「testing data」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor testing device capable of synchronizing timing of high-speed side pattern data and low-speed side pattern data when canceling hold with simple hardware control.例文帳に追加

簡略なハードウェア制御によってホールド解除時の高速側パターンデータと低速側パターンデータのタイミングを揃えることが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

Thereafter, design data regarding a newly designed semiconductor device is received along with data describing the tester and testing algorithms to be used to test the semiconductor device.例文帳に追加

その後、新しく設計した半導体デバイスに関する設計データを、半導体デバイスをテストするために使用するテスタおよびテスト用アルゴリズムを説明するデータとともに、受け取る。 - 特許庁

Sequential data which are received from the testing device 314 are constituted in a parallel shape, and an estimation-to-actual data value is displayed for every node, in order to indicate whether the test of a node has passed or not.例文帳に追加

テスト装置から受け取られた順次データは並列形式に構成され、ノードのテストが合格か否かを示すためノード毎に予測対実際データ値が表示される。 - 特許庁

A measured data analytical means 16 computes a constant of the surface texture acoustic anisotropy in a testing body M, based on echo data when both the probes carry out the respective transmissions and receptions.例文帳に追加

測定データ解析手段１６は、両探触子の各発信・受信時のエコーデータから試験体Ｍにおける表面組織音響異方性の定数を演算する。 - 特許庁

The apparatus for testing a data storage apparatus is provided with a storage part for storing original data, a data generation part for generating transfer data of a size larger than that of the original data by repeatedly using the original data in response to one command to the data storage apparatus, and a transfer part for transferring the generated transfer data to the data storage apparatus.例文帳に追加

オリジナル・データを格納する格納部と、データ記憶装置への一つのコマンドに対応して、前記オリジナル・データを繰り返し使用することによって、前記オリジナル・データのデータ・サイズよりも大きいデータ・サイズの転送データを生成するデータ生成部と、前記生成された転送データをデータ記憶装置に向けて転送する転送部と、を備えるデータ記憶装置の試験装置。 - 特許庁

To provide a data transmitter-receiver and its testing method for carrying out a test while miniaturizing a circuit scale.例文帳に追加

本発明は、回路規模を小型化しながらテストを実行することができるデータ送受信装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide an exchange debug system where management of pseudo call data required for testing an exchange and of a test procedure document is facilitated.例文帳に追加

交換機の試験で必要となる擬似呼データと試験手順書の管理が容易となる交換機デバッグシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a pipe testing device which can easily and accurately test the finishing of a steel pipe before lining by a simple data measuring.例文帳に追加

簡単なデータ測定により容易にかつ正確に原管の仕上り検査を可能にした原管検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic data logging kit which is used together with a hydraulic pressure maintainable test kit used for testing a liquid-cooled stator bar system.例文帳に追加

自動データロギングキットは、液体冷却固定子バーシステムを試験するための油圧保全性試験キットと共に使用される。 - 特許庁

(i) Has the institution specified the policy and procedures concerning the provision of product data for use in system testing? 例文帳に追加

（ⅰ）システムテスト等において、本番データを使用する場合の当該データの貸与に係る方針、手続きを明確に定めているか。 - 金融庁

APPARATUS FOR TESTING DEFECT OF SHEET-SHAPED PRODUCT HAVING OPTICAL FILM, APPARATUS FOR PROCESSING TEST DATA THEREOF, APPARATUS FOR CUTTING SAME, AND PRODUCTION SYSTEM THEREOF例文帳に追加

光学フィルムを有するシート状製品の欠点検査装置、その検査データ処理装置、その切断装置及びその製造システム - 特許庁

To provide a data processor capable of testing whether a secure circuit is normal or not while keeping the confidentiality of the secure circuit.例文帳に追加

セキュア回路の秘密性を保ちながら、当該セキュア回路が正常であるか否かをテストできるデータ処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit and test method for differential data driver, capable of precisely testing a differential signal, using a simple configuration.例文帳に追加

簡素な構成で精度良く差動信号のテストが可能な差動型データドライバのテスト回路及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a wave-forming program allowing easy understanding and judgement of inspection data acquired by a testing device for Pachinko game machine.例文帳に追加

パチンコ遊技機用試験装置で取得した検査データを容易に理解・判断することができる波形化プログラムを提供する。 - 特許庁

To process a network testing system at high speed with a rate near the maximum data transfer rate of a network path or a network device.例文帳に追加

ネットワーク検査システムにおいて、ネットワーク経路またはネットワーク装置の最大転送速度に近い速度で処理できるようにする。 - 特許庁

To prohibit over-write-in and over-erasure of data with a bit unit in testing a function of a memory device such as a flash memory or the like.例文帳に追加

フラッシュメモリ等のメモリデバイスの機能試験に際し、ビット単位でデータの過剰書込み及び過剰消去を禁止する。 - 特許庁

To provide a PTV (particle tracking velocimetry) testing apparatus for surely enabling execution of PTV processing in data post processing before performing stereoscopic photography.例文帳に追加

ステレオ撮影をする前に、データ後処理で確実にＰＴＶ処理を実行可能とするためのＰＴＶ試験装置を提供する。 - 特許庁

To reduce costs for a test by shortening time for testing a semiconductor memory having an error correction function and a data compression test function.例文帳に追加

誤り訂正機能およびデータ圧縮試験を有する半導体メモリの試験時間を短縮し、試験コストを削減する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE TESTING ON/OF STATE OF ODT CIRCUIT DURING DATA READ MODE AND TEST METHOD OF STATE OF ODT CIRCUIT例文帳に追加

データ読出モードでＯＤＴ回路のオン／オフ状態をテストできる半導体メモリ装置及びＯＤＴ回路の状態テスト方法 - 特許庁

The first tier involved making comparisons between RBCA predictions and MEPAS predictions. The second tier of testing involved comparing MEPAS predictions with field data.例文帳に追加

第一段階ではRBCAによる予測とMEPASによる予測が比較され，第2段階のテストでは，MEPASによる予測が現地データと比較された。 - 英語論文検索例文集

The testing location can also be moved to the predetermined chip, even if the location of the orientation flat 4a is deviated by making reference to these data.例文帳に追加

これらのデータを参照することにより、オリフラ４ａの位置ずれても所定のチップに検査位置を移動できるようにする。 - 特許庁

The forming workability evaluation system is composed of an extrusion testing machine 1 for testing kneadability and extrusion workability of a resin material and a fluidity analyzer 2 of a resin for analyzing the fluidity of the resin material in the scaled-up extruder using measurement data measured by the extrusion testing machine 1.例文帳に追加

樹脂材料の混練性、押出加工特性を試験する押出試験機１と、該押出試験機１で測定した測定データを使用してスケールアップした押出機における前記樹脂材料の流動解析を行う樹脂流動解析装置２とから構成してある。 - 特許庁

To provide a method for confirming the operation of a crusher, a method for managing the accuracy of a pretreatment device for testing genes, and a sample analysis system, improving the reliability of the data of gene testing, by improving the reliability of crushing process as a pretreatment of gene testing.例文帳に追加

遺伝子検査の前処理である破砕処理の信頼性を向上させることにより遺伝子検査のデータの信頼性を高めることができる破砕装置の動作確認方法、遺伝子検査用前処理装置の精度管理方法及び試料分析システムを提供する。 - 特許庁

To provide a penetration testing device securing high reliability of measurement data as the penetration testing device applied to a Swedish sounding test, the penetration testing device being capable of penetrating a penetration test rod into the ground in a mechanically clamped state and automatically conducting loading, load separation, and rotary excavation by mechanical means.例文帳に追加

スウェーデン式サウンディング試験に適用する貫入試験装置として、貫入試験用ロッドを機械的にクランプした状態で地盤中に貫入でき、荷重の負荷及び切り離し、回転掘進を機械的手段で自動的に行って測定データの高い信頼性を確保する。 - 特許庁

The device for testing the semiconductor integrated circuit includes a pattern data generating means which generates test pattern data for testing a write operation in a memory of the semiconductor integrated circuit; and a write means which writes the test pattern data into a storage area of the semiconductor integrated circuit for storing the test pattern data.例文帳に追加

上記課題は、半導体集積回路のメモリへの書き込みを試験するための試験パタンデータを生成するパタンデータ生成手段と、前記試験パタンデータを前記半導体集積回路の該試験パタンデータを格納する記憶領域へ書き込む書き込み手段と、を有することを特徴とする半導体集積回路の試験装置により達成される。 - 特許庁

This parallel bit test method of the semiconductor memory device comprises a step of writing data in each of many memory cells in the semiconductor memory device, a step of reading the data from each of many memory cells, a step of testing the data from each of many memory cells for a first test mode, and a step of testing the data from each of many memory cells for a second test mode.例文帳に追加

半導体メモリ装置の並列ビットテスト方法は、半導体メモリ装置の多数のメモリセルのそれぞれにデータを書き込む段階と、多数のメモリセルのそれぞれからデータを読み出す段階と、第１のテストモードに多数のメモリセルのそれぞれからのデータをテストする段階と、第２のテストモードに多数のメモリセルのそれぞれからのデータをテストする段階と、を含む。 - 特許庁

In the semiconductor testing device for storing pieces of pattern data of predetermined channel numbers and bits for controlling jumps of patterns at different addresses of a pattern memory, and testing DUTs, the testing device includes a mask control unit which masks the bits for controlling jumps read out from the pattern memory, when only the pieces of pattern data of predetermined channel numbers are used and no pattern jumps are performed.例文帳に追加

所定チャンネル数のパターンデータとパターンのジャンプを制御するビットをパターンメモリの異なるアドレスに記憶させてＤＵＴの試験をする半導体試験装置において、所定チャンネル数のパターンデータのみを使用してパターンのジャンプを行わない場合に、パターンメモリから読み出されたジャンプを制御するビットをマスクするマスク制御部を設ける。 - 特許庁

To provide an abrasion testing method of a printing surface, which provides measuring data of high objectiveness, reproducibility and reliability with respect to the friction resistance of the printing surface, and also to provide glossy paper manufactured by putting the measuring data, which is obtained by the abrasion testing method, into practical use.例文帳に追加

印刷面の耐擦性について、客観性、再現性及び信頼性の高い測定データを提供し得る印刷面の摩耗試験方法、及び該摩耗試験方法により得られた測定データを活用して製造された光沢紙を提供すること。 - 特許庁

The circuit 124 sets up the data pattern of diagnosis testing data in each of an address output register 115, a data output register 117 and a bus control output register 119 and instructs the output of the data pattern to respective buses 101 to 103.例文帳に追加

バスインターフェース制御回路１２４は診断試験用データのデータパターンをアドレス出力レジスタ１１５と、データ出力レジスタ１１７と、バス制御出力レジスタ１１９とのそれぞれにセットし、各バス１０１，１０２，１０３への出力を指示する。 - 特許庁

When the machine type data of the given game machine is input, the processing part 322 of the game machine testing device 2 reads out the data possibly inputted corresponding to the machine type data from the memory 321 to present the types of the test data outputted from the game machine involved.例文帳に追加

遊技機試験装置２の処理部３２２は、所定の遊技機の機種データが入力されると、当該機種データに対応する入力可能データをメモリ部３２１から読み出して、当該遊技機から出力される試験データの種類を提示する。 - 特許庁

To provide a transmission/reception circuit with a data delaying function realizing the reduction of testing cost and testing time by dispensing with a dedicated measuring instrument in a test to a skew belonging to a received signal or a differential signal.例文帳に追加

受信信号または差動信号が有するスキューに対するテストにおいて、専用の測定器が不要となり、テストコストの低減化、テスト時間の短縮化を図るようにしたデータ遅延機能付き送受信回路の提供。 - 特許庁

Further, the input/output terminals ID 8 and 9 of the testing equipment 2 are connected to a multifunction terminal DQ 8/BUSY of the flash memory 1 and the input/output terminal ID 9 is set for exclusive use for input of data to the testing equipment 2.例文帳に追加

更に、試験装置２の入出力端子ＩＯ８，９を、フラッシュメモリ１の多機能端子ＤＱ８／ＢＵＳＹに接続し、この入出力端子ＩＯ９を試験装置２へのデータ入力専用に設定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit testing apparatus and a method, capable of acquiring digital waveform data wherein the position on the time base is accurate, when testing a test object device for outputting analog signal.例文帳に追加

アナログ信号を出力する被試験対象デバイスを試験する場合において、時間軸上の位置が正確なデジタル波形データを得ることのできる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

In performing the Huffman decoding method, the performing time can be reduced, by testing for the length of valid Huffman codes in a compressed data stream and using an offset corresponding to testing criteria.例文帳に追加

ハフマン復号化法は、圧縮したデータ・ストリーム中の有効なハフマン符号の長さに対して試験を行なうと共に、試験基準に対応するオフセットを使うことにより、実行時間を短縮することができる。 - 特許庁

To provide a voice output method in a testing device for enabling an operator to relatively easily change the data and the presence or absence of generated voice, the testing device, and a record medium storing a test control program.例文帳に追加

操作者が音声発声の内容や有無を比較的簡単に変更することができる試験装置における音声出力方法、試験装置および試験制御プログラムが記録された記録媒体を提供する。 - 特許庁

In addition to a correct answer data pattern collected in collecting correct answer data, a test target data turning out to be test NG because of slight difference in timing in testing but supposed to be test OK under normal circumstances is registered into a correct answer data pattern storage part 52 as a correct answer data pattern or an additional correct answer data pattern.例文帳に追加

正解データパターン記憶部52には、正解データ収集時に収集した正解データパターン以外にも、検証時に、微妙なタイミングのずれにより検証ＮＧとはなったが、本来なら検証ＯＫとなるべき検証対象データが正解データパターン（追加正解データパターン）として登録されている。 - 特許庁

The defect testing method comprises the following steps for preparing a design data set for forming the photomask, searching the sub-ground rule features out of the design data set, removing the sub-ground rule features out of the design data set to form a check data set, and checking the photomask formed according to the design data set by using the check data set.例文帳に追加

本発明の方法は、フォトマスク作製用のデザインデータセットを作製し、デザインデータセット中のサブ・グラウンドルールフィーチャを検索し、デザインデータセットからサブ・グラウンドルールフィーチャを除去して検査データセットを作成し、デザインデータセットに従って作製されたフォトマスクを検査データセットを使用して検査するステップを有する。 - 特許庁

An intermediary computer 10 acquires personal data and test data from a user's terminal 20 and from a testing institution's terminal 40, and selects, based on the thus collected data, a medical institution suitable for the user.例文帳に追加

仲介者のコンピュータ装置１０は、利用者および検査機関の端末装置２０，４０から個人情報および検査情報を取得し、これらの情報に基づいて利用者に適した診療機関を選定する。 - 特許庁

To provide a data transfer circuit capable of testing a transfer error on a transfer line to a data detection circuit and capable of detecting a failure in the transfer line and the data detection circuit, a solid-state image sensor, and a camera system.例文帳に追加

データ検出回路への転送線上の転送ミスをテストすることができ、転送線およびデータ検出回路の不良を検知することが可能なデータ転送回路、固体撮像素子、およびカメラシステムを提供する。 - 特許庁

This invention relates to the communication testing device (1000) including a plurality of data communication module (40 and 50), wherein the data communication module perform data communication with a device to be tested in combination of the plurality of protocols.例文帳に追加

複数のデータ通信手段（４０，５０）を備える通信試験装置（１０００）であって、前記データ通信手段が複数の業務プロトコルの組み合わせで被試験装置とデータ通信を行うことを特徴とする。 - 特許庁

Then, a test target data matching the additional correct answer data pattern differing from the correct answer data pattern because of slight difference in timing at the time of testing but supposed to be test OK under normal circumstances is to be test OK.例文帳に追加

従って、検証時に、タイミングの微妙なずれにより、正解データパターンと異なるものになってしまったが、本来検証ＯＫとなるべき追加正解データパターンと一致する検証対象データは検証ＯＫとなる。 - 特許庁

To provide a measuring control apparatus for a material testing machine having an operation part good in operability and capable of achieving the filling-up of visual data.例文帳に追加

操作性がよく視覚情報の充実が図られる操作部を備えた材料試験機用計測制御装置を提供する。 - 特許庁

The present invention provides an improved IC tester for testing a tested object, on the basis of the pattern data stored in a pattern memory.例文帳に追加

本発明は、パターンメモリに格納されたパターンデータに基づいて、被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a testing device of an A/D converter which measures nonlinear errors with high precise and substantially eliminates data processing time.例文帳に追加

高精度な非直線性誤差の測定を行い、且つデータ処理時間を大幅に削減するＡ／Ｄ変換器試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for testing a device by which a test can be speeded up by shortening time for writing data.例文帳に追加

データの書込み時間を短縮することで試験の高速化を可能とするデバイス試験装置およびデバイス試験方法を提供する。 - 特許庁