「testing data」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a memory test circuit capable of testing a memory having a data width larger than that of a CPU data bus without increasing the number of test cycles.例文帳に追加

ＣＰＵのデータバスの幅よりも大きなデータ幅を有するメモリに対し、テストサイクル数を増大させずに試験をすることができるメモリテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, reducing a test time for outputting a result of comparing a data pattern for testing with a data read out from a memory cell array.例文帳に追加

テスト用のデータパターンとメモリセルアレイから読み出したデータとの比較結果を出力するテスト時間を短縮する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

Furthermore, a chip manufacturing apparatus 106 for manufacturing the chip 102 for testing is provided, based on chip manufacture data sent from the chip manufacture data storage section.例文帳に追加

チップ製造データ格納部から送られたチップ製造データに基づいて、試験用チップ１０２を製造する試験用チップ製造装置１０６を具えている。 - 特許庁

To restore a database of an actual system corresponding to reception data, into a database of a test system when testing the test system using reception data of the actual system.例文帳に追加

実システムの受信データを用いて試験システムを試験する場合に、受信データに対応する実システムのデータベースを試験システムのデータベースに復元する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device and a parallel processing method for it having a plurality of memory banks, a controller, and a data processing processor for performing measurement and data processing in parallel.例文帳に追加

複数のメモリバンクとコントローラとデータ処理プロセッサとを備え、測定の実行とデータ処理を並行して行う半導体試験装置と並列処理方法。 - 特許庁

To dispense with the change of subscriber data when performing an origination test, and to eliminate the necessity of preparing the subscriber data for testing.例文帳に追加

発信試験を実施するときに、加入者データを変更せずに済み、試験用の加入者データを用意する必要性をなくすことができるようにする。 - 特許庁

The method includes a step for generating deficiency management information, as testing information, generated after performing the initialization which is not verified on an empty testing disk in which no data are recorded and a step for confirming the testing information by using reference testing information about the initialization which is not verified to provide the test result.例文帳に追加

何のデータも記録されていない空テストディスク上に検証しない初期化を行った後に生成される欠陥管理情報をテスト情報として生成する段階及び、検証しない初期化についての基準テスト情報を使用して前記テスト情報を確認してテスト結果を提供する段階を含む。 - 特許庁

The testing device for testing a device to be tested is provided, which includes: a testing board equipped with a programmable circuit and testing the device to be tested by operation of the programmable circuit; and a control board equipped with a configuration memory which stores configuration data for programming a circuit configuration of the programmable circuit.例文帳に追加

被試験デバイスを試験する試験装置であって、プログラマブル回路を搭載し、プログラマブル回路の動作により被試験デバイスを試験する試験ボードと、プログラマブル回路の回路構成をプログラムするためのコンフィギュレーションデータを記憶するコンフィギュレーションメモリを搭載する制御ボードと、を備える試験装置を提供する。 - 特許庁

To generate a testing data, irrespective of any of a synchronized input and output for an inspection-objective LSI and a nonsynchronized input and output therefor, in an LSI inspection module for generating the testing data for inspecting an LSI.例文帳に追加

ＬＳＩ検査のためのテスト用データを生成するＬＳＩ検査モジュールにおいて、検査対象ＬＳＩの入出力が同期入出力であるか、非同期入出力に係わらず、テスト用データを生成できるようにする。 - 特許庁

A test data recording part 15 is provided to store the digital data on electricity quantity of all digitalized plant operating patterns (accident data, normal operation data, plant starting data, plant stopping data, etc.), and the data required by a test data selection signal 16 is selected from these data and is outputted to a relay part 11 for testing.例文帳に追加

ディジタル化されたあらゆるプラント運転パターン（事故データ，通常、運転データプラント起動時データ，プラント停止時データなど）のディジタル電気量データを記憶した試験データ記録部１５を設け、これらのデータの中から試験データ選択信号１６によって必要とするデータを選択し、これをリレー部１１に出力して試験するようにした。 - 特許庁

This vibration testing device 1 is constituted so that acceleration data (test data) is collected by fetching the acceleration data at every fixed time and successively storing the fetched acceleration data in a storage area of a storage device 11.例文帳に追加

一定時間毎に加速度データ（試験データ）を取り込み、該取り込んだ加速度データを順次記憶装置１１の記憶領域に記憶していくことによって加速度データを収集可能な振動試験装置１である。 - 特許庁

To provide a chemical substance data acquisition apparatus highly accurately and efficiently testing the written information of acquired chemical substance data when acquiring chemical substance data and thereby acquiring accurate chemical substance data.例文帳に追加

化学物質データを取得する際に、取得した化学物質データの記載情報について高精度かつ効率的に検査し、正確な化学物質データを取得することができる化学物質データ取得装置を提供する。 - 特許庁

In the case of testing the DRAM etc., after externally inputted writing data or incorporated pattern data are written, data for one row are read and compared with the writing data or externally inputted reference data to determine whether a device passes or fails.例文帳に追加

DRAM等のテストに際して、外部入力した書き込みデータあるいは内蔵したパターンデータを書き込んだ後、１行分のデータを読み出し、書き込みデータあるいは外部入力した参照データと比較することにより良否(Pass/Fail) 判定を行う。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus for testing an LCD driver comprises a memory map for previously designating an address for storing the data at each output pin and step voltage of the LCD driver to store the data in the address corresponding to the memory map irrespective of the capturing order of the pins and the steps of the test data.例文帳に追加

ＬＣＤドライバを試験する半導体試験装置において、ＬＣＤドライバの出力ピンとステップ電圧毎にデータを格納するアドレスの番地をあらかじめ指定したメモリマップを設け、試験データのピンとステップの取り込み順に関係無く、該メモリマップの対応するアドレスの番地に格納する。 - 特許庁

To shorten pattern data edition time by making it unnecessary to transfer a pattern file between a CPU and a pattern memory in the case of adding or deleting pattern data when pattern data for testing an integrated circuit are stored in plural pattern memories in the integrated circuit testing device in each word.例文帳に追加

集積回路試験装置で、集積回路試験用パターンデータが複数のパターンメモリに対してワード毎に格納されているとき、そのパターンデータを追加又は削除するとき、ＣＰＵとパターンメモリ間のパターンファイルの転送を不用とし、パターンデータの編集時間を短くする。 - 特許庁

To provide a testing circuit for a non-volatile memory which will not read out wrong data, even if a noise is applied.例文帳に追加

ノイズが印加されても誤ったデータを読み出してしまうことのない不揮発性メモリの検査回路を提供する。 - 特許庁

To provide a material testing machine which enables even a beginner to distinguish a data failure in an elongation/test force characteristic.例文帳に追加

伸び−試験力特性におけるデータ異常を初心者でも判別できるようにした材料試験機の提供。 - 特許庁

To provide a method for testing the identification of a user of a first device connected to a second device through a data link.例文帳に追加

データ・リンクを介して第２装置に接続された第１装置のユーザの識別を検査する方法を提供する。 - 特許庁

To provide an abnormality detection system capable of easily testing the detection of the presence/absence of an abnormal action based on video data.例文帳に追加

映像データに基づく異常行動の有無検出の試験を容易に行なえる異常検出システムの提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device that can hold the data stored in a test pattern memory even when power supply is shut off.例文帳に追加

電源が遮断された際にも、テストパターンメモリのデータを保持することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A plurality of logic comparators is provided in this instrument for testing the semiconductor circuit for receiving the output data from the tested semiconductor circuit.例文帳に追加

被試験半導体回路からの出力データを受ける半導体回路試験装置に複数の論理比較器を設ける。 - 特許庁

To provide a testing device capable of preventing the test of a tested device using a false output data signal.例文帳に追加

誤った出力データ信号を用いて被試験デバイスを試験することを防ぐことができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing acquired electromagnetic data, which ensures generation of a reliable source reconstruction.例文帳に追加

信頼できるソース再構築を生じることができることを保証する、取得された電磁データの試験方法を提供する。 - 特許庁

These drives detect the end of recorded data by testing for blank tape rather than two consecutive file marks.例文帳に追加

これらのドライブは記録データの末尾の検知に、ファイルマークが 2つ続けてあるかではなく、ブランクテープかどうかのテストを用いる。 - JM

To output data from a memory-macro even in the outside of an address space of a memory-macro at testing of a memory-macro.例文帳に追加

本発明は、メモリマクロのテスト時、メモリマクロのアドレス空間外でもメモリマクロからのデータ出力を可能にするものである。 - 特許庁

A digital data signal and a clock signal relevant to this digital signal are transmitted from the tested device to a testing device.例文帳に追加

デジタルデータ信号及びこのデジタル信号に関連するクロック信号を被試験デバイスから試験デバイスに送信する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus for improving the efficiency of the test as a whole by shortening the period of data readout.例文帳に追加

データ読み出しの時間を短縮して、試験全体の効率の向上を実現した半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a system for examining colonography and computer tomographic data obtained from a lung testing.例文帳に追加

コロノグラフィ及び肺検査から得られるようなコンピュータ断層撮影データの検討のための方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing device which can easily perform fault analysis by using an inexpensive data fail memory.例文帳に追加

コストが安いデータ・フェイルメモリを用いて不良解析を容易に行うことができる半導体デバイス試験装置を提案する。 - 特許庁

Exact and efficient data dependence testing is a key to success of loop-parallelizing compiler for computationally intensive programs. 例文帳に追加

正確で効率的なデータ依存性テストは、計算集約的プログラムのためのループ並列化コンパイラを成功させる鍵である。 - コンピューター用語辞典

The machine equation plays an important role in the analysis of experimental data on mechanical testing and in modeling work. 例文帳に追加

機械方程式は機械的試験についての実験データの解析およびモデリング作業において重要な役割を持つ。 - コンピューター用語辞典

This circuit is provided with a test circuit 24 for delaying transmission data to be inputted to a driver 4 at the testing time.例文帳に追加

この発明は、テスト時にドライバ４に入力する送信データを遅延させるテスト回路２４を備えるようにした。 - 特許庁

Once the testing mainframe catches data, the testing mainframe determines an offset value whereby a sum becomes a value of the first n-bit code word in addition to each m-bit packet, thereby reproducing the original n-bit code word from the data formed in the m-bit packet.例文帳に追加

試験メインフレームが一旦データを捕獲すると、試験メインフレームは各ｍビットパケットに加えて合計が最初のｎビットのコードワードの値になるオフセット値を決定することによって、このｍビットのパケット化データから元のｎビットのコードワードを再生する。 - 特許庁

A plurality of master tires X, Y are continuously measured, the abnormality of the testing machine 1 is decided based on the change of measured data thereof with the lapse of time, and precision for the testing machine 1 is adjusted when required.例文帳に追加

複数本のマスタータイヤＸ，Ｙを継続的に測定し、これらの測定データの経時変化から試験機１の異常を判別し、必要に応じて試験機１の精度調整を実施する。 - 特許庁

To provide a subjective optometer which can adjust the height of vision testing windows of left and right vision testing units to the height of the left and right eyes of an examinee with a simple structure and can obtain the accurate data.例文帳に追加

簡単な構成で左右の検眼ユニットの検眼窓の高さを被検者の左右の眼の高さに合わせることができ、正確なデータを得ることができる自覚式検眼装置を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic testing apparatus for a remote monitoring control device and a testing method in which a test is enabled with a little job-site handling personnel and test procedures or test data can be prepared.例文帳に追加

少ない現場対応要員で試験が可能であり、予め試験手順や試験データを準備できることのできる遠方監視制御装置の自動試験装置と試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a material strength testing device and a material strength test method capable of testing a plurality of test pieces simultaneously, and acquiring accurate data of each test piece.例文帳に追加

複数の試験片を同時に試験することができるとともに、試験片ごとの正確なデータを取得することができる材料強度試験装置および材料強度試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a ROM testing circuit which holds the confidentiality of data stored in a ROM and also can hold the facility of a data analysis with respect to a designer familiar with data processing contents.例文帳に追加

ＲＯＭに記憶されているデータの機密性を保つとともに、データ処理内容を熟知している設計者に対してはデータ解析の容易性を保つことができるＲＯＭテスト回路を提供する。 - 特許庁

The system and the apparatus include a simultaneous code checker for testing the error in an encoded data packet through a static characteristic of a data packet and a dynamic characteristic of a data stream including a packet.例文帳に追加

システム及び装置は、データパケットの静的特性及びパケットを含むデータストリームの動的特性を通じて符号化済みデータパケット内のエラーを検査するための同時コードチェッカーを含むことができる。 - 特許庁

The testing machine body 100 collects not only the data at the set sampling cycle, but also the data regardless of the set sampling cycle, when the data change quantity from the previously collected data exceeds the set threshold.例文帳に追加

試験機本体１００は、設定されたサンプリング周期でデータを採取すると共に、前回採取されたデータからのデータ変化量が設定されたしきい値を超えたときには、設定されたサンプリング周期に関わらずデータを採取する。 - 特許庁

Also the semiconductor testing apparatus 10 comprises: a data compression section 16a for compressing the fail data FD according to a prescribed rule; and region fail memories 17, 18 for storing the fail data compressed by the data compression section 16a.例文帳に追加

また、この半導体試験装置１０は、フェイルデータＦＤを所定の規則に従って圧縮するデータ圧縮部１６ａと、データ圧縮部１６ａで圧縮されたフェイルデータを記憶するリージョンフェイルメモリ１７，１８とを備える。 - 特許庁

To achieve a semiconductor testing apparatus that writes failure data to an acquisition memory using a burst access, even in the case where the number of addresses and failure data does not match the burst length, or when irrelevant data is mixed in the failure data.例文帳に追加

アドレスとフェイルデータの数がバースト長と一致しない場合またはフェイルデータに非対象データが混在した場合でも、フェイルデータをバーストアクセスを用いて収集メモリへ書き込むことが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

A test pattern data is input into a data input of the IP core 12, an output data output from a data output of the IP core 12 is compared with an expected value for the test pattern data, and the power source noise resistance is inspected when testing a function of the IP core 12.例文帳に追加

ＩＰコア１２のデータ入力にはテストパターンデータが印加され、ＩＰコア１２のデータ出力から出力される出力データとテストパターンデータに対する期待値と比較してＩＰコア１２のファンクションテスト時に電源ノイズ耐性の検査を行う。 - 特許庁

To realize an efficient data compression test by a smaller number of wirings in a data compression testing technique of a memory chip.例文帳に追加

本発明は、メモリチップのデータ圧縮テスト技術に関し、より少ない配線数で、効率の良いデータ圧縮テストを実現できるようにすることを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

To provide a user data load testing device which does not simply generate load data but can realize a load test fitting each service (bearer) operated by a 3GPP system.例文帳に追加

単に負荷データを生成するのではなく、３ＧＰＰシステムで運用される各サービス（ベアラ）に適応する負荷試験を実現可能なユーザデータ負荷試験装置を提供する。 - 特許庁