備える半導体集積回路に対して実動作条件で遅延テストを実行すること。 - 特許庁

To provide an evaluation testing arrangement and an evaluation testing method of a fouling inhibitor capable of simulating operation conditions of various actual devices and evaluating the fouling inhibitor in a condition extremely closing to the actual devices.例文帳に追加

種々の実装置の運転条件を模擬することができ、実装置に極めて近い条件でファウリング防止剤の評価を行うことができるファウリング防止剤の評価試験装置および評価試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device, a quality determination reference setting device, a testing method and a test program capable of detecting highly sensitively and reliably abnormality in a static electric power source current value by taking dispersion in a process condition into account.例文帳に追加

プロセス条件のばらつきを考慮した、静的電源電流値の異常を高い感度・及び信頼性で検出可能な試験装置、良否判定基準設定装置、試験方法及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁

By testing the contact condition of the probes 7A and 7B with respect to the semiconductor wafer 2 before conducting a test, it is prevented that the probes 7A and 7B might be damaged by the test performed under imperfect contact condition thereof.例文帳に追加

半導体ウエハ2に対するプローブ7A、7Bの接触状態を試験前に検査することにより、不完全な接触状態での試験によるプローブ7A、7Bの破損を未然に防止する。 - 特許庁

例文

To provide a test facility for fire alarm that is suitable for testing an actual operating condition of a fire alarm by visually presenting a realistic condition in the occurrence of fire.例文帳に追加

実際の火災発生状況に近い状況等を視覚的に演出して、火災警報器の実際の作動状況を試験することに適した火災警報器の試験設備を提供すること。 - 特許庁

例文

The testing system can reproduce the condition of the sleep apnea syndrome well, and can make the animal model of the sleep disorder in conditions extremely near to the physiological condition of the sleep apnea syndrome.例文帳に追加

この実験システムは、睡眠時無呼吸症候群の病態をよく再現し、睡眠時無呼吸症候群と生理的状況が極めて近い睡眠障害モデル動物を作製することができる。 - 特許庁

The direct-current voltage containing a ripple component in conformity with a use condition is impressed to the testing direct-current capacitors 1, 2 to be tested.例文帳に追加

これにより供試直流コンデンサ1および2に使用状態に則したリップル分を含む直流電圧を印加して試験することができる。 - 特許庁

Then, switching surge discharge withstand current rating testing is carried to the machined element 21 under the above condition, so that the electric characteristics can be sharply improved.例文帳に追加

この条件で研削加工した素子21について、開閉サージ放電耐量試験を行うと、その電気的特性は著しく向上する。 - 特許庁

To carry out testing of printing for obtaining an optimum condition in heat history controlling in a way near an actual printer.例文帳に追加

熱履歴制御における最適条件を求めるために行う印字出力テストを実用機により近い形態で行うことを可能にする。 - 特許庁

To provide an airtight testing apparatus for pump for a liquefied gas, capable of performing an airtight test under cooling condition, even before the installation in the field.例文帳に追加

現場に設置前であっても冷却状態での気密試験を行うことが可能な液化ガス用ポンプの気密試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a switch-durability testing apparatus by which not only the magnitude of the operating force of a switch to be inspected but also its load force can be monitored irrespective of an environment condition.例文帳に追加

環境条件を問わず、被検スイッチの操作力の大きさとともに負荷力をも監視できるスイッチ耐久試験装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a cable connecting/disconnecting device for testing poor contact of optical communication cable using an optical communication, which accurately reproduces an error condition.例文帳に追加

エラー状態の再現性を正確に行うことができる光通信ケーブルによる光通信ケーブル接触不良試験用ケーブル離接装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pitch adhesion-testing machine which can accurately and efficiently adhere a pitch in a sample liquid to a filtration test piece in a uniform condition.例文帳に追加

供試液中のピッチを均一な条件下で的確に、かつ、効率的にろ過試験片に付着させることができるピッチ付着試験機を提供する。 - 特許庁

A face surrounded by the two regulation plates and the straightening plates attached under the condition orthogonal to end parts thereof is constituted as an installation face of a testing body.例文帳に追加

2枚の規制板と、その端部に直交する状態で取付けた整流板によって包囲した面を、試験体の設置面として構成する。 - 特許庁

To provide a tire testing device which supports a load of a measured tire, constitutes a road face for a flat test, and carries out a test under a condition near an actual road face.例文帳に追加

被験タイヤの荷重を支持できると共に、平坦な試験用の路面を構成でき、実路面に近い状態で試験できるタイヤ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing machine capable of changing part of test conditions stored in a test condition file to carry out a test without executing complicated work.例文帳に追加

煩雑な作業を行わなくても試験条件ファイル格納されている試験条件の一部を変更して試験を行うことができる試験機を提供する。 - 特許庁

To provide an electrokinetic vibration generator capable of automatically setting testing acceleration condition of a testpiece by providing a mass measuring function of the testpiece.例文帳に追加

試験体の質量測定機能を具備することにより、試験体の試験加速度条件を自動的に設定可能な動電式振動発生機を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device having a pin electronic card capable of outputting two outputs in a condition assigned in one tester pin.例文帳に追加

1つのテスタピンに指定された条件で2つの出力を出力することができるピンエレクトロニクスカードを有する半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device allowing a test in a relation where generation of a test pattern is synchronized with operation of each receiving unit in the set and change of the operating condition of the hard resource possessed by the semiconductor testing device to be executed.例文帳に追加

半導体試験装置が備えるハード資源(ハードリソース)の動作条件を設定変更するときに、試験パターンの発生と各受信ユニットとの動作を同期した関係で試験実施可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a drip-testing method which can surely and clearly grasp a galvanizing condition for restraining the development of galvanized drip in an arbitary galvanized product to the minimum before galvanizing operation, and a test piece used for this testing.例文帳に追加

任意のめっき品のめっきタレの発生を最小限に抑制するめっき条件をめっき操業前に正確にかつ明瞭に把握することができるめっきタレ試験方法、およびそれに用いる試験片を提供する。 - 特許庁

In the case a carrier leakage can be suppressed under a certain condition, this method for adjusting and testing the DBM circuit which can suppress the carrier leakage and eliminate testing even though an LO input level and a power supply voltage fluctuate.例文帳に追加

そして、ある条件下でキャリアリークの抑圧が可能であれば、LO入力レベル、電源電圧が変動してもキャリアリークが抑圧が可能であり、検査が省略可能であることを特徴とするDBM回路の調整及び検査手法。 - 特許庁

In this semiconductor testing device, the test condition of the receiving unit is set and changed in a timing relation where the generating time of the test pattern is synchronized with the timing of changing operation of each receiving unit for changing the test condition.例文帳に追加

試験パターンの発生タイミングと、試験条件の変更が行われる各受信ユニットの変更動作のタイミングとが同期したタイミング関係で受信ユニットの試験条件を設定変更する、半導体試験装置。 - 特許庁

The testing apparatus calculates the respiratory curve of a sleeping person, calculates an amplitude envelope from the respiratory curve, and discriminates the respiratory standstill condition or the low respiratory condition on the basis of the periodicity of the extreme value of the amplitude envelope.例文帳に追加

就寝者の呼吸曲線を算出し、その呼吸曲線から振幅包絡線を算出し、その振幅包絡線の極値の周期性から無呼吸状態もしくは低呼吸状態を判定する。 - 特許庁

The process is made so that the information of a defective memory cell under previous testing condition is transcribed or transferred to the buffer memory from the fail memory while being in parallel with a write-in to a memory to be tested of a back pattern under the next test condition.例文帳に追加

先の試験条件における不良メモリセル情報を次の試験条件における背面パターンの被試験メモリへの書き込みと並行してフェイルメモリからバッファメモリに転写あるいは転送する。 - 特許庁

To provide a train control device allowing the long-time recording of a received waveform along with the determination of a train control signal and reproduction of the seized condition of reception and the actual condition of reception for serving accurate testing.例文帳に追加

列車制御信号の判別と平行して長時間の受信波形の記録を可能とし、受信状態の把握状態、実際の受信状態を再生可能として正確な試験を行う列車制御装置を得る。 - 特許庁

The tire testing device 1 includes an information acquisition device 2 for acquiring information (grounding information) concerning the grounding state of the tire and an information processor 3 for calculating a change ratio of the grounding state to the change of a testing condition based on the grounding information acquired under a plurality of mutually different testing conditions.例文帳に追加

このタイヤ試験装置1では、タイヤの接地状態に関する情報(接地情報)を取得する情報取得装置2と、相互に異なる複数の試験条件下にて取得された接地情報に基づいて試験条件の変化に対する接地状態の変化率を算出する情報処理装置3とを有する。 - 特許庁

To provide a low-temperature condition testing device for a handler and its method capable of reducing a maintenance and management cost and a device manufacturing cost by simple constitution, of holding high cooling efficiency, of freely taking and putting a semiconductor device of a tested object out and in from a testing device, and of shortening a testing work time.例文帳に追加

簡単な構成で維持管理コスト及び装置製造コストが低廉であり、しかも高い冷却効率を保持し、さらに、被試験対象の半導体デバイスの装置内からの出し入れを自在に行なえて試験作業時間を短縮し得るハンドラの低温条件試験装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

The overwriting means 23 overwrites the test condition parameter in an area for storing the test condition parameter in correspondence to a register of a semiconductor testing device out of a memory in a computer, based on the input intermediate file 4, flow information and an output condition 2.例文帳に追加

上書き手段23は、入力された中間ファイル4とフロー情報と出力条件2とに基づき、計算機内のメモリのうち半導体試験装置のレジスタに対応してテスト条件パラメータを記憶する領域において、テスト条件パラメータの上書きを行うものである。 - 特許庁

When testing a memory 200 embedded in an information processing system 1, a memory control device 100 sets a second operation condition stricter than a first operation condition for an operating operation, and tests the memory on the second operation condition.例文帳に追加

メモリ制御装置100は、情報処理システム1に組み込まれたメモリ200の試験を行う場合に、運用動作時の動作条件である第一動作条件よりも厳しい動作条件である第二動作条件に設定を切り替え、切り替えられた第二動作条件でメモリを試験する。 - 特許庁

To set the test condition of a material strength test reduced in the error of a test time by enabling setting a wide range of a well-balanced test condition without damaging the material characteristics due to an excessive temperature/stress test to perform correction, based on a short-time test result under the testing condition.例文帳に追加

過剰な温度・応力試験による材料特性を損なわないで、かつ広範囲でバランスの良い試験条件設定が可能となり、その試験条件で短時間試験結果により補正することで、試験時間の誤差が少ない材料強度試験の試験条件設定が可能となる。 - 特許庁

To provide a testing device for fluidity of a molten metal and a measuring method for a pressure loss of a molten metal which are for absolutely measuring a pressure loss of a molten metal in consideration of an environmental condition and a material condition as of the point in time, and to provide a casting condition deciding method using the foregoing.例文帳に追加

溶融金属の圧力損失をその時点での環境条件、材料条件を加味して絶対的に測定するための溶融金属の流動性試験器及び溶融金属の圧力損失測定方法、並びにこれを用いた鋳造条件決定方法を提供する。 - 特許庁

The investigation objective portion 21 under the environmental condition same to the testing object 10 is photographed by an infrared camera, in the timing when a temperature difference between a sound part and a damaged part obtained from a detection result of a temperature sensor in the testing object 10 comes to a prescribed value or more.例文帳に追加

試験体10の温度センサの検出結果から得られる健全部と損傷部の温度差が所定値以上になった時期に、赤外線カメラによって、その試験体10と同じ環境条件の調査対象部位21が撮影される。 - 特許庁

This method finds preliminarily frequency distributions of respective accelerations along a lateral direction and a longitudinal direction in test course travel, and an external condition generated under a specified travel condition as to the tire attached to a specified wheel of a testing vehicle.例文帳に追加

試験コース走行時の横方向及び前後方向のそれぞれの加速度の頻度分布と、試験車両の特定車輪に装着されたタイヤについての特定の走行状態で生じる外的条件とを求めておく。 - 特許庁

The optimum erasure condition capable of simultaneously erasing the most recording layers and the optimum sequence capable of erasing data of each recording layer with the minimum number of times according to the optimum erasure condition are determined from the result of the testing erasure.例文帳に追加

試し消去の結果から、同時に最も多くの記録層を消去可能な最適消去条件と、最適消去条件に従い各記録層のデータを最小回数で消去可能な最適シーケンスを決定する。 - 特許庁

This semiconductor testing device for setting test condition data in a hardware and performing a test includes: a storage part for storing the test condition data; a selection output part for selecting the test condition data stored in the storage part, and outputting the data in each item; and a setting part for setting the test condition data output from the selection output part in the hardware.例文帳に追加

テスト条件データをハードウェアに設定して試験を行う半導体試験装置において、テスト条件データが記憶される記憶部と、記憶部に記憶されたテスト条件データを選択して項目毎に出力する選択出力部と、選択出力部から出力されたテスト条件データをハードウェアに設定する設定部とを備える。 - 特許庁

The whitening of the printing face can be prevented even under the high humidity condition or even when the ink to be tested is cooled by the printing testing method according to the present invention.例文帳に追加

本発明の印刷試験方法により、高湿度の環境においても、試験するインキが冷えている場合でも印刷面のブラッシングを防止することができる。 - 特許庁

To provide an abrasion testing device for appropriately simulating the degree of abrasion that differs depending on the structure of the groove pattern of a tire and further the usage condition when being mounted on a loaded vehicle.例文帳に追加

タイヤの溝パターンや構造、さらには実車搭載時の使用態様により異なる摩耗度合いを良好にシュミレートできる摩耗試験装置を提供する。 - 特許庁

To ensure power supply to a load, without fail, even at testing or maintenance operation by simultaneously displaying the turn-on/turn-off condition and the taken-out position of the circuit breaker.例文帳に追加

遮断器の入・切状態の表示とともに引出位置をも同時に表示するようにすることにより、試験や保守時においても確実に負荷への給電を保証する。 - 特許庁

An ADSL line transmission characteristic testing part 1 performs an ADSL transmission characteristic test before starting an ADSL line service operation to grasp a subscriber line condition.例文帳に追加

ADSL回線伝送特性テスト部1は、ADSL回線サービス運用開始前にADSL伝送特性テストを実施し、加入者回線状況を把握する。 - 特許庁

To provide an electrode part support structure of a tracking testing device for easily performing assembling and attaching work of the electrode part and easily adjusting a measuring condition and the assembling positional relationship.例文帳に追加

電極部分の組立や着脱作業が容易で測定条件や組立位置関係の調整が容易なトラッキング試験装置の電極部支持構造を提供する。 - 特許庁

The friction testing device tests by contacting the friction element 24 to the specimen S mounted on a table 3 in a load condition by a load mechanism 11 and reciprocating the table 3.例文帳に追加

テーブル3に載せた試験片Sに対して摩擦子24を負荷機構11による負荷条件にて当接させ、テーブル3を往復移動させて試験を行う装置である。 - 特許庁

To provide a testing method capable of evaluating precisely and easily freezing and thawing durability in a short time under a condition of a reproduced aggregate, without using any special device.例文帳に追加

再生骨材の状態のままで、凍結融解耐久性を短期間で精度良く、特殊な装置などを用いずに簡易に評価することのできる試験法を提供する。 - 特許庁

To measuse and evaluate durability of an insulation-coating film under a condition where repeated vertical impacts are applied, without generat ing dispersion generated among testing persons.例文帳に追加

繰り返し垂直打撃が加えられる状況下での絶縁皮膜の耐久性を、試験者によるばらつき無しに測定評価できる試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

The differentiation of the skin condition is that near infrared absorption spectra of more than two kinds of skin with different conditions are measured beforehand, multivariate analysis of the above near infrared absorption spectra and figure of merit of the skin characteristics is performed, and a near infrared absorption spectrum of the skin which is a testing sample is compared with the analysis result as an index to differentiate the skin condition of the testing sample.例文帳に追加

皮膚性状の鑑別に於いて、予め状態の異なる2種以上の皮膚の近赤外吸収スペクトルを測定し、前記近赤外吸収スペクトルと、皮膚性状の示性値とを多変量解析し、該分析結果を指標として、これと試験試料である皮膚の近赤外吸収スペクトルとを比較し、該試験試料の皮膚性状を鑑別する。 - 特許庁

例文

In the device evaluation device 1, a correction data acquiring circuit 6 and a correction data creating/storing circuit 7 acquire correction data of timing calibration of a signal for testing per test condition in states of mounting one or both devices 2 in the testing device 3.例文帳に追加

デバイス評価装置1において、試験装置3にデバイス2を片実装及び両実装した状態で、試験条件毎に、補正データ取得回路6及び補正データ作成・保存回路7がテスト用信号のタイミングキャリブレーションの補正データを取得する。 - 特許庁




  
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