「testing data」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

A testing device 900 tests the communication controlling device 10 functioning as the monitor device monitoring communication data output from the sensor.例文帳に追加

試験装置９００は、センサから送信される通信データを監視する監視装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which improves an operating ratio by shortening the time required for reloading pattern data after memory diagnosis.例文帳に追加

メモリ診断後のパターンデータの再ロードにかかる時間を短縮し、稼働率を上げることが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of self-testing the skew margin of the clock signal and data signal in the LVDS (low voltage differential signaling) etc.例文帳に追加

ＬＶＤＳ等におけるクロック信号とデータ信号のスキューマージンをセルフテストすることが可能な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

A testing apparatus 900 tests a communication control unit 10 for performing prescribed processing concerning input communication data for output.例文帳に追加

試験装置９００は、入力された通信データに対して所定の処理を実行して出力する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

The first tier involved making comparisons between RBCA predictions and MEPAS predictions. The second tier of testing involved comparing MEPAS predictions with field data.例文帳に追加

最初の段階では，RBCAによる予測値をMEPASによる予測値と比較した。試験の第2段階では，MEPASによる予測値を現地データと比較した。 - 英語論文検索例文集

A pattern control part 4 acquires command data from a main control part 1 to control an image displayed on a display, and outputs the acquired command data to the testing terminal 5.例文帳に追加

図柄制御部４は、主制御部１からのコマンドデータを取得して表示器に表示される画像の制御を行うとともに、その取得したコマンドデータを試験端子５に出力する。 - 特許庁

To provide a novel technique capable of testing the slipperiness of a container under a test condition close to holding by fingers and utilizing the data of the test as highly reliable data.例文帳に追加

人指による把持に近い試験条件で容器の滑り性を試験することができ、かつ、その試験のデータを信頼性の高いデータとして利用すること可能な新規な技術を提案する。 - 特許庁

A reflectivity correcting means 14 outputs the correction data D18 to the test light intensity setting means 12 on the basis of reflectivity sampling data D17 acquired from a testing device 3A.例文帳に追加

反射率補正手段１４は検査装置３Ａから得られる反射率サンプリングデータＤ１７に基づき補正データＤ１８を検査光強度設定手段１２に出力する。 - 特許庁

The testing method can reduce man-hours for generating the test specifications and test data to reduce human errors in generating the test specifications and test data.例文帳に追加

このようなテスト方法は、そのテスト仕様書とテストデータとを生成する工数をより低減することができ、そのテスト仕様書とテストデータとの生成時の人手によるミスを低減することができる。 - 特許庁

A data base containing data indicating the passing time of each wafer through each of a plurality of devices is prepared and whether or not each wafer has a certain kind of damage mark is discriminated by testing the wafers.例文帳に追加

データベースを作り、そのデータは各ウエーハが各複数台の装置を通過する時間を表して、複数個のウエーハをテストして、ウエーハがある種の損傷マークを有するかどうか判断する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device provided with a bus interface device applicable easily to transfer data continuously to a plurality of optional resistors out of a resistor group for conducting data transfer.例文帳に追加

データ転送を行うレジスタ群の中で任意の複数レジスタに対する連続的なデータ転送が容易に適用可能なバスインターフェース装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

As for the flip-flop to be input with the output of the selecting circuit, a polarity of the output is normal rotation polarity to the normal data and is reversal rotation polarity to the scan testing data.例文帳に追加

その選択回路の出力が入力されるフリップフロップは、出力の極性が、通常データに対しては正転極性であり、スキャンテスト用データに対しては反転極性である。 - 特許庁

To shorten the time required in testing the determination of a semiconductor device testing apparatus, capable of performing capacity evaluation test for detecting specific relation of phase difference, between a clock and data in a semiconductor device which outputs clock synchronized with data.例文帳に追加

データに同期してクロックを出力する半導体デバイスにおいて、クロックとデータの位相差が特定の関係にあることを検出する性能評価試験を実行することができる半導体デバイス試験装置において、この判定を行う試験に要する時間を短縮する。 - 特許庁

Automatic testing devices 11-1m operated by a test service provider are provided on a data communication network 2, and a test file for the call processing test of user side systems 31-3n is transmitted from the systems 31-3n through the data communication network 2 to the automatic testing devices 11-1m.例文帳に追加

データ通信ネットワーク２上に試験サービス提供事業者が運用する自動試験装置１１〜１ｍを設け、ユーザ側システム３１〜３ｎの呼処理試験のための試験用ファイルを当該システム３１〜３ｎからデータ通信ネットワーク２を介して自動試験装置１１〜１ｍに伝送する。 - 特許庁

The device for inspecting solder material is equipped with a storage unit 14 where teacher data that a print processing time required for performing print processing by the use of a testing solder material is correlated with deterioration data on the testing solder material in the print processing time are previously stored, and a control unit 13.例文帳に追加

半田材検査装置は、試験用半田材を用いて印刷処理を実行したときの印刷処理時間と、上記印刷処理時間における試験用半田材の劣化度データとを対応付けた教師データを予め記憶した記憶部１４と、制御部１３とを備える。 - 特許庁

The control apparatus 2 includes: a capture section 20 serving as test data collecting means for collecting first data obtained by testing condition setting means for setting the testing conditions and execution instruction means for giving instructions for executing the test; and a converter section 21 serving as converting means by which the first data thus collected is converted into second data low in redundancy.例文帳に追加

制御装置２は、試験条件を設定する試験条件設定手段と試験の実行指示を行う実行指示手段と試験によって得られた第１のデータを収集する試験データ収集手段としてのキャプチャ部２０と、収集された第１のデータを冗長度が少ない第２のデータに変換する変換手段としてのコンバータ部２１とを備える。 - 特許庁

The test system includes a tester for testing a set of components and generating test data, and a local outlier identifying system for selecting data sub-set from the test data and identifying the local outlier in the data sub-set automatically.例文帳に追加

試験システムは、一組のコンポーネントを試験し、その試験データ生成するように構成されるテスターと、試験データからデータサブセットを選択し、データサブセットの中の局所的外れ値を自動的に識別するように構成される、局所的外れ値識別システムとを備える。 - 特許庁

Test data for a circuit module 24 inputted from a TIN terminal during testing operation sequentially shifts scan cells from 31,1 to 31,4, 32,1 to 32,4, 33,1 to 33,4, and to 34,1 to 34,4.例文帳に追加

テスト動作時にＴＩＮ端子から入力された回路モジュール２_4のテストデータがスキャンセル３_1,1 〜３_1,4 ，３_2,1 〜３_2,4 ，３_3,1 〜３_3,4 ，３_4,1 〜３_4,4 を順にシフトする。 - 特許庁

The testing means measures the capacity of the data line assuming that the switching element is in the different state on each measurement twice.例文帳に追加

テスト手段は、スイッチング素子がそれぞれの測定について異なる状態であると想定される、データラインの容量の２回の測定を行う。 - 特許庁

By use of the alignment information, a testing position is derived on the basis of the alignment information of the electrode pattern included in the model data.例文帳に追加

次に、このアライメント情報を用いて、上記機種データに含まれる電極パターン部の配列情報に基づき、検査位置が導出される。 - 特許庁

The host computer 16 uses the mapping information to relate testing data of each of chip with the position of the chip on the wafer.例文帳に追加

ホストコンピュータ１６は上記のマッピング情報を用い各チップの試験データとウエハ上の位置を関連付けることにより、上記課題を解決する。 - 特許庁

To provide a convenient and nondestructive testing method capable of acquiring an interface data and limit dimension information of a material.例文帳に追加

材料の界面データおよび限界寸法情報をもたらし得る、便利かつ非破壊的な試験技術の必要性が強く感じられている。 - 特許庁

To provide a test device capable of testing a digital filter easily and sufficiently by simple constitution, without increasing the number of test data.例文帳に追加

より簡単な構成で、テストデータ数を増加させることなく、デジタルフィルタのテストを簡単且つ十分に行うことができるテスト装置を提供する。 - 特許庁

In scan testing a logic IC, on which a plurality of IP circuits 141-143 substantially identical in structure are combined, scan data are inputted to the respective IP circuit in parallel.例文帳に追加

実質的に同一構成の複数のIP回路141 〜143 を混載したロジックICにおいて、スキャンテスト時に各IP回路に並列にスキャンデータを入力する。 - 特許庁

To provide a memory test circuit capable of testing ROMs having ID and checksum areas in addition to user data areas altogether.例文帳に追加

ユーザデータ領域に加えて、ＩＤ領域とチェックサム領域を有するＲＯＭを一括して試験することができるメモリテスト回路を提供する。 - 特許庁

To rapidly and efficiently inspect a torque wrench 12 in an operating device for testing the torque wrench having a data storage device 14.例文帳に追加

データ記憶装置１４を備えたトルクレンチ１２を検査する操作装置において、トルクレンチの検査を迅速かつ効率的に実施できるようにする。 - 特許庁

A testing device 900 tests a communication control apparatus 10 which functions as a band control apparatus for controlling a band to send communication data.例文帳に追加

試験装置９００は、通信データを送出する帯域を制御する帯域制御装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

A testing device 900 tests a communication control device 10 which functions as the accounting management device for filtering communication data about transaction.例文帳に追加

試験装置９００は、取引に関する通信データをフィルタリングする会計管理装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

A testing apparatus 900 tests a communication controller 10 for executing prescribed processing to communication data received by an antenna to output it.例文帳に追加

試験装置９００は、アンテナが受信した通信データに対して所定の処理を実行して出力する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

To provide a system of for appropriately confirming the recording state of data related to an environment test in environment testing equipment to recording paper.例文帳に追加

環境試験装置における環境試験に関するデータの記録用紙への記録状況を適宜確認することができるシステムを提供する。 - 特許庁

To obtain a solderability-testing method and device for improving the accuracy and reliability of test data by reducing influence due to the temperature difference between the temperature of a metal test piece and that of solder paste when testing solderability and the difference between a setting temperature and actually measured temperature of the testing device.例文帳に追加

はんだ濡れ性試験時の金属試料片温度とはんだペーストとの温度差及び、試験装置の設定温度と実測温度との差による影響を減少させ、試験データの精度及び信頼性を向上させるはんだ濡れ性試験方法及びはんだ濡れ性試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The evaluation method for the movement performance of tires evaluates the movement performance of the vehicle with the method, by using the time series response data of the same steering angles each time, when mounting different testing tires to the vehicle; and it conducts relative evaluation of this evaluation result as the movement performance of the testing tires, among a plurality of the testing tires.例文帳に追加

タイヤの運動性能評価方法は、車両に異なる試験タイヤを装着するたびに、同じ操舵角の時系列入力データを用いて上記方法で車両の運動性能を評価し、この評価結果を試験タイヤの運動性能として、複数の試験タイヤの中で相対評価を行う。 - 特許庁

To provide a testing technology of a semiconductor device, which restricts the overhead of an area to a minimum and can make a signal propagate in parallel to testing by a method, wherein the signal is bypassed by utilizing an existent data path in an IP core.例文帳に追加

ＩＰコア内の既存のデータパスを利用して信号をバイパスさせることで、面積のオーバーヘッドを最小限に抑えながら、パラレルに信号を伝播させてテストを行うことができる半導体装置のテスト技術を提供する。 - 特許庁

To provide a built-in self-testing circuit and testing method capable of adjusting a period of time from sending a read operation signal to storage elements in a semiconductor integrated circuit till storing data outputted from the storage elements in a register.例文帳に追加

半導体集積回路内の記憶素子に読み出し動作の信号が送られてから、記憶素子から出力されたデータがレジスタに格納されるまでの時間を調整可能な組み込み自己試験回路及び試験方法を提供する。 - 特許庁

Laser power Pe for erasure and a defocus amount Δf to a targeted recording layer of an optical head 3 radiating a laser beam are changed to perform testing erasure of data of each recording layer in a testing region T in the multilayer optical disk 1.例文帳に追加

多層光ディスク１内のテスト領域Ｔにおいて、消去用レーザパワーＰｅと、レーザ光を照射する光ヘッド３の目標の記録層に対するデフォーカス量Δｆを変えて、各記録層のデータの試し消去を行う。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method capable of testing various semiconductor integrated circuit having different characteristics, and coping with diversification of an analog characteristic test by fulfillment of generation function of DAC data or the like.例文帳に追加

特性の異なる種々の半導体集積回路の試験を可能にすると共に、ＤＡＣデータの発生機能の充実化を図るなど、アナログ特性試験の多様化に対応できる試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

Between corresponding control terminals CON and between address terminals ADDR of a testing equipment 2 and a flash memory 1 are connected to each other and the input/output terminals IO 1 to 7 of the testing equipment 2 are connected to data terminals DQ 1 to 7 of the flash memory 1.例文帳に追加

試験装置２とフラッシュメモリ１の対応する制御端子ＣＯＮ間及びアドレス端子ＡＤＤＲ間を接続し、この試験装置２の入出力端子ＩＯ１〜７をフラッシュメモリ１のデータ端子ＤＱ１〜７に接続する。 - 特許庁

A signal delay part 24 is arranged on a communication passage of the CPU 10 and the trial shoot testing terminal 22 for transferring a control data signal outputted from the CPU 10 to the trial shoot testing terminal 22 by delaying by a prescribed time.例文帳に追加

ＣＰＵ１０と試射試験用端子２２との通信経路上には、ＣＰＵ１０から出力される制御データ信号を所定時間遅延させて試射試験用端子２２に転送する信号遅延部２４が設けられている。 - 特許庁

An interface control circuit 102 of the inspection module 100 is controlled by setting a value of a state control flag 121 by an LSI inspection device 130 when inspected, the testing data is output to the inspection-objective LSI, and a result data output in response to the testing data is read in from the inspection-objective LSI.例文帳に追加

検査時には、ＬＳＩ検査装置１３０が状態制御フラグ１２１の値を設定することによって、検査モジュール１００のインターフェース制御回路１０２が制御され、テスト用データの検査対象ＬＳＩへの出力、前記検査対象ＬＳＩから前記テスト用データに応じて出力される結果データの読み込みが行われる。 - 特許庁

The data to be written in the electronic tag labels 20 are divided, and by writing the data in the electronic tag labels 20 by the plurality of readers 151A to 151C, it is possible to shorten a reading/writing time, and to quicken a testing speed.例文帳に追加

電子タグラベル２０書き込むべきデータを分割し、複数のリーダ１５１Ａ〜１５１Ｃで電子タグラベル２０に書き込むことにより読み書き時間を短くし、検査速度の高速化を図った。 - 特許庁

A load testing device 9 independently sets call processing signaling to a node B device 4 and a load of user data communication by a radio control part 9a and a user data preparation/inspection part 9b.例文帳に追加

負荷試験装置９では無線制御部９ａ及びユーザデータ生成／検査部９ｂによって、ノードＢ装置４に対する呼処理シグナリング及びユーザデータ通信の負荷を独立に設定する。 - 特許庁

In the PACHINKO game machine 1, the unrewritable performance image memory device 340 has stored therein performance image data for use in the performance display operation and the test display data for use in testing the display operation.例文帳に追加

パチンコ機１において書き換え不可能な演出画像記憶装置３４０には、演出表示動作に用いる演出画像データおよび、表示動作の試験に用いるテスト表示データを記憶している。 - 特許庁

To test one item of test data by one pattern when inputting test data at the testing of combinational circuits, to simplify the circuit configuration of a test circuit, and to shorten test time.例文帳に追加

組合わせ回路をテストする際のテストデータの入力に際し、１つのテストデータを１パターンでテストすることを可能とし、テスト回路の回路構成を簡略化し、かつテスト時間の短縮を可能にする。 - 特許庁

Data verification, artificial intelligence pattern matching of extremely high predictability, network data integration and a negative file check are used for testing an extremely large number of factors for calculating the unfair transaction risk.例文帳に追加

データ検証、極めて予測性の高い人工知能パターンマッチング、ネットワークデータ総合及びネガティブファイルチェックが、不正取引リスクを計算するための極めて多数の要因を試験するために用いられる。 - 特許庁

By this constitution, data writing and reading are continuously conducted with a plurality of test patterns by only dynamically changing input data for testing and conducting test mode entry for test performing.例文帳に追加

このような構成によって、試験のための入力データを動的に変更させ、試験を行うためのテストモードエントリを行うだけで、複数のテストパターンでのデータの書き込みと読み出しが連続して行われる。 - 特許庁