「testing data」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor test device which can store address data of a defective memory cell and which is inexpensive, a method for testing a semiconductor, and a method for manufacturing a semiconductor device.例文帳に追加

不良メモリセルのアドレスデータを記憶可能で、且つ安価な半導体試験装置、半導体試験方法、および半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide highly precise detection results by testing the reliability of a skew angle of inputted image data and a skew angle after a correction.例文帳に追加

入力された画像データの傾き角度や補正後の傾き角度の信頼性を検定することにより、より精度の高い検出結果を得ることができること。 - 特許庁

Data of those function block 3 and testing block 5 are recorded on a recording medium such as a CD-ROM and read out by a driver on the computer.例文帳に追加

これら機能ブロック３、およびテスト用ブロック５のデータはＣＤ−ＲＯＭなどの記録媒体に記録され、コンピュータのドライバによって読み出される。 - 特許庁

By arranging the receiver at a required location or carrying it, it is thus possible to automatically know the test result data, even if one is away from the automatic testing device.例文帳に追加

したがって、受信機を必要な場所に配置、あるいは、携帯すれば自動試験装置から離れていても試験結果データを自動的に知ることができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing a plurality of built-in semiconductor chips in parallel by using only a part of data input/output terminals.例文帳に追加

一部のデータ入出力端子のみを用いて内蔵された複数の半導体チップを並列にテストすることのできる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To perform operation control in a simple program configuration when pattern data different in a plurality of sequencers are generated to perform testing.例文帳に追加

複数のシーケンサに対して異なるパターンデータを生成して試験を行わせる場合において、簡単なプログラム構成で動作制御を行うことを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus which stores data in a predetermined address of a memory without preprocessing of calculating each test to shorten a calculating time.例文帳に追加

本発明は、各試験の演算の前処理無しに、所定のメモリのアドレスの番地へ格納させて演算時間を短縮した半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

An interleave circuit for performing data diffusion processing is set in an output portion of the scan chain set as a path used for testing an integrated circuit such as an LSI.例文帳に追加

ＬＳＩなどの集積回路のテスト用パスとして設定されたスキャンチェインの出力部にデータ拡散処理を行うインターリーブ回路を設定した。 - 特許庁

To provide the precise concentration measurement of visual smoke in a wind tunnel testing device and provide a reliable data with high text precision.例文帳に追加

風洞実験装置において、可視煙の正確な濃度計測を行い、実験精度が高く、信頼性の高いデータを得ることができるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which applies test pattern data to many DUTs without complicating a layer constitution of a printed board.例文帳に追加

プリント基板の層構成を複雑化させることなく、多数のＤＵＴに対して試験パターンデータを印加することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A computer implemented method, a data processing system and the processor are provided for thermal throttling control for testing of real-time software.例文帳に追加

リアルタイム・ソフトウェアを試験するためのサーマル・スロットリング制御のための、コンピュータによって実施される方法、データ処理システム、およびプロセッサを提供する。 - 特許庁

To provide a railway vehicle testing apparatus capable of accurately simulating passage irregularities without measuring track irregularity data of a track of a test section.例文帳に追加

試験区間の軌道の軌道不整データを測定することなく通り不整を正確に模擬することのできる車両試験装置を提供すること。 - 特許庁

To obtain a display system by which test data generated by a boundary scanning testing device is displayed in a form which is easily understood by a debugging engineer in the production field of an electronic circuit.例文帳に追加

電子回路製造分野において境界走査テスト装置によって生成されるテスト・データをデバッグ技術者が理解し易い形式で表示する。 - 特許庁

For carrying out testing, parasitic capacitances are found using the design information, operations for weighting are performed on test data or thresholds for determining acceptance.例文帳に追加

また、設計情報を利用して寄生容量等を求め、検査データもしくは良否の判定をするしきい値に対し重み付け演算をして検査する。 - 特許庁

To provide a device and method for testing a system between data communication equipment for performing an operation confirmation test of the entire system without arranging a person at the opposite party side.例文帳に追加

対向側に人員を配置することなく、システム全体の動作確認試験を行うデータ通信装置間システム試験装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test apparatus testing appropriately a memory to be tested which performs simultaneously write-in and read-out of data for a plurality of blocks by multi-bank operation.例文帳に追加

マルチバンク動作により複数のブロックに対して同時にデータの書き込み又は読み出しを行う被試験メモリを適切に試験する試験装置を提供する。 - 特許庁

To easily and simply perform operation of initial setting of a fire detector by obtaining detector characteristic data through monitoring operation and testing operation and to greatly lighten the burden of the operation.例文帳に追加

監視動作及び試験動作により検知器固有データを取得して初期設定する作業が簡単且つ容易にでき、作業負担を大幅に低減する。 - 特許庁

The printer 1 transmits data for testing a communication environment to the information communication terminal 2, and receives a frame returned from the information communication terminal 2.例文帳に追加

プリンタ１は、情報通信端末２に通信環境試験用データを送信し、情報通信端末２が折り返し送信したフレームを受信する。 - 特許庁

To shorten a designing time and a testing time by using arranging name in data used in a weighing control operation and fixing a weighing control operation program.例文帳に追加

秤量制御演算で使用するデータに配列ネームを用い、秤量制御演算プログラムを固定化させることにより設計時間、試験時間を短縮する。 - 特許庁

The method and apparatus for testing the semiconductors are configured to classify useful data in a set of test results.例文帳に追加

本発明の様々な局面による半導体をテストするための方法および装置は、テスト結果のセットにおいて有効なデータを分類するように構成される。 - 特許庁

A testing device 900 tests a communication control unit 10 functioning as a switching device of a layer 7 for relaying communication data based on information on the layer 7.例文帳に追加

試験装置９００は、レイヤ７の情報に基づいて通信データを中継するレイヤ７スイッチ装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

A testing device 900 tests a communication control device 10 which functions as a router connecting a plurality of networks and relaying communication data between the networks.例文帳に追加

試験装置９００は、複数のネットワークを接続し、ネットワーク間で通信データを中継するルータ装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

A testing apparatus 900 tests a communication control unit 10 functioning as a grammar checking device for checking grammar in a script included in communication data.例文帳に追加

試験装置９００は、通信データに含まれるスクリプトの文法をチェックする文法チェック装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit testing apparatus capable of shortening the writing time of format data and improving throughput and provide its method.例文帳に追加

フォーマットデータの書き込み時間を短縮し、スループットの向上を図ることのできる半導体集積回路試験装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

A testing device 900 tests a communication control unit 10 functioning as a filtering device for filtering data transmitted from a terminal to a server.例文帳に追加

試験装置９００は、端末からサーバへ送信されるデータをフィルタリングするフィルタリング装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

To easily debug a program for testing a semiconductor for a semiconductor device operating, based on packet data such as a packet transfer type memory device.例文帳に追加

パケット転送型メモリデバイスのようにパケットデータに基づいて動作する半導体デバイスに対する半導体試験用プログラムを容易にデバッグできるようにする。 - 特許庁

To provide test result data with a high degree of freedom for a user of a semiconductor integrated circuit testing device and to reduce cost on the utilization.例文帳に追加

半導体集積回路試験装置のユーザがより高い自由度で試験結果データを利用することができると共に、当該利用に関するコストを低減する。 - 特許庁

To display a large quantity of measured data to be observed when testing traveling of a train in comparison with at least one of the position and speed of the train.例文帳に追加

列車の走行試験に当たり観測すべき多数の計測データと列車の位置及び速度の少なくとも一方とを対比して表示する。 - 特許庁

To easily identify chemical structure of a testing material having unknown chemical structure, based on a magnetic resonance observed spectrum, without using standard data prepared in advance.例文帳に追加

予め作成された標準データを用いることなく、磁気共鳴実測スペクトルから化学構造未知の試験材料の化学構造を容易に同定する。 - 特許庁

The three Ministries have also been disclosing the results of the testing by reporting to the relevant councils and by posting numerical data on the websites of the three Ministries. 例文帳に追加

これらの試験の結果については、これまで、関係審議会への報告や、数値データの３省ホームページへの掲載等を通して公表してきている。 - 経済産業省

To provide an anti-refraction property testing method which enables the efficient obtaining of anti-refraction property data, which has precision equal to or higher than that of a result obtained from a conventional testing method and also satisfies reliability, in a short time, and an anti-refraction property tester.例文帳に追加

従来の試験方法から得られる結果と同等以上の精度を有し且つ信頼性をも満足させる耐屈折性データを効率よく短時間で得ることのできる試験方法及びその試験方法を行なう試験装置を提供する - 特許庁

A load indicator LM for indicating a load value that is test data to a cross head 5 of a testing machine, a cross yoke 6, or a post 18, and a displacement indicator DM for displaying displacement are installed in the machine frame of the testing machine, namely the cross head 5 or the cross yoke 6.例文帳に追加

試験機のクロスヘッド５もしくはクロスヨーク６もしくは支柱１８に試験データである荷重値を示す荷重表示器ＬＭや、変位を表示する変位表示器ＤＭを試験機の機枠すなわちクロスヘッド５あるいはクロスヨーク６に設置する。 - 特許庁

After recording the test data in each of the sectors, a value for a filter factor of an FIR filter arranged in a data reproduction system is changed from the optimal value, frequency gain is reduced, the testing data is reproduced, and the sector in which the reproduction failure occurs is registered as the defect.例文帳に追加

各セクタに試験データを記録したあと、データ再生系に設けたＦＩＲフィルタのフィルタ係数の値を最適な値から変更して周波数利得を低下させて試験データを再生し、再生エラーが発生したセクタを欠陥登録する。 - 特許庁

The method and the device for data analysis according to various aspects are so constituted that a statistical outlier which includes a local outlier for showing an outlier in a subset of larger data population at testing data of a component can be identified.例文帳に追加

様々な局面に従ったデータ解析のため方法および装置は、より大きなデータ母集団のサブセットの中の外れ値を表す、局所的外れ値を含む、コンポーネントの試験データの中の統計的外れ値を識別するように構成される。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus reads out all of the 5-bit from a one-time readout, from the storage positions of data storage sections 108a, 108b and 108c according to the constraint of the readout with a data arithmetic section 110 and performs determination processing of data with a determining section 111.例文帳に追加

そして、データ演算部１１０により読み出しの制限に従ってデータ格納部１０８ａ，１０８ｂ，１０８ｃの格納位置から１回の読み出しで５ビット全てのデータを読み出し、判定部１１１によりデータの判定処理を行う。 - 特許庁

Moreover, echo canceling is necessary, audio quality is monitored by the echo canceler function of the DSP23 by returning first the audio data for testing by the LANC257, IP network 902, and LAC24, and then returning next the audio data for testing including an echo element by the DSP23, IP network 902, and LAC257.例文帳に追加

また、エコーキャンセラーを行う場合には、試験用音声データをＬＡＮＣ２５７、ＩＰ網９０２、ＬＡＣ２４で折り返した後、エコー成分を盛り込ませた試験用音声データをＤＳＰ２３、ＩＰ網９０２、ＬＡＣ２５７を折り返すことでＤＳＰ２３でのエコーキャンセラー機能による音声の品質の監視を行う。 - 特許庁

In an embodiment, the data management method includes the steps of: testing for the presence/absence of the controller module 340 through a first data port using the processor 330; and testing for the presence/absence of the controller module 340 through a second port if the controller module 340 is not found through the first port.例文帳に追加

一実施形態において、データ管理方法は、プロセッサ３３０を用いて、第１のデータ・ポートを通じてコントローラ・モジュール３４０の有無をテストするステップと、第１のデータ・ポートを通じて、コントローラ・モジュール３４０が見つけられない場合には、第２のデータ・ポートを通じて、コントローラ・モジュール３４０の有無をテストするステップと、を含む。 - 特許庁

In this case, the input/output circuit for non-inspection outputs the non-inspection data supplied to the probing pad from the testing apparatus to the internal circuit via the internal bus for non-inspection, and outputs the response data for non-inspection based on such output to the testing apparatus via a transfer circuit, input/output circuit for inspection and probing pad.例文帳に追加

このとき、非検査用入出力回路は、テスト装置からプロービングパッドに供給された非検査用データを内部回路に非検査用内部バスを介して出力し、これに基づく非検査用応答データを、トランスファー回路、検査用入出力回路、プロービングパッドを介してテスト装置に出力する。 - 特許庁

The semiconductor test system is composed of a navigation system which makes up all conditions required for photographing/testing from design information, and a scanning electron microscope system which actually carries out photographing/testing, and then the all conditions required for photographing/testing are made up from the design information such as CAD data or the like, and the actual test is carried out in those conditions.例文帳に追加

CADデータ等の設計情報から撮影／検査に必要な全ての条件を作成し、その条件で実際の検査を行うために、半導体検査システムを設計情報から撮影／検査に必要な全ての条件を作成するナビゲーションシステムと実際の撮影／検査を実行する走査型電子顕微鏡システムとから構成させる。 - 特許庁

The control part 21 incorporates a testing command and expected value data from input terminals 11, 12 and outputs a command to the functional block 31 or the like, and the expected value data to a determining part 40 through an internal bus 30.例文帳に追加

制御部２１では、入力端子１１，１２から試験用のコマンドと期待値データが取り込まれ、内部バス３０を介してコマンドが機能ブロック３１等に、期待値データが判定部４０に出力される。 - 特許庁

In the testing method for the nonvolatile memory device, test data are stored and held in a buffer in the semiconductor memory device when a test is conducted instead of loading the test data from outside each time memory cells are programmed.例文帳に追加

本発明の不揮発性メモリ装置のテスト方法は、テスト時に、メモリセルがプログラムされるとき毎にテストデータを外部からローディングしてくる代わりに、テストデータを半導体メモリ装置の内部のバッファに貯蔵して置く。 - 特許庁

Each visual acuity testing device is provided with a measurement data obtaining and outputting means 16 obtaining measurement data MD, ID, PRI (Person Response Information) and ISI necessary for calculating the visual acuity, and outputting them to the central management device.例文帳に追加

各視力検査装置は、視力を演算するために必要な測定データＭＤ、ＩＤ、ＰＲＩ、ＩＳＩを取得して中央管理装置に出力する測定データ取得出力手段１６を有する。 - 特許庁

As a result, for example, data stored in a ROM area are surely read from the ferroelectric memory having the ROM area in which the data are written beforehand in the testing step or the like of the manufacturing process.例文帳に追加

この結果、例えば、製造工程の試験工程等で予めデータが書き込まれるＲＯＭ領域を有する強誘電体メモリにおいて、ＲＯＭ領域に記憶されているデータを確実に読み出すことができる。 - 特許庁

This invention is obtained by improving the test system for sampling the test data from a test result memory in which the test results data of an IC test device for testing a plurality of test objects are stored.例文帳に追加

本発明は、複数の被試験対象の試験を行うＩＣ試験装置による試験結果データが格納される試験結果記憶部から、試験結果データをサンプリングするテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

The communication application 10 and the cipher communications software 11 or the encryption protocol processor 12 make encrypted communications with the testing host 2 through an outside communications section 13 using the cryptograph data, based on the test data.例文帳に追加

通信アプリケーション１０と暗号通信ソフト１１または暗号化プロトコル処理部１２は、試験データに基づいた暗号文データを用いて、外部通信部１３を介して試験用ホスト２と暗号化通信を行う。 - 特許庁