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Cu-Inの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 2149



例文

The main component in the material of the primary mold 10 is made of a graphite and the main component in the material of the secondary mold 20 is made of a Cu alloy.例文帳に追加

一次モールド10の材質の主成分を黒鉛とし、二次モールド20の材質の主成分をCu合金とする。 - 特許庁

Continually, a conductor layer whose main component is Cu is buried in the wiring groove 16 where the self-forming barrier film is provided.例文帳に追加

続いて、自己形成バリア膜が設けられた配線溝16にCuを主成分とする導電層を埋め込む。 - 特許庁

In this method, various kinds of substrates such as a metal substrate of Al, Cu or the like, a glass substrate, etc. may be employed.例文帳に追加

この方法では、Al,Cu等の金属基板やガラス基板等の様々な基板を用いることができる。 - 特許庁

CU-ZN-SN ALLOY STRIP EXCELLENT IN HEAT-PEELING RESISTANCE OF SN PLATING AND SN-PLATED STRIP MADE OF THE SAME例文帳に追加

Snめっきの耐熱剥離性に優れるCu−Zn−Sn系合金条及びそのSnめっき条 - 特許庁

例文

To prevent faulty operations or reduction in yield, even when a wiring layer is formed using Cu.例文帳に追加

Cuを使用して配線層を形成した場合でも、動作不良や歩留まりの低下を起こさないようにする。 - 特許庁


例文

Consequently, the adhesive property between the base film and the Cu wiring film deposited on the base film in the succeeding film forming step is enhanced.例文帳に追加

これによって下地膜とその後の成膜で堆積する上層のCu膜との密着性を高くする。 - 特許庁

To provide a Cu-Ni-Si alloy for an electronic material in which high strength and high electrical conductivity are made compatible.例文帳に追加

高強度及び高導電性を両立させた電子材料用Cu−Ni−Si合金を提供する。 - 特許庁

To provide a method of forming an Al-Cu alloy wiring which does not generate a defect in the wiring due to a short-circuit.例文帳に追加

短絡による配線欠陥が発生しないAl−Cu合金配線の形成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a Cu-Ni-Si-Co-based alloy in which a coarse second-phase particle is inhibited from forming.例文帳に追加

粗大な第二相粒子の生成が抑制されたCu−Ni−Si−Co系合金を提供する。 - 特許庁

例文

A Cr layer configuring a metallic layer 23 for a plating and a Cu plating layer 24 are connected in the opening section 22.例文帳に追加

開口部22内では、メッキ用金属層23を構成するCr層とCuメッキ層24とが接続している。 - 特許庁

例文

In such a case, for example, nickel (Ni), copper (Cu) and tungsten (W) are preferably used as the metallic additive.例文帳に追加

この場合、金属添加物としては、例えば、ニッケル(Ni)、銅(Cu)、タングステン(W)を用いることが好ましい。 - 特許庁

A projecting region of a Cu plated layer 14 covering a projecting part 10 is formed in the opening region 16.例文帳に追加

開口領域16内には、突出部10を被覆するCuメッキ層14の突出領域が形成される。 - 特許庁

To provide a Cu-Co-Si based copper alloy rolled plate excellent in press machining performance, bending machining performance and strength.例文帳に追加

プレス加工性、曲げ加工性及び強度に優れたCu−Co−Si系銅合金圧延板を提供する。 - 特許庁

Then a Ta film 28 is formed in the via groove 27a and wiring groove 27b after the plasma irradiation, and buried with Cu.例文帳に追加

そして、プラズマ照射後のビア溝27aと配線溝27bにTa膜28を形成し、Cuで埋め込む。 - 特許庁

To provide interlayer insulation without producing cohesion on Cu formed by a Damascene method in a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置において、ダマシン法により形成したCuに凝集を生じさせない層間絶縁に関する。 - 特許庁

An ROM in the cable unit CU stores data for electric calibration adapted to the differential transformer LVDT.例文帳に追加

ケーブルユニット内のROMは、差動トランスLVDTに適合した電気的キャリブレーション用のデータを記憶している。 - 特許庁

The surface of a first Cu wiring 109 is exposed in a gas containing silicon to form a silicon transformation layer 110.例文帳に追加

第1Cu配線109の表面をシリコンを含んだガスに曝し、シリコン変質層110を形成する。 - 特許庁

To enhance the burying property into a recessed part provided on a substrate in the case of forming a Cu wire on the substrate.例文帳に追加

基体上にCu配線を形成する際に、基体に設けられた凹部に対する埋め込み性を改善する。 - 特許庁

Coil unit fitting recesses 11 are formed in a printed circuit board 10 to match respective coil units CU.例文帳に追加

そして、そのコイルユニットCUに合わせて、プリント配線基板10に各コイルユニット嵌合凹部11を形成する。 - 特許庁

By using a conductive layer including Cu as a long lead wiring, increase in wiring resistance is suppressed.例文帳に追加

引き回し距離の長い配線にCuを含む導電層を用いることで、配線抵抗の増大を抑える。 - 特許庁

The etchant contains a chelating agent, so Ni and Cu in the etchant are removed to prevent metal contamination of wafers.例文帳に追加

エッチング液はキレート剤を含むので、エッチング液中のNi、Cuが除去され、ウェーハの金属汚染を防げる。 - 特許庁

The concentration of Pb ions or the concentration of Cu ions in a separated liquid phase is measured by colorimetric analysis.例文帳に追加

そして、分離された液相中のPbイオン濃度又はCuイオン濃度を比色分析により測定する。 - 特許庁

Cu-Co-Si-BASED COPPER ALLOY EXCELLENT IN STRENGTH, ELECTRIC CONDUCTIVITY AND BENDING WORKABILITY AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

強度、導電率及び曲げ加工性に優れたCu−Co−Si系銅合金及びその製造方法 - 特許庁

Cu-Cr-Zr ALLOY EXCELLENT IN FATIGUE CHARACTERISTIC, ITS PRODUCTION METHOD AND COOLING ROLL FOR CONTINUOUS CASTING例文帳に追加

疲労特性に優れたCu−Cr−Zr系合金、その製造方法及び連続鋳造用冷却ロール - 特許庁

LEAD FRAME MATERIAL FOR SEMICONDUCTOR DEVICE CONSTITUTED BY HIGH-STRENGTH Cu ALLOY SUPERIOR IN ROLLING AND BENDING CHARACTERISTICS例文帳に追加

圧延性および曲げ加工性にすぐれた高強度Cu合金で構成された半導体装置のリードフレーム材 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor apparatus capable of reducing Mn residue amount in Cu wiring.例文帳に追加

Cu配線中のMnの残留量を減らすことができる、半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

In a semiconductor device, a silicon carbonitride film is formed on an insulating film having an Si-H coupling and Cu wiring.例文帳に追加

Si−H結合を有する絶縁膜およびCu配線上にシリコン炭化窒化膜が被覆形成されている。 - 特許庁

To provide a Cu-Ni-Si alloy in which spring properties and solder wettability are simultaneously realized on high levels.例文帳に追加

ばね性とはんだ濡れ性とを高いレベルで同時に実現したCu−Ni−Si合金を提供する。 - 特許庁

An insulating resin layer R which covers a wiring layer 7 consisting of Cu and a metal post 8 is also formed in a first trench.例文帳に追加

Cuより成る配線層7、メタルポスト8を被覆する絶縁樹脂層Rを第1の溝にも形成する。 - 特許庁

The Cu alloy film 8 contains 0.3-2.0 atom% of one kind or more metals of Sn, In, and Ga.例文帳に追加

Cu合金膜8は、0.3〜2.0原子%のSn、In、Gaの金属のうち1種以上を含有する。 - 特許庁

Cu-Fe-P SYSTEM COPPER ALLOY STRIP MATERIAL FOR ELECTRONIC APPARATUS EXCELLENT IN SURFACE ROUGHENING PROPERTY AND RESIN ADHESION PROPERTY例文帳に追加

表面粗化性及び樹脂密着性に優れた電子機器用Cu−Fe−P系銅合金条材 - 特許庁

The allowable range of a change rate in the inclination (change quantity) of a graph on input/output characteristics is expressed by a segment C=[cL, cU].例文帳に追加

入出力特性のグラフの傾き(変化量)の変化率の許容範囲を、区間C=[c^L,c^U]にて表す。 - 特許庁

The ratio of the Cu fibers contained in the fabric to the whole fabric is made 5-50 mass%.例文帳に追加

また、織布に含まれるCu繊維の比率が織布全体の5質量%以上50質量%以下とする。 - 特許庁

The quartz glass has Cu concentration of ≤0.01 ppm at the depth of 5 mm from the exposed surface when exposed to Cu oxide vapor at 1,050°C for four hours under the atmosphere, contains ≤0.2 ppm in total of Li and Na and <0.1 ppm each of Li, Na, K, Mg, Ca and Cu.例文帳に追加

1050℃、大気圧下で4時間、酸化銅蒸気に曝露させた時に、曝露表面から5mmの深さにおけるCuの濃度が0.01ppm以下であり、LiとNaの含有量を総量で0.2ppm以下、K,Mg,Ca,Cuの含有量を各々0.1ppm未満の石英ガラス。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing wiring that suppresses an increase in resistance of a Cu wiring pattern due to diffusion of Mn when a Cu-Mn alloy is combined with a bimetal film to make a self-repair of a defect and improve adhesiveness during formation of a Cu wiring structure by a damascene method.例文帳に追加

ダマシン法によるCu配線構造の形成において、Cu−Mn合金をバリアメタル膜に組み合わせて欠陥の自己修復および密着性の向上を図る際に、Mnの拡散によるCu配線パターンの抵抗増加を抑制する配線の製造方法を提供する。 - 特許庁

In a powdery mixture for producing a W-Cu-Ni alloy containing W-Cu composite powder and nickel powder, the W-Cu composite powder contains individual particles having a tungsten phase whose inside is substantially charged with a copper phase and the copper phase.例文帳に追加

W−Cu複合物粉末及びニッケル粉末を含有するW−Cu−Ni合金を作るための粉末混合物であって、W−Cu複合物粉末は、実質的に銅相を内部に封入してなるタングステン相及び該銅相を有する個々の粒子を含有する粉末混合物。 - 特許庁

The Ag thin-film layer 15 contributes to improvement of connection strength between the Cu wiring layer 11 and the Ag connection layer 14 in forming the Cu wiring layer 11 by non-electrolytic plating, and formation of the Cu wiring layer 11 having a sufficient thickness on the ceramic layer 12.例文帳に追加

こうしたAg薄膜層15は、無電解メッキによるCu配線層11形成時において、Cu配線層11とAg接続層14との接続強度を高め、またセラミック層12上に十分な厚みのCu配線層11を形成することに寄与する。 - 特許庁

To provide a Cu wiring film forming method which can improve, using a simple structure and a simple process, the adhesiveness between a diffusion barrier base film and a Cu wiring film, when Cu wiring is used in a semiconductor device, and can realize low manufacturing cost and improved production efficiency.例文帳に追加

半導体デバイスでCu配線を用いる場合に、拡散バリア用下地膜とCu配線膜との密着性を、簡易な構成と簡略な工程で向上させることができ、製作コストの低下と生産効率の向上を実現できるCu配線膜形成方法を提供する。 - 特許庁

The metal plated film, wherein a seed layer and a Cu plating layer are successively provided at least on the one side of a resin film base material, is constituted of a laminated plating layer having a multilayered structure formed by combining a plurality of sets of Cu plating layers in a state that each of the Cu plating layers and an In plating layer are set to one set.例文帳に追加

樹脂フィルム基材の少なくとも片面に、シード層、Cuめっき層を順次設けた金属めっきフィルムにおいて、前記Cuめっき層を、Cuめっき層およびInめっき層を一組として、これを複数組組み合わせて形成した多層構造の積層めっき層で構成することを特徴とする。 - 特許庁

To provide an etching agent capable of etching a Cu film by an easy chemical etching method being a dipping method by rest process in the case that a Cu film of low resistance is used as a wiring material, small in the secular change of the etching grade and capable of preventing the occurrence of a pattern thinning phenomenon caused by the dispersion of the side etching amount of the Cu film.例文帳に追加

低抵抗のCu膜を配線材料として用いる場合に、静止による浸漬法という簡易なケミカルエッチング法でCu膜をエッチングでき、しかもエッチングレートの経時変化が少なく、Cu膜のサイドエッチング量のバラツキに起因するパターン細り現象が生じるのを防止できるエッチング剤の提供。 - 特許庁

To provide a method for substrate treatment which obtains successful connection between lower layer Cu wiring and upper layer Cu wiring in a damascene method by simultaneously carrying out reduction treatment to an oxidized Cu exposure surface and degassing an SOD film by the same process in spite of reducing wiring resistance by using the SOD film.例文帳に追加

本実施形態の基板処理方法によれば、SOD膜を用いて配線抵抗の低減化を図るも、酸化したCu露出表面の還元処理及び当該SOD膜の脱ガスを同一工程で同時に実行し、ダマシン法における下層Cu配線と上層Cu配線との間の良好な接続を実現する。 - 特許庁

In an electronic apparatus 100, when voices uttered by a plurality of users CU are input in a plurality of microphones 121, 122, a speech recognition unit 131 recognizes the voices uttered by the users CU from the input results, and a speech determination unit 132 individually determines requests of the plurality of users CU from the recognized voices.例文帳に追加

電子機器100では、複数の利用者CUが発声した音声が複数のマイクロフォン121,122に入力されると、その入力結果から利用者CUが発声した音声を音声認識部131が認識し、認識された音声から複数の利用者CUの要求を音声判定部132が個々に判定する。 - 特許庁

The wafer W is put in a chamber 1, and Cu(hfac)(TMVS) being a monovalent Cuβ diketone complex and a reducing agent, such as ammonia, a reducing Si compound, and carboxylic acid, reducing the Cu(hfac)(TMVS) are introduced into the chamber 1 in a vapor-phase state to form the Cu film on the wafer W by a CVD method.例文帳に追加

チャンバー1内にウエハWを収容し、チャンバー1内に1価Cuβジケトン錯体であるCu(hfac)TMVSと、これを還元するアンモニア、還元性Si化合物、カルボン酸などの還元剤とを気相状態で導入して、ウエハW上にCVD法によりCu膜を成膜する。 - 特許庁

To provide a Cu alloy sputtering target for obtaining a base film or the like excellent in close contact with a glass substrate and an Si film, having a high diffusion barrier property in Si and Cu, hardly generating blistering of a film and film separation even when exposed to a hydrogen plasma atmosphere, and to provide a method of manufacturing a Cu wiring film of a semiconductor device.例文帳に追加

ガラス基板やSi系膜との密着性に優れ、SiとCuとにおける高い拡散バリア性を有し、尚且つ水素プラズマ雰囲気に曝されても膜の膨れや膜剥がれが発生し難い、下地膜等を得るためのCu合金スパッタリングターゲットおよび半導体装置のCu配線膜の製造方法を提供する。 - 特許庁

In this catalyst containing Mo, V, P, and Cu as essential active ingredients, as a Cu material for preparation of the catalyst, copper acetate is used in the whole or a part of the necessary amount of the Cu material.例文帳に追加

本発明はMo、V、P及びCuを必須の活性成分とする触媒において、該触媒の調製用Cu原料として、その必要量の全部又は一部に酢酸銅を使用したものであることを特徴とするメタクロレインの気相接触酸化によるメタクリル酸製造用触媒、被覆触媒及びその製法に関する。 - 特許庁

In the high temp. trapping device 28, unreacted Cu (I) hfacTMVS contained in the exhaust gas from the treating chamber 10 is cracked, and metallic copper is trapped, and, in the low temp. trapping device 30, Cu (II) (hfac) 2 as a reaction by-product is trapped.例文帳に追加

高温トラップ装置28では処理室10からの排気ガスに含まれている未反応のCu(I)hfacTMVSが分解して金属銅がトラップされ、低温トラップ装置30では反応副生成物のCu(II)(hfac)2がトラップされる。 - 特許庁

The feature of the substrate 10 is that the metal layers 20 and 30 have Cu 26 and 32, Mo 24 and 34, and Cu 22 and 36 laminated in this order from the side of the insulating board.例文帳に追加

本発明のパワーモジュール用基板10の特徴は、金属層20、30が絶縁基板側からCu26、32、Mo24、34、Cu22、36の順で積層された金属層20、30で形成されていることである。 - 特許庁

To provide a Cu-containing steel material which inhibits red shortness from occurring in the steel material due to Cu when the steel material is hot-rolled, and has a superior surface quality, and to provide a manufacturing method therefor.例文帳に追加

鋼材を熱間圧延する際のCuに起因する鋼材の赤熱脆性の発生を抑制できる表面性状の優れたCu含有鋼材およびその製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a rare-earth sintered magnet with which residual magnetic flux density is more improved than the case adding Al or Cu while displaying the same coercive force as the coercive force in the case of adding Al or Cu.例文帳に追加

AlやCuを添加された場合の保磁力と同等の保磁力を発揮しつつ、AlやCuを添加された場合よりも残留磁束密度を向上した希土類焼結磁石を提供する。 - 特許庁

例文

In the conductive paste material 4 having a base resin 5 and Cu particles 6 as a filler 8, an object wherein a Sn coating layer 7 is formed on the surface of Cu particle 6 is used as filler 8.例文帳に追加

ベース樹脂5と、フィラー8としてのCu粒子6を有する導電性ペースト材料4において、フィラー8として、Cu粒子6の表面にSnコーティング層7を形成したものを用いる。 - 特許庁




  
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