「体積検査」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

はんだ印刷検査機１０は基板上のランドのクリームはんだの体積を計測して検査を行い、計測値を含む検査結果情報を検査データ管理装置１０２に送信する。例文帳に追加

A solder printing inspection machine 10 inspects a cream solder on a land of a board by measuring the volume of the cream solder, and sends information on the inspection result containing a measurement value to an inspection data management device 102. - 特許庁

一方で、検査領域毎のクリームハンダの理想の体積値（理想値）を、検査領域情報記憶手段に、予め記憶しておく。例文帳に追加

On the other hand, the ideal volume value of cream solder for every inspection region (ideal value) is beforehand stored by an inspection region information storage means. - 特許庁

電極に対応する検査領域を三次元計測し、当該検査領域におけるクリームハンダの体積値（測定値）を測定する。例文帳に追加

Three-dimensional measurement of the region to be inspected corresponding to the electrode is carried out so as to measure the volume value (measured value) of the cream solder in the inspection region. - 特許庁

はんだ印刷検査機１０は、検査データ管理装置１０２から検査対象のはんだ付け部位に対応するクリームはんだの体積を読み込み、これに基づき判定基準値を決定する。例文帳に追加

The solder printing inspection machine 10 reads the volume of the cream solder corresponding to the soldered portion to be inspected from an inspection data management device 102, and determines a determination criterion value based on the read volume. - 特許庁

レーザ光を発射するレーザ装置５およびレーザ装置５が発射するレーザ光を照射され、超音波Ｃを発生する送信ダイヤフラム３９を有する体積検査用超音波送信部１７を備え、体積検査用超音波送信部１７の送信ダイヤフラム３９が発生する超音波Ｃを被検体に照射して体積検査を行う超音波検査装置１を提供する。例文帳に追加

The ultrasonic inspection device 1 comprises a laser device 5 for emitting laser light and an ultrasonic transmission section 17 for volume inspection having a transmission diaphragm 39 for generating ultrasonic waves C, which performs volume inspection by applying the ultrasonic waves C generated by the transmission diaphragm 39 to the object to be inspected. - 特許庁

また、検査部２１ｂは、画像処理あるいは検査において、Ｘ線画像６１ａ，６１ｂに基づいて物品Ｇの体積を算出し、所定の基準体積と比較する。例文帳に追加

The inspection section 21b calculates the volume of the article G based on the X-ray images 61a and 61b in image processing or inspection, and compares it with a predetermined reference volume. - 特許庁

被検査物のＸ線透過像からその大きさや体積を求め、正常／異常の判定を行うＸ線欠品検査装置において、被検査物が複数個接触した状態で搬送されたり、重なり合った状態で搬送されてきても、個々の被検査物について正しく検査することが可能で、検査の歩留りを向上させ、また、搬送に特別な工夫を施す必要のない装置提供する。例文帳に追加

To provide an X-ray defect inspection device for determining normality/abnormality of inspection objects by determining the size or the volume from radiographic images of the inspection objects, capable of accurately inspecting each inspection object, even if the inspection objects are transported, in a state that a plurality of them are in contact with each other or are overlapped, and improving the yield of inspection, without performing special for transportation. - 特許庁

まず照明装置４１により、体積型ホログラム層１１を有する体積型ホログラム積層体１０に対して体積型ホログラム層１１の特定波長と異なる波長の検査光Ｌ１を照射する。例文帳に追加

At first, the volume type hologram laminate 10 having the volume type hologram layer 11 is irradiated with inspection light L1 of a wavelength different from the specific wavelength of the volume type hologram layer 11 by an illuminating device 41. - 特許庁

体積型ホログラム層の再生光の影響を受けることなく、体積型ホログラム積層体の欠陥を精度良く安定して検出することが可能な体積型ホログラム積層体の検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for inspecting a volume type hologram laminate capable of accurately and stably detecting the flaw of the volume type hologram laminate without undergoing reproduction light on a volume type hologram layer. - 特許庁

その修正後のクリームハンダＣの体積が測定され、クリームハンダＣに関し良否の検査が行われる。例文帳に追加

The volume of the cream solder C after correction is measured, and the quality on the cream solder C is inspected. - 特許庁

光結合デバイスの実装体積や実装構造上の制約のより少ない状態で、検査コストが低減できるようにする。例文帳に追加

To provide an optical coupling device that reduces inspection cost, while reducing restrictions on mounting volume and mounting structure thereof. - 特許庁

複合容器を非破壊検査して、樹脂内部の空隙の体積を空隙ごとに測定する（Ｓ１〜Ｓ６）。例文帳に追加

A composite container is subjected to a nondestructive inspection to measure the volume of an aperture in a resin with respect to each aperture (S1-S6), and the volume of each aperture is compared with a first threshold which is determined beforehand. - 特許庁

超音波検査から得られた３−Ｄ体積データから付加的２−Ｄ画像をより簡便かつ高能率で取り出す。例文帳に追加

To more easily and highly efficiently take out an additional 2-D image from 3-D volume data obtained from an ultrasonic inspection. - 特許庁

ブリスターパックのポケットを満たす粉末物質の薄層の形態にある材料の体積を検査する方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for checking the volume of material in the form of a thin layer of a powdery substance filling the pockets of a blister pack. - 特許庁

この選択ルールには、検査対象のはんだ付け部位をはんだ印刷検査機１０が計測したときに求めたクリームはんだの体積によっていずれの判定基準値を選択するかが定義されている。例文帳に追加

The selection rule has a definition as to which determination criterion value is selected depending on the volume of the cream solder obtained when the solder printing inspection machine 10 inspected a soldered portion to be inspected. - 特許庁

はんだ付け検査機３０は、リフロー後基板の画像から検査対象のはんだ付け部位の特徴データを検出すると共に、管理データ管理装置１０２との通信により、検査対象のはんだ付け部位に対応する箇所に対してはんだ印刷検査機１０で計測されたクリームはんだの体積を取得する。例文帳に追加

A solder inspection machine 30 detects characteristic data of a soldered portion to be inspected from images of the board as of after a reflow and, through communication with the inspection data management device 102, obtains the volume of the cream solder that has been gained by the measurement of a portion corresponding to the soldered portion to be inspected conducted by the solder printing inspection machine 10. - 特許庁

具体的には、クリームハンダの印刷位置からの位置ズレ情報（検査対象面に平行な二次元方向の情報）と、クリームハンダの高さ関連情報（検査対象面に垂直な高さ方向の情報）とが、すなわちクリームハンダの高さ、体積値、及び、三次元形状とが出力される。例文帳に追加

Specifically, positioning error information (information in the two-dimensional direction parallel to an inspection object surface) from a printing position of cream solder and height related information (information in the height direction vertical to the inspection object surface) of the cream solder, namely, the height, a volume value and a three-dimensional shape of the cream solder, are output. - 特許庁

本発明は、フェーズドアレイ超音波検査に関し、より具体的には、集束超音波ビームを用いる、材料又は試験片の体積の非破壊評価のための新規の２次元フェーズドアレイトランスデューサ及び検査方法に関する。例文帳に追加

To specifically provide a new two-dimensional phased array transducer and an inspection method for the nondestructive evaluation of the volume of a material or a test piece through the use of a converging ultrasonic beam on phased array ultrasonic inspection. - 特許庁

試薬導入部４０に注入される試薬が１０μｌ、洗浄液導入部２３に注入される試薬が１０μｌ、検査対象導入部３５から注入される抗原が１μｌならば、支持用リブ３２〜３４の体積を引いた廃液溜部３１の容積は、２１μｌより大きい体積とする。例文帳に追加

The capacity of the waste liquid reservoir part 31 excluding the volume of the support ribs 32-34 is volume larger than 21 μl assuming that a reagent is injected into the reagent introduction part 40 by 10 μl, a reagent is injected into the cleaning liquid introduction part 23 by 10 μl, and an antigen is injected from the inspection object introduction part 35 by 1 μl. - 特許庁

エネルギーの異なる2種類のx線を骨に透過させることにより骨密度（一定体積の骨に含まれる骨塩の量）を測定できる画像検査法。例文帳に追加

an imaging test that measures bone density (the amount of bone mineral contained in a certain volume of bone) by passing x-rays with two different energy levels through the bone.  - PDQ®がん用語辞書 英語版

Ｘ線やγ線の放射方向や照射面積と照射体積を容易にコントロールすることができ、高い解像度と高いコントラストの得られる放射線利用検査装置を提供する。例文帳に追加

To easily control emitting directions, irradiation areas and irradiation volumes of an X-ray and a γ ray to provide high resolution and high contrast. - 特許庁

バンプの高さや体積のバラツキが十分小さくできる基板の製造方法と、コストをかけずに多ピン化に対応した導通検査方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a manufacturing method of a substrate in which variations of heights or volumes of bumps can be made sufficiently small, and a conduction inspection method adapted to multiple pins without cost increase. - 特許庁

検査部６はセンサヘッドの走査でプリント基板Ｐ上の半田の変位量を検出し、処理部７はセンサヘッドの走査位置により半田の配置位置、高さ、面積、体積等を演算して求める。例文帳に追加

The unit 6 detects a displacement amount of the solder on the board P by scanning a sensor head, and the unit 7 calculates to obtain a disposing position, height, area, volume and the like of the solder according to the scanning position of the head. - 特許庁

本開示は、直線パターンで配置された複数のトランスデューサ（１０２）から形成される、材料及び体積成分検査のための２次元超音波フェーズドアレイ（１００）の適用を提供する。例文帳に追加

This disclosure provides the application of a two-dimensional ultrasonic phased array (100) made of a plurality of transducers (102) arranged in linear patterns for inspection on material and volume components. - 特許庁

ワーク厚さに対する直線性の良好な等価厚画像濃度データが得られる濃度データ変換方法および装置を実現し、体積や質量等の測定精度が高いＸ線検査システムを提供する。例文帳に追加

To realize a density data conversion method and a device capable of acquiring equivalent thickness image density data having excellent linearity to the work thickness, and to provide an X-ray inspection system having high measuring accuracy of a volume, a mass or the like. - 特許庁

透明基板を検査する方法において、十分なスピードを提供し、高度に仕上げられた表面を必要とせず、薄いガラスシートに限定されず、混入物の場所を特定の位置に識別し、極めて小さい混入物を検出するに十分な感度を示す、ガラス基板基材のバルクまたは内体積の正確な検査を可能にする。例文帳に追加

To enable the correct inspection of the bulk or internal volume of the base material of the glass substrate in the method of inspecting a transparent substrate by providing a sufficient speed, not needing highly finished surface, not limited only to a glass sheet, the locations of impurities are detected at the specific positions, and designating a sufficient sensitivity for detecting extremely small impurities. - 特許庁

この研修センターには、研修設備として、BWR運転シミュレータ（PCシミュレータ）、非破壊検査実習機器、蒸気発生器伝熱管体積検査（ECT）装置、主要機器モデル、電気設備モデル、e-ラーニング（PWR系統の学習）、ループ試験装置（異常事象模擬ロープ、プロセス計装ループ）、状態監視試験設備及び座学用教室が設けられている。例文帳に追加

This center provides the training facilities for BWR operation simulators (PC simulators), non-destructive test training equipment,eddy current test (ECT) equipments for steam generator tubing, 3-Dimentional cut models of NPP major components, electrical and instrumentation training facilities, the e-learning system (to study the PWR system), loop test devices (incident simulating loop and process instrumentation loop), condition monitoring testing facility and classrooms for lecture. - 経済産業省

電極パターンの隠蔽性およびサーモビュアによる温度測定精度に優れる他、高温での体積抵抗率および熱伝導率にも優れ、かつ明度が低く、ホットプレート、静電チャック、ウエハプローバ、サセプタなどの基板として好適な半導体製造・検査装置用セラミック基板を提供すること。例文帳に追加

To provide the ceramic substrate for semiconductor manufacture/ detector of excellent electrode pattern embeddment and temperature measurement accuracy by thermo-viewer, excellent volume resistivity and heat conductivity at a high temperature and low lightness suitable as the substrate of a hot plate, an electrostatic chuck, a wafer prober and a susceptor. - 特許庁

高温での体積抵抗率が高く、しかも、隠蔽性、大輻射熱量及びサーモビュアによる測定精度を保証することができ、ホットプレート、静電チャック、ウエハプローバ、サセプタなどとして好適な半導体製造・検査装置用セラミック基板を提供すること。例文帳に追加

To provide a ceramic board for a semiconductor manufacturing and inspection unit which exhibits high volume resistivity at a high temperature and which can ensure concealability, a large amount of radiation heat and measurement accuracy by thermoviewer and is suitable for a hot plate, an electrostatic chuck, a wafer prober and a susceptor. - 特許庁

微量の液体を吸引および吐出するための小型軽量の微量用分注ポンプを分注アームに内蔵することで分注流路の体積を減らし、流路内の液体や空気の温度変化による膨張収縮を低減し微量の検査液を精度良く分注することを可能とした。例文帳に追加

The volume of a dispensation channel is reduced, by building a small and lightweight dispensation pump for minute amount for sucking and delivering the minute liquid, and the minute inspection liquid can be accurately dispensed, by reducing the expansion or contraction due to the temperature variation in the liquid and in the air in the flow channel. - 特許庁

高温での体積抵抗率が高く、しかも、隠蔽性、大輻射熱量及びサーモビュアによる測定精度を保証することができ、ホットプレート、静電チャック、ウエハプローバ、サセプタなどとして好適な半導体製造・検査装置用セラミック基板を提供すること。例文帳に追加

To provide a ceramic substrate for devices for manufacturing and inspecting of semiconductor that have a high volume resistivity at high temperatures, can assure a large amount of radiation heat and measurement accuracy by a thermoviewer, and is suitable as a hot plate, an electrostatic chuck, a wafer prober, a susceptor, and the like. - 特許庁

超音波被検査面となる面の表面粗さが０．４μｍＲａ以下であり、その軌道輪１の全断面全てである被検体積Ｘ内に存在する欠陥が、全て欠陥面積の平方根長さで０．２mm以下である軌道輪を使用する。例文帳に追加

A bearing washer is used in which roughness of a surface as an ultrasonically inspected surface is 0.4 μmRa or less, and every defect existing in an inspected volume X, total cross section of the bearing washer 1, is 0.2 mm or smaller in square root length of defect area. - 特許庁

抗原をマイクロビーズに固定化し、反応場であるマイクロチャンバーのサイズ（容積）と、該マイクロチャンバーに保持される前記マイクロビーズの総体積を一定の範囲にする競合的免疫学的検定法、およびその方法に使用する検査ディスクを提供する。例文帳に追加

Disclosed are: a competitive immunological assay method in which an antigen is immobilized on micro-beads and the size (volume) of a micro-chamber that is a reaction field and the total volume of the micro-beads that are maintained in the micro-chamber are kept in a fixed range; and an inspection disc used in this method. - 特許庁

セラミック基板内部のそれぞれの部分で要求される諸特性、すなわち焼結性、隠蔽性、熱伝導性、体積抵抗率等を満足することができ、ウエハプローバや静電チャック等として要求される機能を充分に発揮することができる半導体製造・検査用セラミック基板を提供する。例文帳に追加

To provide a ceramic substrate for semiconductor production and inspection which can satisfy various characteristics required for the respective parts of the inside of a ceramic substrate, sintering property, concealing property, thermal conductivity, volume resistivity, or the like, and also demonstrate a demanded function as a wafer probe, an electrostatic chuck, etc. - 特許庁

次いで、プローブ（２０）と加工品の輪郭表面（１４）との間に十分な接触圧を与え、加工品の輪郭表面が検査されることを可能にするように、裏当て片（１８）内のスロット（２８）内部に少なくとも１つのシム（３２）を挿入することによって、裏当て片（１８）が体積的に拡大される。例文帳に追加

Next a sufficient contact pressure is given to between the probe 20 and the contour surface 14 of the workpiece, by inserting at least one shim 32 into the inside of a slot 28 in the backing piece 18 so as to make inspection capable for the contour surface of the workpiece, the backing piece 18 is volumetrically enlarged. - 特許庁

試薬導入部４０に注入される試薬が１０μｌ、洗浄液導入部２３に注入される試薬が１０μｌ、検査対象導入部３５から注入される抗原が１μｌならば、支持用リブ３２〜３４の体積を引いた廃液溜部３１の容積は、２１μｌより大きい体積とする。例文帳に追加

Assuming that the reagent injected into the reagent introduction part 40 is 10 μl, the reagent injected into the cleaning liquid introduction part 23 is 10 μl, and an antigen injected from the inspection object introduction part 35 is 1 μl, the volume of the waste liquid storage part 31 from which the volume of the support ribs 32-34 is subtracted is a larger volume than 21 μl. - 特許庁

高温時での体積抵抗率が少なくとも１０^8 Ω・ｃｍ以上で、しかも高温時の熱伝導率として６０Ｗ／ｍ・ｋ以上を確保することができ、更には隠蔽性、大輻射熱量、および、サーモビュアによる測定精度を保証することができる半導体製造・検査装置用セラミック基板を提供すること。例文帳に追加

To provide a ceramic substrate for devices for manufacturing and inspecting of semiconductor that has volume resistivity of at least 108 Ω.cm at high temperatures and also can secure thermal conductivity of at least 60 W/m.K at high temperatures, and further can assure shielding properties, large amount of radiant heat, and measurement accuracy by a thermo viewer. - 特許庁

高温時の体積抵抗率が少なくとも１０^8 Ω・ｃｍ以上を確保することができ、しかも、隠蔽性、大輻射熱量及びサーモビュアによる測定精度を保証することができ、ホットプレート、静電チャック、ウエハプローバ、サセプタなどとして好適な半導体製造・検査装置用セラミック基板を提供すること。例文帳に追加

To provide a ceramic substrate for semiconductor reproducing/ inspecting apparatus suitable as a hot plate, an electrostatic chuck, a wafer probe or a susceptor in which the volume resistivity of 108 Ω.cm or above can be ensured under high temperature while guaranteeing concealability, a high radiation heat quantity and measurement accuracy through a thermoviewer. - 特許庁

高温時の体積抵抗率が少なくとも１０^8Ω・ｃｍ以上を確保することができ、しかも、隠蔽性、大輻射熱量及びサーモビュアによる測定精度を保証することができ、ホットプレート、静電チャック、ウエハプローバ、サセプタなどとして好適な半導体製造・検査装置用セラミック基板を提供すること。例文帳に追加

To provide a ceramic substrate for a semiconductor producing/ inspecting device, which has a volume resistivity of at least 108 Ω.cm at a high temperature, and is able to assure concealability, a large amount of radiation heat and measuring accuracy by a thermoviewer and suitably used as a hot plate, an electrostatic chuck, a wafer prober, a susceptor or the like. - 特許庁