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testing dataの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 668件
To provide a TEG pattern, and a testing method of a semiconductor element using the pattern capable of confirming a leakage current level generated by erroneously aligned landing to an active region of M1C through silicon substrate data in a viewpoint of an active extension design rule to the M1C in a manufacturing method of a semiconductor device of 90 nm class or below.例文帳に追加
９０ｎｍ級以下の半導体素子の製造において、Ｍ１Ｃのアクティブ領域に対するミスアラインされたランディングによって発生する漏洩電流水準をＭ１Ｃに対するアクティブエクステンションデザインルールの観点でシリコン基板データを通じて確認可能にすることができるテグパターン及びそのパターンを利用した半導体素子検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide a data processor and method for testing stability of a cell using a reliable, effective and practical (in connection with test time period) mechanism for detecting a defective memory cell that may malfunction in normal use due to unstableness of the cell caused by a hysteresis effect in a body region of transistors configuring the memory cell in a memory device.例文帳に追加
メモリ・デバイス内のメモリ・セルを構成するトランジスタのボディ領域の履歴効果が引き起こすセルの不安定性により通常の使用中に誤動作するかもしれない欠陥メモリ・セルの検出のための信頼できる効果的で現実的な（テスト時間に関して）メカニズムを用いて、セルの安定性をテストするデータ処理装置と方法を提供すること。 - 特許庁
When the components are installed in the working machine 40, the actual performance of each component is grasped from its performance testing data by a controller 30 in the working machine 40, and according to its nature, the control setting of the control constant or control function is optimized in conformity to the prescribed optimization rule, and the performance of the working machine 40 is regulated to the standard performance.例文帳に追加
各コンポーネントが作業機械４０に組込まれると、作業機械４０内のコントローラ３０で、各コンポーネントの性能試験データから各コンポーネンの実性能が把握され、その性格に応じ所定の最適化ルールに従い、制御定数や制御関数などの制御セッティングが最適化され、作業機械４０の性能が標準的性能にレギュレートされる。 - 特許庁
The method, system, and computer program product pertain directly to the enhancement of existing home blood glucose monitoring devices, by introducing an intellectual data interpretation component predicting and alerting the user to periods of increased risk for hyperglycemia, hypoglycemia, increased glucose variability, and ineffective testing, and to the enhancement of emerging self-monitoring blood glucose devices by the same features.例文帳に追加
本方法、システム、コンピュータプログラム製品は直接的には、使用者に、高血糖、低血糖、グルコース変動の増大、無効な検査の期間を予測して警告することができるデータ知的解釈部を導入することによる既存の家庭用血中グルコース監視装置を改善、及び同機能を導入することによる血中グルコース自己監視装置の改善に関する。 - 特許庁
To provide a superconducting electromagnet cooling device capable of controlling the circulation flow rate of a supercritical pressure helium (SHe) supplied to a superconducting electromagnet in a wide range in the same facility, capable of testing the circulation flow rate of an exhaust gas compressor in a wide range even when the exhaust gas compressor for the refrigerator is tested, and enabling the availability of data containing operating points.例文帳に追加
同一設備で超電導電磁石に供給する超臨界圧ヘリウム（ＳＨｅ）の循環流量を広範囲に調整でき、かつ、逆に冷凍機の排気圧縮機を試験する場合にも、排気圧縮機の循環流量を広範囲に試験でき、動作点を振ったデータを入手することができる超電導電磁石冷却装置を提供する。 - 特許庁
The image display device comprises a program ROM 414 for storing an image control program CP for displaying images based on image data and a test program TP for testing whether the image display device is normally operated or not independently; and a control part capable of executing the image control program CP and the test program TP.例文帳に追加
画像表示装置は、画像データに基づく画像を表示するための画像制御プログラムＣＰと、画像表示装置が正常に動作するか否かを検査するための検査プログラムＴＰとを互いに独立した状態で格納したプログラムＲＯＭ４１４と、画像制御プログラムＣＰおよび検査プログラムＴＰを実行可能な制御部とを備える。 - 特許庁
In this system for testing a plurality of dies 21, 22 on a semiconductor wafer, a communication system 23 is installed which connects mutually the plurality of dies 21, 22 on the semiconductor wafer 20 in order to transmit test data from at least one die out of the plurality of dies to at least the other one die out of the plurality of dies.例文帳に追加
上記課題は、半導体ウエハ上の複数のダイ２１、２２を試験するシステムであって、前記複数のダイの少なくとも１つから前記複数のダイのその他の少なくとも１つに試験データを伝達するべく前記半導体ウエハ２０上の複数のダイ２１、２２を相互接続する通信システム２３を有することを特徴とするシステムにより解決される。 - 特許庁
This semiconductor testing device 100 stores data acquired by executing processing to DUT in preservation registers 135, 145, keeps an open collector output through a monitoring line 121 at a low level in a control module 140 for a fixed period, and removes restriction in the control module 140 when the open collector output is set at the low level in a master control module 130.例文帳に追加
半導体試験装置１００は、ＤＵＴに対して処理を実行させて得られたデータを保存レジスタ１３５、１４５に記憶し、制御モジュール１４０内で監視ライン１２１を介したオープンコレクタ出力を一定期間ローレベルとし、マスタ制御モジュール１３０内でオープンコレクタ出力をローレベルとした時点で制御モジュール１４０内での制限を解除する。 - 特許庁
This motor function testing apparatus includes: a move sensor 2 including a transmitting coil 106 transmitting a magnetic field and a plurality of receiving coils 101 to 105 receiving the magnetic field generated from the transmitting coil 106; an analyzing means for analyzing the time-series waveform data obtained from the move sensor 2; and a display means for displaying the analysis result from analysis of the analyzing means.例文帳に追加
磁場を発信する発信コイル１０６および発信コイル１０６から発生した磁場を受信する複数の受信コイル１０１〜１０５を含む運動センサ２と、運動センサ２から取得された時系列の波形データを解析する解析手段と、解析手段により解析された解析結果を表示する表示手段とを備えた運動機能検査装置である。 - 特許庁
A content reproducing apparatus 1 stores an appliance identifier ID for identifying the content reproducing apparatus 1 so as not to be rewritten, and also stores an appliance identifier test value VM corresponding to the appliance identifier ID and a right information test value VR for testing right information INF of acquired content data D so as not to be read out separately.例文帳に追加
コンテンツ再生装置１は、このコンテンツ再生装置１を識別するための機器識別子ＩＤを、書き換えられないように記憶すると共に、当該機器識別子ＩＤに対応する機器識別子検査値ＶＭと、取得したコンテンツデータＤの権利情報ＩＮＦを検査するための権利情報検査値ＶＲとを、分離して読み出されないように記憶するようにした。 - 特許庁
A testing apparatus 1 receives the input of a sample scenario 2, in which a plurality of command blocks 20 each consisting of a command element 21 and a data element 22 and regarding the operation of a device to be tested are described.例文帳に追加
試験装置１は、コマンド要素２１およびデータ要素２２からなる、被試験機の操作に係るコマンドブロック２０が複数記述されたサンプルシナリオ２の入力を受け付け、このサンプルシナリオ２に対して、記述順入替え処理、コマンドブロック挿入処理、コマンドブロック置換処理、コマンド要素入替え処理、およびスルー処理のうちの少なくとも一つを実施して、複数のコマンドブロック２０が試験順に記述された試験シナリオ５を生成する。 - 特許庁
A frequency temperature drift of the VCO is compensated by a frequency compensation voltage, and an FM operation is carried out, by using a modulation voltage having a constant DC component independent of temperature, thereby reducing fluctuation in modulation sensitivity due to the temperature, significantly simplifying the temperature data of the modulation compensation voltage for obtaining modulation linearity in the output signal, and significantly shortening the testing and adjustment period of time.例文帳に追加
周波数補償電圧によりＶＣＯの周波数温度ドリフトを補償し、温度に依存しない一定のＤＣ成分を持つ変調電圧によりＦＭ動作させることにより、温度による変調感度の変動を低減し、出力信号の変調直線性を得るための変調補正電圧の温度データを大幅に簡素化し、試験、調整時間を大幅に削減することができる。 - 特許庁
The reader testing device comprises an antenna 41 which receives various signals transmitted from the reader to an electronic tag; a MPU 45 which detects, from the various signals received by the antenna 41, ACK transmitted by the reader for reporting permission of transmission of data to the reader; and LEDs 47a and 47b which reports detection of the ACK by the MPU 45.例文帳に追加
本発明のリーダ試験装置は、リーダが電子タグに送信する各種信号を受信するアンテナ４１と、アンテナ４１により受信した前記各種信号のうち、前記リーダへのデータの送信を許可することを通知するために前記リーダが送信するＡＣＫを検出するＭＰＵ４５と、ＭＰＵ４５により前記ＡＣＫを検出したことを報知するＬＥＤ４７ａ、４７ｂと、を備えるものである。 - 特許庁
This USB optical time-domain reflection test equipment comprises an optical time-domain reflection test module for testing an optical fiber, and a USB module which is connected to the optical time-domain reflection test module, provides power to the optical time-domain reflection test module from outside, performs control so that the optical time-domain reflection test module tests the optical fiber, and collects data.例文帳に追加
本発明のＵＳＢ光時間領域反射テスト装置は、光ファイバーをテストする光時間領域反射テストモジュールと、前記光時間領域反射テストモジュールと接続され、外部から前記光時間領域反射テストモジュールに電源を提供し、前記光時間領域反射テストモジュールが前記光ファイバーのテストを行うように制御し、また、データの収集を行うＵＳＢモジュールとを含む。 - 特許庁
The semiconductor testing apparatus 100 measures the voltage value of the signal that is generated by a signal generating section 110 and transmitted through the transmission path 120 with first and second measuring circuits 130 and 140, and compares the data of voltage values of the respective signals and determines whether it is diverged by a predetermined threshold or more with a calibration content determining circuit 150.例文帳に追加
半導体試験装置１００では、信号発生部１１０により発生させ、伝送経路１２０を通じて伝送された信号の電圧値を第１および第２の測定回路１３０、１４０により伝送経路１２０を通じて伝送された信号の電圧値を測定する処理を行い、校正内容判定回路１５０によりこれらの各信号の電圧値のデータを比較し所定の閾値以上に乖離しているか否かを判定する処理を行う。 - 特許庁
The deciphering processing testing device is provided with a ciphered key information fixing means 1021 for fixing ciphered key information to be used for the ciphering processing and deciphering processing of data and an algorithm inspection means 1022 for inspecting whether the algorithms of the ciphering processing and deciphering processing are coincident with each other in the state of fixing the ciphered key information with respect to time by the fixing means 1021.例文帳に追加
本発明の秘匿解読処理試験装置は、データの秘匿処理及び秘匿解読処理に使用する秘匿鍵情報を時間に対して固定にする秘匿鍵情報固定手段１０２１と、前記秘匿鍵情報固定手段１０２１により前記秘匿鍵情報を時間に対して固定にした状態において前記秘匿処理及び前記秘匿解読処理のアルゴリズムが一致するか否かを検証するアルゴリズム検証手段１０２２と、を具備している。 - 特許庁
To enable to eliminate products having lower reliability out of initial good products by testing margin for a reference potential of a bit line in the case that storage data is read out from a memory cell in a ferroelectric memory, improving reliability of products shipped, and to perform efficiently analysis of defect by making easy to discriminate whether defect of an initial defective product is caused by margin defect or by defect of a manufacturing process.例文帳に追加
強誘電体メモリに関し、メモリセルからビット線に記憶データが読み出された場合におけるビット線の電位の基準電位に対するマージンを試験し、初期良品からの信頼性の低い製品の除去を可能とし、出荷する製品の信頼性の向上を図ると共に、初期不良品については、その不良がマージン不良を原因とするものなのか、あるいは、製造プロセスの欠陥によるものなのかの識別を容易にし、不良解析の効率化を図る。 - 特許庁
72.4. In the case of drugs and medicines, where the act includes testing, using, making or selling the invention including any data related thereto, solely for purposes reasonably related to the development and submission of information and issuance of approvals by government regulatory agencies required under any law of the Philippines or of another country that regulates the manufacture, construction, use or sale of any product: Provided, That, in order to protect the data submitted by the original patent holder from unfair commercial use provided in Article 39.3 of the Agreement on Trade-Related Aspects of Intellectual Property Rights (TRIPS Agreement), the Intellectual Property Office, in consultation with the appropriate government agencies, shall issue the appropriate rules and regulations necessary therein not later than one hundred twenty (120) days after the enactment of this law;例文帳に追加
72.4薬剤製品に関して，発明(当該発明に関連するあらゆるデータを含む)の試験，使用，生産又は販売行為であって，製品の製造，建設，使用又は販売を規制するフィリピン又は外国の法の下で要求される，情報の開発及び提出並びに政府の規制当局による承認の発行に合理的に関連づけられた目的での行われるもの。原特許権者が提出したデータは，「知的所有権の貿易関連の側面に関する協定」(TRIPS協定)第39条第3項に規定する不正商業使用をされることを避けるために，知的財産庁は，適切な政府機関と協議を行い，本法の施行日から120日以内に適切な規則と必要な規定を公布しなければならない。 - 特許庁
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