「testing data」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

A first testing circuit 24 compares received data of the receiver 5 with the test data, and this compared result is monitored.例文帳に追加

第１テスト回路２４は、そのレシーバ５の受信データを上記テストデータと比較し、この比較結果がモニタされる。 - 特許庁

To provide a material-testing machine for allowing important data and information on a testing state to be read easily and can be operated appropriately.例文帳に追加

試験状態に関する重要なデータや情報を容易に見ることができ、操作性の良好な材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a data sampling method in a material testing machine and the material testing device continuously grasping the material testing conditions in a pretreatment process and in a main process.例文帳に追加

材料試験の前処理工程および本工程における状態を継続して把握することができる材料試験装置におけるデータサンプル方法および材料試験装置を提供する。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD USING TARGETED VARIANT INPUT FOR TESTING DATA FORMAT例文帳に追加

ターゲットとされるバリアント入力を使用して、データフォーマットをテストするためのシステムおよび方法 - 特許庁

One testing mode is specified by n data held in the n registers.例文帳に追加

ｎ個のレジスタに保持されているｎ個のデータによって１つのテストモードが特定される。 - 特許庁

To provide a system and a method for compressing effectively a test data for testing a device to be tested (DUT).例文帳に追加

試験対象デバイス(DUT)をテストするためのテストデータをより効果的に圧縮する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of taking large-capacity failure data.例文帳に追加

大容量のフェイルデータを取り込むことを可能にする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To simplify data of whole equipment, when using a fire detecting equipment with an automatic testing function.例文帳に追加

自動試験機能付きの火災感知器を用いる際に、設備全体のデータを簡便とする。 - 特許庁

Thus, the defect of the data track is effectively detected, and also the testing period is shortened.例文帳に追加

これにより、データ・トラックの欠陥を効果的に検出し、また、そのテスト時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which shortens pattern-data loading time.例文帳に追加

パターンデータのロード時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

DATA COMMUNICATION DEVICE, CENTRAL MANAGEMENT DEVICE, TESTING METHOD, REMOTE MANAGEMENT SYSTEM, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

データ通信装置、中央管理装置、テスト方法、遠隔管理システム及びコンピュータプログラム - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING TRAFFIC AND AUXILIARY CHANNEL IN WIRELESS DATA COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加

無線データ通信システムにおいてトラヒックおよび補助チャネルをテストする方法および装置 - 特許庁

The traffic generation apparatus 32 sends test traffic data 55 to the testing server apparatus 41.例文帳に追加

トラフィック生成装置３２から試験サーバ装置４１へ試験トラフィックデータ５５を送信する。 - 特許庁

METHOD OF CLEANING NEEDLE TIP OF PROBE CARD, WAFER-TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE, DATA RECORDING MEDIUM例文帳に追加

プローブカードの針先クリーニング方法，半導体装置のウエハ検査装置，データ記録媒体 - 特許庁

To provide a method for testing a product character for effectively using testing data on a product, based on an identification number.例文帳に追加

識別番号に基づいて製品の検査データを有効活用することができる製品特性の検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The present invention provides improvement for a testing device for testing the examined object for outputting a digital data and a synchronization word detecting signal.例文帳に追加

本発明は、デジタルデータ及び同期ワード検出信号を出力する被試験対象を試験する試験装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide visual function inspection equipment integratedly managing visual acuity testing data in a plurality of visual acuity testing devices in a simple constitution.例文帳に追加

簡単な構成で、複数の視力検査装置における視力検査データを一元的に管理することが出来る視機能検査設備の提供。 - 特許庁

Black-box testing is the application of test data derived from the specified functional requirements without regard to the final program structure. 例文帳に追加

ブラック・ボックス法(black box testing)は,最終的なプログラム構造に関わりなく,特定の機能的要件から導き出されたテストデータを適用することである． - コンピューター用語辞典

A transferring process part 15 of detected data transfers patch data for the exchanger 3 to an automatic testing workstation 2.例文帳に追加

検証データ転送処理部１５は、自動試験ワークステーション２へ、検証用交換機３用のパッチデータを転送する。 - 特許庁

To provide a technique of generating test data capable of testing a verification program without preparing multiple test data.例文帳に追加

複数のテストデータを準備することなく、検証プログラムをテストすることができるテストデータを生成する技術を提供する。 - 特許庁

A third testing circuit 26B compares received data of the receiver 7 with the test data, and this compared result is monitored.例文帳に追加

また、第３テスト回路２６Ｂは、そのレシーバ７の受信データを上記テストデータと比較し、この比較結果がモニタされる。 - 特許庁

After displaying all testing condition data currently held by the testing system, the tester tests the DUT 4 under an arbitrary testing condition by inputting the testing condition data so that the testing condition may be changed to a fixed condition or a condition having an arbitrary range in accordance with the purpose of the test.例文帳に追加

このとき、試験システムが現在保持している試験条件データを全て表示した上で、試験者は、試験の目的に応じて、固定の条件あるいはある任意の範囲をもつ条件に変更することができるように試験条件データを入力処理することにより、試験対象の多周波符号器を任意の条件のもとで試験する。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor device capable of testing a semiconductor device outputting a reference clock DQS, used for data delivery, simultaneously to data reading, with high accuracy in a short period.例文帳に追加

データの読み出しに同期してデータの受渡しに利用される基準クロックＤＱＳを出力する半導体デバイスを短時間に高精度に試験する試験方法を提案する。 - 特許庁

The estimation means estimates the internal variable on the basis of data transmitted from the device to be tested to the testing device and data transmitted from the testing device to the device to be tested.例文帳に追加

前記推定手段は、被試験装置から試験装置に送信されたデータ、および試験装置から被試験装置へ送信されたデータに基づいて前記内部変数を推定する。 - 特許庁

To provide data inversion register technique for integrated circuit memory testing in which data input signals are selectively inverted in a predetermined patten to maximize the probability of identifying failures during testing.例文帳に追加

データ入力信号が所定のパターンに選択的に反転され、検査時に不具合を特定する確率を最大限にする集積回路メモリ検査用のデータ反転レジスタ技術を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a testing system capable of generating common test-condition data to a plurality of testing apparatuses, and generating the test-condition data in each apparatus by taking into consideration a difference in the performance of an apparatus in a short period of time, in the method for generating the test-condition data of the wafer visual testing apparatus.例文帳に追加

ウエーハ外観検査装置の検査条件データを生成する方法において、複数台の検査装置に対する共通の検査条件データを生成し、機差を考慮した装置毎の検査条件データを短時間で生成できる方法及び検査システムを提供する。 - 特許庁

A testing device simultaneously supplies one testing pattern data to the first and second circuits 32, 33 to execute operating tests of both the circuits 32 and 33.例文帳に追加

試験装置は、第１及び第２メモリ回路３２，３３に同時に１つの試験パターンデータを供給して両メモリ回路３２，３３の動作試験を実施する。 - 特許庁

To detect a defect around a synchronization mark with one write operation in a defect testing method for testing a defect in a synchronization mark part of a data part of a disk.例文帳に追加

ディスクのデータ部の同期マーク部の欠陥を検出する欠陥検査方法に関し、１回のライト動作で、同期マーク周辺の欠陥を検出する。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 10 has a fail memory 15 for storing information on the fail data FD for indicating pass/fail obtained by testing a DUT 20.例文帳に追加

半導体試験装置１０は、ＤＵＴ２０を試験して得られるパス／フェイルを示すフェイルデータＦＤ情報を記憶するフェイルメモリ１５を備える。 - 特許庁

In the mechanocardiogram testing apparatus 1, a measurement data output control part 18 acquires the measurement data of cardiac sound and the measurement data of biological information different from the cardiac sound.例文帳に追加

心機図検査装置１において、測定データ出力制御部１８は、心音の測定データと、心音と異なる生体情報の測定データとを取得する。 - 特許庁

To provide a data analysis system capable of quickly and easily transferring data even when a testing device is away from a test data analyzer in distance.例文帳に追加

試験装置から試験データ解析装置までが距離的に離れていても、迅速かつ容易にデータ転送の可能なデータ解析システムを提供する。 - 特許庁

The control unit 15 informs (display) a monitoring device 8 and a data rewriting device 9 of a testing result.例文帳に追加

制御部１５はモニタ装置８やデータ書換装置９に試験結果を通知（表示）する。 - 特許庁

To provide a system, an apparatus and a method for testing about a high-speed data transmission error.例文帳に追加

高速データ伝送エラーに関して試験するためのシステム、装置、及び方法を提供する。 - 特許庁

The measured data of a new test pattern for a testing mask are obtained by measuring the line width of each gate pattern.例文帳に追加

テスト用マスクの新規テストパターンの実測データは、各ゲートパターンの線幅について測定される。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing system capable of keeping confidentiality of test programs and test data.例文帳に追加

テストプログラムやテストデータの機密性を保持することが可能な半導体試験システムを実現する。 - 特許庁

Most drive vendors provide testing software for their drives, so test your drive, and, if necessary, back up your data and replace it. 例文帳に追加

私たちは商用ソフトウェアベンダに、ここで製品を宣伝してもらうことを望んでいます。 - FreeBSD

To provide a semiconductor testing apparatus capable of creating summary data with a small-scale constitution.例文帳に追加

小規模な構成でサマリデータを作成することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

At the current time, most model testing and validation studies must rely on a limited data base.例文帳に追加

現在，たいていのモデルの試験・確証研究は，限定されたデータベースに頼らなくてはならない。 - 英語論文検索例文集

To provide a technique and an apparatus for testing performance of terminals and access points in CDMA data system.例文帳に追加

ＣＤＭＡデータシステムにおける端末およびアクセスポイントの性能をテストするための技術。 - 特許庁

A sampling cycle and the threshold of data change quantity are set by a data processor 200 and are transmitted to a testing machine body 100.例文帳に追加

データ処理装置２００でサンプリング周期とデータ変化量のしきい値を設定し、試験機本体１００へ送信する。 - 特許庁

A 2nd testing device receives only processing data as a result of processing of the tested device for the target data to evaluate the result.例文帳に追加

第２の試験装置は、ターゲットデータに対する被試験装置における処理の結果である処理データのみを受信して評価する。 - 特許庁

A testing apparatus is used for checking operations of an internal circuit for probing pad on the basis of the inspection data and response data for inspection.例文帳に追加

テスト装置は、検査用データと検査用応答データとに基づいてプロービングパッドに対する内部回路の動作をチェックする。 - 特許庁

To provide an IC testing system capable of decoding the location data of a wafer prober in any chip arrangement by an IC testing device in an IC testing system which decodes any location data furnished by a wafer prober using an IC testing device making out a chip map for distinguishing tested chips from chips not yet tested, to perform a test.例文帳に追加

ウェハプローバが発信するロケーション・データをＩＣ試験装置が読み取り、ＩＣ試験装置でチップマップを作成し、試験済チップと未試験チップを区別して試験を実行するＩＣテストシステムにおいて、如何なるチップ配置のウェハプローバでもＩＣ試験装置でそのロケーション・データを解読することができるＩＣテストシステムを提供する。 - 特許庁

When the control data for checking data are set, the testing data stored in data ROMs 124-1 to 3 are read out to check to see whether the data ROMs 124-1 to 3 are placed at the correct positions using the read out data and the data for confirmation.例文帳に追加

データチェック用の制御データが設定されると、データＲＯＭ１２４−１〜３に記憶されたテストデータが読み出され、これと確認用データとを用いて、データＲＯＭ１２４−１〜３が正しい位置に搭載されているか否かをチェックする。 - 特許庁

After testing is terminated, high-speed sampled data stored in the memory card 108 are transmitted to the data processor 200 and the data processor 200 synthesizes the low-speed and high-speed sampled data.例文帳に追加

試験終了後、メモリカード１０８に記憶されている高速サンプリングデータをデータ処理装置２００に伝送し、データ処理装置２００は低速および高速サンプリングデータを合成する。 - 特許庁