「testing data」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

A BB memory 7 backed up by a battery 6 on the motherboard 10 is provided to write unique data in the BB memory 7 in a product testing process, and then the contents of an EEPROM 5 for BIOS storage are updated to a product BIOS for shipment.例文帳に追加

マザーボード１０上に電池６でバックアップされるＢＢメモリ７を設け、製品の試験工程でこのＢＢメモリ７に固有のデータを書き込み、その後、ＢＩＯＳ格納用のＥＥＰＲＯＭ５の内容を、製品ＢＩＯＳに更新して出荷する。 - 特許庁

The present invention relates to the manufacturing process, the system and the method, which senses closed loop pressure, and easily assembles and tests the feedback integrated fluid manifold, and the system for testing the fluid manifold of the present invention includes: reservoir for storing a fluid; a pump for moving selectively the fluid toward the manifold; and a testing mechanism communicated with the manifold, and accessing a specified test data.例文帳に追加

本発明は、クローズドループ圧力感知及びフィードバック一体型流体マニホールドの組み立て及び試験を容易とすることができる製造プロセス、システム、及び方法に関するものであり、本発明に係るマニホールド試験システムは、流体を貯蔵するリザーバと、流体をマニホールドエリアに向けて選択的に移動させるポンプと、マニホールドに連通され、規定の試験データにアクセスする試験機構と、を含んでいる。 - 特許庁

The testing device carrying out charge- or discharge testing for a sample includes first memory for sequentially overwriting oldest data with state information to execute loop recording if the state information acquired at given sampling time does not exceed a preset threshold value, and a second memory for sequentially recording state information if the state information exceeds a preset threshold value.例文帳に追加

試料に対して充電試験または放電試験を遂行する試験装置において、一定のサンプリングタイムで取得した状態情報が予め設定された閾値を超えない場合に、最も古いデータに対して状態情報を順次上書きしてループ記録する第一メモリと、状態情報が予め設定された閾値を超えた場合に、状態情報を順次記録する第二メモリとを備える試験装置とする。 - 特許庁

Communication which is established based on data communication between a mobile terminal and a mobile electric communication network is audited passively, so that precisely accurate correction can be realized, and an information signal being the base of the communication is at least partially sampled and evaluated by a testing device, and it is proposed that a reference frequency unit integrated into the testing device should be corrected based on this evaluation.例文帳に追加

きわめて正確な較正を実現するために、本発明は、移動端末と移動電気通信網との間のデータ通信に基づいて確立された通信を受動的に聴取し、通信の基礎となる情報信号を、試験装置によって少なくとも部分的にサンプリングして評価し、この評価に基づいて、試験装置に組み込まれた基準周波数ユニットを較正することを提案する。 - 特許庁

To a semiconductor tester 10 for general use constituted with test signal generation means 52, 53, 54 and 55, a data supply means, a data reading means, judging means and a control means 11, a special control signal generation means 12 and an interface means 13 for testing a semiconductor integrated circuit 16 incorporated BIST circuits 31 to 35 are provided.例文帳に追加

試験信号発生手段５２，５３，５４，５５、データ供給手段、データ読出手段、判定手段及び制御手段１１から構成される汎用的な半導体試験装置１０に対してＢＩＳＴ回路３１〜３５を内蔵した半導体集積回路１６を試験するための専用の制御信号発生手段１２及びインターフェイス手段１３を別個設けた。 - 特許庁

In the device, an image processing circuit 4 performs image processing for the detection of certain testing items other than display unevenness based on image data, a judgment circuit 5 determines defects from processing result of the image processing circuit 4, and an image processing circuit 6 performs image processing based on the image data so that display unevenness may become marked to be output to a display unit 6a.例文帳に追加

画像処理回路４は画像データをもとに表示ムラ以外の所定の検査項目検出のための画像処理を行い、判定回路５は画像処理回路４の処理結果から欠陥を判定し、画像処理回路６は、画像データをもとに表示ムラが顕著になるような画像処理を行い表示装置６ａに出力する。 - 特許庁

The semiconductor device test system includes a test handler testing the semiconductor device being assembled, a reader reading an identification code attached to the respective semiconductor device passed to the test handler as electronic data, and a computer storing test data collected by the test handler as electronic information corresponding to the identification code.例文帳に追加

組立完了の半導体装置をテストするテストハンドラ装置と、そのテストハンドラ装置に投入された上記半導体装置の個々に付された識別記号を電子データとして読み取る手段と、上記テストハンドラ装置の採取したテストデータを、上記識別記号と関連付けた電子情報として蓄えるコンピュータとを備える、半導体装置テストシステムを構築する。 - 特許庁

To provide an inspection system which stores SPD data stored in a personal computer to an inspection device which cannot be connected to the personal computer in a short time, to improve the operation efficiency in testing a substrate such as DIMM, and which can be constructed at low cost.例文帳に追加

パソコンに保存されたＳＰＤデータをパソコンに接続できない検査装置に保存する作業を短時間で簡単に行い、ＤＩＭＭ等の基板検査の作業効率を向上させることができる低コストで構築可能な検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a signal measurement apparatus which performs a timing adjustment for storing data obtained by sampling and converting analog signals through a plurality of A/D converters with different conversion properties with the same timing in a memory with the same timing, a signal measurement system and a semiconductor testing device.例文帳に追加

変換特性の異なる複数のＡ／Ｄ変換器が同一時期にアナログ信号をサンプリングして変換したデータを、メモリに同一タイミングで記憶するためのタイミング調整を行う信号測定装置、信号測定システムおよび半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A data recording section 11, in advance, allows each advance level obtained from the level detection section 7 by switching and emitting a plurality of high-frequency signals to the object to be measured for testing to correspond to each kind of object to be measured and high-frequency signal for storing.例文帳に追加

データ記録部１１は、事前に、テスト用被測定物に対して複数の高周波信号を切り換え発射してそのレベル検出部７から得られた個々の事前検出レベルを、被測定物の種類とその高周波信号毎に対応させて格納する。 - 特許庁

A comparison circuit 20 stores the comparison result data between the pulse width time of the pulse of an input signal IS for testing inputted to the delay circuit 10, and the delay time of delay signals PM-PN outputted from taps PM-PN in the delay circuit 10 in a comparison result register 30.例文帳に追加

比較回路２０は、遅延回路１０に入力されたテスト用入力信号ＩＳのパルスのパルス幅時間と、遅延回路１０のタップＰM〜ＰNから出力される遅延信号ＰM〜ＰNの遅延時間との比較結果データを、比較結果レジスタ３０に記憶する。 - 特許庁

To provide a peritoneal function testing method and a peritoneal dialysis planning apparatus utilizable for future diagnosis prescription by accurately analyzing the peritoneal function (peritoneal hyperergasia mechanism) of a peritoneal dialysis patient while using various data based on a conventional method.例文帳に追加

従来法に基づく各種データを用いながら、腹膜透析患者の腹膜機能（腹膜機能亢進機序）を正確に分析し、将来的な診断処方に活かせることのできる腹膜機能検査方法および腹膜透析プランニング装置を提供する。 - 特許庁

In the semiconductor storage device 101, in addition to a BIST circuit 103 for testing a memory, a RA circuit 104 is incorporated to obtain a saving solution for replacing a defective cell by a redundant circuit based on a test result (fail data) obtained by the BIST circuit 103.例文帳に追加

半導体記憶装置１０１内に、メモリをテストするＢＩＳＴ回路１０３の他に、ＢＩＳＴ回路１０３が求めたテスト結果（フェイルデータ）に基づいて不良セルを冗長回路に置き換える救済解を求めるＲＡ回路１０４を内蔵する。 - 特許庁

The map information generation device 1 generates the map information to be used when testing an application program on the geographic information system (GIS), and generates large-scale map information akin to actual data from small-scale map information used as a base.例文帳に追加

この地図情報作成装置１は、 地理情報システム（ＧＩＳ）に関するアプリケーションプログラムをテストする際に用いられる地図情報を作成するものであり、基となる小規模の地図情報から大規模かつ実データに近い地図情報を作成する装置である。 - 特許庁

To make it possible to evaluate wear and tear, and performance degradation of a test disk by judging whether the performance of the test disk for testing a disk device for recording and reproducing information data on/from an optical disk is good, and also to evaluate performance degradation of a test disk evaluation device itself.例文帳に追加

光ディスクに情報データを記録再生するディスク装置の性能をテストするテストディスクの性能の良否を判定してテストディスクの消耗、性能劣化を評価することができるとともに、テストディスク評価装置自体の性能劣化を評価することができるようにする。 - 特許庁

A control circuit 391 controls peripheral circuits such as a column decoder 290 so that input/output of data for testing specific operation of a plurality of memory cells included in a memory cell array 320 is performed when receiving a L level test mode signal TM and a H level test mode signal TM.例文帳に追加

制御回路３９１は、Ｌレベルのテストモード信号ＴＭおよびＨレベルのテストモード信号ＴＭを受けると、メモリセルアレイ３２０に含まれる複数のメモリセルに特殊動作をテストするためのデータの入出力を行なうようにコラムデコーダ２９０等の周辺回路を制御する。 - 特許庁

When the test on the first mobile communication system is conducted, test data are transmitted to the testing equipment through the second mobile communication system.例文帳に追加

本発明においては、第１の移動通信システムについての試験を行う際には、第２の移動通信システムを介して試験装置に試験データを送信し、試験装置は、第２の移動通信システムを介してい受信した試験データに基いて、第１の移動通信システムについての試験を行う。 - 特許庁

To create basic data for product development, stock control and the like by recording and totaling kinds of cosmetics, number of times, time, dates etc., on which a customer tests at the cosmetics tester counter displaying various kinds of cosmetics used while the customer is testing the cosmetics.例文帳に追加

顧客が化粧品を試す際に用いられる種々の化粧品が配列されている化粧品テスターカウンタにおいて、顧客が試す化粧品の種類、回数、時間、日時等をホストコンピュータに記録し、それらを集計して、商品開発、在庫管理等の基礎データとする。 - 特許庁

To obtain a method by which an operation test of radio parts is enabled, without measuring instruments by improving problem of the conventional technology that a large number of measuring instruments are required in the case of mass production in a method for testing the radio parts of a master station device or a slave station device, in a radio data communication system.例文帳に追加

無線データ通信システムにおける親局装置または子局装置の無線部テスト方法において、大量生産時に、大量の測定器が必要となるという従来技術の課題を改善し、測定器無しで無線部の動作テストが可能となる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a producing method and a machine for test data, and a wiring testing machine that perform a wiring test of printed-wiring boards and semiconductor package substrates with various kinds and small quantity, very fine designs, and low prices.例文帳に追加

多品種少量、高精細、低価格のプリント配線板や各種半導体パッケージ基板等の布線検査を効率的な検査スピードと低いランニングコストで布線検査を行うための検査データの作製方法、検査データ作製機及び布線検査機を提供することを目的とする。 - 特許庁

The spectrophotometer transmits a large number of spectral data outputs from photo-sites having different filters which are simultaneously illuminated with reflected light from color testing target areas which are sequentially illuminated with the restricted number of LEDs, provides information on broad-band spectra, and enables color control.例文帳に追加

更にこの分光光度計は、制限された数のＬＥＤによって順次照射された色テストターゲット領域からの反射光によって同時に照射される、異なるフィルタを備える光サイトから多数のスペクトルデータ出力を送出し、広域スペクトル情報を提供し、カラーコントロールを可能にする。 - 特許庁

To provide a system and method for testing simultaneously a column of a semiconductor memory and a redundant column by adding temporarily an additional parallel signal bit giving wider band width during test mode operation to an input/output data bus connected to a semiconductor memory.例文帳に追加

試験モード動作中により広い帯域幅を与える追加の並列信号ビットを半導体メモリに連結された入出力データ・バスに一時的に追加することによって、半導体メモリの列と冗長列とを同時に試験するシステムおよび方法を提供すること。 - 特許庁

This IC test device for testing an object to be tested is provided with a plurality of pin electronics cards for giving and receiving signals to and from the tested object, and a daisy chain signal conductor for daisy-chain connecting between the pin electronics cards, thereby performing data transmission.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣ試験装置において、被試験対象と信号の授受を行う複数のピンエレクトロニクスカードと、このピンエレクトロニクスカード間をディジチェーン接続するディジチェーン信号線とを設け、データ伝送を行うことを特徴とするものである。 - 特許庁

The indicator is equipped with: a substrate; an image display portion including multiple pixels which are formed on the substrate and are defined by multiple data lines and multiple scanning lines; a dummy pad portion for testing the image display portion; and a first insulating film covering the dummy pad portion.例文帳に追加

本発明による表示装置は、基板と、前記基板上に形成されて複数のデータ線と複数の走査線によって定義される複数の画素を含む画像表示部と、前記画像表示部のテストを行うためのダミーパッド部と、前記ダミーパッド部を覆う第１絶縁膜と、を備える。 - 特許庁

The latch circuit 1 constituted of two inverters connected in inversely parallel so as to operate as a storage element holding data of one bit is a latch circuit for testing a power source which reverses surely a stored and held logic value when power source voltage is dropped from the rated voltage to the prescribed voltage.例文帳に追加

１ビットのデータを保持する記憶素子として働くように逆並列に接続された二つのインバータで構成されるラッチ回路１は、電源電圧が定格電圧から所定の電圧に低下したときに記憶保持する論理値を確実に反転させる電源検査用ラッチ回路である。 - 特許庁

To provide a testing device, method and program for an exchange controller that can adapt to TCP/IP, decrease the amount of operations for adaptation to different kind of exchanges, adapt to use of a redundancy system and a file transfer protocol, and reduce generating operations for data etc.例文帳に追加

ＴＣＰ／ＩＰに対応することができること、異機種交換機への対応作業の作業量を削減することができること、冗長化システム及びファイル転送プロトコルの利用に対応することができること、データ類の作成作業を削減できることを実現できるようにする。 - 特許庁

Then, the contrast medium is additionally injected, the bolus for inspection is passed through the peripheral vessel structure 64, the MR data are obtained from each scanning station using the traveling time of the testing bolus while it is known that the bolus for inspection is present in the station, to optimize the image resolution.例文帳に追加

次いで、追加の造影剤を注入して末梢脈管構造に検査用ボーラスを通過させ、テスト用ボーラス走行時間を用いて各走査ステーションから、検査用ボーラスがこのステーションに存在するとわかっている間にＭＲデータを取得して、画像分解能を最適化することができる。 - 特許庁

Thus, inter-task communication to synchronize devices is not needed any more, and because the time of the inter-task communication for one test cycle can drastically be reduced compared with the conventional testing method, data transfer quantity per unit time is increased and a high load can be given to the network.例文帳に追加

これにより、装置間の同期を取るためのタスク間通信の必要がなくなり、従来の試験方法と比較して、１テストサイクル中のタスク間通信の時間を大幅に減少させることができるので、単位時間あたりのデータ転送量が増加し、ネットワークに高い負荷を与えることができる。 - 特許庁

An operation content including all the input signals inputted to test equipment when a tester performs testing, an input time of day, and a time of day when the test has been performed by the test equipment is recorded as test data, their management table, and operation history every test ID, and is managed as a bug management database.例文帳に追加

テスターがテストを実施した際のテスト機器に入力された全ての入力信号と、入力された時刻と、テスト機器で実行された時刻を含む操作内容を、テストＩＤ毎に、テストデータと、その管理テーブルと操作履歴として記録してバグ管理データベースとして管理する。 - 特許庁

A test input signal is given to the functional block due to the setting into the register in the input signal region, and the functional block performs testing operations, so that a test output signal outputted from the functional block is set as output data in a register in an output signal region.例文帳に追加

前記入力信号領域におけるレジスタへの設定により機能ブロックにテスト入力信号が与えられ、機能ブロックがテスト動作することにより機能ブロックから出力されたテスト出力信号が出力信号領域におけるレジスタに出力データとして設定される。 - 特許庁

This semiconductor testing device for performing a test by giving a test signal generated based on pattern data to a test object includes a pattern editor means for describing the pattern data on the spread sheet constituted by using the rectangular region partitioned by rows and columns as the minimum unit, creating the pattern file of a spread sheet form, and editing the pattern file.例文帳に追加

本発明は、パターンデータに基づいて生成した試験信号を被試験対象に与えて試験を行う半導体試験装置において、行および列によって区切られた矩形領域を最小単位として構成したスプレッドシートに前記パターンデータを記述し、スプレッドシート形式のパターンファイルを作成するとともに、前記パターンファイルを編集するパターンエディタ手段を備えたことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory having a transfer system for transferring data synchronized with both edges of the leading and trailing of an outside clock signal, and yet easily being tested and evaluated by a conventional memory testing device with respect to SDRM for writing/reading data synchronously with the outside clock signal and a method for controlling the SDRAM and to provide a control method for the semiconductor memory.例文帳に追加

本発明は、外部クロック信号に同期してデータの書き込み／読み出しを行うＳＤＲＡＭ及びその制御方法に関し、外部クロック信号の立ち上がりと立ち下がりの両エッジに同期してデータを転送する転送方式を有しながら、従来のメモリ試験装置で容易に試験、評価ができる半導体記憶装置及びその制御方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The testing method for radioactive substances in food has been notified by Notice 0315Article 4 of the Department of Food Safety (hereinafter referred to as “the Testing Method Notification”) dated March 15, 2012. As for the moisture content data (weight-change rate) of dried mushrooms, etc., after rehydration, weight-change rates for individual items provided in Annex 1 shall be used for the time being, which are based on the “Standard Tables of Food Composition in Japan 2010” published by the Subdivision on Resources, the Council for Science and Technology.例文帳に追加

食品中の放射性物質の試験法については、平成24 年３月15 日付け食安発0315第４号（以下「試験法通知」という。）により通知したところであるが、乾燥きのこ類等の水戻しによる水分含量のデータ（重量変化率）について、当面の間、科学技術・学術審議会資源調査分科会編「日本食品標準成分表2010」を踏まえて、別添１に示す品目ごとに、各々の重量変化率を用いることとする。 - 厚生労働省

In the information processor 101 provided with an FPGA 102, a CPU 103, etc., first configuration data for setting a logical circuit required for displaying a normal function of the information processor 101 to the FPGA 102 and second configuration data for setting a test function for testing another integrated circuit of the CPU 103 or the like to the FPGA 102 are prepared.例文帳に追加

ＦＰＧＡ１０２とＣＰＵ１０３等とを備えた情報処理装置１０１において、ＦＰＧＡ１０２に対して情報処理装置１０１の通常の機能を発揮させる際に必要な論理回路を設定する第１のコンフィグレーションデータ、およびＦＰＧＡ１０２に対してＣＰＵ１０３等の他の集積回路のテストを行うためのテスト機能を設定する第２のコンフィグレーションデータを用意する。 - 特許庁

The ultrasonic diagnostic equipment easily and rapidly acquires an MPR image corresponding to an ideal MPR position by setting on volume data, the MPR position corresponding to the desired reference cross-section position of the heart, while referring to a three-dimensional image to be obtained by three-dimensional ultrasonic scanning in cardiac testing.例文帳に追加

心臓検査において、三次元超音波走査によって得られる三次元画像を参照しながら、所望する心臓の基準断面位置に対応するＭＰＲ位置をボリュームデータ上に設定し、理想的なＭＰＲ位置に対応するＭＰＲ画像を容易且つ迅速に取得することができる。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device for testing wiring defects in a panel, capable of detecting a disconnection and a short circuit of wiring when applying a signal, by connecting data lines or gate lines or a common line in the panel with each pad through wiring of a zigzag form arranged outside of the panel.例文帳に追加

パネル内のデータラインまたはゲートライン或いは共通電圧ラインを、パネルの外部に設けたジグザグ形態の配線を介して各パッドに連結することによって、信号の印加時、配線の短絡及びショートを検出できる、パネル内配線の欠陥をテストするための液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

In the material testing machine 100 for measuring the characteristics of the material of a sample S, a CPU 3 executes a vibration determining program 52, to output the data related to vibration, which is detected by a vibration detecting part 2 for detecting the vibration, produced during measurement of the characteristics of the material, to a display part 7.例文帳に追加

試料Ｓの材料特性を測定する材料試験機１００において、ＣＰＵ３は、振動判定プログラム５２を実行することによって、材料特性の測定中に生じた振動を検出する振動検出部２により検出された振動に関するデータを表示部７に出力する。 - 特許庁

A test signal is imparted to each of the analog circuits 12-14 when testing, the alternating current signal output from the terminal 19 of the integrated circuit 11 is converted into a digital signal in an ADC 24, and the digital data is fast-Fourier-transformation-processed to detect a frequency component included in the alternating current signal, in a DSP 26.例文帳に追加

テスト時には、アナログ回路１２〜１４へ試験信号を加え、集積回路１１の端子１９から出力される交流信号をＡＤＣ２４においてディジタルデータに変換し、ＤＳＰ２６において、上記ディジタルデータに対し高速フーリエ変換演算を行って交流信号に含まれる周波数成分を検出する。 - 特許庁

This semiconductor integrated circuit incorporates a test circuit testing operation of a non-volatile memory, while the device has an output terminal outputting a test result and an operation terminal indicating operation control of the test circuit, and the device can indicate the number of write-in of the non-volatile memory, a write region, and write data from the operation terminal.例文帳に追加

不揮発性メモリの動作を試験する試験回路を内蔵すると共に、試験結果を出力する出力端子と、試験回路の動作制御を指示する操作端子を有し、その操作端子から不揮発性メモリの書き込み回数、買い込み領域及び書き込みデータを指示できる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

In a semiconductor inspection apparatus having a loop counter counting a loop count of loop instructions for generating a pattern address to be given to pin electronics for DUT testing and the fail memory for storing information related to DUT pass/fail, the fail memory stores necessary information only when count output data of the loop counter change in an all trace mode which captures respective data in all inspection cycles.例文帳に追加

ＤＵＴのテストのためにピンエレクトロニクスに与えるパターンアドレスを発生するためのループ命令のループ回数をカウントするループ回数カウンタと、ＤＵＴのパス／フェイルに関する情報を格納するフェイルメモリを有する半導体検査装置において、前記フェイルメモリは、全ての検査サイクルで各データを取り込むオールトレースモード設定状態では、前記ループ回数カウンタのカウント出力データが変化した時にだけ必要な情報を格納することを特徴とするもの。 - 特許庁

The software test system includes: a terminal device, in which software to be tested is installed, and a software test device that stores a test driver for testing the target software according to test data and a test procedure of the target software, wherein the test driver is transmitted to the terminal device to test the target software by combining the test data and the test procedure within the terminal device.例文帳に追加

ソフトウェアテストシステムは、テスト対象ソフトウェアがインストールされている端末装置と、前記テスト対象ソフトウェアのテストデータ、および、前記テスト対象ソフトウェアのテスト手続きに従って前記テスト対象ソフトウェアをテストするテストドライバが記憶されているソフトウェアテスト装置と、を有していて、前記テストドライバが前記端末装置に伝送され、前記端末装置において前記テストデータと前記テスト手続きとの組み合わせにより前記テスト対象ソフトウェアがテストされる。 - 特許庁

From the viewpoint of creating the cluster “core” and enhancing centripetal force, Chubu Bureau of Economy, Trade and Industry should push ahead with creating further advanced clusters by enhancing state-of-the-art hardware that plays important roles in the creation of clusters, such as (1) testing equipment necessary for form certification of large wind tunnels and large joint testing machines because Japanese manufacturers are currently using overseas facilities and (2) an R&D base (National Composite Center) capable of comprehensively providing design technologies, processing technologies and repair services on CFRP (composite Source: METI data (January 2011) materials) usable for automobiles and aircraft. 例文帳に追加

中部経済産業局においては、クラスターの「核」を創出し求心力を高める観点からも、①現在、海外の設備を利用している、大型風洞、大型共同試験機等の型式証明取得に必要な試験設備、②自動車や航空機等に波及するCFRP＇複合材（について、設計技術・加工技術・補修サービスまでをパッケージ化した研究開発拠点＇ナショナルコンポジットセンター（、といったハード面において、集積の中核となる最新鋭の設備整備を進め、更なる高度な集積を推進することが望まれる。 - 経済産業省

The device for testing the automatic ticket handling system that uses the contactless IC card includes a robot 7 that exposes the contactless IC card 9 to the wave-emission area of an automatic ticket gate 3, and a control means 1 for taking in data on the reaction result of the automatic ticket gate when the contactless IC card is exposed and for controlling the robot.例文帳に追加

非接触ＩＣカードを用いる自動改札処理システムの試験装置において、自動改札機３の電波放射エリアに非接触ＩＣカード９をかざすロボット７と、非接触ＩＣカードをかざしたときの自動改札機の反応結果のデータを取り込むとともに、ロボットを制御する制御手段１とを備えるようにしたものである。 - 特許庁

On the client side 2 remote from a test site 1 for testing a protection relay system 4, a means 7 for relaying a test unit 5 and personal computers 8 and 9 at the test site 1 is arranged with terminals 32, 33 and 34 being transmitted with the conditions of a test performed at the test site 1 and test data in real time through a router 13 and a modem 12.例文帳に追加

保護継電装置４の試験をおこなう試験地１と離間した顧客側２に、試験地１で試験装置５とパソコン８、９とを中継している中継手段７に、ルータ１３とモデム１２を介して、試験地１でおこなわれている試験の状態や試験データがリアルタイムで送られてくる端末装置３２、３３、３４を配置する。 - 特許庁

A control circuit generates a block scan clock signal including a shift clock at the same timing when a control signal shows a scan shift period for inputting and outputting data in the scan chain, and generates a block scan clock signal including pulses at different timing for each of the plurality of circuit blocks when the control signal shows a capture period for testing a logic operation of the combination circuit.例文帳に追加

制御回路は、制御信号がスキャンチェーンにデータを入出力するスキャンシフト期間を示すときに、同じタイミングのシフトクロックを含むブロックスキャンクロック信号を生成し、組み合わせ回路の論理動作をテストするキャプチャ期間を示すときは複数の回路ブロック毎に異なるタイミングのパルスを含むブロックスキャンクロック信号を生成する。 - 特許庁