「testing data」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

When the user interface 304 is displayed, the user is able to see the boundary scanning test data, generated by a boundary scanning testing device 314, in a form which is suitable for a debugging operation.例文帳に追加

該ユーザ・インタフェース表示によって、ユーザは、境界走査テスト装置によって生成された境界走査テスト・データをデバッグに適切な形式で見ることができる。 - 特許庁

To provide a method for testing a collision of a vehicle which can further simulate by data at the time of the collision of real vehicles by using an MDB(moving deformable barrier).例文帳に追加

ＭＤＢ（ムービング・デフォーマブル・バリア）を用いた上で実車同士の衝突時のデータにより一層近似させることができる車両衝突試験方法を提供する。 - 特許庁

The respective electronic tag labels 20 to be conveyed from the peeling position Pb to the attachment position Pa are tested by a data reading/writing operation by a first electronic tag label testing part 15.例文帳に追加

剥離位置Ｐｂから貼着位置Ｐａに搬送される各電子タグラベル２０は第１電子タグラベル検査部１５でデータの読み書き動作によって検査される。 - 特許庁

To enhance the measuring precision of hardness by accurately forming the image data in the vicinity of the outer edge of a cavity by performing the automatic control of light in a hardness testing machine.例文帳に追加

硬さ試験機において、自動調光を行うことにより、くぼみ外縁付近の画像情報を正確に生成して硬さの計測精度を向上させる。 - 特許庁

From the A register 32, the test result information is read to generate replacement address data for testing, and from the B register 33, the test result information is read and output to the outside.例文帳に追加

Ａレジスタ３２よりテスト結果情報を読み出してテスト用の置換アドレスデータを生成し、Ｂレジスタ３３よりテスト結果情報を読み出して外部に出力する。 - 特許庁

To provide an information communication testing device for automatically erasing unnecessary personal information from among captured actual data and medical equipment using the same.例文帳に追加

キャプチャした実データの中から自動的に不要な個人情報の削除を行うことができる情報通信試験装置及びそれを使用した医療機器を提供する。 - 特許庁

At testing, the tristate buffers 7A and 7B are in an off-state, the input and output terminals 1A and 1B are connected to the scan passes 3_1-3_m and 3_m+1-3_n respectively to input test data.例文帳に追加

テスト時、３ステートバッファ７Ａ，７Ｂをオフ状態にし、入出力端子１Ａ，１Ｂをそれぞれスキャンパス３_1 〜３_m ，３_m+1 〜３_n に接続してテストデータを入力する。 - 特許庁

Normally, discrimination is carried out for abnormality of the testing object by a first abnormality discrimination means predicting the abnormality on the basis of data of change with time in the status information.例文帳に追加

通常は、状態情報の経時変化データに基づいて異常を予測する第１異常判定手段で被検対象の異常について判定を行う。 - 特許庁

The information to be stored includes a serial number, a wafer ID, a lot ID, a date code, chip records, testing data, and performance information, but not limitted to these.例文帳に追加

記憶される情報には、シリアル番号、ウェーハＩＤ、ロットＩＤ、日付コード、チップ履歴、試験データ及び性能情報などが含まれるが、これらに限られるわけではない。 - 特許庁

To enhance the measuring precision of hardness by accurately forming the image data in the vicinity of the outer edge of a cavity by accurately supporting the manual control of light in a hardness testing machine.例文帳に追加

硬さ試験機において、手動調光を的確に支援することにより、くぼみ外縁付近の画像情報を正確に生成して硬さの計測精度を向上させる。 - 特許庁

To generate test data meeting restrictions on testing of software, with practical temporal and spatial computational complexity even when the restrictions includes many character string variables.例文帳に追加

ソフトウェアのテストの制約が多数の文字列変数を含む場合でも，実用的な時間空間計算量で制約を充足するテストデータを生成できるようにする。 - 特許庁

To provide a method and system of testing a pattern, in which the contour data of the pattern is extracted without failure, and a high speed and accurate test of the circuit pattern is performed.例文帳に追加

パターンの輪郭データの抽出を失敗すること無く、高速かつ正確に回路パターンの検査を行うことのできる、パターン検査方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

A vehicle aerodynamic force computation apparatus 10 is constituted of a computer, and data 20 on the coefficient of acceleration terms acquired by wind tunnel testing, etc. and others are stored in its storage part 18.例文帳に追加

車両空気力算出装置１０は、コンピュータで構成され、その記憶部１８には風洞実験等によって得られた加速度項係数のデータ２０等が記憶される。 - 特許庁

To provide a test method by which a RAM and a bus are tested by testing that read and write of data for a RAM are performed correctly for a correct address.例文帳に追加

ＲＡＭに対するデータの読み書きが正しいアドレスに正しく行われていることを検査し、ＲＡＭ及びバスの検査を行う検査方法を提供する。 - 特許庁

The waveform data stored in the memory 48 are selected by a load device 46 based on appearance frequency information 44 during the testing of each piece of the voice piece DB34.例文帳に追加

メモリ４８に記憶される波形データは、音声素片ＤＢ３４の各素片のテスト時の出現頻度情報４４に基づいてロード装置４６により選択される。 - 特許庁

A testing apparatus 900 tests a communication control unit 10 functioning as the communication monitoring device for appropriately monitoring communication data transmitted and received by a specified terminal.例文帳に追加

試験装置９００は、特定の端末が送受信する通信データを適切に監視する通信監視装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

The load testing device 202 is configured so that pseudo monitor data 206 can be included in the pseudo agent 203 so that the test can be executed without installing any actual monitored device 106.例文帳に追加

負荷試験装置２０２は、実際の監視対象装置１０６が無くても試験が実施できるよう、疑似エージェント２０３内に疑似監視データ２０６を持つよう構成する。 - 特許庁

A testing device 900 tests a communication control device 10, which functions as a route information managing device managing route information for transmitting and receiving communication data.例文帳に追加

試験装置９００は、通信データを送受信するための経路情報を管理する経路情報管理装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

To obtain more stable test data by suppressing temperature variations of a drum surface and the controlling the temperature of a road surface, independently of a room-temperature, in a tire testing apparatus.例文帳に追加

タイヤ試験装置において、ドラム表面の温度のバラツキを抑制すると共に、室温と独立して路面の温度を調整し、より安定した試験データを得る。 - 特許庁

A character string restriction extraction part 11 of a data generation device 1 extracts character string variables appearing in source restriction information of testing and classifies them into an equivalence relationship and an inequivalence relationship.例文帳に追加

データ生成装置１の文字列制約抽出部１１は，テストの元制約情報に出現する文字列変数を抽出し，等価関係／非等価関係に分類する。 - 特許庁

A micro-bump pad (a first pad 21) for data input/output is arranged in a connection path between the test pad (second pad 22) used for testing a semiconductor device and an internal circuit 23.例文帳に追加

半導体装置のテストのためのテストパッド（第２パッド２２）と内部回路２３との接続経路に、データ入出力のためのマイクロバンプパッド（第１パッド２１）が配置されている。 - 特許庁

A testing device 900 tests a communication control device 10 which functions as a database access control device that controls access to the data stored in a database server.例文帳に追加

試験装置９００は、データベースサーバに格納されたデータに対するアクセスを制御するデータベースアクセス制御装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

A visually-inspected parts specifying drawing preparing section 12 for each testing machine prepares the layout drawing of the printed circuit board based on circuit design data 1B and a parts information database 4.例文帳に追加

試験機別目視検査部品指定図作成部１２において、回路設計データ１Ｂと部品情報データベース４に基づいてプリント回路板のレイアウト図が作成される。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of acquiring tendency of a waveform display required by a user, and a data collection method and a program used in the device.例文帳に追加

ユーザが必要とする波形表示の傾向を知ることができる半導体試験装置、当該装置で用いられるデータ収集方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

The control device is configured to receive a plurality of replacement coefficients judged by comparing the real value with the known value from the testing device via the data interface.例文帳に追加

制御装置は、実際の値と既知の値とを比較することにより判定された複数の置換係数を試験装置からデータインタフェースを介して受信するように構成される。 - 特許庁

The basic test speed is 500 MHz, but this speed can be increased to up to 1 GHz in Double Data Rate Mode (DDR Mode), for at-speed testing of today's faster memory devices. 例文帳に追加

基本的な試験速度は500MHzであるが, 今日のより速い記憶デバイスの速度指向試験用には, DDR(倍速)モードでこの速度を1GHzまで増大させることができる. - コンピューター用語辞典

To provide a personality testing apparatus which enables a subject to easily answer to MMPI (Minnesota Multiphasic Personality Inventory), and makes it possible to accurately and speedily score and aggregate test data.例文帳に追加

ＭＭＰＩ( Minnesota Multipbasic Personality Inventory)を、被験者が容易に回答できると共に、検査データの採点・集計を正確かつ迅速に行うことが可能な人格検査装置を提供する。 - 特許庁

If the data of testing based on OECD TG431 (human skin model Epidermis), TG430 (skin electric conductivity test) is available; the substance is classified in accordance with the decision criteria with which it is validated at each of the tests.例文帳に追加

OECD ＴＧ431（ヒト皮膚モデル Epiderm）、ＴＧ430（皮膚電気伝導度試験）に基づき試験されたデータがあれば、その試験ごとにバリデートとされた判定基準に従って分類。 - 経済産業省

The testing device include: input terminals CN1-CN12 which enable the input of one or more types of test data obtained as a result of a test covering a game machine; and a memory 321 on which inputtable data are stored which represents the types of the test data to be outputted from the game machine involved corresponding to machine type data for identifying the game machine.例文帳に追加

遊技機による試験の結果であり１以上の種類がある試験データを入力可能な入力端子ＣＮ１〜ＣＮ１２を有するとともに、遊技機を識別するための機種データに対応して、当該遊技機から出力される試験データの種類を表す入力可能データが記録されたメモリ３２１を備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device having a test function capable of testing process operations by use of a various-purpose logic tester when testing the semiconductor integrated circuit device in a semiconductor integrated circuit device for processing a data signal while inputting a data signal in response to a high-speed clock.例文帳に追加

本発明は、高速のクロックに対応したデータ信号が入力されるとともに該データ信号を処理する半導体集積回路装置において、該半導体集積回路装置をテストする際に汎用のロジックテスタを使用してその処理動作のテストを行うことが可能なテスト機能を有する半導体集積回路装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a support system for generating test data which can easily generate the test data without any error in generating a test scenario that is essentially required for testing message transmissions within a programing structure, and for testing signal transmissions between personal computers with which a software test is executed.例文帳に追加

本発明は試験データ作成支援システムに関し、ソフトウェア試験をパソコン上で実施する際の装置間の信号疎通確認試験及び、プログラム構造内のメッセージ疎通確認試験時に必須となるシナリオ作成において、容易にかつ誤りなく作成することが可能な試験データ作成支援システムを提供することを目的としている。 - 特許庁

This is an initial setting apparatus for a fire detector, and while the fire detector is connected by a connector 6, a data acquisition part 16 makes the fire detector 3 perform the monitoring operation and testing operation and receives the photodetection signal outputted from a detection sensor as a result to obtain data characteristic of the detector needed to decide a fire and perform the testing operation.例文帳に追加

火災検知器の初期設定装置であって、コネクタ６による火災検知器の接続状態で、データ取得部１６が火災検知器３に監視動作及び試験動作を行わせ、これに伴って検知センサから出力される受光検知信号を取込んで火災判定及び試験動作に必要な検知器固有のデータを取得する。 - 特許庁

In the automatic testing system 1, the automatic testing device 20 selects an appropriate measuring device from among a plurality of measuring devices 21a, 21b, 21c provided according to test items to a device 10 to be tested, measures the device 10 to be tested through the use of a selected measuring device, collects and processes measurement data on it, and creates test result data.例文帳に追加

この発明の自動試験システム１において、自動試験装置２０は、被試験機１０に対する試験項目に応じて、具備する複数の測定器２１ａ，２１ｂ，２１ｃから適切な測定器を選択し、選択した測定器を用いて被試験機１０を測定し、その測定データを収集処理して試験結果データを生成する。 - 特許庁

The semiconductor device has constitutively a high-voltage applying function for applying a high voltage from the outside in order to write data in its memory means, and a testing function used for testing the semiconductor device to be able to control the testing function and the high-voltage applying function by a common input terminal to both the functions.例文帳に追加

上記目的を達成するために、本発明による半導体装置は、記憶手段にデータの書き込みを行う為に外部から高い電圧を印加する高電圧印加機能と、当該半導体装置のテスティングを行うために使用するテスト機能を有し、該テスト機能と前記高電圧印加機能とを共通の入力端子より制御できるように構成することを特徴とする。 - 特許庁

The game machine 10 is provided with a data output part capable of outputting data to an external testing device for testing a privilege history, and the data output part can output stoppage operation information for stopping pattern strings (85, 86 and 87) by specific patterns corresponding to a prescribed specific state when an internal state becomes the specific state by an operation signal corresponding to that a start operation part 61 is operated.例文帳に追加

遊技機１０は、特典履歴を試験する外部の試験装置にデータを出力可能なデータ出力部を備え、そのデータ出力部は始動操作部６１が操作されたのに相当する操作信号によって内部状態が所定の特定状態となったときに、図柄列（８５、８６、８７）を当該特定状態に応じた特定図柄で停止するための停止操作情報を出力可能となっている。 - 特許庁

Furthermore, the design supporting device 10 is provided with: a testing part 38 which determines whether or not the reference data can execute the processing group in a batch based on a test item preliminarily set according to the design procedure; and an output part which outputs the test result of the testing means as a test result report 44.例文帳に追加

さらに、予め設計手順に応じて設定された検査項目に基づいて、基準データが処理群の一括実行が可能かを判断する検査部３８と、検査手段による検査結果を検査結果レポート４４として出力する出力部と、を有する。 - 特許庁

In addition, when the data value exceeds the testing threshold, as compared with the local protecting threshold that the local protection of the load device 60 acts, and the controller for testing 50 makes the feeding from the electric power unit 20, and the load device 30 to the local protection of the device for driving load device 60 interrupted.例文帳に追加

そして、試験用コントローラ５０は、負荷駆動装置６０のローカル保護が動作するローカル保護用しきい値よりも小さい試験用しきい値を上記のデータ値が超えたとき、電源装置２０および負荷装置３０から負荷駆動装置６０への給電を遮断させる。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for checking performance of a wireless data network in which the performance of the wireless data network can be grasped in real time without another performance checking apparatus by incorporating a file transport protocol (FTP) module and displaying a result of testing data transmission/reception through the incorporated FTP module.例文帳に追加

ＦＴＰ(File Transport Protocol)モジュールを内蔵し、該内蔵されたＦＴＰモジュールを通してのデータ送受信の試験結果をディスプレイすることにより、別途の性能点検装置なしでリアルタイムに無線データ網の性能を把握できる無線データ網の性能点検装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

When testing software, at first in a correct answer registration process, output data of a target program 18 are obtained on the basis of a test scenario held in a test scenario holding device 11, and output data matched with predetermined specifications are registered in a correct answer holding device 13 as correct answer data.例文帳に追加

ソフトウェアの試験を行うとき、初めに、正解登録工程において、試験シナリオ保持装置１１に保持される試験シナリオに基づいて、対象プログラム１８の出力データを取得し、予め定める仕様に合致する出力データを正解データとして正解保持装置１３に登録しておく。 - 特許庁

In the testing device, each of a plurality of modules mod_pin includes an expected value comparison part 20 for comparing diagnosis data RDATA_pin, showing a diagnosis result with corresponding expected value data EXP, and outputs comparison determination data CDATA_pin, showing a comparison result by the expected value comparison part 20.例文帳に追加

複数のモジュールｍｏｄ＿ｐｉｎはそれぞれ、その診断結果を示す診断データＲＤＡＴＡ＿ｐｉｎをそれと対応する期待値データＥＸＰと比較する期待値比較部２０を含み、期待値比較部２０による比較結果を示す比較判定データＣＤＡＴＡ＿ｐｉｎを出力する。 - 特許庁

The load testing device 9 arbitrarily sets each transient communication rate of a packet service and a set communication rate duration time to make a fluctuation evaluation of a data communication rate in transmitting and receiving user data to/from a UE 5 from the user data generating/inspecting part 9b through the node B device 4.例文帳に追加

負荷試験装置９はユーザデータ生成／検査部９ｂからノードＢ装置４を介してＵＥ５との間でユーザデータの送受信を行う際に、パケットサービスの各過度的な通信レート及び設定通信レート継続時間を任意設定し、データ通信レートの揺らぎ評価を実施する。 - 特許庁

To provide a governor testing device, by which connection of an equipment, the analysis of data and the data reduction of a test result can be conducted easily in a short time, labor and a time can be reduced while an error on the reading of a measured data can be lowered and levelling for input conversion is made unnecessary.例文帳に追加

機器の接続やデータの解析および試験結果の整理が短時間にかつ容易にでき、労力と時間を削減できると共に、測定データの読み取り誤差を低減でき、入力換算のためのレベル調整が不要な調速機試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system capable of testing even in the case that the number of data input/output pads (or pins) of semiconductor chip to be tested is larger than the number of data input/output pins of tester of the semiconductor test system, and test method.例文帳に追加

半導体テストシステムのテスターのデータ入出力ピンの数よりもテストすべき半導体チップのデータ入出力パッド（または、ピン）の数が多い場合にもテストが可能な半導体テストシステム及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device capable of recording desired log data indicating a device state and the like before/after triggering such as when abnormality occurs in a spot manner at a fine time interval, and a log data recording method for the same.例文帳に追加

異常発生時等所望のトリガ前後の装置状態等を示すログデータを、スポット的に精緻な時間間隔で記録することが可能な試験装置と試験装置のログデータ記録方法とを提供することを目的とする。 - 特許庁

The semiconductor testing device can vary the speed of the pattern to be applied to the DUT, and is provided with a selection means for selecting either pattern data output from a data memory or an output signal fed back just before.例文帳に追加

ＤＵＴに与えるパターンの速度を可変できる半導体試験装置であって、データメモリから出力されるパターンデータとフィードバックされた直前の出力信号のどちらか一方を選択する選択手段を設けた。 - 特許庁