「testing data」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

The web page output is selectively enabled by the web server to a thin client when an output of the testing indicates that the identified address is associated with safe site data.例文帳に追加

照合テストによって、識別されたアドレスが安全サイト・データに関連付けられていると判断されたときに、シン・クライアントに対するウェブ・サーバによるウェブ・ページの出力が選択的に有効化される。 - 特許庁

The control device is configured to receive the value, to convert the value into a real value by using a function having a plurality of predetermined coefficients and to dispatch the value through the data interface to the testing device.例文帳に追加

制御装置は前記値を受信し、複数の所定の係数を有する関数を用いてその値を実際の値に変換し、その値をデータインタフェースを介して試験装置へ渡すように構成される。 - 特許庁

To provide an operational testing system capable of performing an operational test of a renewal computation device without stopping operation of a currently-used computation device and a data transfer method used therein.例文帳に追加

現用演算装置の動作を停止させることなく、更新用演算装置の運用試験を実行することが可能な運用試験用システムおよびこれに利用するデータ転送方法を提供する。 - 特許庁

The comparison score calculating means 11, an LLR measuring section 14 and a threshold identifying section 16 perform hypothesis testing for each object, and output an identification result to which object each time-series data belongs to.例文帳に追加

比較スコア算出手段11、LLR測定部14および閾値識別部16は、各オブジェクトについての仮説検定を行い、各時系列データがどのオブジェクトのいずれに属するかの識別結果を出力する。 - 特許庁

To efficiently compare analysis results of incidents in a wide area network and characteristics of respective malwares to obtain correlations between them, by creating a method for precisely testing similarity between sequence data.例文帳に追加

系列データ間の類似性を高精度に検査する手法を創出し、それによって広域ネットワークにおけるインシデントの解析結果と、各マルウェアの特性とを効率よく比較し、両者の相関を得ること。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 100 sets a storage position to which data is allocated with a control section 101, stores a signal from a DUT 200 in data storage sections 108a, 108b and 108c, and sets the constraints on readout of registers 109a, 109b and 109c according to this signal.例文帳に追加

半導体試験装置１００は、制御部１０１によりデータが割り当てられる格納位置を設定し、ＤＵＴ２００からの信号をデータ格納部１０８ａ，１０８ｂ，１０８ｃに格納し、これに応じて、レジスタ１０９ａ，１０９ｂ，１０９ｃの読み出しの制限を設定する。 - 特許庁

A bending deflection shape measuring device incorporated into the three-point bending testing device includes a movable noncontact displacement gage 4, its sending device 5, a sending amount control device 6, a sending amount measuring device 7, a data recording device 8 and a data analyzer 9.例文帳に追加

３点曲げ試験装置に組み込まれた曲げたわみ形状測定装置であり、移動可能な非接触変位計４と、その送り装置５と、送り量制御装置６と、送り量測定装置７と、データ収録装置８と、データ解析装置９からなる。 - 特許庁

The semiconductor memory device having a function of masking a high-order or a low-order bit of all the bits of write data during a normal operation includes a mask control circuit for masking all the bits of the write data during a testing operation.例文帳に追加

書き込みデータの全ビットのうち上位ビット或いは下位ビットのいずれかを通常動作時にマスク可能な機能を有する半導体記憶装置は、テスト動作中は書き込みデータの全ビットをマスク可能にするマスク制御回路を含むことを特徴とする。 - 特許庁

When test output data 6 and hash values 7 are returned from the server 3 for testing, the test output data 6 are compared with the contents of test output specifications, which are described in test specifications 1d, by a test result determination means 1c to determine whether the test is acceptable.例文帳に追加

テスト用サーバ３からテスト出力データ６とハッシュ値７とが返されると、テスト結果判定手段１ｃにより、テスト出力データ６と、テスト仕様書１ｄに記述されているテスト仕様出力内容とが比較され、テストの合否が判定される。 - 特許庁

To enable accurate test data to be generated at the time of testing semiconductors, mutual conversion between simulation data and test data to be easily performed and the accuracy verification of simulation data and of a tester for semiconductors and the verification of indeterminate events and I/O dead band to be carried out.例文帳に追加

半導体装置のテスト時に正確なテストデータの生成及びシュミレーションデータとテストデータとの相互間の変換が容易に可能であり、シュミレーションデータ精度と半導体装置用テスタ精度との検証，不確定イベント及びＩ／Ｏデットバンドの検証を行なうことが可能となる半導体試験用データ処理装置及び方法並びに半導体試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To reduce time required for reading data from devices to be controlled, and to return correct data when a read request to the devices to be controlled occurs from a control section during write in a semiconductor-testing device including the control sections having a fast data transfer speed and the devices to be controlled having a slow data transfer speed while having a register or a memory in the inside.例文帳に追加

データ転送速度の速い制御部と内部にレジスタもしくはメモリを有しデータ転送速度の遅い被制御デバイスとを備えた半導体試験装置において、被制御デバイスからのデータの読み出しに要する時間を短縮できるとともに、書込み中に制御部から被制御デバイスに対するリード要求が発生した場合にも正しいデータを返送することができるようにする。 - 特許庁

In a recording medium for an error correction capability test for testing the reading device of a recording medium recorded with an error correction code word, error correction encoded data are generated by applying error correction encoding to original data on the basis of a standard, and then, the error correction encoded data are recorded with an error added to the error correction encoded data.例文帳に追加

誤り訂正符号語が記録された記録媒体の読取装置を試験するための誤り訂正能力試験用記録媒体であって、規格に基づいて元データが誤り訂正符号化されて誤り訂正符号化データが生成された後に、該誤り訂正符号化データに誤りが加えられた状態で記録された、ことを特徴とする誤り訂正能力試験用記録媒体である。 - 特許庁

A test device 10 for testing an information processor using test data generated at random and test commands includes a program generating means which generates a test procedure made by mixing at random the test commands selected at random from the plurality of test commands and command patterns constituted by combining the plurality of test commands and creates a test program for testing the test procedure and the test data.例文帳に追加

ランダムに生成した試験データ及び試験命令を用いて情報処理装置の試験を行う試験装置１０であって、複数の試験命令からランダムに選択した試験命令と、試験命令を複数組み合わせて構成した命令列パタンとをランダムに混在させた試験手順を生成し、試験手順と試験データとから試験を行うための試験プログラムを生成するプログラム生成手段を備える。 - 特許庁

In one embodiment of this invention, the nonvolatile semiconductor storage device includes a plurality of memory blocks connecting a plurality of memory cells thereto, and is equipped with the memory cell array for storing the test data in a predetermined memory block and an operation testing section for executing the operation test of the memory cell array by using the test data.例文帳に追加

本発明の一実施の形態に係る不揮発性半導体記憶装置は、複数のメモリセルを接続したメモリブロックを複数含み、所定のメモリブロック内にテストデータを記憶するメモリセルアレイと、前記テストデータを用いて前記メモリセルアレイの動作テストを実行する動作テスト部と、を備える。 - 特許庁

A testing data frame is transmitted to a target device to be tested, and frame state information of the transmitted data frame received via the target device is extracted, and the frame state information based on selected item information, out of the extracted frame state information, is selected as distribution information.例文帳に追加

試験用のデータフレームを被試験デバイスに対して送信し、送信したデータフレームを被試験デバイスを介して受信したデータフレームのフレーム状態情報を抽出し、この抽出したフレーム状態情報のうち選択項目情報に基づくフレーム状態情報を分布情報として選択する。 - 特許庁

This testing apparatus includes an AD converter 11 for converting analog data input from DUT1 into digital data and a controller 15 for controlling to operate the plurality of circuits except the AD converter 11 during a non-conversion period at which no conversion is performed, of operating periods of the AD converter 11.例文帳に追加

ＤＵＴ１から入力したアナログデータをデジタルデータに変換するＡＤ変換部１１を備え、ＡＤ変換部１１の動作周期のうち変換動作を行わない非変換期間の間にＡＤ変換部１１以外の複数の回路の動作させるように制御するコントローラ１５を備えている。 - 特許庁

To provide a material testing machine by which the material characteristic of a specimen can be found with good reliability by a method wherein an operating program and a parameter with reference to a measurement controller and an analyzer as well as their measured data can be controlled in a centralized manner and the analytical processing operation of the measured data can be executed accurately.例文帳に追加

計測制御装置および解析装置に対する動作プログラムやパラメータ、更にはその計測データを一元管理することができ、計測データの解析処理を的確に実行して試験体の材料特性を信頼性良く求め得る材料試験機を提供する。 - 特許庁

A base station test apparatus 3 receives the voice signal for testing the downlink voice channel arrived via a telephone switch network 1 and a radio base station 4, converts the voice signal into PCM data, and transmits the PCM data to a maintenance console apparatus 5 via a PCM communication channel 6.例文帳に追加

基地局試験装置３は電話交換網１と無線基地局４とを経由して到来する下り音声回線試験用の音声信号を受信し、この音声信号をＰＣＭデータに変換し、このＰＣＭデータをＰＣＭ通信回線６経由で、保守卓装置５に送信する。 - 特許庁

A semiconductor test device 100 determines pass/fail by applying a test signal from a data generator 12 to a DUT 40 and comparing the output signal and an expected value at a comparator 51, and improves testing efficiency by performing burst transfer of the fail data obtained at this time to a collection memory 18.例文帳に追加

半導体試験装置１００は、データジェネレータ１２からＤＵＴ４０に対して試験信号を印加し、その出力信号と期待値とをコンパレータ５１で比較してパス／フェイルを判定するが、このとき得られるフェイルデータを収集メモリ１８にバースト転送して試験効率を向上する。 - 特許庁

This equipment stores a series of pieces of transmission data required for testing whether the apparatus adaptable to a network meets a field bus protocol, reception data corresponding to it, a message code quickening a desired message, and a weight code for inputting a waiting time at a desired place as a communication script 18.例文帳に追加

ネットワーク対応機器がフィールドバスプロトコルを満たしているかどうかを検査するに必要な一連の送信データと、それに対応する受信データ、所望のメッセージを促すメッセージコード、所望の場所で待ち時間を入れるウェイトコードを通信スクリプト１８としてファイルメモリ１６に格納しておく。 - 特許庁

To provide a test information management system reducing the burden of a visual check in a client side of a test by automatically performing a data input in a testing institution, a disclosure to the client side of the test, a logical check and data fixing.例文帳に追加

本発明の目的は、試験機関でのデータ入力から試験依頼者側への開示、ロジカルチェック、データ固定までを自動で行うことにより、試験依頼者側での目視等によるチェックの負担を減少させることができる試験情報管理システムを提供することにある。 - 特許庁

In the system for voluntary test for communication facility, a server 10 for voluntary testing the communication facility, generates a plan for the voluntary test by referring a selection table for testing items stored in a voluntary test database 20, a data for test team members stored in a tester name list database 30, and items, purposes, and method of the voluntary test and a desision criterion stored in a decision criterion database 40.例文帳に追加

設備自主検査サーバ１０は、自主検査データベース２０に格納された検査項目選定表，検査実施者名簿データベース３０に格納された検査体制の構成員のデータおよび判定基準データベース４０に格納された自主検査の項目とその目的，方法および判定基準を参照して自主検査計画書を作成する。 - 特許庁

The testing apparatus extracts the code number from the generated test data, performs the test item, acquires a time when the test item ends, calculates a test time required to perform the test from the time and the time when the data are received, and reads the data transmitted to the delay buffer A after the elapse of the calculated test time.例文帳に追加

そして、この試験装置は、生成された試験データからコード番号を抽出して試験項目を実施し、当該試験項目が終了した時刻を取得して、この時刻とデータを受信した時刻とから試験を実施するのに要する試験時間を算出し、算出された試験時間経過後に、Ｄｅｌａｙ ｂｕｆｆｅｒＡに送信されたデータを読み出す。 - 特許庁

This semiconductor device and the testing method therefor has a rank data 11 for indicating a test result of a ranking test executed based on a plurality of reference values in a wafer condition, a fuse part 15 storing the rank data 11, and a control circuit 16 for reading out the rank data 11 from the fuse part 15, for use in a product test carried out after packaged.例文帳に追加

本発明の半導体装置およびそのテスト方法は、ウェハ状態において複数の基準値に基づいて行われるランク分けテストのテスト結果を示すランクデータ１１と、ランクデータ１１が格納されたヒューズ部１５と、パッケージング後に行われる製品テストで利用するために、ランクデータ１１をヒューズ部１５から読み出す制御回路１６を有する。 - 特許庁

In this semiconductor testing apparatus constituted so as to perform operation processing of measurement data of a DUT by the DSP, a measuring file storage means for collecting and storing the measurement data of the DUT is provided in the DSP, and debugging of the DSP is carried out, based on the measurement data stored in the measuring file storage means.例文帳に追加

ＤＳＰでＤＵＴの測定データの演算処理を行うように構成された半導体試験装置において、前記ＤＳＰに前記ＤＵＴの測定データを収集格納する測定ファイル格納手段を設け、この測定ファイル格納手段に格納された測定データに基づき前記ＤＳＰのデバッグを行うことを特徴とするもの。 - 特許庁

To reduce costs for testing by carrying out a performance test at a high speed when data are serially transmitted to/from the outside, and are transmitted in parallel for reading/writing them from/in memory cells.例文帳に追加

本発明は、外部とのデータの受け渡しを直列データで行い、メモリセルへのデータの読み書きを並列データで行う半導体集積回路に関し、動作試験を高速に行い、試験コストを低減することを目的とする。 - 特許庁

A genetic testing system ensures complete traceability of animals and food products involving a method of uniquely identifying animals for data collection, records management and retrieval purpose involving a novel method of genetic analysis using individual DNA fingerprinting of parentage of individual animal to effectively provide for full traceability of animals from birth to consumption.例文帳に追加

これには個々の動物の親子関係のＤＮＡフィンガープリントを用いて動物の出生から消費までの完全な追跡可能性を提供する新規な遺伝子分析法が含まれる。 - 特許庁

To provide a mobile communication testing device and method which can confirm normal operations of a packet data call process function, containing a wireless section of a base station wireless installation in a mobile communication system, and can estimate fault position.例文帳に追加

移動通信システムにおける基地局無線装置の、無線区間を含めたパケットデータ呼処理機能の正常動作確認ができ、更に障害位置の推測を可能にする移動通信試験装置及び方法の提案。 - 特許庁

Operation information that records operation data generated by an operation unit 3a of a target device 3 and a temporary stopping instruction waiting for completion of operation of a machine unit 3b is stored in a storage means 1a of a testing device 1.例文帳に追加

試験装置１の記憶手段１ａには、予め、対象装置３の操作部３ａが生成する操作データと、機械部３ｂの動作終了を待つ一時停止指令と、を記録した操作情報が記憶される。 - 特許庁

For the gradation levels included between the reference supply terminals, all the gradation levels included in the interval are tested by testing while switching input data and a decision level of a comparator in sequence for every one gradation level.例文帳に追加

その基準電源端子間に含まれる階調レベルについて、一階調レベル毎、入力データとコンパレータの判定レベルの設定を順次切り替えながらテストし、その区間に含まれる階調レベルを全てテストする。 - 特許庁

To easily and surely create, collect and store patient data as statistical information for every research or clinical testing purposes while securing confidentiality, in a medical information providing/obtaining system through a two-way communication network.例文帳に追加

双方向通信ネットワークによる医療情報提供・取得システムにおいて、研究や治験の目的ごとに患者データを秘匿性を確保しながら統計情報として容易かつ確実に作成して収集・保管する。 - 特許庁

The work station (WS) 4 executes defect examination and defect analysis by segments, with respect to failure information on semiconductor memories measured by a memory tester 1, segment-classified prior to testing, and stored in the data storage part 3.例文帳に追加

ワークステーション（ＷＳ）４は、テスト前にセグメント分類され、データ格納部３に格納されているメモリテスタ１で測定した半導体メモリのフェイル情報をセグメントごとに不良調査及び不良解析を実行する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of performing a test in a state that a maximum delay occurs in data transfer because a maximum load is applied to a bus, and to provide a maximum delay testing method of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

バスに最大負荷がかかり、データ転送に最大の遅延が生じた状態でのテストを可能にする半導体集積回路及び半導体集積回路の最大遅延試験定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a device and a method for inserting an additional delay time to the timing data of a specific event in an event type semiconductor test system for testing an electronic device to be tested by generating events of various timing.例文帳に追加

各種のタイミングのイベントを発生して被試験電子デバイスをテストするためのイベント型半導体テストシステムにおいて、特定のイベントのタイミングデータに追加の遅延時間を挿入する装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a disk evaluation device which can easily acquire a highly accurate data for searching the cause when disk quality does not satisfy a reference value in testing and evaluation of the disk such as a DVD.例文帳に追加

ＤＶＤ等のディスクの試験、評価において、ディスクの品質が基準値を満たさない場合に、その原因を究明するための精度の高いデータを容易に取得することができるディスク評価装置を提供する。 - 特許庁

Characteristic data of a magnetic head measured by a characteristic testing device 202 or 302 installed in a slider processing plant 201 or an HGA assembling plant 301 is stored in the manufacturing result database via the network.例文帳に追加

スライダ加工工場２０１やＨＧＡ組立工場３０１に設置された特性試験装置２０２や３０２で測定された磁気ヘッドの特性データをネットワークを介して製造実績データベースに格納する。 - 特許庁

To provide a device capable of acquiring stable test data in a drop impact testing machine constituted so as to perform the drop impact test of a test sample by attaching the test sample 10 to a jig 1 to drop the jig 1.例文帳に追加

試験サンプル１０を治具１に取り付け、この治具１を落下させて試験サンプルの衝撃試験を行なうようにした落下衝撃試験装置において、安定した試験データの得られる装置を提供する。 - 特許庁

The testing circuit also comprises a flip-flop 6 inputting at its data input terminal the output signal from the gate 5 and inputting at its clock signal input terminal the signal frequency divided by 1/n by the divider 2.例文帳に追加

更に、ＡＮＤ回路５からの出力信号がデータ入力端子に入力され分周器２により１／ｎ分周された信号がクロック入力端子に入力されるフリップフロップ６が設けられている。 - 特許庁

The controller for testing 50 delivers operation commands to a device for driving load 60 acting as a tested device during an operating test, and receives predetermined data, indicating the status of the device for driving load 60 from the loads 60, as well.例文帳に追加

試験用コントローラ５０は、動作試験時、被試験装置である負荷駆動装置６０へ動作指令を出力するとともに、負荷駆動装置６０の状態を示す所定のデータを負荷駆動装置６０から受ける。 - 特許庁

Next, testing fabrication is done (S205), a curing shape is measured (S206), slice data are prepared (S207), actual fabrication is done (S208), the shape of fabricated article is evaluated (S209), and a process is completed (S210).例文帳に追加

次いで、テスト造形行い（Ｓ２０５）、硬化形状の測定を行い（Ｓ２０６）、スライスデータの作成を行い（Ｓ２０７）、実際の造形を行い（Ｓ２０８）、造形物の形状評価を行い（Ｓ２０９）、完成する（Ｓ２１０）。 - 特許庁

METHOD OF PROVIDING PRODUCER, CONSUMER AND THE LIKE WITH DATA FROM DEVICE OR THE LIKE FOR MEASURING AND TESTING ARTICLE VIA COMMUNICATION LINE例文帳に追加

商品を計測・試験する装置等からのデータを通信回線を通じて生産者等に提供する方法と商品を計測・試験する装置等からのデータを通信回線を通じて消費者等に提供する方法 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit having a test response analysis circuit, capable of controlling increase in area and increase in the data required for the test, and to provide a method for testing delay fault which uses the circuit.例文帳に追加

本発明は、面積の増大を抑え、テストに必要なデータの増大も抑えることが可能なテスト応答解析回路を有する半導体集積回路及びそれを用いた遅延故障テスト方法を提供する。 - 特許庁

To measure an error rate by performing a loopback test by LSI itself when testing high-speed serial transmission LSI that cannot be coped with a data speed in terms of throughput, and to determine the quality of the LSI.例文帳に追加

データ速度の処理能力上、対応不可能な高速シリアル伝送ＬＳＩのテストにおいてＬＳＩ自身によるループバック試験を行うことによりエラーレートを測定し、ＬＳＩの良否を判定することを実現する。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit is provided with a data collecting section for fetching a flip-flop setting value at a time of turning on a power source from a plurality of flip-flops connected to a scan chain set as a pass for testing an integrated circuit, such as, LSI.例文帳に追加

ＬＳＩなどの集積回路のテスト用パスとして設定されたスキャンチェーンに接続された複数のフリップフロップから、電源投入時のフリップフロップ設定値を入力するデータ収集部を設けた。 - 特許庁

The display panel is provided with a panel test terminal for testing the display panel and a driver output terminal electrically connected to a pad for the data driver of the integrated circuit device and to the panel test terminal as well.例文帳に追加

表示パネルには、表示パネルをテストするためのパネルテスト端子と、集積回路装置のデータドライバ用パッドに電気的に接続されると共にパネルテスト端子に電気的に接続されるドライバ出力端子が設けられる。 - 特許庁