Cu-Inの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2149件
Sufficient breaking performance can be provided by containing Cr and either of Cu and Ag; a chopping current can be reduced by a sublimation phenomenon of the carbide in current cutoff; arc drive is facilitated; and excellent breaking performance can be exerted.例文帳に追加
CrとCuまたはAgのいずれか一方を含むことにより、十分な遮断性能が得られ、また、電流遮断時における炭化物の昇華現象によって裁断電流を小さくするとともに、アーク駆動を促進し、優れた遮断性能を発揮することができる。 - 特許庁
To provide a ferritic stainless steel which is excellent in any of oxidation resistance (including resistance to oxidation with water vapor), thermal fatigue characteristic and high-temperature fatigue characteristic by preventing the deterioration of the oxidation resistance due to the addition of Cu without adding expensive elements such as Mo and W.例文帳に追加
MoやW等の高価な元素を添加することなく、かつ、Cu添加による耐酸化性の低下を防止することによって、耐酸化性(耐水蒸気酸化性を含む)、熱疲労特性および高温疲労特性のいずれにも優れるフェライト系ステンレス鋼を提供する。 - 特許庁
The production method of the nanoparticle phosphor comprises heating and refluxing at least one selected from a group consisting of Si compounds, Pt compounds, Pd compounds, Fe compounds, Au compounds, Cu compounds and Ag compounds in a solvent containing dimethyl formamide.例文帳に追加
Si化合物、Pt化合物、Pd化合物、Fe化合物、Au化合物、Cu化合物及びAg化合物からなる群から選択される少なくとも1種を、ジメチルホルムアミド含有溶媒中で加熱還流することを特徴とするナノ粒子蛍光体の製造方法。 - 特許庁
Complexly alloying two different metals of Cu and Ir can reduce a discharge voltage and improve durability to spark erosion, while addition of either one metal alone exhibits only a slight improvement in the spark erosion and thus an effect of reducing the discharge voltage cannot be expected.例文帳に追加
CuとIrの2種の金属を複合的に合金化することで、放電電圧の低減、火花消耗への耐久性を向上させることができ、いずれか一方の金属のみの添加では、火花消耗性の改善効果が薄く、放電電圧の低減効果が期待できない。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a semiconductor device in which a defect of a barrier metal film having a multilayer wiring structure is interpolated with a diffused barrier film by self-formation reaction between Mn of a CuMn layer and an interlayer insulating film, the specific resistance of a Cu layer on the CuMn layer being reduced.例文帳に追加
多層配線構造のバリアメタル膜の欠陥を、CuMn層のMnと層間絶縁膜との自己形成反応による拡散バリア膜で補間する半導体装置の製造方法において、CuMn層上のCu層の比抵抗を低減する半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
The first arm 131 includes a recessed portion 138 on the front side of the arm, and when the second arm 132 is turned toward the front side of the first arm together with the camera head 150 and both arms are folded in a storage posture, the recessed portion 138 encloses a lens unit CU of the camera head 150.例文帳に追加
第1アーム131は、アーム正面側に陥没凹所138を備え、この陥没凹所138には、第2アーム132がカメラヘッド150と共に第1アーム正面側に回動されてアームが重なった収納姿勢となると、カメラヘッド150のレンズユニットCUを取り囲む。 - 特許庁
Subsequently, laser beams 5 are overlappingly scanned in the atmosphere of a second CVD gas 4 of DMAu-Tfac or HfacCu-tmvs, whereby a conductive film 6 made of Au or Cu which is electrically connected to the contact 3 at a low resistance is formed.例文帳に追加
続いて、DMAu−TfacまたはHfacCu−tmvsの第2のCVDガス4雰囲気中でレーザ光5を重畳走査することによって、コンタクト3と電気的に低抵抗で接続されるAuまたはCuからなる導電性膜6を形成する。 - 特許庁
In the formula, L1 represents a ligand comprising within its molecule a thiol group binding to a plurality of species of substrates and a terpyridyl group binding to a plurality of species of metallic elements, L2 represents terpyridine or a terpyridine derivative, and M represents a metallic element selected from Co, Cr, Cu, V, Fe, Ru, Os and Ni.例文帳に追加
(式中、L1は分子内に、多くの金属基板に結合可能なチオール基と、多くの金属元素に結合可能なターピリジル基を有した配位子である。L2はターピリジン、またはターピリジン誘導体である。MはCo,Cr,Cu,V,Fe,Ru,OsまたはNiから選ばれる金属元素である。) - 特許庁
This surface contracted layer 2 is made of a porous plate made of copper alloy (94.9 wt.% Cu-5.5 wt.% Sn-0.1 wt.% P), its thickness is 45 μm, and a through hole of an averaged diameter 5 μm is formed in distribution density (porosity 4%) of 1,600 pieces/mm2.例文帳に追加
この表面絞り層2は、銅合金製(94.9wt%Cu−5.5wt%Sn−0.1wt%P)の多孔板からなり、その厚さは45μmであり、平均直径5μmの貫通孔が、1,600個/mm^2の分布密度(気孔率4%)で形成されている。 - 特許庁
To obtain a polishing composition wherein metallic impurities of Cu, Mn, Ni, Fe, Zn, Cr, etc are hardly present on the surfaces of its fumed silica particles and in its dispersion medium and which is optimal for polishing silicon wafers etc, and to provide a method of obtaining the above polishing composition at a low cost.例文帳に追加
Cu、Mn、Ni、Fe、Zn、Cr等の金属性不純物がヒュームドシリカ粒子表面及び分散媒中にほとんど存在せず、シリコンウエハ等の研磨に最適な研磨用組成物を得ること、及び低コストでこの研磨用組成物を得る方法を提供すること。 - 特許庁
In hot tool steel and cold tool steel, the compositional contents of C, Si, Mn, P, S, Cr, Cu+Ni+Co, 2Mo+W and V as components are limited, and the balance substantially Fe with inevitable impurities, and Nb, Sn, Pb, B, Ta and Bi are not incorporated.例文帳に追加
熱間工具鋼及び冷間工具鋼の成分C、Si、Mn、P、S、Cr、Cu+Ni+Co、2Mo+W及びVの含有量を組成限定し、残部が実質的にFe及び不可避的不純物よりなり、Nb、Sn、Pb、B、Ta及びBiを含有させない。 - 特許庁
The copper complex is [Cu^II_2(Sp)_2(OH)_2](ClO_4)_2 complex having a structure of a coordination plane twisted in a spiral form and is obtained by synthesis using natural alkaloid (-)-sparteine as a ligand.例文帳に追加
天然アルカロイド(−)−Sparteineを配位子として用い合成して得られる、配位平面が螺旋状に捻じれた構造を有する[Cu^II_2(Sp)_2(OH)_2](ClO_4)_2錯体であることを特徴とする天然アルカロイド(−)−Sparteineを用いた銅錯体。 - 特許庁
The Ge ion-eluting Ag alloy having satisfactory corrosion resistance and plastic workability comprises, by mass, ≤97% Ag and 2 to 6% Ge, and the balance one or more selected from Au, Pd, Cu and In.例文帳に追加
97mass%以下のAgと,2〜6mass%のGeを含み,残部がAu,Pd,Cu,Inの1種類もしくは2種類以上からなることを特徴とするGeイオン溶出Ag合金.これにより,耐食性および塑性加工性の良い,Geイオン溶出Ag合金を提供することが出来る. - 特許庁
To provide a complex sulfide powder useful as a manufacturing intermediate of a compound semiconductor containing Cu, Zn, Sn and S which is excellent in uniformity, and a manufacturing method thereof; a compound semiconductor obtained using the above complex sulfide powder; and a solar cell comprising the above compound semiconductor.例文帳に追加
均一性に優れる、Cu、Zn、Sn及びSを含有する化合物半導体の製造中間体として有用な複合硫化物粉体とその製造方法、前記複合硫化物粉体を用いて得られる化合物半導体、及び前記化合物半導体を含む太陽電池を提供する。 - 特許庁
This decorative copper alloys have a composition consisting of, by mass, 1-6% Al, 0-3% Ti and the balance essentially Cu and whose reflected light spectra have xy chromaticity coordinate values or Lab coordinate values almost identical with those of the alloys in the range from gold-copper alloys to gold-copper-silver alloys.例文帳に追加
質量%で1〜6%のAlと、0〜3%のTiを含有し残部が実質的にCuからなるもので、その反射光スペクトルが金−銅合金から金−銅−銀合金とほぼ同じxy色度座標値あるいはLab座標値を持つ装飾用銅合金である。 - 特許庁
The copper alloy material is obtained by subjecting a copper alloy ingot comprising, by mass, 1.0 to 5.0% Ni, 0.2 to 1.1% Si, and the balance Cu with inevitable impurities, and in which the size of crystallized products is 0.5 to 10 μm, and dendrite secondary arm spacing is 10 to 50 μm to rolling and heat treatment.例文帳に追加
Niを1.0〜5.0質量%、Siを0.2〜1.1質量%含有し、残部がCuおよび不可避不純物からなり、晶出物径が0.5〜10μm、デンドライト2次アームスペーシングが10〜50μmである銅合金鋳塊に圧延加工および熱処理が施された銅合金材。 - 特許庁
The composite layer formed of the insulating layer and wiring layer includes the wiring (the wiring layer) formed by a printing method on curable insulating resin (the insulating layer) formed on the substrate by the printing method, wherein the wiring contains at least one or more elements out of Cu, Ag, Au, Al, Ni, Co, Pd, Sn, Pb, In, and Ga.例文帳に追加
基板上に印刷法により形成した硬化性絶縁樹脂(絶縁層)上に、Cu、Ag、Au、Al、Ni、Co、Pd、Sn、Pb、In、Gaの内少なくともひとつ以上の元素を含む配線(配線層)を印刷法により形成した、絶縁層と配線層の複合層。 - 特許庁
The aluminum material is characterized in that the content of carbon (C) is ≤10 ppm by atomic ratio, the content of oxygen(O) is ≤1ppm by atomic ratio, the content of nitrogen(N) is ≤20 ppm by atomic ratio, and the total content of iron(Fe), silicon(Si) and copper(Cu) is ≤0.3 ppm by atomic ratio.例文帳に追加
炭素(C)含有量が原子比で10ppm以下、酸素(O)含有量が原子比で1ppm以下、窒素(N)含有量が原子比で20ppm以下であり、鉄(Fe)と珪素(Si)と銅(Cu)の合計含有量が原子比で0.3ppm以下であることを特徴とするアルミニウム材である。 - 特許庁
The high-strength and high-conductivity copper alloy has a composition containing, by mass, >1.0 to <4% Mg and >0.1 to 5% Sn, and the balance substantially Cu with inevitable impurities, and in which the mass ratio between the Mg content to the Sn content, Mg/Sn is ≥0.4.例文帳に追加
Mg;1.0質量%を超えて4質量%未満、Sn;0.1質量%を超えて5質量%未満を含み、残部が実質的にCu及び不可避不純物とされており、Mgの含有量とSnの含有量の質量比Mg/Snが0.4以上とされていることを特徴とする。 - 特許庁
To provide a refractory steel in which the contents of alloy elements Mo, Cu, Cr and Nb increasing high temperature strength are limited, and which has sufficient refractory performance and low temperature toughness, i.e., a refractory steel which has excellent reheat embrittlement resistance and low temperature toughness, and a method for producing the same.例文帳に追加
高温強度を高める合金元素Mo、Cu、Cr、Nbの含有量を制限し、かつ、十分な耐火性能及び低温靭性を有する耐火鋼材、即ち、耐再熱脆化性及び低温靭性に優れた耐火鋼材並びにその製造方法を提供する。 - 特許庁
The lens 10A for the imaging apparatus is for use in the imaging apparatus including a solid-state imaging device; the lens has a layer 12, containing near-infrared absorbing particles which are composed of oxide crystallites containing at least Cu and P, and which have a number-average coagulated particle size of 5 to 200 nm.例文帳に追加
撮像装置用レンズ10Aは、固体撮像素子を備えた撮像装置に用いられるレンズであって、少なくともCuおよび/またはPを含む酸化物の結晶子からなり、数平均凝集粒子径が5〜200nmである近赤外線吸収粒子を含有する層12を備える。 - 特許庁
To provide a laminated varistor of superior static electricity suppression effect and static electricity resistance which has varistor voltage and voltage non-linearity of equivalent level to the case where firing is performed in atmosphere by using an electrode of a noble metal such as a Pd even when an non-fired varistor material and a Cu electrode are integrally fired.例文帳に追加
未焼成のバリスタ材料とCu電極とを一体焼成しても、Pd等の貴金属の電極を用いて大気中で焼成した場合と同等レベルのバリスタ電圧と電圧非直線性を有し、優れた静電気抑制効果と静電気耐性を実現する。 - 特許庁
Moreover, the base material contains 15-40 mass% Zn, 8-20 mass% Ni, 0-0.5 mass% Mn, and the balance may be a copper-based alloy including Cu and unavoidable impurities, and further may contain 0.005-10 mass% the optional ingredient in total.例文帳に追加
又、母材は15〜40質量%のZn、8〜20質量%のNi、0〜0.5質量%のMnを含有し残部がCu及び不可避的不純物より構成される銅基合金でもよく、更に上記任意成分を合計で0.005〜10質量%含有することができる。 - 特許庁
In a bonding system, two objects 91 and 92 to be bonded each having a bonding part PT1 composed of one of Au(gold), Cu(copper) and Al(aluminum) and a bonding part PT2 composed of one of one of Si(silicon), SiO_2(silicon dioxide) or glass on bonding surfaces thereof are bonded.例文帳に追加
この接合システムは、Au(金)、Cu(銅)およびAl(アルミニウム)のいずれかで構成される接合部分PT1とSi(シリコン)、SiO_2(二酸化シリコン)およびガラスのいずれかで構成される接合部分PT2とをその接合表面にそれぞれ有する2つの被接合物91,92を接合する。 - 特許庁
A method of manufacturing the electronic device includes forming a solder connection portion 1 by the steps of: forming a Ni plating layer 3 on a Cu layer as an electrode of a substrate 5; forming a solder ball; and having a compound layer 2 between a Sn-based solder 8 which includes a Cu6Sn5 phase in a temperature range from a room temperature to 200°C.例文帳に追加
電子装置のはんだ接続部1において、基板5の電極となるCu層上にNiめっき層3が形成され、はんだボールを構成し、かつ室温から200℃においてCu6Sn5相を含有するSn系はんだ8との間に化合物層2を有する。 - 特許庁
The second electrode layer may include at least any one selected from a group consisting of Au, Pd, Pt, Ru, Re, Sc, Mg, Zn, V, Hf, Ta, Rh, Ir, W, Ti, Ag, Cr, Mo, Nb, Ca, Na, Sb, Li, In, Sn, Al, Ni, Cu and Co.例文帳に追加
前記第2電極層は、Au、Pd、Pt、Ru、Re、Sc、Mg、Zn、V、Hf、Ta、Rh、Ir、W、Ti、Ag、Cr、Mo、Nb、Ca、Na、Sb、Li、In、Sn、Al、Ni、CuおよびCoよりなる群のうち選択された少なくとも何れか一つを含みうる。 - 特許庁
To optimize process conditions and to supervise CMP equipment by enabling residual slurry map detection equipment to detect the state of slurries etc. adhered on wafers after CMP with high accuracy, in order to, for example, realize a semiconductor device having high-reliablility Cu interconnections.例文帳に追加
スラリー残マップ検出装置に関し、CMP後のウェーハに付着したスラリー等の状態を精度良く検出できるようにし、プロセス条件の最適化やCMP装置の状態を監視できるようにして、例えば、信頼性が高いCu配線をもつ半導体装置を実現できるようにする。 - 特許庁
In this bearing 10 formed by joining a bearing member 4 made of a Cu-Pb bearing alloy to a surface of a base material 2, the bearing member 4 is joined to the base material 2 by soldering, and a surface opposite to the base material 2 of the bearing member 4 is provided with a soldering material anti-diffusion layer 8.例文帳に追加
基材2の表面に、Cu−Pb系軸受合金から成る軸受部材4を接合して成る軸受10であって、軸受部材4は基材2にろう付接合され、かつ、軸受部材4のうち基材2に対向する面には、ろう材の拡散防止層8が形成されている。 - 特許庁
Zinc borate has a specific chemical composition and has a crystalline size of not less than 60 nm determined based on any of diffraction peak of surface indices (020), (101) and (200) in an X-ray diffraction image and a sodium content of not more than 100 ppm measured by means of an atomic absorption method.例文帳に追加
特定の化学組成を有し、X線回折像(Cu-kα)における面指数(020)(101)及び(200)の回折ピークから求めた結晶子サイズが何れも60nm以上であり、且つ原子吸光法で測定したナトリウム分の含有量が100ppm以下であるホウ酸亜鉛。 - 特許庁
This composite electromagnetic shielding material comprises a conductive core made of metal foil whose main component is Al, a dry Cu plated layer and a metal plated layer in order from bottom up on either side of an organic resin film and has a fracture elongation of 5% or more.例文帳に追加
本発明の複合電磁波シールド材は、有機樹脂フィルムの片面に、下から順に、Alを主成分とする金属箔からなる導電性芯体、乾式Cuめっき層、金属めっき層が形成されてなり、破断伸度が5%以上であることを特徴とする。 - 特許庁
In this lead-acid battery equipped with a negative electrode lattice having a lattice base material provided with the ear porion 1 and lattice portions 2, 3 and a surface layer disposed only on the surface of the ear potion, the surface layer contains lead as a main material and at least one kind of Ag, Bi, Co, Cu, Fe, Ge, Ni, and Zn.例文帳に追加
耳部1と格子部2、3とを備えた格子基材と前記耳部の表面にのみ配された表面層とを有する負極格子を備えた鉛蓄電池において、前記表面層は鉛を主材としてAg,Bi,Co,Cu,Fe,Ge,Ni,およびZnの少なくとも一種を含むことを特徴とする。 - 特許庁
To provide an aqueous photoresist stripping agent, which maintains a certain level of abilities of preventing corrosion in Cu and Al and of stripping a photoresist even when a water content varies, by using an azole compound containing a mercapto group as a corrosion preventive, the compound being an additive for a TFT-LCD stripping solution composition.例文帳に追加
TFT−LCD用剥離液組成物添加剤であるメルカプト基が含まれたアゾール系化合物を腐食防止剤として用いて、水の含有量変化時にもCu及びAlの腐食防止及びフォトレジスト剥離能力を一定に維持する水系フォトレジスト剥離剤を提供する。 - 特許庁
To provide a metal wiring forming method in which reliability of a metal wiring is secured by selectively forming a titanium or ruthenium metal, which is capable of preventing diffusion of a copper selectively, at an interface between a copper (Cu) metal wiring having no head for electromigration and a capping film.例文帳に追加
エレクトロマイグレーションに弱い銅(Cu)金属配線とキャッピング膜との界面に選択的に銅の拡散を防止することが可能なチタニウム又はルテニウム金属を選択的に形成して金属配線の信頼性を確保することが可能な金属配線形成方法を提供する。 - 特許庁
By using the strong excitation micro photoluminescence method, each intensity of photoluminescence light emitted from an evaluated semiconductor silicon wafer and from the non-contaminated portion of a reference semiconductor silicon wafer is measured and compared, and thus Cu contamination in the semiconductor silicon wafer is evaluated.例文帳に追加
強励起顕微フォトルミネッセンス法を用い、評価対象の半導体シリコンウェーハと参照半導体シリコンウェーハの汚染のない部分とから発光されるフォトルミネッセンス光の光強度を測定して比較することにより当該半導体シリコンウェーハ中のCu汚染を評価するようにした。 - 特許庁
Alternately, the base material may be a copper-based alloy containing, by mass, 15-40% Zn, 8-20% Ni and 0-0.5% Mn, and the balance composed of Cu and inevitable impurities, and furthermore, the base material may contain 0.005-10 mass% in total of the above mentioned arbitrary components.例文帳に追加
又、母材は15〜40質量%のZn、8〜20質量%のNi、0〜0.5質量%のMnを含有し残部がCu及び不可避的不純物より構成される銅基合金でもよく、更に上記任意成分を合計で0.005〜10質量%含有することができる。 - 特許庁
To provide an automobile component being a plastically worked product of an Al-Mg-Si-based alloy in which the amount of Cu to be added is increased, wherein corrosion resistance can be improved together with the increase of its strength, and a corrosion loss is prevented even when being thinned, and its weight reduction can be securely performed.例文帳に追加
Cu添加量を増加させたAl−Mg−Si系合金の塑性加工品である自動車用部品において、高強度化とともに耐食性を向上させることができ、部品を薄肉化しても腐食減量を防止して軽量化を確実に行うことができるようにする。 - 特許庁
To provide a silicon nitride circuit board provided with a radiation part consisting Cu-SiC and a composite material capable of making thermal cycle life long and mass production by solving the problem that reliability is inferior in soldering, heat resistance increases and a production cost increases.例文帳に追加
はんだ付けの信頼性に劣る課題、はんだ付けにより熱抵抗が増加する課題および製造コストを高めてしまう課題を解決し、熱サイクル寿命が長く安価に大量に製造できる、Cu−SiC、複合材料からなる放熱部材を具備する窒化ケイ素回路基板を提供する。 - 特許庁
At least one kind of Zr, Al, Li, Mg and Zn is incorporated by an amount of 0.05 to 3.0 pts.wt. in metallic conversion to a composition of 100 pts.wt. containing Cu at the ratio of 10 to 70 vol.% and W and/or Mo at the ratio of 30 to 90 vol.%.例文帳に追加
Cuを10〜70体積%、W及び/又はMoを30〜90体積%の割合で含有する組成物100重量部に対して、Zr、Al、Li、Mg及びZnのうち少なくとも1種を金属換算で0.05〜3.0重量部含有することを特徴とする。 - 特許庁
In the method for manufacturing the thin Al-Cu joined structure, the hot-rolling is performed at the temperature of 350-500°C, the draft at each rolling is set to be 20%±10% when the hot-rolling is repeated, and annealing is preferably performed after finishing the hot-rolling.例文帳に追加
上記薄型Al−Cu接合構造物の製造方法では、熱間圧延を350℃〜500℃で行ったり、熱間圧延を繰り返す場合に各圧延での圧下率を20%±10%にしたり、さらに熱間圧延の仕上後に焼鈍を施すのが望ましい。 - 特許庁
This aluminum alloy sheet excellent in formability is formed into a sheet body contg., as chemical components, by weight, 0.85 to 1.50% Mn, 0.50 to 1.50% Mg, 0.30 to 0.70% Fe, 0.10 to 0.50% Si, 0.15 to 0.50% Cu, and the balance Al with inevitable impurities.例文帳に追加
化学成分として重量%で、Mn:0.85〜1.50%、Mg:0.50〜1.50%、Fe:0.30〜0.70%、Si:0.10〜0.50%、Cu:0.15〜0.50%を含有し、残部がAlおよび不可避的不純物からなる板体に形成される成形性に優れたアルミニウム合金板。 - 特許庁
To enable the effective development of an action of a metal such as Ag, Cu and Zn in a surface-treatment of a substrate having a glass layer and provide a product having a glass layer, etc., imparted with excellent surface characteristics and producible with suppressed loss of the metal.例文帳に追加
ガラス層をもつ基体の表面処理方法及びガラス層をもつ製品に関し、Ag、Cu、Zn等の金属による作用を効果的に発揮可能とするとともに、それらの金属の無駄を生じさせず、かつ製品に優れた表面性状をもたせ得るようにする。 - 特許庁
The metal oxide particulates are expressed by a compositional formula of ABO_2 (A denotes a metal element Pd, Pt, Cu or Ag; and B denotes a metal element Co, Fe, Ni, Cr, Rh, Al, Ga, Sc, In or Tl), and have a mean particle diameter of ≤100 nm.例文帳に追加
組成式ABO_2(Aの金属元素Pd、Pt、Cu又はAg、Bは金属元素Co、Fe、Ni、Cr、Rh、Al、Ga、Sc、In又はTlを示す。)で表される金属酸化物微粒子であって、平均粒径が100nm以下である金属酸化物微粒子。 - 特許庁
A green sheet 14 is provided between a Cu wiring board 11 wherein an IGBT 12 and a diode 13 are bonded, and a cooler 15, and its thickness is made projected and larger on the side of the cooler in an area not opposite to the IGBT 12 and the diode 13.例文帳に追加
IGBT12およびダイオード13が接合されたCu配線板11と冷却器15との間に設けられたグリーンシート14の厚みが、IGBT12およびダイオード13と対向しない領域において冷却器15側に凸状に厚くなるように構成されている。 - 特許庁
The aluminum-alloy material has a composition which consists of 1.0-1.6 mass% Mn and the balance Al with inevitable impurities and in which the contents of Cu, Fe and Si among the inevitable impurities are regulated, by mass, to ≤0.01%, ≤0.15% and ≤0.15%, respectively.例文帳に追加
アルミニウム合金材の組成を、Mnを1.0乃至1.6質量%含有し、残部がAl及び不可避的不純物からなり、前記不可避的不純物のうちCuは0.01質量%以下、Feは0.15質量%以下、Siは0.15質量%以下に規制された組成とする。 - 特許庁
The method comprises a process for forming the barrier metal layer 5 in a prescribed position on a Cu wiring layer 3 formed on a semiconductor substrate by a CVD method or an ALD method, and a process for forming an Al layer 6 on the barrier metal layer without air-exposing the barrier metal layer 5.例文帳に追加
半導体基板上に形成されたCu配線層3上の所定位置に、CVD法又はALD法によりバリアメタル層5を形成する工程と、前記バリアメタル層5を大気暴露することなく、前記バリアメタル層上にAl層6を形成する工程を備える。 - 特許庁
To provide a Cu-Ni-Sn-P copper alloy sheet which can meet the recent demand for higher efficiency and higher speed in a press forming process for manufacturing connection parts such as automotive terminal-connector and has a satisfactory strength-ductility balance and also has excellent stress relaxation resistance and electric conductivity.例文帳に追加
前記高効率化、高速化した自動車用端子・コネクタなどの接続部品を製造するプレス成形工程に対応し、強度−延性バランスに優れ、同時に、耐応力緩和特性と導電率にも優れさせるCu−Ni−Sn−P系の銅合金板を提供することを目的とする。 - 特許庁
In the formula, Ln1 is one or both of La and Sm, Ln2 is one or both of Ba and Ca, A is one or both of Fe and Cu, 0.5<x1.0, 0<y<1.0, and -0.5≤d≤0.5.例文帳に追加
Ln1_1-xLn2_xA_1-yCo_yO_3+d ……(1) 但し、Ln1はLa又はSmのいずれか一方又は双方の元素であり、Ln2はBa又はCaのいずれか一方又は双方の元素であり、AはFe又はCuのいずれか一方又は双方の元素であり、0.5<x<1.0であり、0<y<1.0であり、−0.5≦d≦0.5である。 - 特許庁
To produce a lithium titanium complex oxide, where the inequality: Ia>Ib>Ic is effected in an X-ray diffraction spectrum using Cu-Kα beam sources, wherein Ia is the peak intensity of the (200) face; Ic is the peak intensity of the (004) face; and Ib is the peak intensity of the (31-3) face.例文帳に追加
Cu−Kα線源を用いたX線回折スペクトルにおいて、(200)面のピーク強度Ia、(004)面のピーク強度Ic、及び、(31−3)面のピーク強度Ibの間に、Ia>Ib>Icとなる関係が成立する、リチウムチタン複合酸化物を製造する。 - 特許庁
The method has an interlayer insulating film forming step of forming an interlayer insulating film 12, a wiring groove forming step of etching the interlayer insulating film 12 to form a wiring groove 13, and a wiring forming step of filling Al-Cu alloy in the inside of the wiring groove 13 to form a wiring 18.例文帳に追加
層間絶縁膜形成工程により層間絶縁膜12を形成し、配線溝形成工程により層間絶縁膜12をエッチングして配線溝13を形成し、配線形成工程により配線溝13の内部にAl−Cu合金を充填し、配線18を形成する。 - 特許庁
The surface mount light emitting diode comprises a recess 1d having a circular bottom 1b and a conical light reflecting side face 1c and formed on one surface 1a of a package 1 molded in a substantially cubic shape by injection molding or press forming a metal core material of high heat conductive Mg, Al, Cu or the like.例文帳に追加
高熱伝導性のMg系、Al系、Cu系等のメタルコア材料を、射出成形あるいはプレス成形によって略立方体形状に成形したパッケージ1の一面1aには、円形の底面1bと円錐形状の側面1cとを有する凹部1dが形成されている。 - 特許庁
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