i d fとは 意味・読み方・使い方

The degree of distance from a main point 71 to each of the best aberration points 73M, E, F, G, H, I, J in the direction of an optical axis 32 are expressed by d0-d3 as attached figures to (d).例文帳に追加

光軸32方向へ主点71から各最良収差点73M,E,F,G,H,I,Jまでの距離を次数をｄの添字として、ｄ０〜ｄ３と表す。 - 特許庁

(f) the period taken by the applicant to file the documents referred to in section 29(2)(c)(i), (d)(i) or (e)(i) and pay the prescribed fee for an examination report, calculated from the date of the Registrar's notification under section 29(1) to the date on which the applicant files the documents and pays the fee;例文帳に追加

(f) 出願人が第29条(2)(c)(i)，(d)(i)又は(e)(i)にいう書類を提出し，審査報告についての所定の手数料を納付するのに要した期間。第29条(1)に基づく登録官の通知の日から出願人が当該書類を提出し，当該手数料を納付した日までが計算される。 - 特許庁

(i) where an applicant is a juridical person, the documents listed in (a), (b), (d), (e), (f) and (g) of item (i) of paragraph (2) of Article 1-2;発音を聞く 例文帳に追加

一　申請者が法人である場合にあつては、第一条の二第二項第一号イ、ロ、ニ、ホ、ヘ及びトに掲げる書類 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Calculation devices for the respective control boards C, D, H, L, P and A and various kinds of boards E, F and I are constituted of neuron chips.例文帳に追加

各制御基板Ｃ，Ｄ，Ｈ，Ｌ，Ｐ，Ａ及び各種基板Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｉの演算装置はニューロンチップで構成されている。 - 特許庁

Parameters a, b, c, d, e, f, g, h, i and j are determined based on R, G and B values of a reference color which is desirable to be extracted.例文帳に追加

パラメータａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，ｆ，ｇ，ｈ，ｉ，ｊは、抽出したい基準色のＲ，Ｇ，Ｂの値に基づいて決定される。 - 特許庁

A master wireless terminal (a) that is cable-connected to a master device M, and slave wireless terminals b, c, d, e, f, g, h... that are cable-connected to slave devices A, B, C, D, E, F, H, I... are hierarchically arranged.例文帳に追加

マスタ機器Ｍに有線接続される無線端末親機ａと、スレーブ機器Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｈ、Ｉ．．．に有線接続される無線端末子機ｂ、ｃ、ｄ、ｅ、ｆ、ｇ、ｈ．．．を階層的に配設する。 - 特許庁

A telephone line and a DSP 108 are connected, and a semiconductor DAA 120 is used, which performs digital I/F, A/D and D/A conversion for modulation and demodulation, and network control.例文帳に追加

電話回線とＤＳＰ１０８とを結合し、ディジタルＩ／Ｆ、変復調の為のＡ／Ｄ及びＤ／Ａ変換、及び網制御を行う半導体ＤＡＡ１２０を用る。 - 特許庁

Positions A, B, C, D, E, F, G, H, and I, i.e., three points on the three surfaces of the workpiece 1' orthogonally crossing one another, are detected by a touch probe 2.例文帳に追加

該加工物１’の互いに直交する３つの面上のそれぞれ３点の位置Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉをタッチプローブ２で検出する。 - 特許庁