「testing data」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

A similarity testing method is provided which compares sequence data transmitted from a malware performing wrong processing on other computers on the network and sequence data transmitted from software being a test object, with each other to test the similarity between them.例文帳に追加

ネットワーク上で他のコンピュータに対して不正処理を行うマルウェアが送信する系列データと、検査対象のソフトウェアが送信する系列データとを比較してその類似性を検査する類似性検査方法を提供する。 - 特許庁

Furthermore, the sum of voltages of the D+ data output signal and D- data output signal is tested, whereby the test can be performed in the same channel of the testing device, and a precise measurement can be thus performed, without being influenced by skew between channels.例文帳に追加

また、Ｄ＋データ出力信号とＤ−データ出力信号との電圧の和をテストすることで、テスト装置の同一チャンネルでのテストが可能となり、 チャンネル間のスキューの影響を受けることなく高精度での測定が可能となる。 - 特許庁

This firmware test automation method includes performing the forced writing of set data to be set in the normal operation time of an edge sensor as object equipment, input data to be input from a sensor head 1 in the normal operation time and internal variables as data to be generated by firmware during the execution of the a program corresponding to the set data and the input data from an external computer 3 in testing the firmware.例文帳に追加

ファームウェアテスト自動化方法は、対象機器であるエッジセンサの通常の動作時に設定される設定データと、通常の動作時にセンサヘッド１から入力される入力データと、この設定データと入力データに応じたプログラムの実行中にファームウェアが生成するデータである内部変数とに対して、ファームウェアのテスト時に外部のコンピュータ３から強制書き込みする。 - 特許庁

A comparative determining part 6 stores the command data supplied from the main control part 1 to the pattern control part 4, compares the stored command data with command data outputted to the testing terminal 5 from the pattern control part 4, and when both data are discordant, outputs a retransmission request signal for requesting the retransmission of the same command data, to the main control part 1.例文帳に追加

比較判定部６は、主制御部１から図柄制御部４に供給されるコマンドデータを記憶するとともに、この記憶するコマンドデータと、図柄制御部４から試験端子５に出力されるコマンドデータとを比較し、その両者が不一致の場合に、その同一のコマンドデータの再送を要求する再送要求信号を、主制御部１に対して出力する。 - 特許庁

To provide a method for testing functions of a TAG-RAM without loading all capacity of actual memories for all patterns of address data stored in a TAG-RAM, and to provide its device.例文帳に追加

ＴＡＧ−ＲＡＭに格納するアドレスデータの全パターンについて実メモリを全容量分装着せずにＴＡＧ−ＲＡＭの性能を試験する方法とその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a communication testing device capable of achieving a data communication test that is adjustable to various combinations of a plurality of business protocols, and in particular, combination of hierarchized business protocols.例文帳に追加

複数の業務プロトコルの多様な組み合わせ、特に、階層化された業務プロトコルの組み合わせに対応したデータ通信試験を実現可能とする通信試験装置を提供する。 - 特許庁

After the delay time is adjusted, an input signal for testing is inputted again, the comparison result data are read again from the comparison result register, and the delay time is confirmed after the adjustment.例文帳に追加

遅延時間が調整された後にテスト用入力信号を再度入力し、比較結果レジスタから比較結果データを再度読み出して、調整後の遅延時間を確認する。 - 特許庁

To provide a data driver whose operating test can be performed easily and surely at a manufacturing stage and also whose testing time can be shortened and a display device in which the driver is used.例文帳に追加

本発明は、製造段階において容易で確実な動作試験が行えると共に、試験時間を短縮することができるデータドライバ及びそれを用いた表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide particular performance data that are not generally obtained by a large-scale integrated testing method by evaluating the performance characteristic of each memory cell in particular about a random access memory cell.例文帳に追加

ランダム・アクセス・メモリ・セルに関し、特に、個々のメモリ・セルの性能特性を評価し、それによって、一般に大規模統合テスト方法では得られない特定の性能データを与える。 - 特許庁

To provide a terminal setting circuit for testing an input/output circuit through program processing by outputting data inputted into one terminal to another terminal without going through an internal bus.例文帳に追加

プログラム処理により内部バスを介することなく、ある端子に入力されたデータを他の端子に出力して入出力回路をテストできる端子設定回路を提供する。 - 特許庁

To enhance test quality when test data for a scan-based testing method consist of random numbers and to statically specify and extract portions that degrade the test quality, without using simulations.例文帳に追加

スキャンベースのテスト法においてテストデータが乱数であるときのテスト品質の向上を図り、また、シミュレータを使わずに静的にテスト品質を低下させる箇所を特定、抽出すること。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory which can perform efficiently the test of a data hold characteristic of a ferroelectric nonvolatile memory highly accurately and with less samples, and its testing method.例文帳に追加

強誘電体不揮発性メモリのデータ保持特性の試験を、高精度かつ少ないサンプル数で効率的に行える半導体不揮発性記憶装置およびその試験方法とを提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing an application program for inquiring of a client-server type data base system and a recording medium where the program for implementing the method has been recorded.例文帳に追加

クライアント・サーバ型のデータベース・システムへの問合わせを行うアプリケーション・プログラムをテストする方法及びこの方法を実現するためのプログラムを記録した記録媒体を提供すること。 - 特許庁

To provide a data sampling system for a testing device enabling an inspector to conduct an ultrasonic flaw detection test for a pipe welding joint simply without being exposed to radiation excessively.例文帳に追加

検査員が放射線に過度に被曝することなく簡便に配管溶接継手を超音波探傷試験することができる試験装置用のデータ採取システムを提供すること。 - 特許庁

To collect a series of test data from the start to the end of a test at a fixed sampling rate irrespective of length of testing time.例文帳に追加

試験時間の長さに関係なく、試験開始から終了までの試験データを、一定のサンプリングレートで収集することが可能な試験装置及び試験データの収集方法を提供する。 - 特許庁

To accurately measure the friction force inherent in an elastic material sample as objective data with the high correlation with the friction force of a product tire or the like, in testing the friction characteristics of the elastic material sample.例文帳に追加

弾性材料サンプルによる試験をもって、そのサンプルに固有の摩擦力を、製品タイヤ等のそれと高い相関をもつ客観データとして正確に測定することを可能とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device and its correcting method which can correct dispersion of measurement data between sites (sockets) conducting simultaneous measurement and devices and its correcting method.例文帳に追加

本発明は、同時測定をおこなうサイト（ソケット）間及び装置間の測定データのバラツキを補正して高精度測定ができる半導体試験装置とその補正方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing an input circuit in the semiconductor integrated circuit for inputting a data input signal having a short pulse width.例文帳に追加

短パルス幅のデータ入力信号を入力する半導体集積回路内の入力回路の試験を行うことができる半導体集積回路を提供することを課題とする。 - 特許庁

The alcohol testing device 10 includes a database of persons to be tested containing face image feature data and ID information, an ID inputting device 18, an alcohol detector 22, and a digital camera 28.例文帳に追加

アルコール検査装置１０は顔画像特徴データとＩＤ情報を含む被験対象者データベースと、ＩＤ入力装置１８と、アルコール検知器２２と、デジタルカメラ２８を備える。 - 特許庁

To obtain a method for monitoring and testing plural output signals from a circuit to be tested at the same time without switching by using one pattern monitor circuit and plural data comparing circuits.例文帳に追加

一つのパターン監視回路と複数のデータ比較回路を使用することにより、被試験対象回路からの複数出力信号を切替えなしで同時に監視・試験する方法を得る。 - 特許庁

To provide a circuit inspection device, a semiconductor integrated circuit, and a memory macrocell, for circumventing a memory macrocell from stopping propagation of scan data in scan pass testing using a simple circuit.例文帳に追加

スキャンパステスト時にメモリマクロセルでスキャンデータの伝搬が阻止されてしまうことを、簡単な回路で回避する回路検査装置、半導体集積回路およびメモリマクロセルを提供する。 - 特許庁

To provide a test body reaction force estimating device capable of estimating reaction force of a testing body, based on known data such as vibration table oscillation force, without measuring directly a reaction force value of the test body.例文帳に追加

試験体の反力値を直接計測しなくても、振動台加振力等の既知データから試験体の反力を推定することが可能な試験体反力推定装置を提供する。 - 特許庁

The testing apparatus associates a test item with a code number and stores them in a storing part, acquires a time when data is received from the OLT or the like, transmits the data to a delay buffer A in the case of performing no test, and generates test data obtained by adding a code number to the data in the case of carrying out a test.例文帳に追加

この試験装置は、試験項目とコード番号とを対応付けて記憶部に記憶し、ＯＬＴなどからデータを受信した時刻を取得するとともに、試験を実施しない場合に、当該データをＤｅｌａｙ ｂｕｆｆｅｒＡに送信し、試験を実施する場合に、当該データにコード番号を付加した試験データを生成する。 - 特許庁

This IC tester for testing a test IC has a high-resolution digitizer digitizing and fetching a settling signal outputted from the test IC; and a digital signal processor adding the data fetched sequentially from the high-resolution digitizer to the preceding data, and scaling the added data by the number of additions to execute the averaging process of the taken-in data.例文帳に追加

被試験ＩＣの試験を行なうＩＣテスタにおいて、被試験ＩＣが出力するセトリング信号をデジタイズして取込むハイレゾルーションデジタイザと、このハイレゾルーションデジタイザから順次取込むデータをその直前のデータに加算すると共に加算されたデータを加算回数でスケーリングし、取込みデータの平均化処理を行なうデジタルシグナルプロセッサを備えた構成とする。 - 特許庁

To prevent the decrease of a data transfer speed depending upon a test data bus for single-DRAM-part evaluation and to suppress an increase in the number of pads for testing the single DRAM part as to the semiconductor storage device having an MPU and a secondary cache DRAM on one chip.例文帳に追加

ＭＰＵと２次キャッシュ用ＤＲＡＭとを１チップ化した半導体記憶装置において、ＤＲＡＭ部単体評価のためのテスト用データバスに基づくデータ転送速度の低下を防止し、ＤＲＡＭ部単体テスト用のパッド数の増加を抑制する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device capable of testing whether data read out of a memory cell are correct and whether there is a deviation between the timing where the data are read out of the memory cell and outputted to the outside and the timing where a WAIT signal is canceled.例文帳に追加

メモリセルから読出されたデータが正しく、かつメモリセルからデータが読み出されて外部に出力されるタイミングとＷＡＩＴ信号が解除されるタイミングとの間にずれがないかのテストを可能とする半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To easily create data or evaluate a test operation for testing an automatic ticket gate under developing by performing an operation test of the automatic ticket gate under developing based upon processing data in an automatic ticket gate under operating.例文帳に追加

この発明は、稼動中の自動改札機での処理データに基づいて開発中の自動改札機の動作試験を行うことができ、開発中の自動改札機を試験するためのデータ作成や試験動作の評価を簡単に行うことが可能となる。 - 特許庁

To solve a problem wherein a data format used in a semiconductor testing device is not controlled seamlessly with versatile network equipment controlled using an SNMP, even when connected to the same network, because the data format is a peculiar format.例文帳に追加

半導体テスト装置で用いるデータ形式は独自の形式であるため、同じネットワークに接続されていても、ＳＮＭＰを用いて管理することができる汎用ネット機器とシームレスに管理することができなかったという課題を解決する。 - 特許庁

Based on testing data td and the detected failure list ta outputted from the failure detection system 30, a failure kind-classified state model sn indicating statistical data of a state of the service provision system is generated in each kind of the failure.例文帳に追加

試験用データｔｄ及び障害発見システム３０から出力される発見障害リストｔａに基づいて、障害の種類毎にサービス提供システムの状態の統計データを示す障害種類別状態モデルｓｎが生成される。 - 特許庁

Because of acquiring the measurement data from the existing measuring devices, the testing scenario and sequence can be easily produced at low cost with various communication protocols as targets without needing to construct a mechanism for acquiring measurement data of the various communication protocols.例文帳に追加

既存の測定器から測定データを取得するので、さまざまな通信プロトコルの測定データを取得するしくみを構築する必要はなく、さまざまな通信プロトコルを対象として、安価で容易に試験用シナリオおよびシーケンスを作成できる。 - 特許庁

Data generators 104A, 104B, 104C for testing a CAM are inserted between an APG 101 for RAM and CAM-macros 105A, 105D, 105E, write-in data of the CAM-macros is generated from an address signal 12 directly or by decoding.例文帳に追加

ＲＡＭ用ＡＰＧ１０１とＣＡＭマクロ１０５Ａ，１０５Ｄ，１０５Ｅの間にＣＡＭテスト用データジェネレータ１０４Ａ，１０４Ｂ，１０４Ｃを挿入し、アドレス信号１２から直接、あるいはデコードしてＣＡＭマクロの書き込みデータを生成する。 - 特許庁

To provide a tool for generating test data on a corresponding cycle base having a format characteristic to specific ATE for testing a physical serial device by extracting and removing timing irregularity such as drift or jitter from simulation test data on an event base.例文帳に追加

イベントベースのシミュレーション試験データからドリフトやジッタなどのタイミング不規則性を抽出及び除去し、物理的シリアルデバイスを試験する特定のＡＴＥに固有のフォーマットを有する対応するサイクルベースの試験データを生成するツールを提供する。 - 特許庁

The control apparatus 2 includes: test condition setting means for setting the test condition; execution instructing means for instructing the semiconductor testing apparatus 1 to execute the test; and a capture section 20 serving as test data collecting means for collecting first data obtained by the test.例文帳に追加

制御装置２は、試験条件を設定する試験条件設定手段と試験の実行指示を行う実行指示手段と試験によって得られた第１のデータを収集する試験データ収集手段としてのキャプチャ部２０とを備える。 - 特許庁

A testing method includes the steps of: creating design specifications 11 and 12 indicating a plurality of individual specifications and a plurality of common specifications distinguishably; causing a computer to execute the operation of generating test specifications and test data from the design specifications 11 and 12; and testing a program created according to the design specifications 11 and 12 on the basis of the test specifications and test data.例文帳に追加

複数の個別仕様と複数の共通仕様とを判別可能に示す設計書１１、１２を作成するステップと、設計書１１、１２に基づいてテスト仕様書とテストデータとを生成する動作をコンピュータに実行させるステップと、設計書１１、１２に基づいて作成されたプログラムをそのテスト仕様書とそのテストデータとに基づいてテストするステップとを備えている。 - 特許庁

Waveform data for modulation signals output from the semiconductor testing device is stored in the testing circuit in advance, and in-chip noise in the RF chip and inherent circuit characteristics of the RF chip are extracted by comparing the result of analysis in which the signals output from the low-noise amplifier and the signals input to the amplifier were analyzed by spectrum analysis to the waveform data for the stored modulation signals.例文帳に追加

試験回路は、半導体試験装置より出力する変調信号の波形データが予め記憶され、低雑音増幅器より出力される信号及び増幅器に入力される信号をスペクトラム解析した解析結果と記憶されている変調信号の波形データとの比較によりＲＦチップにおけるチップ内ノイズ及びＲＦチップ本来の回路特性を抽出する。 - 特許庁

To provide an impact and vibration testing device capable of independently and successively performing input operations, such as test parameter set, waveform input, and data display, corresponding to precise impact test conditions according to an intended state to be reproduced such as soil quality, earthquake waveform, intensity from one screen in order to be applied as a pseudo earthquake testing device, and extremely easily performing a precise operation and a data analysis.例文帳に追加

擬似地震試験装置として適用する為に、土質、地震波形、強度等の再現すべき目的状態に対応した緻密な衝撃試験条件に対応する入力操作を一つの画面から、試験パラメータ、波形入力、データ表示が夫々独立して順次行なわれ、緻密な操作とデータの解析が極めて容易に行なわれる衝撃・振動試験装置の提供。 - 特許庁

This testing device for testing a device to be tested is equipped with a test module for supplying test data to a device under test, a test program storage part for storing a plurality of test programs for realizing respectively a plurality of test sequences, and a control device for controlling operation by the test module by performing the test program.例文帳に追加

被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスに試験データを供給するテストモジュールと、複数の試験シーケンスをそれぞれ実現する複数の試験プログラムを格納する試験プログラム格納部と、試験プログラムを実行することによりテストモジュールによる動作を制御する制御装置とを備える。 - 特許庁

The display testing device successively generates a pattern switching on one part per once imaging out of a pixel group of a display equivalent to one pixel of a camera, and uses a display testing method for detecting the defect of a region equivalent to each pixel of the camera from image data for imaging each pattern.例文帳に追加

本発明は、カメラの１画素に相当するディスプレイの画素群のうち一度の撮像につき１箇所のみ点灯するパターンを逐次生成し、各パターンを撮像した画像データからカメラ各画素に相当する領域の欠陥を検出するディスプレイ試験方式を使用することを特徴とするディスプレイ試験装置に関する。 - 特許庁

When acquiring design data of a design object circuit having a function corresponding to a customer need, this circuit testing device 100 generates a circuit testing mechanism 110 enabling failure detection corresponding to whether an object circuit 102 designated as a test object is an OR circuit or an AND circuit, in the design object circuit.例文帳に追加

回路試験装置１００は、顧客ニーズに応じた機能を備えた設計対象回路の設計データを取得すると、この設計対象回路のうち、試験対象に指定された対象回路１０２がＯＲ回路かＡＮＤ回路かに応じて、故障検出を可能にするための回路試験機構１１０を生成する。 - 特許庁

The wiring testing machine 100 includes a producing machine 10 for test data, a package testing machine 20 forming with a test jig 21 using a spring probe and test jig 41 using a conductive rubber 42, a flying prober 30 using a probe 31 of the flying prober, and an object 50 to be tested composed of wiring substrates and others.例文帳に追加

本発明の布線検査機１００は、検査データ作製機１０と、スプリングプローブを使った検査治具２１と、導電ゴム４２を使った検査治具４１とで構成された一括検査機２０と、フライングプローバのプローブ３１を用いたフライングプローバ３０と、配線基板等からなる被検査体５０とで構成されている。 - 特許庁

A test auxiliary device (BOST device) is disposed near a test circuit board for giving and receiving a signal to and from the semiconductor integrated circuit to be tested, and the testing D/A converter circuit and testing A/D converter circuit of the test auxiliary device, a measurement data memory and an analyzing part are respectively mounted on separate circuit boards.例文帳に追加

被試験半導体集積回路と信号のやり取りを行うテスト回路基板の近傍にテスト補助装置（ＢＯＳＴ装置）を設け、このテスト補助装置の試験用Ｄ／Ａ変換回路と試験用Ａ／Ｄ変換回路と、測定データメモリと、解析部とをそれぞれ別の回路基板に搭載する。 - 特許庁

An apparatus has a memory operable with a virtualized RAID controller to determine an optimum I/O configuration by testing performance characteristics of a plurality of I/O operations, wherein the I/O operations include respectively writing a data block in the RAID controller, and the I/O configuration includes data length and data adjustment.例文帳に追加

複数のＩ／Ｏ操作の性能特性をテストすることによって最適なＩ／Ｏ構成を決定する仮想ＲＡＩＤコントローラとともに動作可能なメモリを有する装置であり、Ｉ／Ｏ操作がそれぞれＲＡＩＤコントローラにデータ・ブロックを書き込むことを含み、Ｉ／Ｏ構成がデータ長およびデータ調整を含む。 - 特許庁

To provide a data communication device, a central management device, a testing method, a remote management system, and a computer program, in which the central management device can recognize whether the communication from the data communication device is performed normally, without dispatching a service engineer to the site where the data communication device is installed.例文帳に追加

本発明は、データ通信装置、中央管理装置、テスト方法、遠隔管理システム及びコンピュータプログラムに関し、中央管理装置が、データ通信装置からの通信が正常に行われるか否かをそのデータ通信装置が設置されている現場へサービスマンを派遣せずに確認できるようにすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a defect tolerance evaluation method for a structure within a reactor accurately carrying out defect tolerance evaluation by using material testing data obtained from a sample taken from an evaluation object portion itself.例文帳に追加

評価対象部位そのものから採取したサンプルから得られた材料試験データを用いて精度よく欠陥裕度評価を行う炉内構造物の欠陥裕度評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide methods and apparatus that allow real-time data transmission between patients and medical practitioners to enable efficient communication and high throughput point-of-care testing in an ambulatory context.例文帳に追加

患者と医療実務者との間の実時間データ伝送が、歩行用の状況において効率的な伝達および高処理能力ポイントオブケア検査を可能にする方法および装置を提供する。 - 特許庁