「Defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(25ページ目) - Weblio英語例文検索

Ions are implanted in two processes ((c) and (f)) for avoiding defects in the impurity diffused region.例文帳に追加

イオン注入を２回に分けて行う（（ｃ）、（ｆ））ことで、不純物拡散領域の欠損を防止する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing carbon nanotubes with mass productivity, little defects and high tensile strength.例文帳に追加

量産性があって、欠陥が少なく、引っ張り強度の高いカーボンナノチューブの作製法を得る。 - 特許庁

To suppress leak currents by reducing lattice defects and elastic collision between ions.例文帳に追加

格子欠陥を低減し且つイオン同士の弾性衝突を低減してリーク電流を抑制する。 - 特許庁

To provide a surface-saponified cellulose ester film suited as an optical film free from surface defects.例文帳に追加

表面欠陥のない光学フィルムに適した表面を鹸化したセルロースエステルフィルムを提供する。 - 特許庁

To easily detect a defect occurring in wiring for inspecting defects formed on a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェハに形成された欠陥検査用配線に生じる欠陥を容易に検出する。 - 特許庁

The apparatus can evaluate defects in the edge region of the wafer (6) by a user, or can automatically.例文帳に追加

本装置は、ウエハ（６）の縁部領域の欠陥をユーザが評価するか、自動で行うことができる。 - 特許庁

To provide a new composition for oxidation dyeing of keratin fibers which is free of prior art defects.例文帳に追加

先行技術の欠点がないケラチン繊維の酸化染色のための新規の組成物を得ること。 - 特許庁

Thereby, the casting (product) of high quality free of casting defects can be stably obtained.例文帳に追加

これにより、鋳造欠陥がない高い品質の鋳造品（製品）を安定して得ることができる。 - 特許庁

This inspecting device inspects defects in the frame of a semiconductor wafer by processing its image information.例文帳に追加

本発明の検査装置は半導体ウェハーの枠のイメージ情報を処理して欠陥を検査する。 - 特許庁

To provide a manufacturing device of a multilayer printed wiring board with high productivity without through defects.例文帳に追加

貫通不良がなく生産性の高い多層プリント配線板の製造装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an external electrode fluorescent lamp (EEFL) having no defects as in a conventional technology.例文帳に追加

従来技術における欠点を有さない外部電極蛍光ランプ（ＥＥＦＬ）を提供すること。 - 特許庁

To grow a semiconductor layer, with which defects are very mach reduced, even on a substrate which contains oxygen.例文帳に追加

酸素を含む基体であっても、欠陥の非常に少ない半導体層を成長させる。 - 特許庁

To provide a configurable Web services system and the like to detect defects in software applications.例文帳に追加

ソフトウェアアプリケーションにおける欠陥検出のための設定可能なウェブサービスシステム等を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an austenite series stainless steel wire rod capable of eliminating extremely small defects.例文帳に追加

オーステナイト系ステンレス鋼からなる線材の微小欠陥を抑制しうる製造方法の提供。 - 特許庁

By so doing, the implantation defects in the semiconductor film can be minimized.例文帳に追加

このようにすることで、半導体膜における注入欠陥を最小限に抑えることができる。 - 特許庁

other common symptoms are a large tongue, large internal organs, and defects of the abdominal wall near the navel. 例文帳に追加

この他にも巨舌症、内臓の腫大、臍付近の腹壁欠損などの症状がよくみられる。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

To form a resist pattern in which dimensional variations and defects are minimized as much as possible with high throughput.例文帳に追加

寸法ばらつき及び欠陥を可及的に低減したレジストパターンを高いスループットで形成する。 - 特許庁

To manufacture a color filter with no defects such as color nonuniformity, bleaching and color mixture, by using an ink jet method.例文帳に追加

インクジェット法を用いて色むら、色抜け、混色等の欠陥のないカラーフィルタを製造する。 - 特許庁

To provide an inspection method for extracting a target defect among defects acquired from an image.例文帳に追加

画像から取得される欠陥から目的欠陥を抽出するための検査方法を提供する。 - 特許庁

To treat a work in a short time by eliminating defects in a current vacuum treatment apparatus.例文帳に追加

現行の真空処理装置における欠点を回避し、工作物の短時間処理を可能にする。 - 特許庁

To provide a welding apparatus in which occurrence of weld defects by laser welding is suppressed.例文帳に追加

レーザ溶接による溶接不良の発生を抑制した溶接装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a novel distillation method of an oxystyrene derivative that does not show defects in conventional methods.例文帳に追加

従来法の欠点を示さない新しいオキシスチレン誘導体の蒸留方法を提供する。 - 特許庁

Since these defects do not occur, the rotation speed of the rotary drum 16 need not be lowered.例文帳に追加

また、これらの問題が生じないので、回転ドラム１６の回転速度を遅くする必要もない。 - 特許庁

To provide a system and a method for correcting media data having defects by using a network.例文帳に追加

ネットワークを使用して、傷のあるメディア・データを訂正するシステムおよび方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a positive type resist composition having such good performance as not to cause development defects and good line edge roughness.例文帳に追加

現像欠陥性能及びラインエッジラフネスが良好なポジ型レジスト組成物を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing wafer in which the number of defects is significantly reduced.例文帳に追加

ウェーハ上の欠陥が大きく低減されたウェーハの製造方法を提供することである。 - 特許庁

When defects occur during the drawing of the preform 11, the inspection light 46 becomes a scattered light.例文帳に追加

プリフォーム１１を延伸する際に欠陥が発生していると、検査光４６は散乱光となる。 - 特許庁

The wafer-inspection SEM is useful to review minute defects in the semiconductor-manufacturing process. 例文帳に追加

ウエハ検査SEMは、半導体製造工程の微小な欠陥を調べ直すのに有用である(役立つ)。 - 科学技術論文動詞集

To reduce crystal defects in a silicon layer under a BOX layer of an SIMOX (separation by implanted oxygen) wafer.例文帳に追加

ＳＩＭＯＸウェーハのＢＯＸ層下のシリコン層に存在する結晶欠陥を低減すること。 - 特許庁

As I expected, his reply was typewritten and revealed the same trivial but characteristic defects. 例文帳に追加

予期した通り、彼の返事はタイプで打たれ、ささいだが特徴的な同一の欠陥が現れていた。 - Arthur Conan Doyle『シャーロック・ホームズの冒険』

The maker server judges whether to have defects in each piece of received information (step SA3), accepts received order reception for the instruction manual in the case of no defects and transmits notification to the effect that the received order reception is accepted (step SA4).例文帳に追加

メーカーのサーバーでは、受信した各情報に不備が無いかを判断し（ステップＳＡ３）、不備がなければ受信した取扱説明書の受注を受付け、その旨の通知を送信する（ステップＳＡ４）。 - 特許庁

To provide a defect detection method and a defect detecting device, capable of accurately detecting display defects, such as voltage cause defects which can be generated in image, when a voltage is applied to an image display device.例文帳に追加

画像表示デバイスに電圧を印加した際に画像内に生成し得る電圧要因欠陥等の表示欠陥を精度よく検出できる欠陥検出方法、および欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for inspecting a transfer mask for defects, which inspect a pattern opening of a transfer mask accurately and reprodusibly for defects such as foreign matters and projections.例文帳に追加

転写マスクのパターン開口部の異物や突起等の欠陥を精度良く、再現性良く検査するための転写マスクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of automatically detecting defects of an input output circuit for executing input and output of data, and saving the defective input/output circuit on the basis of the result of defects.例文帳に追加

データの入出力を実行する入出力回路の不良を自動的に検知し、その不良結果に基づいて不良の入出力回路を救済する半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To manufacture a galvanized steel sheet having excellent appearance by preventing occurrence of surface defects and surface appearance defects caused by the stagnation of a molten zinc and foreign matters on a plating bath surface.例文帳に追加

溶融亜鉛の淀みと、めっき浴面上の異物に起因する表面欠陥及び表面外観欠陥の発生を防止し、鮮麗な外観を備える溶融亜鉛めっき鋼板を製造する。 - 特許庁

In the constitution, light reflection and transmission in the point defects 14 is suppressed by selecting the proper distance L, and light resonated by the the point defects 14 can be efficiently extracted.例文帳に追加

この構成において、適切な距離Lを選択することによって、点欠陥１４における光の反射や透過が抑制され、点欠陥１４で共振する光を効率よく取り出すことができる。 - 特許庁

Cu metallization is treated to reduce defects and effect passivation, and to reduce leakage between lines, by removing surface defects subsequent to CMP and barrier layer removal.例文帳に追加

欠陥を減少させ、パッシベーションを行うために、またライン間の漏洩を減少させるため、Ｃｕメタライゼーションは、ＣＭＰおよび障壁層の除去に続いて表面の欠陥を除去することにより処理される。 - 特許庁

When the observation in the high-magnification mode is judged to be necessary in this optical observation, the marks indicating the positions of the defects are formed as recessed parts by using mechanical means near the defects of the substrate.例文帳に追加

この光学観察で高倍率モードでの観察が必要であると判断した場合、欠陥の位置を指示するマークを、基板の欠陥の付近に機械的手段を用いて凹部として形成する。 - 特許庁

To provide a method for producing a bismuth-substitution type magnetic garnet membrane having larger quenching ratio than ever before and low insertion loss, low pitting defects factor and low crack defects factor, and a method for obtaining the membrane.例文帳に追加

本発明は、従来以上に消光比が大きく、挿入損失と、ピット不良率と、ひび割れ不良率とが低いビスマス置換型磁性ガーネット膜とこれを得る方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus and image processing method for detecting defects in image data, caused by dust deposited on the lens of a CCD camera or flaw on the lens, or the like, and correcting the image defects detected.例文帳に追加

ＣＣＤカメラ等のレンズに付着したゴミまたは傷等に起因する画像データの欠陥を検出し、検出された画像欠陥を修正する画像処理装置および画像処方法を提供する。 - 特許庁

In the case where two or more detected defects exist adjacent to each other within a predetermined or less interval in the rolling direction of the body to be inspected, two or more defects are detected as one continuous defect.例文帳に追加

また、検出された二以上の欠陥が被検査体の圧延方向に所定間隔以下の範囲で隣接して存在する場合には、二以上の欠陥を一の連続した欠陥として検出する。 - 特許庁

To provide a substrate for a mask blank, the mask having high smoothness and decreased minute surface defects (particularly recessed defects) on a substrate surface, and to provide a mask blank and a transfer mask using the substrate.例文帳に追加

高平滑で、しかも基板表面の微小な表面欠陥（特に凹状欠陥）を低減した基板が安定して得られるマスクブランク用基板、これを用いたマスクブランク、及び転写マスクを提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a flash memory device improving a margin in a photo process, preventing defects in pattern, and preventing defects such as photo mask collapse by decreasing aspect ratio of photo mask.例文帳に追加

フォト工程のマージンを向上させること、パターン不良を防止すること、及びフォトマスクのアスペクト比を減らしてフォトマスク崩壊などの不良を防止することが可能なフラッシュメモリ素子の製造方法の提供。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a SOI wafer with little defects such as defective, which is capable of fully annihilating defects of a bond wafer in the manufacturing process of SOI water.例文帳に追加

ＳＯＩウェーハの製造において、ボンドウェーハの欠陥を十分に消滅させて、欠陥等の不良のほとんどないＳＯＩウェーハを製造できる製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a technique capable of effectively performing a method for detecting defects of fuel cell materials, especially a method for detecting defects of a unit cell of a fuel cell.例文帳に追加

本発明は、燃料電池材料の欠陥の検出する方法、特に燃料電池用の単セルの欠陥を検出する方法を効率的に行うことができる技術を提供するものである。 - 特許庁