Cu-Inの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2149件
In a substrate 30 for a CIGS solar cell, an alkali silicate membrane layer 21 is formed on a Cu coating layer 12 having a mean thickness of 0.1 μm or more of a Cu coating steel plate 20.例文帳に追加
平均厚さ0.1μm以上のCu被覆層12を有するCu被覆鋼板20の、当該Cu被覆層12上にアルカリ珪酸塩皮膜層21を形成したCIGS太陽電池用基板30が提供される。 - 特許庁
In a semiconductor device where a low dielectric insulating film is formed on a substrate, there are formed the Cu wiring actually functioning as a wiring and a dummy Cu wiring actually not functioning as a wiring.例文帳に追加
基板上に、低誘電率絶縁膜を形成し、この低誘電率膜に半導体装置において、実際に配線として機能するCu配線と、実際には配線として機能しないダミーCu配線とを形成する。 - 特許庁
To provide a method for forming wiring of a semiconductor element in which reliability of Cu wiring can be enhanced by facilitating (111) epitaxial growth of the Cu wiring thereby enhancing the elecromigration characteristics thereof.例文帳に追加
Cu配線の(111)結晶成長を容易にして、Cu配線のエレクトロマイグレーション特性を向上させ、Cu配線の信頼性を高めることができる半導体素子の配線形成方法を提供する。 - 特許庁
Tungsten or a tungsten base alloy, especially a WC-Cu (tungsten carbide-copper) alloy or a W-Cu (tungsten-copper alloy) is used in the whole or a part of the members for constituting the injection mold assembly.例文帳に追加
射出成形用金型装置を構成する部材の全体または一部に、タングステンまたはタングステン基の合金、特に、WC−Cu(タングステンカーバイト−銅)合金またはW−Cu(タングステン−銅)合金を用いる。 - 特許庁
To provide a wiring board in which adhesion between a board body composed of glass-ceramic and a Cu metallized layer formed to the board body is enhanced, and mounting strength of a conductor pin brazed to the Cu metallized layer is improved.例文帳に追加
ガラス−セラミックからなる基板本体とこれに形成するCuメタライズ層との密着性を高め、且つかかるCuメタライズ層にロウ付けする導体ピンの取り付け強度を高めた配線基板を提供する。 - 特許庁
To provide a cheaper solder alloy having a best soldering feature by improving the wettability of a Sn-Cu base lead-free solder alloy poorer than that of a Sn-Ag base lead-free solder alloy while better in cost effectiveness.例文帳に追加
Sn−Ag系鉛フリーはんだ合金に比べてコスト面で優位であるが、ぬれ性の悪いSn−Cu系鉛フリーはんだ合金のぬれ性を改善して、安価ではんだ付け性の良好なはんだ合金を提供する。 - 特許庁
When the Ag plating 1 and Cu plating 12 applied onto the seal ring body 10 are melted by heating the seal ring, an unmelted part is prevented from occurring in the Ag plating 14 and Cu plating 12.例文帳に追加
そして、シールリングを加熱して、シールリング本体10に施されたAgめっき14とCuめっき12とを溶融させた際に、そのAgめっき14とCuめっき12とに不溶融箇所が発生するのを防ぐ。 - 特許庁
In an electronic apparatus 100, when sounds uttered by a plurality of users CU are input in a plurality of microphones 121, 122, a sound recognition portion 131 recognizes the sounds uttered by the users CU on the basis of the input results, and a language determination portion 132 individually determines languages used by a plurality of users CU on the basis of the recognized sounds.例文帳に追加
電子機器100では、複数の利用者CUが発声した音声が複数のマイクロフォン121,122に入力されると、その入力結果から利用者CUが発声した音声を音声認識部131が認識し、認識された音声から複数の利用者CUの言語を言語判定部132が個々に判定する。 - 特許庁
Cu-Ga alloy powders are directly formed by stirring Cu powders in a mixed gas atmosphere including hydrogen gas at a temperature of 150-300°C, mixing Ga at a ratio of 10-45 mass% with the stirred Cu powders, and stirring the mixed powders in a vacuum or inert gas atmosphere at a temperature of 30-300°C.例文帳に追加
Cu粉末を、水素ガスを含む混合ガス雰囲気中で150℃〜300℃の温度で撹拌し、撹拌したCu粉末に、Gaを10質量%〜45質量%の割合で配合した混合粉末を、真空又は不活性雰囲気中で30℃〜300℃の温度で攪拌することにより、直接、Cu−Ga合金粉末を形成する。 - 特許庁
To obtain a wafer in which fluctuations in transistor characteristics are reduced by preventing the diffusion into silicon of Cu produced by a heat treatment such as a Cu interconnection forming process and a manufacturing method therefor, as well as to obtain a semiconductor device formed of the same wafer.例文帳に追加
Cu配線形成工程などの熱処理により発生するCuのシリコン中への拡散を防止してトランジスタ特性の変動を少なくさせたウェーハ及びその製造方法、このウェーハから形成された半導体装置を提供する。 - 特許庁
The solder powder of the Sn-Zn alloy of which the area ≥50% of the surface is coated with a layer of an Sn alloy consisting essentially of Sn and containing at least one element of Ag, In, Ge, Cu or Bi.例文帳に追加
本発明は、Sn−Zn合金のはんだ粉末において、Snを主成分としAg, In, Ge, Cu,又はBiの少なくとも一元素を含有したSn合金の被覆層により、該はんだ粉末の表面積の50%以上が被覆されているSn−Zn合金のはんだ粉末を提供する。 - 特許庁
The coaxial cable 1 is protected from disconnection by bending or twisting, and has excellent fatigue characteristics, by comprising the Cu-Ag alloy wire 11 containing Ag in a specified range and having a specified size, and the central conductor 10 satisfying conductivity and tensile strength in the specified range.例文帳に追加
Agを特定の範囲で含有し、かつ特定の大きさを有するCu-Ag合金線11を具え、導電率・引張強さが特定の範囲を満たす中心導体10を具えることで、同軸ケーブル1は、屈曲や捻回により断線し難く、疲労特性に優れる。 - 特許庁
To provide a Co film formation method capable of effectively removing impurity in the film and on the film surface and realizing higher low resistance and excellent adhesion to a barrier layer and a Cu wiring layer in application to a Cu wiring structure.例文帳に追加
膜中及び膜表面の不純物が効果的に除去でき、Cu配線構造に適用したときにバリア層及びCu配線層に対する密着性に優れて一層の低抵抗を実現できるCo膜形成方法を提供する。 - 特許庁
A solder alloy containing 60 to 100 mass ppm P is fed to an Sn-Ag based or Sn-Ag-Cu based solder alloy for replenishing a solder bath against the reduction of a P content in the solder bath occurring in the process of the working of a jet, and the P content is retained.例文帳に追加
噴流稼働中に見られるはんだ浴内のP含有量の減少に対して、はんだ浴補充用にSn−Ag系またはSn−Ag−Cu系はんだ合金にP60〜100 質量ppm含有するはんだ合金を供給してP含有量の維持を図る。 - 特許庁
To provide a semiconductor device which is excellent in adhesion and operation characteristics while preventing the diffusion of Cu included in a Cu wiring layer to the circumference, a method for manufacturing the same, and a sputtering target used for the manufacture of the device.例文帳に追加
Cu配線層に含まれるCuの周囲への拡散を抑制すると共に密着性および動作特性に優れた半導体装置およびその製造方法、並びに、その半導体装置の製造に用いるスパッタリングターゲットを提供する。 - 特許庁
The brazing filler metal sheet has a metal layer composed of an In layer or an In alloy layer on the surface of a foil material of Ag, Cu or an Ag-Cu alloy.例文帳に追加
本発明はAg、CuまたはAg−Cu合金の箔材の表面にIn層またはIn合金層からなる金属層を有するロウ材シートであり、好ましくは前記Ag、CuまたはAg−Cu合金の箔材の平均厚さが20〜200μmである。 - 特許庁
In laser irradiation, the Cu powder 20 melts instantaneously by absorbing laser energy of the YAG second harmonic efficiently and the inside of the through hole 16 is rendered conductive thus forming a conductor plug 22 composed of Cu in the through hole 16.例文帳に追加
このレーザ照射において、Cuパウダー20はYAG第2高調波のレーザエネルギーを効率的に吸収して瞬間的に溶融し、スルーホール16内が導電化され、スルーホール16内にCuから成る導体プラグ22が形成される。 - 特許庁
The high Mn-contained molten metal can further contain by mass% of one or more elements selected in the group composed of ≤1% Si, ≤0.5% P, ≤0.5% S, ≤20% Cr, ≤1% Cu, and ≤10% Ni in stead of a part of Mn and Fe.例文帳に追加
高Mn含有溶融金属が,Mnおよび鉄の一部に代えて,Siを1質量%以下,Pを0.5質量%以下,Sを0.5質量%以下,Crを20質量%以下,Cuを1質量%以下およびNiを10質量%以下からなる群から選ばれた一種以上をさらに含有してもよい。 - 特許庁
To realize a method of manufacturing a semiconductor device having metal electrodes whereby Cu contamination of the side walls of fine openings and growth of voids in the metal electrodes are avoided when burying the metal electrodes in the fine openings on a Cu wiring.例文帳に追加
銅配線上の微細な開口部に金属電極を埋め込む際、開口部の側壁の銅汚染及び金属電極内に生じる空洞の発生を防止した金属電極を備えた半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
In the terminal, a surface layer composed of a quaternary alloy of Sn-Ag-Cu-In or Sn-Ag-Cu-Bi is formed on the whole face or a part of an electrically conductive substrate by electroplating.例文帳に追加
本発明の端子は、導電性基体上の全面または部分に、Sn−Ag−Cu−InまたはSn−Ag−Cu−Biからなる四元合金により構成される表面層を電気めっきにより形成したことを特徴としている。 - 特許庁
An RE-Ba-Cu-O bulky superconductor (RE is La, Nd, Sm, Eu, Gd, Y, Ho or Dy) is irradiated with neutrons to disperse and incorporate 5-50% 'amorphous phase' having 10-500 nm particle diameter or 5-50% 'recrystallized phase different from parent phase in crystal orientation' in the parent phase of the superconductor.例文帳に追加
中性子照射等により、RE−Ba−Cu−Oバルク超電導体(REはLa,Nd,Sm,Eu,Gd,Y,Ho又はDy)の母相中に粒径10〜 500nmの“アモルファス相”あるいは“母相とは結晶方位の異なる再結晶相”を5〜50%分散含有させる。 - 特許庁
The process for producing the sputtering target comprises the steps of: forming a molded object comprising a mixed powder composed of an NaF powder and a Cu-Ga powder or a mixed powder composed of an NaF powder, a Cu-Ga powder and a Cu powder; and sintering the molded object in a vacuum atmosphere, an inert gas atmosphere or a reductive atmosphere.例文帳に追加
また、このスパッタリングターゲットを作製する方法は、NaF粉末とCu−Ga粉末との混合粉末、又はNaF粉末とCu−Ga粉末とCu粉末との混合粉末からなる成形体を形成し、その後、真空、不活性ガスまたは還元雰囲気中で焼結する工程を有している。 - 特許庁
In performing sputtering deposition under an oxidizing atmosphere of the barrier layer which constructs the thin-film transistor, a Cu alloy sputtering target is used, which is constructed of a Cu alloy which has a component composition consisting of Al of 1 to 10 atom%, Ca of 0.1 to 2 atom%, and the balance comprising Cu and inevitable impurities (1% or less).例文帳に追加
薄膜トランジスターを構成するバリア層の酸化雰囲気でのスパッタ成膜に、Al:1〜10原子%、Ca:0.1〜2原子%を含有し、残りがCuと不可避不純物(ただし、1%以下)からなる成分組成を有するCu合金で構成してなるCu合金スパッタリングターゲットを用いる。 - 特許庁
In order to obtain a favorable wiring structure, a Cu oxide formed on the exposed surface of Cu can be reduced sufficiently, the thermal expansion of the exposed surface of Cu can be prevented, and annealing performed by using a hydrogen gas as reducing gas is performed under a condition that a annealing temperature and annealing pressure are adjusted to 200-350°C and ≤80 Pa, respectively.例文帳に追加
Cu露出表面のCu酸化物の十分な還元及びCu露出表面における熱膨張の防止の各観点を全て満足し、良好な配線構造を得るには、水素ガスを還元ガスとして用いるアニール処理を、処理温度を200℃〜350℃、且つ処理圧力を80Pa以下の条件で実行する。 - 特許庁
After melting the iron scrap containing Cu and the inevitable impurities with the total weight of the iron and the soluble elements into the iron, as 100 wt.%, C is added in the range shown in the inequality 5.0×(1-Cu/100)≤C≤20, (Cu, C are shown in the wt.%) into this molten iron.例文帳に追加
鉄および鉄に可溶性の元素の重量合計を100重量%としてCuおよび不可避元素を含む鉄スクラップを溶解した後、この溶鉄に次式で示す範囲でCを添加し、次いで溶融状態でFe富化層とCu富化層に分離し、両者の比重差を利用して該鉄スクラップに含まれるCuをCu富化層に沈殿分離させることによりFe富化層から除去する。 - 特許庁
To provide an aluminum alloy plate for a printing plate in which unetched parts are reduced and coarsened pits are not formed on the surface in an electrolytic etching treatment stage, and the content of Cu in the surface part is low.例文帳に追加
電解エッチング処理工程において表面に未エッチング部分が少なく、粗大化したピットが生じないような印刷用アルミニウム合金板を提供する。 - 特許庁
To provide a non-oriented magnetic steel sheet for a small transformer excellent in exciting characteristic in a low magnetic field which contains Cu and secures and improves an exciting characteristic in the low magnetic field.例文帳に追加
Cuを含有し、かつ低温の歪取焼鈍でも優れた低磁場励磁特性を確保・改善する小型トランス用の無方向性電磁鋼板を提供する。 - 特許庁
In this case, the electrode of the board is solder connected to the electrode of the component by using a lead-free solder containing Cu of O to 2.0 mass%;, In of 0.1 to 10 mass%; and Sn of the residue.例文帳に追加
本発明は、上記目的を達成するために、回路基板と、該回路基板の有する電極と電気的に接続する電子部品と、該回路基板の有する電極と該電子部品の有する電極とをCu:0〜2.0mass%、In:0.1〜10mass%、残りSnからなる鉛フリーはんだを用いてはんだ接続したものである。 - 特許庁
To obtain a Cu-Ga alloy sputtering target which has high Ga concentration and in which cracks, abnormal discharge, and generation of particles are suppressed.例文帳に追加
高Ga濃度を有し、割れや異常放電、パーティクルが発生が抑制されたCu−Ga合金スパッタリングターゲットを得る。 - 特許庁
The SO_2 absorption amount α (mol × SO_2/mol × Cu) of the desulfurization/denitrification agent is preferably 0.3 or more and sulfur oxide and nitrogen oxide in gas can be removed by the desulfurization/denitrification agent.例文帳に追加
脱硫脱硝剤は、SO_2 吸収量α(mol・SO_2 /mol・Cu)が0.3以上であることが好ましい。 - 特許庁
A conductive layer 3 made of mainly a Cu-plated film is formed and flattened in a stepped recess of an interlayer insulating film 2.例文帳に追加
層間絶縁膜2の段差を有した窪みに主にCuメッキ膜でなる導電層3が形成され平坦化されている。 - 特許庁
In the opening regions 29 and 33, a metal layer 34 for plating and a Cu plating layer 36 are laminated on the electrode 26 for connection.例文帳に追加
開口領域29、33では、接続用電極26上にメッキ用金属層34、Cuメッキ層36が積層される。 - 特許庁
In the opening regions 29 and 31, a metal layer 32 for plating and a Cu plating layer 34 are laminated on the electrode 26 for connection.例文帳に追加
開口領域29、31では、接続用電極26上にメッキ用金属層32、Cuメッキ層34が積層される。 - 特許庁
In step 4, the film formation speed of the Cu film can be accelerated dependently upon crystallinity on the surface of the Ru film.例文帳に追加
このSTEP4では、Ru膜の表面の結晶性に依存して、Cu膜の成膜速度を大きくすることができる。 - 特許庁
To provide a high concentration Co-containing Cu-Co-Si alloy having high strength, high conductivity and high bendability in combination.例文帳に追加
高強度、高導電性及び高曲げ加工性を兼備する高濃度Co含有Cu−Co−Si系合金を提供する。 - 特許庁
In the component composition of the wire and flux for submerged welding, Mo is added together with suitable contents of Ni and Cu.例文帳に追加
潜弧溶接用ワイヤおよびフラックスの成分組成において、Moを適当な量のNiおよびCuとともに添加する。 - 特許庁
To form a Cu film with an excellent buried shape in an interior of a wiring groove and a connecting hole by electrolysis plating.例文帳に追加
配線溝および接続孔の内部に、良好な埋め込み形状を有するCu膜を電解めっきにより形成する。 - 特許庁
A CU (card unit) connected to an S machine (slot machine) using awarded points, stores the awarded points usable in a game on the S machine.例文帳に追加
持点式のS台(スロットマシン)と接続されるCU(カードユニット)は、S台で遊技に使用可能とされる持点を記憶する。 - 特許庁
The silver alloy preferably comprises 0.1 to 5 wt.% of one or more kinds of elements selected from the group consisting of Zn, Mg, Au, Pd, Cu, Sn and In as well.例文帳に追加
さらに、Zn,Mg,Au,Pd,Cu,Sn,Inからなる群より選択される1種以上の元素を0.1〜5重量%含むことが好ましい。 - 特許庁
A wiring main body layer of Cu is formed on the barrier layer of the substrate W placed in the second unit 13.例文帳に追加
次に、第2成膜ユニット13中にセットされた基板Wのバリア層上に、Cuからなる配線本体層を形成する。 - 特許庁
To provide a treatment method by which Cu and In can be recovered simultaneously at high recovery rate from a zinc leaching residue.例文帳に追加
亜鉛浸出残渣からCuおよびInを同時に高い回収率で回収することのできる処理方法を提供する。 - 特許庁
The Pt-Cu base alloy contains 20-40% Pt in the ratio of the number of atoms as a composition ratio.例文帳に追加
ここで、Pt−Cu系合金は、組成比としては原子数比でPt含有量が20〜40%であることを特徴とする。 - 特許庁
A CU (card unit) connected with a gained point type P machine (game machine) stores the number of game balls usable for a game in the P machine.例文帳に追加
持点式のP台(遊技機)と接続されるCU(カードユニット)は、P台で遊技に使用可能とされる遊技玉数を記憶する。 - 特許庁
To provide an electronic part material, usable in replace of Cu alloy, and capable of saving weight and reducing raw material cost.例文帳に追加
Cu合金の代わりに使用でき、軽量化が図れると共に、原材料費の低減も図れる電子部品材を提供する。 - 特許庁
A plating base film material such as Ti/Cu is deposited thereupon to form a plating base film 18 in the opening 17.例文帳に追加
この上からTi/Cuなどのメッキ下地膜材料を堆積させて開口17内にメッキ下地膜18を形成する。 - 特許庁
In the formula, X+Y+Z=3, X>0, Y≥0, and Z>0 are satisfied, and L and M each is Co, Ni, Fe, Cu, or Si.例文帳に追加
式中、X+Y+Z=3、X>0、Y≧0、Z>0であり、L及びMは、それぞれCo,Ni,Fe,Cu及びSiのいずれかである。 - 特許庁
The composite solder 1 is composed in such a manner that metal nets 2 made of Cu are held between two pieces of solder foils and press-fixed.例文帳に追加
複合はんだ1は、Cuからなる金属網2が2枚のはんだ箔3によって挟まれて圧着された構成からなる。 - 特許庁
In this case, the hot forging mold can further include, by mass%, 0.1 to 1.0% of Co, and further 0.1 to 1.0% of Cu.例文帳に追加
この場合に、更に、質量%で、Co:0.1〜1.0%を含有し、更に、Cu:0.1〜1.0%を含有することができる。 - 特許庁
The biaxially oriented polyester film contains Cu element and is characterized in that the amount of terminal carboxylic acid is ≤26 equivalent/ton.例文帳に追加
Cu元素を含有し、末端カルボン酸量が26当量/トン以下であることを特徴とする二軸配向ポリエステルフィルム。 - 特許庁
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