「定温試験」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

環境試験装置１ではワーク載置面温度制御機構５によって所定温度に制御されているワーク載置面４ａに載せた被試験品３が冷却あるいは加熱されて所定の試験温度に移行する。例文帳に追加

This environment testing device 1 cools or heats the testing object 3 placed on a work placing surface 4a controlled in the prescribed temperature by a work placing surface temperature control mechanism 5, and transfers the testing object to a prescribed testing temperature. - 特許庁

基準電圧電源を準備したり煩雑な調整を行うことなく、材料試験時の温度を表示することが可能な材料試験機および材料試験機における測定温度表示方法を提供する。例文帳に追加

To provide a material testing machine capable of displaying temperature in a material test without preparing a reference voltage power supply and without performing complicated adjustment, and a measured temperature display method in the material testing machine. - 特許庁

恒温槽２０に非接触温度測定器３６と、測定温度を分析し恒温槽内の温度を制御する制御機器３７とを備えることで、大型の試験物の環境温度試験が行える試験装置を実現できる。例文帳に追加

This test device capable of performing the environment temperature test of the large-size tested object can be realized by equipping, to a thermostat 20, a non-contact temperature measurement device 36 and a control device 37 analyzing a measurement temperature to control a temperature inside the thermostat. - 特許庁

また、熱量の小さな被試験品のみを所定温度状態になるように加熱あるいは冷却すればよいので、効率良く環境試験を行うことができ、試験槽の小型化も図ることができる。例文帳に追加

Since only the specimen with a small caloric value has to be heated or cooled so that it becomes the predetermined temperature state, the environmental test can be carried out efficiently, and the test tank can be miniaturized. - 特許庁

温度検出部で検出すべき所定温度での温度検出試験を行なうことなく、相対的に温度検出部を補正することができ、試験時間の短縮化を図って、試験コストを圧縮することができる。例文帳に追加

The temperature detecting part can be relatively compensated without temperature detection test at the predetermined temperature to be detected by the temperature detecting part, whereby test time can be shortened and a test cost can be reduced. - 特許庁

試験槽に開口が設けられた構造を備え、比較的広い設定温度範囲において試験槽の槽内温度を好適に制御することができる温度試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a temperature test device having a structure that a test bath is equipped with an opening and capable of favorably controlling temperature in the test bath in a relatively wide setting temperature range. - 特許庁

試験装置１は、運転モードの切替に際して、試験部内の雰囲気温度が所定温度に到達するまでの移行期間において試験室１０に対して導入される気体の風速が、所定温度に到達してから高温晒しモードあるいは低温晒しモードが完了するまでの試験期間において試験室に対して導入される気体の風速よりも高くなる。例文帳に追加

When switching an operation mode in the testing device 1, the air velocity of air introduced into the testing chamber 10 during a shift period until an atmosphere temperature in a testing part reaches a predetermined temperature is higher than the air velocity of air introduced into the testing chamber during a testing period until the high temperature exposing mode or the low temperature exposing mode is completed after reaching the predetermined temperature. - 特許庁

温度特性試験時に、試験温度の検出を行なう試験温度検出工程と、試験温度に対する検出結果の誤差量を測定する誤差測定工程と、測定された誤差量に基づき、所定温度を検出する温度検出部の補正を行なう補正工程とを含む。例文帳に追加

The method includes a test temperature detection step for detecting a test temperature in testing temperature characteristics, an error measurement step for measuring an amount of an error in the detection result of the test temperature, and a compensation step for compensating for a temperature detecting part for detecting the predetermined temperature based on the measured amount of the error. - 特許庁

冷熱衝撃試験装置１は、予備試験において環境温度検知センサ９によって検知される試験環境の雰囲気温度が所定の設定温度に到達するまでの時間と、試料Ｗ自身の温度が所定の設定温度に到達するまでの時間との差異時間を記憶しておく。例文帳に追加

The thermal shock testing device 1 stores a difference time between a time until an ambient temperature in a testing environment detected by an environment temperature detecting sensor 9 reaches a prescribed temperature, and a time until a temperature of the sample W itself reaches the prescribed temperature, in a preliminary test. - 特許庁

熱疲労評価装置１は、試験環境温度を低温設定温度と高温設定温度との間で変化させる際の温度変化率を設定し、この設定通りに試験環境温度を推移させることができる。例文帳に追加

The device 1 sets a temperature change rate when changing the testing environment temperature between a low-temperature set temperature and a high-temperature set temperature, and changes the testing environment temperature as set. - 特許庁

判定手段３は、モニタされた素子温度が設定温度に達するまで試験を停止し、設定温度に達した時点で電力印加回路４に試験再開の信号を送る。例文帳に追加

The determining means 3 halts the test until the monitored temperature of the element 1 reaches a set temperature and transmits a signal to renew the test to an electric power impressing circuit 4 at the time it reaches the set temperature. - 特許庁

冷熱衝撃試験装置１は、本試験において、環境温度検知センサ９の検知温度が所定の設定温度に到達した後、差異時間が経過した時点から所定の晒し時間にわたって試料Ｗを試験環境下に晒す。例文帳に追加

In the thermal shock testing device 1, the sample W is exposed under the testing environment over a prescribed exposure time counted from a time point with the lapse of the difference time, after the detection temperature by the environment temperature detecting sensor 9 reaches the prescribed set temperature, in an objective test. - 特許庁

樹脂試験片を所定濃度の窒素酸化物に所定温度で所定時間暴露した後、該樹脂試験片の変色進行度合いを色差計で分析する。例文帳に追加

The progress degree of discoloration in a resin test piece is analyzed by a color difference meter, after the test piece is exposed to nitrogen oxides of a prescribed concentration at a prescribed temperature for a prescribed time. - 特許庁

被試験品を温度むらなく一様に冷却或いは加熱して所定温度に迅速に到達させ、その状態に安定させることのできる環境試験装置を提案すること。例文帳に追加

To propose an environment testing device allowing the temperature of a testing object to quickly reach a prescribed temperature by uniformly cooling or heating the testing object without nonuniformity of a temperature and capable of stabilizing the testing object in that state. - 特許庁

温度槽内のパレット搬送路を長くすることなく、所定温度に到達しているワークを短い間隔で試験位置に送り出すことができる環境試験装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an environment testing apparatus capable of sending out a work reaching a predetermined temperature to a testing position at a short interval without extending the pallet feed passage in a temperature tank. - 特許庁

また、このワーク載置面温度制御機構５を利用して所定温度状態に制御された圧縮空気がノズル６３から試験空間２内に供給されるので、試験空間内の雰囲気温度はむらの無い均一な温度状態になる。例文帳に追加

Since compressed air controlled in a prescribed temperature state is supplied in a testing space 2 from a nozzle 63 by using this work placing surface temperature control mechanism 5, an ambient temperature in the testing space becomes a uniform temperature state without nonuniformity. - 特許庁

シリコンウエハ等の加熱加速試験においてウエハ等の実際の温度が設定温度通りに制御することができ、かつ、ウエハ等の種類や不良率によってばらつかないような半導体素子の試験装置を実現する。例文帳に追加

To provide a testing device for a semiconductor element wherein the actual temperature of a wafer, etc., is controlled to a set temperature in a heated acceleration test for a silicon wafer, etc., while no dispersion occurs due to the kind, or percent defective of a wafer. - 特許庁

温度特性試験時の試験温度に対する検出結果の誤差量を測定し、この誤差量に基づいて所定温度を検出する温度検出部の補正を行なう。例文帳に追加

The amount of the error of the detection result for the test temperature in testing the temperature characteristics is measured, and the temperature detecting part for detecting the predetermined temperature is compensated based on the amount of the error. - 特許庁

本発明は短時間に所定温度に試験用ガスを調温できるガス分析試験装置及びそれに使用する反応装置を提供することを解決すべき課題とする。例文帳に追加

To provide a gas analysis test apparatus capable of adjusting the temperature of the test gas to a predetermined value in a short time, and a reaction device used therefor. - 特許庁

この測定温度が規定値以上になった場合には、温度制御手段（可変抵抗器８）を制御し、温度制御手段（冷却ファン７）の風量を調整して被試験物を規定値まで下げることにより、高温試験を行う。例文帳に追加

When the measured temperature is a regulated value or more, a temperature control means (variable resistor 8) is controlled, and the air quantity of a temperature control means (cooling fan 7) is adjusted to cool the object to the regulated value, whereby a high-temperature test is performed. - 特許庁

半導体装置Ｄを所定温度に保持した状態で試験を行う試験部１２設けられるテストヘッド１８Ａにおいて、テストボード１に搭載されている半導体装置Ｄのうち偶数列奇数行の半導体装置Ｄの試験をした後に、偶数列偶数行の半導体装置Ｄの試験を行う。例文帳に追加

In a test head 18A provided for a test part 12 for testing semiconductor devices D in a state held at a prescribed temperature, semiconductor devices D in even-numbered rows and odd-number1ed columns among the semiconductor devices D mounted to a test board 1 are tested, and the semiconductor devices D in even-numbered rows and even-numbered columns are tested. - 特許庁

電子部品を所定温度に維持した状態で該電子部品の特性を試験する電子部品の温度特性試験装置において、前記電子部品を所定温度に維持された温度調節ユニットに接触させ、該電子部品の温度を制御する。例文帳に追加

In the testing apparatus for the temperature characteristic of the electronic component, the characteristic of the electronic component is tested in a state that the electronic component is maintained at a prescribed temperature, the electronic component is brought into contact with a temperature control unit which is maintained at the prescribed temperature, and the temperature of the electronic component is controlled. - 特許庁

さらに、この試験方法を用いて、所定温度範囲での熱サイクルを受けた時に前記はんだ接合構造体の最大歪部に生じる非弾性歪を計算により求めて、これと同じ非弾性ひずみを試験片に付与することで、冷熱環境試験に代替するはんだ接合構造体の熱疲労評価方法を得る。例文帳に追加

Further, this testing method is used to calculate non-elastic strain produced in the maximum strain part of the solder joint structure when a heat cycle within a predetermined temperature range is received to impart the same non-elastic strain to a test piece to obtain the thermal fatigue evaluation method of the solder joint structure substituted for a cold heat environment test. - 特許庁

試験軸受１６に油圧シリンダ２１、２２により、ラジアル荷重及びアキシアル荷重が負荷され、テスト容器１８の内部の温度が、環境温度制御ユニット１９により試験軸受１６の使用温度環境に応じた所定温度に温度調節される。例文帳に追加

The test bearing 16 is applied with a radial load and an axial load by hydraulic cylinders 21, 22, and the temperature inside the test container 18 is adjusted to a predetermined temperature corresponding to the operating temperature environment of the test bearing 16 by an environmental temperature control unit 19. - 特許庁

電子装置を所定温度以上に加熱してその信頼性を試験する場合に、配線基板とプローブ針との接触を良好に維持できるようにした配線基板の補強手段及び、配線基板の支持具、電子装置の信頼性試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a reinforcing means of a wiring board for appropriately maintaining the contact between the wiring board and a probe needle when an electronic device is heated to a specific temperature or higher for testing its reliability, to provide a supporting tool of the wiring board, and to provide a method for testing reliability of the electronic device. - 特許庁

所定温度をばらつき少なく検出し、検出された所定温度に応じて動作状態を最適化する温度検出機能を備えた半導体装置、試験方法、及びリフレッシュ制御方法を提供することを目的とすること例文帳に追加

To provide a semiconductor device provided with temperature detection function detecting the prescribed temperature with less dispersion and optimizing an operation state in accordance with the detected prescribed temperature, a test method, and a refresh-control method. - 特許庁

パレット１６は試験槽１２の外に搬出されることがないので、一旦所定温度状態に加熱または冷却された後は、常に所定温度状態に保持される。例文帳に追加

Since the pallet 16 is never conveyed outside the test tank 12, it is constantly maintained at a predetermined temperature state once it is heated or cooled to the predetermined temperature state. - 特許庁

パレット１６は試験槽１２の外に搬出されることがないので、一旦所定温度状態に加熱あるいは冷却された後は、常に所定温度状態に保持される。例文帳に追加

Since the pallet 16 is never conveyed outside the test tank 12, it is constantly maintained at a predetermined temperature state once it is heated or cooled to the predetermined temperature state. - 特許庁

所定温度をばらつき少なく検出し、検出された所定温度に応じて動作状態を最適化する温度検出機能を備えた半導体装置の試験方法を提供することを目的とすること例文帳に追加

To provide a method for testing a semiconductor device including a temperature detection function for detecting a predetermined temperature with little variation and optimizing an operation condition according to the detected predetermined temperature. - 特許庁

電子部品が目的とする試験の設定温度付近になるよう温度制御を行うことのできる電子部品ハンドリング装置および温度制御方法を提供する。例文帳に追加

To provide an electronic component handling device and a method of controlling temperature of electronic components, by which temperature control can be performed so that electronic components become substantially the temperature set for testings. - 特許庁

ブレーキ試験開始時のブレーキ温度を予め定めた一定温度にするのに、単に加速と制動を繰り返すのでは、所期の温度を得るのに手間取る。例文帳に追加

To solve the problem that in the case of controlling the brake temperature at the start of a brake test to a predetermined constant temperature, simply repetition of acceleration and braking requires much time for obtaining an expected temperature. - 特許庁

被測定ＩＣが測定温度に達するまでの時間を短縮することができ、ＲＦ選別試験等の信頼性を確保することができるとともに、装置全体を小型化することのできる半導体集積回路搬送装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor integrated circuit conveying device capable of shortening the time until a measured IC reaches the measurement temperature, securing the reliability of an RF selecting test or the like, and miniaturizing the whole device. - 特許庁

この環境試験器１は、記憶部にあらかじめ記憶されている、現在設定されている設定温度、設定湿度に対応した水の供給量と、現在供給されている水の供給量とを所定時間おきに比較する。例文帳に追加

The environment test equipment 1 compares a present set temperature, a water supply amount corresponding to a set humidity, and a present water supply amount memorized in a memorizing portion in advance, by every prescribed time. - 特許庁

供試エンジンの入口温度を短時間に所定温度に昇温させて、その性能試験を速やかに開始させると共に、かつ装置の構成を簡単にする。例文帳に追加

To start performance test of an engine to be tested quickly by raising inlet temperature of the engine to be tested to a predetermined temperature in a short period of time and simplify structure of a device. - 特許庁

この場合、剪断加熱の履歴を有する成形材料が、設定温度及び設定圧力で成形材料収容部に供給されるので、実機と同じ条件下で試験片の損耗を評価することができる。例文帳に追加

In this case, the molding material having a hysteresis of shearing and heating is supplied to the molding material storage section at the set temperature and set pressure, so that the consumption of the test strip can be evaluated under the same conditions as the real machine. - 特許庁

電子部品が目的とする試験の設定温度付近になるよう温度制御を行うことのできるプッシャ、電子部品ハンドリング装置および温度制御方法を提供する。例文帳に追加

To provide a pusher, an electronic component handling device, and a temperature control method, capable of controlling temperature to bring an electronic component into the vicinity of an objective set temperature for a test. - 特許庁

接着耐性試験装置１は、耐圧密封容器２と、劣化促進流体供給手段３と、耐圧密封容器２に収容された密封液体ＳＬを所定温度に加熱する加熱手段５とを設ける。例文帳に追加

An adhesion resistance testing device 1 includes a pressure-resistant sealed container 2, a deterioration acceleration fluid supply means 3, and a heating means 5 for heating sealed liquid SL stored in the pressure-resistant sealed container 2 up to a prescribed temperature. - 特許庁

多様な供試体の形状や数量に対応可能としながら、供試体の形状等に応じて環境温度を短時間で設定温度に移行させることが可能な環境試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide an environmental testing device capable of coping with each shape or quantity of various specimens, while shifting an environmental temperature to a set temperature in a short time corresponding to the shape or the like of the specimen. - 特許庁

その後プローブカードを設定温度に加熱又は冷却し、プローブカードが設定温度におかれているときの接触子の針先位置を測定し、測定した針先位置が基準範囲内にあるか否かを判定して、プローブカードを被検査体の試験に使用するときの温度を決定する。例文帳に追加

The method includes steps of: thereafter heating or cooling the probe card to the set temperature; measuring a needle point position of the contact when the probe card is put under the set temperature; determining whether the measured needle point position is within a reference range; and determining a temperature for using the probe card in testing an object to be tested. - 特許庁

各種材料、電子機器、電子部品の所定温度・湿度下における光耐久性評価、あるいは、太陽電池の所定温度・湿度下での電池特性評価に用いることができる小型化、高性能、維持コストを低減した擬似太陽光照射装置付き環境試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide an environmental test apparatus with a pseudo solar light irradiation device, which can be used for the light durability evaluation of various materials, electronic apparatuses and electronic components under predetermined temperature/humidity or cell characteristic evaluation of solar cells under the predetermined temperature/humidity and achieves miniaturization, high performance and reduction in maintenance cost. - 特許庁

無計装タイプでありながら自己温度制御機能を有し、軸方向の温度勾配を低減すると共に、原子炉の出力変動などに伴う照射試料の温度変動を抑え、それによって多数の照射試料を同一温度且つ一定温度条件下で照射試験を実施できるようにする。例文帳に追加

To perform an irradiating test on a large number of irradiating samples at the same temperature under a constant temperature condition by providing a self-temperature control function while being an uninstrumental type, reducing a shaft directional temperature gradient, and restraining a temperature change in the irradiating samples caused by an output change in a nuclear reactor. - 特許庁

環境試験装置１では、パレット載置面１３に載っているワーク搬送用のパレット１２は、プレート１１に載っているワーク３０の下側に離れており、ワーク３０はプレート１１に直接に接触しており効率良く所定温度に加熱あるいは冷却される。例文帳に追加

In the environment tester 1, a pallet 12 for feeding the work placed on a pallet placing surface 13 is separated on the underside of the work 30 placed on the plate 11, and the work 30 is brought into direct contact with the plate, to be heated or cooled to a predetermined temperature. - 特許庁

予め温度上昇評価試験によって予め指定した計測開始時機から装置内規定温度に達するまでの時間を測定して求め、この時間を装置内温度の上昇を抑制する制御開始の規定時間としてタイマ１４に設定する。例文帳に追加

The time between the time of starting measurement specified by a temperature rise evaluating test in advance and the time of reaching a prescribed temperature in the device is measured to be determined, and then this duration is set in a timer 14 as a prescribed time for the start of control suppressing the temperature rise in the device. - 特許庁

基材フィルムの少なくとも1の面に粘着層を設けたダイシングフィルムであって、前記基材フィルムが８ＭＰａ以上の降伏点応力（測定方法：ＪＩＳＫ７１６１準拠 測定温度：２５℃）を有するとともに所定の破断エネルギー評価試験における破断エネルギーが３０ｍＪ以上であることを特徴とするダイシングフィルム。例文帳に追加

In a dicing film provided with an adhesive layer on at least one surface of a base material film, the base material film has an yield point stress of 8 MPa or larger (measuring method: specified method, measuring temperature: 25°C), and breaking energy in a predetermined breaking energy evaluation test is 30 mJ or larger. - 特許庁

成形材料を収容するための成形材料収容部と、剪断加熱の履歴を有する成形材料を、設定温度及び設定圧力で前記成形材料収容部に供給する成形材料供給装置と、前記成形材料収容部内において、試験片を保持する保持部材と、該保持部材を回転させる駆動部とを有する。例文帳に追加

This plasticization evaluating device comprises a molding material storage section for storing molding material, a molding material supply device for supplying the molding material having a hysteresis of shearing and heating to the molding material storage section at a set temperature and a set pressure, a holding member for holding a test strip in the molding material storage section, and a driving section for rotating the holding member. - 特許庁