「Defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(26ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for inspecting optical panel which detects stripe defects, existing within an image displayed by an optical panel and which determines the rank, according to the state of the stripe-shaped defects.例文帳に追加

光学パネルによって表示される画像内に存在するスジ状欠陥を検出するとともにスジ状欠陥の状態に応じたランク判定を行う光学パネル検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a luminescent apparatus, a display apparatus, and a method of driving an organic electroluminescent device which suppress occurrence of defects caused by leak current and do not shorten the life of the apparatus due to such defects.例文帳に追加

リーク電流による不良の発生を抑止し、そのような不良によって装置寿命が損なわれることのない発光装置、表示装置、及び有機電界発光素子の駆動方法を提供する。 - 特許庁

To provide a vapor deposition system which has high availability efficiency for a material gas and can inhibit the introduction of defects into a grown film, a compound semiconductor film which has only a few defects, and its growth method.例文帳に追加

原料ガスの利用効率が高く、成長膜への欠陥導入を抑えることができる気相成長装置、欠陥の少ない化合物半導体膜及びその成長方法を提供する。 - 特許庁

The surface of the SiC substrate 4 manufactured by this method has a defect density of ≥1.1×10^2 defects/cm^2 and ≤1.0×10^9 defects/cm^2.例文帳に追加

また、上記製造方法により得られたＳｉＣ基板４であって、その表面の欠陥密度が１．１×１０^2個／ｃｍ^2以上１．０×１０^9個／ｃｍ^2以下であるＳｉＣ基板４である。 - 特許庁

The defects of the wafer W are observed by the defect observation apparatus 3 based on the defect positioning data so as to identify defects, and the identified result is stored in a memory as an initial defect identification data.例文帳に追加

次いで、欠陥観察装置３により欠陥位置データを基にしてウェハＷの欠陥を観察し、欠陥の識別を行い、その識別結果を初期欠陥識別データとしてメモリに記憶する。 - 特許庁

To provide a method and a device capable of easily and surely observing and detecting defects such as crystal defects and broken traces in a semiconductor device such as a laser diode chip in a wafer level.例文帳に追加

レーザダイオードチップ等の半導体デバイス内部の結晶欠陥や破壊痕等の異常の観察、検出を、ウエハの状態で、容易かつ確実に行うことのできる方法および装置を提供する。 - 特許庁

A characteristics extracting operator, having a characteristic extracting pattern including defects which are to be detected in advance are held by a characteristic extracting circuit 7A, and defects are detected by scanning this operator.例文帳に追加

特徴抽出回路７Ａであらかじめ検出すべき欠陥を含む特徴抽出パターンを有する特徴抽出演算子を保持しておき、これを走査することによって欠陥を検出する。 - 特許庁

To stably produce a product steel strip having excellent surface quality without reducing the quality due to the removal traces in defects caused by the removal of the surface defects in a hot rolled steel strip.例文帳に追加

熱延鋼帯の表面欠陥除去で生じた欠陥除去痕によって製品鋼帯の表面品質を低下させることなく、優れた表面品質を有する鋼帯を安定して製造する。 - 特許庁

To specify an appropriate process as an approach to defects, which can not be handled by heat treatment, such as vacancy-oxygen complex defects, and to provide a method of manufacturing a semiconductor device thereby.例文帳に追加

「空孔−酸素複合欠陥」のような熱処理では対応することができない欠陥についてのアプローチとして適切な処理を特定し、それに基づく半導体装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To perform correction in response to defects which vary significantly depending on temperatures, an exposure time or sensitivity setting in a camera using state, and to reduce the amount of data required for storing information about defects.例文帳に追加

カメラ使用状況において温度や露光時間、感度設定によって大きく変化する欠陥に対応して補正を行うことができ、且つ欠陥情報の記憶に必要なデータ量を少なくする。 - 特許庁

To provide a system for monitoring an impact which has a possibility of causing internal defects, in order to discover the internal defects of a composite material at an early stage, without affecting the composite material.例文帳に追加

複合材料に対して悪影響を及ぼすことなく、しかも複合材料の内部欠陥を早期に発見すべく、その内部欠陥を引き起こす虞のある衝撃を監視するシステムを提供する。 - 特許庁

For instance, for a JPEG image file and a bitmap image file, since images can be displayed often even when some data defects are generated, it is judged that retransmission is not required even when the data defects are generated.例文帳に追加

たとえば、ＪＰＥＧ画像ファイルやビットマップ画像ファイルは多少のデータ欠損があっても画像が表示できることが多いため、データ欠損が生じても再送不要であると判定する。 - 特許庁

In the case referred to in paragraph (3), the office concerned shall inform the applicant of the alleged defects in writing and shall request the applicant to remedy those defects within a term to be set by the office.例文帳に追加

(3)にいう事情においては，当該官庁は，自らが指摘する不備を書面により出願人に通知し，また，自らが指定する期間内にその不備を是正するよう出願人に要求する。 - 特許庁

To provide a developer for developing an electrostatic charge image, which enables fixing at a low temperature, and which solves the problems of image defects such as fogging or image variations, the image defects being caused by the leakage of charges.例文帳に追加

低温定着が可能であり、電荷漏洩などに起因するカブリ、画像ムラなどの画像欠陥に関する問題を抑制することができる静電荷像現像用現像剤を提供する。 - 特許庁

To provide a cellulose acylate film having little yellowish color when being formed by melt formation, and also having extremely reduced defects of surface die line, and optical defects by fine foreign matter; and to provide a method for producing the film.例文帳に追加

溶融製膜したセルロースアシレートフィルムの黄色味が小さく、表面ダイラインの欠陥および微細異物の光学欠点を大幅に低減するセルロースアシレートフィルムおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a film deposition method in which a defect repair process for structures by which both of projecting defects and recessed defects can flatly be repaired in accordance with the surface of a base board can be utilized.例文帳に追加

凸状欠陥或いは凹状欠陥のいずれであっても基板表面に合わせて平坦に修正することのできる構造体の欠陥修正プロセスで利用可能な成膜方法を提供すること。 - 特許庁

A defect identification determining part 21 obtains the times of defect detection by determining whether the defects detected by defect inspection devices arranged in a plurality of inspection processes are the same defects or not.例文帳に追加

欠陥同一判定部２１は、複数の検査工程に配置された欠陥検査装置によって検出された欠陥が同一欠陥であるか否かを判定して欠陥検出回数を求める。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for inspecting defects in which the sensitivity can be adjusted easily in a comparison inspection of comparing a test object image and a reference image with each other and detecting defects from a difference of the images.例文帳に追加

検査対象画像を参照画像と比較してその差異から欠陥を検出する比較検査において、感度調整が容易な欠陥検査方式及び装置を提供することにある。 - 特許庁

To suppress particle generation in generating plasma under atmospheric pressure to solve a problem that the generation of particles by high-density plasma causes such failures as point defects, line defects, or the like in the display part of a display device.例文帳に追加

大気圧下でプラズマを発生させる場合、高密度のプラズマによって発生するパーティクルは表示装置における表示部の点欠陥や線欠陥などの不良の原因となるものである。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device of a transverse electric field system capable of improving an aperture ratio and viewing angle characteristics and also suppressing display defects such as point defects due to rubbing waste.例文帳に追加

開口率及び視野角特性を向上させることができ、かつ、ラビング屑による点欠陥などの表示不良の発生を抑制することができる横電界方式の液晶表示装置の提供。 - 特許庁

To provide a method for efficiently identifying the defects of refractive index discontinuity, by visually confirming the defects of refractive index discontinuity of an optical transparent member, and to provide a method of manufacturing the optically transparent member that uses the method.例文帳に追加

光透過性部材の屈折率不連続欠陥を視認化し、屈折率不連続欠陥を効率よく識別しうる方法及びこれを用いた光透過性部材の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a biaxially oriented film reduced in the occurrence of surface defects due to wrinkles, gel particles and the like, particularly surface defects in the longitudinal direction of the film, and free from a change in the shape of a winding roll.例文帳に追加

しわやゲル状粒子等による表面欠陥、特にフィルムの長手方向の表面欠陥の発生を減少させ、巻取りロールの形状が変化することの無い二軸延伸フィルムを提供する。 - 特許庁

To develop a novel chemical mechanical polishing (CMP) composition capable of removing a phase change material selectively at high removal rate, while reducing total defects and Te residuum defects.例文帳に追加

高い除去速度で選択的に相変化物質の除去ができ、その一方でまた、総欠陥及びＴｅ残査欠陥の減少をもたらす、新規なケミカルメカニカルポリッシング（ＣＭＰ）組成物を開発する。 - 特許庁

The two dot-shaped defects demultiplex light, having a resonance frequency determined by the shape of the defects from the input waveguide 23 through which rays of light having various wavelengths, is made to propagate and introduces the light to the output waveguide 24.例文帳に追加

２個の点状欠陥は、その形状により定まる共振波長の光を、様々な波長の光が伝播する入力導波路２３から分波して出力導波路２４に導入する。 - 特許庁

To provide a flat panel display device capable of completely compensating panel defects by electrically compensating pixels in the position of the panel defects, and to provide an image quality control method therefor.例文帳に追加

本発明の目的は、パネル欠陥の位置においてピクセルに電気的な補償を行い、パネル欠陥を完璧に補償することのできる平板表示装置とその画質制御方法を提供することである。 - 特許庁

By burying a protective material in crystal structural defects 21 existing in the coating metallic layer 20, lowering of hydrogen permeability through the hydrogen permeable membrane caused by the defects 21 can be suppressed or prevented.例文帳に追加

被覆金属層２０に存在する結晶構造上の欠陥２１を保護材で埋めることによって、欠陥２１に起因する水素透過膜の水素透過性能の低下を抑制または防止する。 - 特許庁

To provide an evaluation method for evaluating killer defects on a nitride semiconductor substrate as represented by GaN with ease and with accuracy, and further to provide a nitride semiconductor substrate on which positions of killer defects are specified.例文帳に追加

ＧａＮに代表される窒化物半導体基板におけるキラー欠陥を、簡易かつ正確に評価する評価方法、さらには、キラー欠陥の位置が特定された窒化物半導体基板を提供する。 - 特許庁

A product and a model are compared with each other for inspection, and the acceptance or rejection of the extracted defects is determined in accordance with the acceptance or rejection determination standard calculated based on the circuit width and the circuit spacing of the area in which the defects are present.例文帳に追加

製品とモデルを比較検査し抽出された欠陥について、その欠陥が存在する領域の回路幅、回路間隔に基づいて算出した合否判定基準で合否を判断する。 - 特許庁

A control apparatus is provided such that if the steering angle of front wheels does not change even when defects are detected, the steering assist is continued, and if the steering angle of the front wheels has changed when defects are detected, the steering assist is stopped.例文帳に追加

故障検出時であっても操向車輪の舵角が変化しなければ操舵補助を続行し、故障検出時に当該舵角が変化したとき操舵補助を停止する制御装置を設ける。 - 特許庁

To provide system and method for inspecting a patternized device, containing a micro conductor which can simply and easily classify the types of defects in the patternized device to improve the yield ratio by causal analysis of the defects.例文帳に追加

パターン化デバイスの欠陥のタイプを簡便に分類し、欠陥の原因分析による歩留まり向上が可能な微細導体を有するパターン化デバイスを検査するシステム及び方法を提供する。 - 特許庁

Accordingly, scattered light caused by an inner defect can be made intense, and the scattered light image of the internal defects can clearly be captured, regardless of the shape, size, kind and the like of the internal defects.例文帳に追加

これにより、内部欠陥の形状や大きさ、種類等によらず、内部欠陥による散乱光を強くすることができ、その内部欠陥の散乱光像を明確に捉えることが可能となる。 - 特許庁

To provide a method and a device for detecting defects of a transfer mask capable of detecting defects such as foreign matters and a projection on a pattern opening of the transfer mask.例文帳に追加

転写マスクのパターン開口部の異物や突起等の欠陥を精度良く、再現性良く検査するための転写マスクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a lighting image inspecting technique of plasma display capable of inspecting dynamic screen defects, such as flickering non-lighting with a temporal variation, differentiating from static screen defects, precisely and rapidly.例文帳に追加

静的画面欠点と区別して、時間的変化を伴うちらつき不灯などの動的画面欠点を、高精度かつ高速に検査できるプラズマディスプレイの点灯画面検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide manufacturing technology of a semiconductor device, which can extract a representative defect that reflects an occurrence situation of a detected defect in a process for detecting a plurality of the defects existing in a pattern formed in a semiconductor substrate, extracting the prescribed number of the defects from a plurality of the detected defects and inspecting an appearance on the prescribed number of the extracted defects.例文帳に追加

半導体基板に形成されたパターンに存在する複数の欠陥を検出し、検出した複数の欠陥の中から所定数の欠陥を抽出した後、抽出した所定数の欠陥について外観検査を実施する工程において、検出した欠陥の発生状況を反映した代表的な欠陥を抽出することができる半導体装置の製造技術を提供する。 - 特許庁

To provide a method for plating the surface of a substrate having an opening with a high aspect ratio with a metal without generating defects.例文帳に追加

高アスペクト比の開口を有する基板上に、金属を欠陥なくめっきする方法を提供する。 - 特許庁

According to this, defects of individual liquid crystal cells can be prevented in polishing of the substrate.例文帳に追加

これによって、基板を研磨するときの個々の液晶セルの不良の発生を防止することが出来る。 - 特許庁

Accordingly, it is possible to provide a transistor which includes a thin gate electrode without crystal defects.例文帳に追加

これにより、ゲート電極の膜厚が薄く、かつ結晶欠陥の発生のないトランジスタを提供する。 - 特許庁

A means for comparison detects also such defects where the magnitude of coincidence/dissidence between the comparison results is equal to or greater than a prescribed value.例文帳に追加

比較の手段は、一致不一致大きさ以上の欠陥のみを検出することも行っている。 - 特許庁

To provide a treatment method of a substrate and a forming method of a coating film for forming the coating film with small number of defects.例文帳に追加

欠陥数の少ない塗布膜を得る基板処理方法と塗布膜形成方法を提供する。 - 特許庁

To form a patterned thin film without developing defects by using a mask having an undercut.例文帳に追加

アンダーカットの入った形状のマスクを用いて、欠陥を発生させることなくパターン化薄膜を形成する。 - 特許庁

To provide such a method for handling defects on a recording medium that deteriorate an adaptive bit recovery processing.例文帳に追加

適応ビットリカバリ処理を低下させる記録媒体上の欠陥を操作するための方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING DEFECTS OF ACTIVE MATRIX SUBSTRATE OR ACTIVE MATRIX LIQUID CRYSTAL PANEL, AND DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加

アクティブマトリクス基板又はアクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出方法及び欠陥検出装置 - 特許庁

To strictly and efficiently inspect the defects of ferromagnetic thin film layers of a master disk for magnetic recording media.例文帳に追加

磁気記録媒体用マスタディスクの強磁性薄膜層の欠陥を、厳格かつ能率的に検査する。 - 特許庁

To provide a strained Si-SOI substrate having flat surface in which defects are suppressed, and to provide its production process.例文帳に追加

表面が平坦で欠陥が少ない歪Ｓｉ−ＳＯＩ基板およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

The frame structure is assembled in a bottom cover via screws, whereby defects of repetitive processing can be reduced.例文帳に追加

フレーム構造はネジを介して底部カバーに組み立てられ、それは反復処理の欠点を低減し得る。 - 特許庁