Cu-Inの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2149件
A calculation unit (CU) 303 calculates a charging capacity Z1 from the measured charging current X and the measured charging time Y, and compares an accumulated charging capacity Z2 (=ΣZ1), which is obtained by cumulatively adding the calculated charging capacity Z1 to a previously calculated charging capacity Z1, with a reference value Z3, in order to detect degradation of the battery 17.例文帳に追加
計算ユニット(CU)303は、測定された充電電流Xと測定された充電時間Yとから充電容量Z1を算出し、バッテリ17の劣化を検出するために、算出された充電容量Z1を過去に算出された充電容量Z1に積算することによって得られる積算充電容量Z2(=ΣZ1)を基準値Z3と比較する。 - 特許庁
The method for processing the seaweeds comprises a pre-drying process for pre-drying the seaweeds comprising raw Undaria pinnatifida or raw Laminariaceae Bory harvested from the sea, a soaking process for soaking the pre-dried seaweeds in a warmed metal ion solution containing any of metal ions comprising Zn, Cu, Fe, Mg, Al, Se, Mo, Cr and Mn to fix the seaweeds to have green color and a drying process for drying the fixed seaweeds.例文帳に追加
海藻の加工方法は、海から採取された生ワカメまたは生コンブからなる海藻を予備乾燥工程で予備乾燥した後、Zn、Cu、Fe、Mg、Al、Se、Mo、Cr、Mnのいずれかの金属イオンを含む加温された金属イオン液に浸漬する浸漬工程で緑色に定着すると共に、浸漬工程で緑色に定着された海藻を乾燥工程で乾燥する。 - 特許庁
To provide a printed wiring board allowing for stable and accurate appearance quality check of the opening pattern of a via or stable and accurate check for the presence or absence of the occurrence of elution of copper (Cu) at a land exposed at an opening of a via which has strong correlation with the occurrence of defects in an opening pattern of such a via, and to provide a method of manufacturing the printed wiring board.例文帳に追加
ビアの開口パターンの外観品質を安定的に正確に検査することを可能とした、あるいはそのようなビアの開口パターンの不具合の発生と強い相関関係のある、ビアの開口にて露出するランド部における銅(Cu)の溶出の発生の有無を安定的に正確に検査することを可能とした、プリント配線板およびその製造方法を提供する。 - 特許庁
This inkjet recording paper is formed by providing the porous layer including fine silica particles ground to 10-300 nm as the average particle diameter of secondary particles and a hydrophilic binder crosslinked through ionizing radiation under the condition that the total contents of heavy metals such as Fe, Cu or Co or its salts in the porous layer is at least 0.1 ppm and not more than 100 ppm.例文帳に追加
支持体上に、二次粒子の平均粒径として10〜300nmに粉砕したシリカ微粒子と電離放射線により架橋する親水性バインダーとを含有する多孔質層を有し、該多孔質層におけるFe、Cu及びCoの重金属またはその塩の総含有量が、0.1ppm以上、100ppm以下であることを特徴とするインクジェット記録用紙。 - 特許庁
A semiconductor module having a semiconductor element and electrodes connected together through a bonding layer made of an Ag-based or Cu-based material is characterized in that a thin film of the same kind as the bonding layer is formed on an interface between the semiconductor element and bonding layer and an interface between the bonding layer and electrodes, the thin film having thickness of 1 to 200 nm.例文帳に追加
半導体素子と電極がAg系またはCu系材で構成された接合層を介して接続された半導体モジュールであって、半導体素子と前記接合層との界面、及び前記接合層と前記電極との界面に前記接合層と同種の薄膜が形成し、かつ前記薄膜の厚さが1乃至200nmであることを特徴とする。 - 特許庁
A control section (CU) 5 has a first control information table for describing a blinking ratio and a lighting current for the illumination LED in cross-reference with a plurality of thresholds to discriminate a residual voltage level detected by the battery voltage detection section and sets the blinking ratio and the lighting current corresponding to the residual voltage level detected by the battery voltage detection section to the illumination drive section.例文帳に追加
制御部(CPU)5は、電池電圧検出部が検出した残留電圧レベルを判定するための複数のしきい値に対応してイルミネーション用LEDの点滅比および点灯電流値が記述された第1の制御情報テーブルを有し、電池電圧検出部が検出した残留電圧レベルに対応する点滅比と点灯電流値とをイルミネーション駆動部に設定する。 - 特許庁
Disclosed herein is a conductive paste for use in formation of an electrode on a semiconductor substrate, which contains a conductive powder consisting of at least one species selected from Ag, Cu and Ni, a halide, and an organic vehicle, the content of the halide being 0.45 to 15.38% by volume relative to 100% by volume of the conductive powder.例文帳に追加
本発明の導電性ペーストは、半導体基板上に電極を形成するための導電性ペーストであって、Ag,CuおよびNiのうち少なくとも1種からなる導電性粉末と、ハロゲン化物と、有機ビヒクルと、を含有し、前記ハロゲン化物の含有量は、前記導電性粉末100体積%に対して0.45〜15.38体積%であることを特徴とする。 - 特許庁
With particles of infiltrant with Cu of density Rb as a main ingredient infiltrated in air gap of TiC particles of a molding with porosity X with TiC of density Ra as a main ingredient, the contact point material for the vacuum valve is to have relative density of not less than 98% against theoretical density Rth by formula: Rth=Ra.(1-X)+Rb.X.例文帳に追加
密度RaのTiCを主成分とする空隙率Xの成形体体のTiC粒子の空隙に密度RbのCuを主成分とする溶浸材の粒子が溶浸された状態について、Rth=Ra・(1−X)+Rb・Xの式による理論密度Rthに対して98%以上の相対密度を有する真空バルブ用接点材料とする。 - 特許庁
When the particle size-increased layer is formed by melting Ni into the W (or Mo) existing on the surface of the sintered body with the size larger than that in the sintered body, fine pores 13 formed on the surface of the sintered body due to the falling out of Cu 11 can be extinguished.例文帳に追加
このように焼結体の表面部はW(あるいはMo)にNiが固溶されて、これらのW(あるいはMo)の粒径の大きさが内部に存在するW(あるいはMo)の粒径よりも大きく成長した増大粒層が形成されていると、Cu11の抜けを起因とする焼結体の表面に形成された細かな気孔13を消滅させることが可能となる。 - 特許庁
A recording thin film 3 is formed between a first electrode 1 and a second electrode 4, and a memory element 10 contains any one from among elements Cu, Ag and Zn with its size as 70 nm or less, at a layer 2 containing at least oxygen and rare earth in the recording thin film 3 that is within or adjacent to the recording thin film 3.例文帳に追加
第1の電極1と第2の電極4との間に記憶用薄膜3が挟まれて構成され、この記憶用薄膜3に少なくとも酸素と希土類元素とを有して成り、記憶用薄膜3内もしくは記憶用薄膜3と接している層2に、Cu,Ag,Znから選ばれるいずれかの元素が含まれ、素子サイズが70nm以下である記憶素子10を構成する。 - 特許庁
The surface acoustic wave device is constituted by arranging IDT electrodes on the main surface of rotary Y-cut X-propagation lithium niobate (LiNbO_3) in the propagation direction of a Love wave, and the metal material of the IDT electrodes is an alloy which is principally comprised of Ag and contains 0.1 to 3.0 wt.% Pd and 0.1 to 3.0 wt.% Cu.例文帳に追加
回転YカットX伝搬ニオブ酸リチウム(LiNbO_3)の主表面上にラブ波の伝搬方向に沿ってIDT電極を配置して構成した弾性表面波デバイスであって、IDT電極の金属材料をAgを主成分とし、0.1wt%〜3.0wt%のPdと、0.1wt%〜3.0wt%のCuとを含有した合金とした弾性表面波デバイス。 - 特許庁
To provide a flux-cored wire for gas shielded arc welding, when a hydrochloric acid and sulfuric acid dewpoint corrosion resistant steel is subjected to gas shielded arc welding, capable of obtaining a weld metal having excellent sulfuric acid corrosion resistance and hydrochloric acid corrosion resistance and also having excellent strength and impact toughness while suppressing occurrence in the liquid metal embrittlement cracks of the weld metal caused by Cu and Sb as low melting point components.例文帳に追加
耐塩酸及び耐硫酸露点腐食鋼をガスシールドアーク溶接した際に、低融点成分であるCu及びSbに起因する溶接金属の液体金属脆化割れ発生を抑制しつつ、耐硫酸腐食性と耐塩酸腐食性とが共に優れ、かつ強度及び衝撃靱性に優れた溶接金属が得られるガスシールドアーク溶接用フラックス入りワイヤを提供する。 - 特許庁
In this diamond grinding method, a diamond grinding wheel consisting mainly of an intermetallic compound of Ti and one or two or more kinds of elements selected from a group of Al, Cr, Mn, Fe, Co, Ni and Cu is pressed against a relatively rotating or moving diamond and ground while keeping the grinding wheel at room temperature or heating a grinding part at 100-800°C as necessary.例文帳に追加
Al、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cuの群から選択した1種または2種以上の元素とTiとの金属間化合物を主成分とすることを特徴とするダイヤモンド研磨用砥石、及び室温又は必要により研磨部を100〜800°Cに加熱しながら、砥石を相対的に回転又は移動するダイヤモンドに押し当て、研磨するダイヤモンドの研磨方法。 - 特許庁
This bearing 1 has the sliding surface 10 composed of a white metal layer 13 on the base 11 composed of the Cu alloy, and is characterized in that the base 11 forms a fine recess-projection part 15 on the sliding surface 10 side, and is covered with a plating layer 12 composed of ferromagnetic metal or its alloy, and is formed with the white metal layer 13 via the plating layer 12.例文帳に追加
Cu合金からなる基台11にホワイトメタル層13からなる摺動面10を有する軸受1であって、前記基台11は前記摺動面10側に微細凹凸部15が形成されるとともに強磁性金属又はその合金からなるめっき層12が被覆され、前記めっき層12を介してホワイトメタル層13が形成されていることを特徴とする。 - 特許庁
To provide a metal wiring substrate and a method of manufacturing the same, which can form a pattern of a metal film with a simple process not requiring any etching process on a metal film, can precisely form a fine pattern, even on a metal such as copper (Cu) that is difficult to control etching, and is superior in material utilization efficiency, and a metal wiring substrate for reflection liquid crystal display.例文帳に追加
金属膜のエッチング工程を必要とせず簡単なプロセスによりパターン形成することができ、銅(Cu)等のエッチング制御が困難な金属であっても精細にパターニングでき、かつ材料の利用効率の優れた金属配線基板及び金属配線基板の製造方法並びに反射型液晶表示装置用金属配線基板を提供する。 - 特許庁
In the electrophotographic photoreceptor having an intermediate layer and a charge generation layer on a conductive support, the charge generation layer contains a moisture agent and the titanylphthalocyanine pigment having the maximum peak when the Bragg angle 2θ of X-ray diffraction spectrum using Cu-Kα characteristic X-ray (wavelength 1.541A) is 27.2±0.2°, and also the intermediate layer contains titanium oxide particles.例文帳に追加
導電性支持体上に中間層、電荷発生層を有する電子写真感光体において、該電荷発生層がCu−Kα特性X線(波長1.541A)を用いたX線回折スペクトルのブラッグ角2θが27.2±0.2°に、最大ピークを有するチタニルフタロシアニン顔料と保湿剤を含有し、且つ中間層が酸化チタン粒子を含有することを特徴とする電子写真感光体。 - 特許庁
The piezoelectric ceramic contains a third compound containing Bi, at least one kind of divalent metal element selected from the group consisting of Mg, Fe, Co, Cu and Zn, at least one kind of tetravalent metal element selected from the group consisting of Ti, Zr and Sn, and oxygen in addition to a first compound having a rhombohedral perovskite-structure and a second compound having a tetragonal perovskite-structure.例文帳に追加
菱面晶系ペロブスカイト構造を有する第1の化合物および正方晶系ペロブスカイト構造を有する第2の化合物に加えて、Biと、Mg,Fe,Co,CuおよびZnからなる群のうちの少なくとも1種の二価金属元素と、Ti,ZrおよびSnからなる群のうちの少なくとも1種の四価金属元素と、Oとを含む第3の化合物を含有する。 - 特許庁
An X-ray detector 20 detects separately a diffraction X-ray coming out of the first sample domain irradiated with a characteristic X-ray of Co and a diffraction X-ray coming out of the second sample domain irradiated with a characteristic X-ray of Cu, being of a position sensitive type at least in the Z-direction, for example, a two-dimensional CCD sensor capable of TDI operation.例文帳に追加
X線検出器20は,Coの特性X線が照射された第1試料領域から出てくる回折X線とCuの特性X線が照射された第2試料領域から出てくる回折X線とを分離して検出できるような,少なくともZ方向に位置感応型のX線検出器であり,例えば,TDI動作が可能な2次元CCDセンサである。 - 特許庁
This recording solution comprises an aqueous medium and at least one kind of a coloring matter selected from metal complex coloring matters formed from salts of a compound represented by general formula (1) in a free acid form, a compound represented by general formula (2), a compound represented by general formula (3) or a compound represented by general formula (4) and Cu, Co, Ni or Fe.例文帳に追加
水生媒体と遊離酸の形が下記一般式(1)で示される化合物あるいは下記一般式(2)で示される化合物あるいは下記一般式(3)で示される化合物あるいは下記一般式(4)で示される化合物とCu,Co,NiあるいはFeの塩とから形成される金属錯体色素から選ばれる少なくとも1種の色素を含有する記録液。 - 特許庁
This invented silver paste is consisted of a vehicle and a metallic powder which contains silver as a principle constituent, Pd of 0.1-5.0 wt.%, and plural elements of 0.1-5.0 wt.% in total chosen from among the group comprising Al, Au, Pt, Cu, Ta, Cr, Ti, Ni, Co, and Si.例文帳に追加
本発明に係る銀ペーストは、金属粉末及びビヒクルからなる銀ペーストであって、上記金属粉末は、Agを主成分とし、Pdを0.1wt%以上5.0wt%以下含有し、Al、Au、Pt、Cu、Ta、Cr、Ti、Ni、Co、Siからなる群から選ばれた複数の元素を合計で0.1wt%以上5.0wt%以下含有するものである。 - 特許庁
The semiconductor device includes an interlayer insulation film 36 formed above a semiconductor substrate 10, the conductor 50 containing Cu formed in the interlayer insulation film 36, and a barrier metal film 46 formed between the interlayer insulation film 36 and the conductor 50 and formed of a multilayer film of a Ti film 42 and a Ta film 44, and an interface layer 54 containing Ti and Si is formed on the surface of the conductor 50.例文帳に追加
半導体基板10の上方に形成された層間絶縁膜36と、層間絶縁膜36内に形成されたCuより成る配線50と、層間絶縁膜36と配線50の間に形成され、Ti膜42とTa膜44との積層膜より成るバリアメタル膜46とを有し、配線50表面に、TiとSiとを含む界面層54が形成されている。 - 特許庁
The interconnection and an electrode for flat panel display using a thin-film transistor having superior adhesiveness, formed by a copper alloy thin film having a composition containing oxygen by 0.4 to 6 atomic%, one or more of Ni, Co and Zn by 0.001 to 3 atomic% in total, and the rest consisting of Cu and unavoidable impurities, and is also relates to a sputtering target for forming interconnections and the electrode.例文帳に追加
酸素:0.4〜6原子%を含有し、さらにNi、CoおよびZnのうちの1種または2種以上を合計で0.001〜3原子%を含み、残部がCuおよび不可避不純物からなる組成を有する銅合金薄膜からなる密着性に優れたTFTトランジスターを用いたフラットパネルディスプレイ用配線および電極、並びにこれらを形成するためのスパッタリングターゲット。 - 特許庁
The method has a process of forming a wiring groove 38 at an interlayer insulating film 34, a process of forming the wiring layer 44 with Cu as the main material within the wiring groove 38, and a process of performing nitrogen two-fluid treatment, in which deionized water with ammonia and hydrogen dissolved therein and nitrogen gas are sprayed simultaneously to the surface of the wiring layer 44 embedded into the wiring groove 38.例文帳に追加
層間絶縁膜34に、配線溝38を形成する工程と、配線溝38内に、Cuを主材料とする配線層44を形成する工程と、配線溝38内に埋め込まれた配線層44の表面に対して、アンモニア及び水素が溶解された純水と窒素ガスとを同時に吹き付ける窒素二流体処理を行う工程とを有する。 - 特許庁
The catalytic particle 10 having a function of absorbing and releasing oxygen contains a Fe compound being a solid solution formed from ferric oxide and one or more bivalent elements except for Fe, which are selected from alkaline metals such as Ca, Mg, Sr and Ba and transition metals such as Co, Ni and Cu and incorporated in the solid solution by around 1-10 atom%.例文帳に追加
酸素の吸蔵および放出を行う機能を有する触媒用粒子10において、原子価が3価であるFeの酸化物に原子価が2価であるFe以外の元素、たとえば、Ca、Mg、Sr、Baといったアルカリ金属や、Co、Ni、Cuといった遷移金属元素などが固溶されているFe化合物を、1原子%〜10原子%程度含んでいる。 - 特許庁
A polyol is allowed to react with an organic polyisocyanate in the presence of a catalyst composition comprising a metal complex catalyst represented by general formula (1) M(acac)_n (wherein M is Fe, Mn, Cu, Zr, Th, Ti, Ni, Al or Co; acac represents acetylacetonate; n is an integer of ≥1 and ≤4) and a compound having a cumulative double bond.例文帳に追加
下記一般式(1) M(acac)_n (1)(式中、Mは、Fe、Mn、Cu、Zr、Th、Ti、Ni、Al又はCoであり、acacはアセチルアセトナートを表し、nは1以上4以下の値を有する整数である)で示される金属錯体触媒と累積二重結合を有する化合物とからなる触媒組成物の存在下で、ポリオールと有機ポリイソシアナートとを反応させる。 - 特許庁
In this biosensor for detecting the interaction between substances based on surface plasmon resonance, the substrate has a metal thin film including ≥90 mol% and less than 99.95 mol% of Ag as a first metal element, and ≥0.05 mol% and less than 10 mol% of at least one of Au, Pt, Cu, Bi, Nd, Ti or Sb as a second metal element.例文帳に追加
表面プラズモン共鳴に基づいて物質間の相互作用を検出するバイオセンサーにおいて、前記基板が、第一の金属元素としてのAgを90モル%以上99.95モル%未満と、第二の金属元素としてのAu、Pt、Cu、Bi、Nd、Ti、Sbから選ばれる少なくとも1種を0.05モル%以上10モル%未満と、を含む金属薄膜を備えたバイオセンサー。 - 特許庁
In the polishing pad for Cu film polishing, the polymeric polyol compound contains polyester polyol of ≥30 wt.%.例文帳に追加
ポリウレタン樹脂発泡体からなる研磨層を有するCu膜研磨用研磨パッドにおいて、前記ポリウレタン樹脂発泡体は、イソシアネート成分と高分子量ポリオール成分とを原料成分として含有するイソシアネート末端プレポリマーと、鎖延長剤との反応硬化物であり、かつ前記高分子量ポリオール成分はポリエステルポリオールを30重量%以上含有することを特徴とするCu膜研磨用研磨パッド。 - 特許庁
On the premise of addition of Ti, the liquid metal embrittlement resistant characteristics can be improved, even in the high strength steel sheet having ≥590 MPa by adding fine quantity of B and one or more elements among Nb, Mo and Cr and further, since the martensitic structure can easily be obtained by adding Cu and Ni, the strength of ≥590 MPa is stably obtained.例文帳に追加
Ti添加を前提として、微量のBやNb,Mo,Crの一種または2種以上を添加することにより、590MPa以上の高強度鋼板においても耐溶融金属脆化特性が改善でき、更に、Cu,Niを添加することにより容易にマルテンサイト組織が得られるようになるため、安定して590MPa以上の強度が得られる。 - 特許庁
The conductive covering material comprises a lower layer region 2 made of one element selected from the group IV-X elements of the periodic table or an alloy predominantly composed of the element, an intermediate layer region 3 made of a Cu-Sn intermetallic compound, and an upper layer region 4 made of an Sn alloy containing an Ag-Sn intermetallic compound that are formed in this order on the surface of a base 1.例文帳に追加
基材1の表面に、周期律表4〜10族に属する元素のいずれか1種またはその元素を主成分とする合金から成る下層領域2と、Cu−Sn金属間化合物から成る中間層領域3と、Ag−Sn金属間化合物を含有するSn合金から成る上層領域4とがこの順序で形成されている導電性被覆材料。 - 特許庁
The method for specifying the Cu contaminated position when reproducing the silicon wafer in combination of one or more treatment processes uses a P-type silicon wafer or a P-type silicon wafer and a N-type silicon wafer as a monitoring wafer to perform at least one detecting operation in the reproducing processes for detecting the electric resistance of the monitoring wafer before and after the plurality of single or consecutive treatment processes during reproduction.例文帳に追加
一以上の処理プロセスを組合わせてシリコンウエハーを再生する際に、該再生時におけるCu汚染箇所を特定する方法であって、 モニターウエハーとして、P型シリコンウエハー、若しくはP型シリコンウエハー及びN型シリコンウエハーを使用し、前記再生時における単一若しくは連続する複数の処理プロセスの前後で、前記モニターウエハーの電気抵抗を検知する検知操作を、当該再生工程で、少なくとも一回実施することを特徴とするCu汚染箇所の特定方法である。 - 特許庁
A brazing structure in which an Al-plated steel material and an aluminum material are brazed to each other by using a brazing filler metal of Al-Cu-Si-based alloy composition with a melting point of <550°C comprises, a steel basis material, an Al-Fe-Si-based alloy layer, and an Al basis material.例文帳に追加
Alめっき鋼材とアルミニウム材料を融点が550℃未満のAl−Cu−Si系合金組成のろう材を用いてろう付けした接合構造であって、鋼材側から順に、鋼素地、Al−Fe−Si系合金層、Al素地により構成され、前記Al−Fe−Si系合金層は下記(1)の条件好ましくはさらに下記(2)を満たすものである鋼材とアルミニウム材料のろう付け接合構造。 - 特許庁
This exhaust gas treating catalyst contains the oxide of at least one metal selected from Cr, Co, Fe, Cu and Mn as a component imparting an active point mainly and the oxide of at least one element selected from group VA, group VIA and group VB in the periodic table as a component imparting an adsorbing point mainly.例文帳に追加
主に活性点を与える成分としてCr、Co、Fe、Cu、Mnのうちの少なくとも1種の酸化物を含み、主に吸着点を与える成分として周期律表5A族、6A族、5B族の元素から選ばれる少なくとも1種の酸化物を含むことを特徴とする排ガス処理触媒を用いて、焼却炉等から排出される排ガス中の有害物質の分解、除去を行う。 - 特許庁
The resistive element is formed by stacking a first plate made of Cu-Ni-based alloy and a second plate made of Ni-Cr-based alloy, and has a diffusion layer 11c, in which the metal materials thereof are diffused, formed between the first plate 11a and second plate 11b, and the diffusion layer occupies 10% or more of the overall thickness of the resistive element.例文帳に追加
Cu−Ni系合金からなる第1の板材と、Ni−Cr系合金からなる第2の板材とを積層することにより形成される抵抗体であって、第1の板材11aと第2の板材11bとの間に、それぞれの金属材料が拡散した拡散層11cが形成されており、前記拡散層は、前記抵抗体の全体厚みに占める割合が10%以上である。 - 特許庁
In a gate electrode 103 that is formed on a compound semiconductor layer 100 composed of GaN, an Ni layer 41 formed by Schottky junction, a low-resistance metal layer 42 that is composed of one metal selected from the group consisting of Au, Cu, and Al, and a Pd layer 44 formed between the Ni layer 41 and the low-resistance metal layer 42 are provided on the compound semiconductor layer 100 composed of GaN.例文帳に追加
GaNからなる化合物半導体層100上に形成されたゲート電極103において、GaNからなる化合物半導体層100上でショットキー接合してなるNi層41と、Au、Cu及びAlからなる群から選択された1種の金属からなる低抵抗金属層42と、Ni層41と低抵抗金属層42との間に形成されたPd層44を設けるようにする。 - 特許庁
In a pressurizing/heating process, a CuAu alloy layer 522 being an alloy layer of Cu constituting the pad 31 and Au constituting the stud bump 52a is formed by bonding the pad 31 with the stud bump 52a and the electrode 51a with the stud bump 52a by solid-phase diffusion bonding, and all Al of the electrode 51a are made into AuAl alloy and an AuAl alloy layer 521 which does not include Al is formed.例文帳に追加
また、加圧・加熱工程では、パッド31とスタッドバンプ52a、及び電極51aとスタッドバンプ52aとを固相拡散接合により接合することによって、パッド31を構成するCuとスタッドバンプ52aを構成するAuとの合金層であるCuAu合金層522を形成すると共に、電極51aのAlを全てAuAl合金化してAlを含まないAuAl合金層521とする。 - 特許庁
A catalyst for removing an organohalogen compd. improved in durability contains at least one kind of Mn-containing oxide selected from the group consisting of α-MnO2, β-MnO2, Mn-Cu compound oxide and Mn-Fe compound oxide and at least one kind of a compd. selected from the group consisting of Ti oxide, Ce oxide, Zr oxide and aluminum phosphate.例文帳に追加
α−MnO_2、β−MnO_2、Mn−Cu複合酸化物、及びMn−Fe複合酸化物よりなる群から選択される少なくとも一種のMn含有酸化物と;Ti酸化物、Ce酸化物、Zr酸化物、及びリン酸アルミニウムよりなる群から選択される少なくとも一種の化合物を含有することにより耐久性が改善されたハロゲン化有機化合物除去触媒である。 - 特許庁
The barium titanate contains <5 mol% (including 0 mol%) at least one element chosen from the group consisting of Sn, Zr, Ca, Sr, Pb, La, Ce, Mg, Bi, Ni, Al, Si, Zn, B, Nb, W, Mn, Fe, Cu and Dy against BaTiO_3 and is used in a laminated ceramic capacitor and an electronic device.例文帳に追加
Sn,Zr,Ca,Sr,Pb,La,Ce,Mg,Bi,Ni,Al,Si,Zn,B,Nb,W,Mn,Fe,Cu,及びDyからなる群より選ばれた少なくとも一種の元素をBaTiO_3に対して5mol%未満(0mol%を含む)含むチタン酸バリウムであって、BET比表面積x(単位:m^2/g)と、リートベルト法で算出した結晶格子のc軸長(単位:nm)とa軸長(単位:nm)の比yが、下記一般式を満たすチタン酸バリウムを用いた積層セラミックコンデンサおよび電子機器。 - 特許庁
Disclosed is an interconnector material for solar cells used as an interconnector 32 for solar cells connecting cells 31 in a solar cell module 30, which contains, by mass, 3 to 20 ppm at least one kinds selected from Zr and Mg and ≤5 ppm O, and the balance Cu with inevitable impurities, and has the average crystal grain size of ≥300 μm.例文帳に追加
太陽電池モジュール30においてセル31間同士を接続する太陽電池用インターコネクタ32として使用される太陽電池用インターコネクタ材であって、質量百万分率で、Zr及びMgのうち少なくとも1種を3〜20ppm、Oを5ppm以下、を含み、残部がCu及び不可避不純物からなり、平均結晶粒径が300μm以上とされていることを特徴とする。 - 特許庁
The copper wiring substrate manufacturing method is characterized in that a surface 2 of a glass or quartz substrate 1 is irradiated with plasmas 4 of an inert gas such as an Ar gas to reform the surface 2 to improve the adhesive property of the surface 2 itself of the substrate 1 to pure Cu and the copper thin film 3 is formed by sputtering directly on the surface 2 of the substrate 1.例文帳に追加
本発明の銅配線基板の製造方法は、ガラスまたは石英からなる基板1の表面2に、例えばArガスのような不活性ガスのプラズマ4を照射することで、その表面2に改質を施して、その基板1の表面2自体における純Cuに対する密着性を向上させ、その基板1の表面2の直上に、銅薄膜3をスパッタリングによって形成することを特徴としている。 - 特許庁
The number of conventional dual damascene process steps is reduced by using an organic insulating material which is photosensitive to electron beam irradiation as an interlayer insulating film, performing pattern exposure corresponding to via holes and wiring grooves in two steps of electron beam irradiation conditions and then performing development at the same time for forming necessary via holes and wiring grooves, and Cu of low resistivity is used as a wiring material.例文帳に追加
層間絶縁膜として、電子線照射に感光する有機絶縁材料を用い、電子線照射条件を2段階で行うことによりビアホールと配線溝に相当するパターン露光をし、その後同時に現像を行い必要なビアホールと配線溝を形成することで、従来のデュアルダマシン工程の工程数を削減するとともに、配線材料として比抵抗の小さいCuを用いる。 - 特許庁
The reflector is formed on a base material, and has a metal oxide layer and a reflection layer consisting of Ag doped with an element having a smaller atomic radius than that of Ag from a side near the base material when seen from a base material side, wherein crystallite size calculated from diffraction peaks originating in Ag by X-ray diffraction measurement using Cu K-alpha beam of the reflector, is 2 to 23 nm.例文帳に追加
基材上に形成される反射体であり、該反射体は、基材側から見て基材に近い側から、金属酸化物層、Agに対して小さい原子半径を有する元素がドープされたAgからなる反射層、を有するものであり、該反射体のCuKα線を用いたX線回折測定により、Agに由来する回折ピークから算出される結晶子サイズが2〜23nmであることを特徴とする反謝体。 - 特許庁
This sputtering target, having 1×10^-4 to 1.5×10^4 Ω.cm for electrical resistivity at 25°C, is obtained by sintering a raw material mixture, containing substantially ZnS and at least one dopant element selected from the group consisting of Al, In, Ag, Cu, N, Li, Na and Cl.例文帳に追加
実質的にZnSと、Al、In、Ag、Cu、N、Li、Na及びClからなる群から選択される少なくとも1種のドーパント元素とを含有する原料混合物を焼結して得られるターゲットであって、該ターゲットの25℃における電気抵抗率が1×10^−4〜1.5×10^4Ω・cmであることを特徴とする、DCスパッタリングの可能な光ディスク保護膜用スパッタリング・ターゲット、さらには、これらを用いて作成した光ディスク保護膜により提供。 - 特許庁
This selective method for producing a multi-substituted butadiene is provided by reacting two alkene compounds containing an alkene bond and bonded with an organic group containing an atom selected from group 13 to 16 elements of a long period type periodic table and bonded with a second carbon atom of a first and second carbon atoms forming the alkene bond through the atom in the presence of a catalyst containing copper (Cu).例文帳に追加
アルケン結合を含み、該アルケン結合を形成する第一の炭素原子及び第二の炭素原子の内の該第二の炭素原子に、元素の長周期型周期表における第13族から第16族から選択される原子を含む有機基が該原子を介して結合してなるアルケン化合物の2つを、少なくとも銅(Cu)含有触媒を含む触媒の存在下で反応させる多置換ブタジエンの選択的製造方法である。 - 特許庁
In Japan too it has been held that with a view to introducing the CU system the 'Panel for the Prompt Supply of Effective and Safe Drugs' should consider, with continued adherence to the principle of government approval once the necessary domestic clinical trials have been conducted, such matters as the basic philosophy of this system (the scope of unapproved drugs to be covered and the target patients), the respective roles of the government, pharmaceutical companies and physicians, and the handling under medical insurance. (Fiscal 2007 ~ )例文帳に追加
我が国でも、「有効で安全な医薬品を迅速に提供するための検討会」において、国内で必要な治験を行った上で、国が承認するとの原則を堅持すべきであるとしつつ、CU制度の基本的考え方(対象とすべき未承認医薬品の範囲や対象者)、国・製薬企業・医師の役割分担、医療保険上の取扱い等について、CU制度の導入に向けて検討すべきとされた。(2007 年度~) - 厚生労働省
In a metallization polyimide film having two or more metal layers including at least a metal layer principally comprising Cu formed on at least one side of a polyimide film, surface metal index Asm calculated by IR-ATR method is ≥0.001 on the surface of the polyimide film after the metallization polyimide film is treated with sulphuric acid/hydrogen peroxide based etching reagent, and he surface resistivity is ≥1×10^13 Ω.例文帳に追加
ポリイミドフィルムの少なくとも片面に少なくともCuを主体とする金属層を含む二層以上の金属層が形成された金属被覆ポリイミドフィルムにおいて、該金属被覆ポリイミドフィルムを硫酸/過酸化水素系エッチング試薬で処理したポリイミドフィルム表面のIR−ATR法から算出される表面金属指数Asmが0.001以上、かつ表面抵抗率が1×10^13Ω以上であることを特徴とする金属被覆ポリイミドフィルム。 - 特許庁
The oxide superconductor S has an oxide superconducting layer b obtained through a method to form a film by a chemical reaction of oxide superconductor raw material gas on at least one surface side of a tape- form base material 38 containing Ag in it, on a surface layer part of the base material 38 formed a diffused layer c with Cu diffused, and the oxide superconducting layer formed on the diffused layer c.例文帳に追加
Agを含むテープ状の基材38の少なくとも一面側において酸化物超電導体の原料ガスを化学反応させて前記基材上に成膜する方法により得られた酸化物超電導層bを有し、前記基材38の表層部に、Cuが拡散された拡散層cが形成され、該拡散層c上に前記酸化物超電導層が形成されたことを特徴とする酸化物超電導導体S及びその製造方法。 - 特許庁
The powder X-ray diffraction pattern of the biimidazole compound shows a diffraction peak at least in each region from 9.0° to 9.2°, from 11.0° to 11.2° and from 21.2° to 21.4° of 2θ angle by Cu-Kα characteristic X-ray diffraction.例文帳に追加
(A)バインダー樹脂、(B)光重合性モノマー、(C)光重合開始剤、(D)着色材料および(E)溶剤を含有し、光重合開始剤として少なくともビイミダゾール化合物を含む着色感光性樹脂組成物において、ビイミダゾール化合物の(1)粉末X線回折パターンがCu−Kα特性X線回折の2θ角度で少なくとも9.0°〜9.2°の範囲、11.0°〜11.2°の範囲および21.2°〜21.4°の範囲にそれぞれ回折ピークを有することを特徴とする着色感光性樹脂組成物。 - 特許庁
The semiconductor device has a semiconductor element 2 mounted on a rectangular PBGA substrate 1 composed of an epoxy circuit board 11 having Cu wirings 12 in an inner layer, the semiconductor element 2 sealed with an epoxy resin 4, and mounting solder balls 5 disposed on the backside of the PBGA substrate 1.例文帳に追加
内層にCu配線12を有するエポキシ回路基板(11)で構成される矩形のPBGA基板1上に半導体素子2が搭載され、かつ半導体素子2がエポキシ樹脂4により封止されるとともに、PBGC基板1の裏面に実装用の半田ボール5が配設されている半導体装置において、PBGA基板1のコーナ部には、外方向に向けて放射状に突出された突起形状部14がエポキシ回路基板(11)を形成しているエポキシ樹脂により一体形成される。 - 特許庁
The high strength thick steel plate having excellent arrest properties in the Z direction has a chemical composition comprising 0.01 to 0.12% C, ≤0.50% Si, 0.4 to 2% Mn, ≤0.05% P, ≤0.008% S, 0.002 to 0.05% Al, ≤0.01%例文帳に追加
C:0.01〜0.12%、Si≦0.50%、Mn:0.4〜2%、P≦0.05%、S≦0.008%、Al:0.002〜0.05%、N≦0.01%、Nb:0.003〜0.1%を含み、〔C+(Mn/6)+(Cu/15)+(Ni/15)+(Cr/5)+(Mo/5)+(V/5)〕:0.32〜0.40を満たし、残部はFeと不純物の化学組成を有し、板厚中心部における有効結晶粒径≦25μmで、C断面における板厚1/4位置を中心として、Z方向で特定長さを有する任意の直線と交差する有効結晶粒の粒界数NzとC方向で前記と同じ特定長さを有する任意の直線と交差する有効結晶粒の粒界数Ncとの比Nz/Ncが1.05以上のZ方向のアレスト特性に優れた高強度厚肉鋼板。 - 特許庁
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