「100 test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

During a shear test, abutments (30, 31) provide an additional clamping force on the test tool (100) while the test tool (100) is shearing the bond part (302) off of the substrate (300).例文帳に追加

剪断試験中、試験ツール(100)により結合部(302)を基板(300)から剪断させるとき、当接部(30,31)は追加のクランプ力を試験ツール(100)に付与する、 - 特許庁

An integrated circuit 100 comprises a target circuit 102 and a test circuit 104.例文帳に追加

集積回路(100)は、ターゲット回路(102)とテスト回路(104)からなる。 - 特許庁

We will attempt to shift the test subject 100 milliseconds ahead in fourdimensional space.例文帳に追加

対象を100ミリ秒未来へ 4次元的に移動させてみます - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

[lawyer park dong ho's 100% success rate, another win... innocence proven in genetics test]例文帳に追加

[ パク・ドンホ弁護士 成功率100% ][ 新たな勝利・・・dnaテストで無実証明 ] - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

'lawyer park dong ho's 100% success rate', 'another win... innocence proven in genetics test'例文帳に追加

[ パク・ドンホ弁護士 成功率100% ][ 新たな勝利・・・dnaテストで無実証明 ] - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

'lawyer park dong ho's 100% success rate', 'another win... innocence proven in genetics test'.例文帳に追加

[ パク・ドンホ弁護士 成功率100% ][ 新たな勝利・・・dnaテストで無実証明 ] - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

When he was small, whenever he got 100 points for his test, you would make him one right?例文帳に追加

子供の頃 テストで100点取ると お兄さんが作ってたんですよね? - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

The test print 100 is used for shading correction.例文帳に追加

テストプリント１００は、シェーディング補正に用いられる。 - 特許庁

A total of more than 100 people in Okayama Prefecture will participate in the test. 例文帳に追加

岡山県内の計100人以上の人々がこの試験に参加する予定だ。 - 浜島書店 Catch a Wave

A test pattern generation part 210 generates a test pattern 301 including the test pattern and the test data from a program specification for a Web system 100.例文帳に追加

テストパターン生成部２１０は、Ｗｅｂシステム１００のプログラム仕様からテストパターンとテストデータを含むテストパターン３０１を生成する。 - 特許庁

We're entering an area known as the barrens. there's not a star system within 100 lightyears... perfect conditions for emory's test.例文帳に追加

バレンズ帯へとコースを取った 100光年以内には星がない区域である - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

A test result characteristic f0 is displayed on the test result screen 100 of a display monitor 12 according to test result data.例文帳に追加

試験結果データに基づき、表示モニタ１２の試験結果画面１００に試験結果特性ｆ０を表示する。 - 特許庁

A test system 100 is configured to test the operation of a semiconductor memory device.例文帳に追加

テストシステム１００は、半導体記憶装置の動作テストを実行するためのシステムである。 - 特許庁

After the test data is written in the DRAM array 100, data corresponding to the test data is read.例文帳に追加

ＤＲＡＭアレイ１００にテストデータを書込んだ後、テストデータに対応するデータを読出す。 - 特許庁

Have you ever gotten a perfect score on a test in high school, Taro?例文帳に追加

太郎は高校入ってからテストで100点取ったことある？ - Tatoeba例文

Then, a data for an authentication test is acquired from the authenticated person 100 by the authentication data input part 103 to conduct the authentication test.例文帳に追加

その後、認証テストを行なうために、認証データ入力部103により被認証者100から認証テスト用データを取得する。 - 特許庁

no test is 100% specific because some people who do not have the disease will test positive for it (false positive). 例文帳に追加

問題の疾患がなくても検査結果が陽性になる（偽陽性）人もいるため、特異度が完全に100％の検査は存在しない。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

no test has 100% sensitivity because some people who have the disease will test negative for it (false negatives). 例文帳に追加

問題の疾患があっても検査結果が陰性になる（偽陰性）人もいるため、感度が完全に100％の検査は存在しない。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

Disclosed is a test system including at least 100 flash memory devices and a mass test board.例文帳に追加

少なくとも１００個のフラッシュメモリ・デバイスおよびマス・テスト・ボードを含むテスト・システムを開示する。 - 特許庁

A primary accelerated test is executed relative to a test body of the cable at 100°C or higher.例文帳に追加

ケーブルの試験体に対して１００℃以上の加熱温度で一次加速試験を実施する。 - 特許庁

(eg) -range line100 will peform the tests from the 100pixel line test, and go on till the last test, -range line100,dline10 will do the tests from line100 to dline10.例文帳に追加

(例) -range line100 を指定すると、100 ピクセルの線のテストから最後のテストまでが実行される。 - XFree86

A clamping device (33) fixed to the baseplate (20) is moveable between a rest position wherein the device is not forced into contact with the test tool (100) and an actuated position wherein the test tool (100) is fixed in position.例文帳に追加

ベースプレート(20)に対して固定されたクランプ装置(33)は、試験ツール(100)に押付けられない休止位置と、試験ツール(100)を適所に固定する作動位置との間を移動可能である。 - 特許庁

A vibration testing system 100 performs a vibration test by loading a test object 13 on a table 1, and exciting the test object 13 with a hydraulic exciter 2.例文帳に追加

振動試験装置１００は、被試験体１３をテーブル１に搭載し、油圧加振機２で加振して振動試験する。 - 特許庁

The test device 1 is for the performance test of a breaker 100 and capable of carrying out a performance test on different types of breakers 100.例文帳に追加

試験装置１は、ブレーカ１００の動作試験を行う試験装置であり、異なる種類のブレーカ１００について、動作試験を行うことができるように構成されている。 - 特許庁

The quick [acid-test] ratio of our company has been over 100% for the last five years.例文帳に追加

ここ５年、我が社の当座比率は１００％以上です。 - Weblio英語基本例文集

The test circuit 100 performs the test of the circuit to be tested, and outputs the test result for a tester.例文帳に追加

本発明におけるテスト回路１００は、テスト対象回路のテストを行ってテスタに対してテスト結果を出力するテスト回路である。 - 特許庁

A test chart selection section 220 selects test chart data adapted to a multifunction machine 100 among a plurality of test chart data managed by a test chart management section 230.例文帳に追加

テストチャート選択部２２０は、テストチャート管理部２３０によって管理される複数のテストチャートデータの中から複合機１００に適したテストチャートデータを選択する。 - 特許庁

In this method (100) for assigning the test number, present test flow context information 300 is maintained during execution of a test flow 200 (102).例文帳に追加

テスト番号を割り当てる方法（１００）において、現在のテストフローコンテキスト情報３００は、テストフロー２００の実行中、維持される（１０２）。 - 特許庁

In this method 100 for assigning the test number, present test flow context information 300 is maintained during execution of a test flow 200 (102).例文帳に追加

テスト番号を割り当てる方法１００において、現行テストフローコンテキスト情報３００は、テストフロー２００の実行中維持される（１０２）。 - 特許庁

In this method (100) for assigning the test number, present test flow context information 300 is maintained during execution of a test flow 200 (102).例文帳に追加

テスト番号を割り当てる方法（１００）において、テストフロー２００の実行中、現在のテストフローコンテキスト情報３００を維持する（１０２）。 - 特許庁

Test pattern data are preliminarily stored in the test pattern memory means 130 of this semiconductor testing device 100.例文帳に追加

半導体試験装置１００のテストパターン記憶手段１３０には、予めテストパターンデータが記憶されている。 - 特許庁

The test piece, deposited with the oil component, may be heated at 100-400°C using an electric furnace, in a method of generating the pseudo-oil scorching polluting in the test piece.例文帳に追加

試験片に擬似油焦付き汚れを発生させる方法において、油成分を付着させた試験片を、電気炉を用いて100〜400℃で加熱してもよい。 - 特許庁

Thereby, the test pattern signal can be supplied at a high frequency from a test control device 100, and it is unnecessary for the test control device 100 to directly read out output signals from the test devices DUT to be tested.例文帳に追加

このため、テスト制御装置１００から、高い周波数でテストパターン信号を供給することができ、また、テスト制御装置１００が被試験デバイスＤＵＴからの出力信号を直接読み込む必要が無くなる。 - 特許庁

In a test case generation device 100, a scenario test case extraction section 104 extracts a test case based on a scenario input from a scenario input section 102.例文帳に追加

テストケース生成装置１００において、シナリオテストケース抽出部１０４は、シナリオ入力部１０２から入力されるシナリオをもとにテストケースを抽出する。 - 特許庁

After finishing the transmission of the loopback test data, the main apparatus 200 adds test result information to the communication protocol 302 of a loopback test termination request for transmission to the LAN device 100.例文帳に追加

折返しデータの送信完了後、折返し試験終了要求の通信プロトコル３０２に試験結果情報を付加し、LAN装置１００へ送信する。 - 特許庁

A TEG element 100 includes a test lower ferroelectric layer 112, a test tunnel insulation film 114 and a test upper ferroelectric layer 116.例文帳に追加

ＴＥＧ素子１００は、テスト用下層強誘電体層１１２、テスト用トンネル絶縁膜１１４、及びテスト用上層強誘電体層１１６を有している。 - 特許庁

A test program generator 103 receiving the transformed test execution part description file 102-2 analyzes the received file, and inserts a test execution part program into a corresponding position of a test program 104 generated from a test condition 100 and a test algorithm 101.例文帳に追加

変換後のテスト実行部記述ファイル１０２‐２を受信したテストプログラムジェネレータ１０３は、これを解析し、テスト条件１００とテストアルゴリズム１０１から生成したテストプログラム１０４の該当箇所にテスト実行部プログラムを挿入する。 - 特許庁

A semiconductor testing device 100 is provided with a tester processor 100, a tester main body 20, and a test head 30.例文帳に追加

半導体試験装置１００は、テスタプロセッサ１０、テスタ本体２０、テストヘッド３０を含んで構成されている。 - 特許庁

The test die may be designed, in accordance with a design methodology (100) for a test die and a product die that includes the step of concurrently designing test circuitry (202A, 402, 404) and product circuitry in a unified design (102).例文帳に追加

該テストダイは、テスト回路(202A,402,404)及び製品回路を統合化された設計(102)に同時に設計するステップを含むテストダイ及び製品ダイに関する設計方法論(100)に従って設計可能である。 - 特許庁

A test and measurement device 100 receives an RF signal at an input terminal 110.例文帳に追加

試験測定装置１００は、入力端子１１０でＲＦ信号を受ける。 - 特許庁

A test apparatus 100 judges a test item, and when carrying out the radio transmission characteristics test, the test apparatus 100 communicates layer 3 signals with the mobile terminal apparatus 150 to implement radio connection over CDMA radio interface and transmits a measurement signal.例文帳に追加

試験装置１００は、試験項目を判断し、無線送信特性試験を行う場合には、移動端末装置１５０との間でレイヤ３信号を伝送してＣＤＭＡ無線インターフェースによる無線接続を実現し、被測定用信号を伝送する。 - 特許庁

A sheet wave is formed in the test target 100 by transmitting an ultrasonic wave to the test target 100 from a transmitter 20 and the test target in the propagation route of the sheet wave is tested by receiving the sheet wave propagated through the test target by a receiver 30.例文帳に追加

送信子２０から超音波を試験体１００に送信することにより試験体に板波を発生させ、試験体を伝搬する板波を受信子３０で受信することにより板波の伝搬経路における試験体を試験する。 - 特許庁

A translation capacity determining part 106 of the translation support system 100 transmits a test for determining translation capacity to a user terminal 300-1 and marks answers to the test.例文帳に追加

翻訳支援システム100内の翻訳能力判定部106は、利用者端末300-1に対して翻訳能力を判定するためのテストを送信し、このテストに対する解答を採点する。 - 特許庁

An authentication part 102 conducts the authentication test whether the authenticated person 100 is the person itself or not, using the acquired data for the authentication test and the dictionary stored in the dictionary storage part 101.例文帳に追加

認証部102は、この取得した認証テスト用データおよび辞書記憶部101に記憶された辞書を用いて被認証者100が本人であるか否かの認証テストを行なう。 - 特許庁

In step S804, a communication test is conducted between the management server and the image forming apparatus 100.例文帳に追加

そして、Ｓ８０４で、画像形成装置１００との通信テストが実行される。 - 特許庁