「Defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(21ページ目) - Weblio英語例文検索

When detecting defects in the wall of the conduit using the leakage flux pig, a magnetic sensor having a characteristic curve for detecting fine defects and a magnetic sensor having a characteristic curve for detecting enormous defects are used to detect the defect by running in the conduit respectively.例文帳に追加

漏洩磁束ピグを用いて導管の管壁の欠陥を検知するに当り、微小欠陥を検知する特性曲線を有する磁気センサと、巨大欠陥を検知する特性曲線を有する磁気センサとを用いて、それぞれ導管内を走行させて検知を行う。 - 特許庁

To provide a method of reducing defects, such as defective attraction of an electrostatic chuck and the deterioration of a stage movement accuracy, and also to provide an aligner provided with a means for reducing such defects.例文帳に追加

静電チャックの吸着不良やステージ移動精度の劣化等の不具合を軽減できる方法、及び、そのような不具合を軽減させる手段を備えた露光装置を提供する。 - 特許庁

To provide a reduced pressure drying apparatus and a reduced pressure drying method capable of suppressing formation of pin holes called foreign matter defects or micro-defects attributed to generated dust (foreign matter) from a connection part.例文帳に追加

接続部からの発塵物（異物）に起因した異物欠陥や微小欠陥と称するピンホールの発生を低減する減圧乾燥装置、減圧乾燥方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect-inspecting apparatus for speedily detecting both of foreign object defects and light-scattering defects at the light-scattering transmission sheet by one inspection with high sensitivity.例文帳に追加

光散乱透過シートにおける異物欠点と光散乱欠点の両方を一回の検査で高感度にかつ高速に検出することができる欠点検査装置を提供する。 - 特許庁

The photographic element has a useful imaging width and the linear defects align in the longitudinal direction of the photographic element in the method of determining the positions of the linear defects on the photographic element.例文帳に追加

本発明の写真要素上の線形欠陥の位置を決める方法において、写真要素は有用なイメージング幅を有し、線形欠陥は写真要素の長手方向に整列する。 - 特許庁

To provide a method and a system for inspecting substrate defects, whereby the inspection accuracy for substrate defects can be improved by increasing a resolution of a defect observing apparatus.例文帳に追加

欠陥観察装置の解像度を上げることにより、基板の欠陥検査精度を向上させることができる基板の欠陥検査方法および基板の欠陥検査システムを提供する。 - 特許庁

An outer periphery of a semiconductor wafer is captured by a CCD camera, an image analysis is performed to the image data, and defects such as chipping or cracking at the outer periphery of the wafer are detected to store the positions of the defects.例文帳に追加

半導体ウエハの外周部をＣＣＤカメラで撮影し、その画像データを画像解析し、ウエハ外周の欠けや割れなどの欠陥を検出してその位置を記憶する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display element capable of suppressing generation of orientation defects such as zigzag defects to raise contrast, and to provide a method of manufacturing the same.例文帳に追加

本発明は、ジグザグ欠陥等の配向欠陥の発生を抑制し、コントラストを向上させることができる液晶表示素子およびその製造方法を提供することを主目的とする。 - 特許庁

To provide a method for correcting defects of a photomask which stably and reliably corrects various types of defects caused by foreign substances, based on materials, shapes, sizes and adhesive degrees.例文帳に追加

材料や形状、サイズ、付着状態等が様々な態様の異物欠陥に対して、安定で確実な欠陥修正を行えるフォトマスク用欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image inspection apparatus for detecting defects, without fail, by suppressing reflection of illumination obstructing detection of defects to a target having a curved surface of a mirror surface.例文帳に追加

鏡面の曲面を有する対象物に対する、欠陥検出の支障となる照明の映り込みを抑制し、確実な欠陥検出を可能とする画像検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of correcting defects of an EUV mask, which enables correction with high precision while suppressing overetching of an absorption layer film material in a step of correcting defects of the EUV mask.例文帳に追加

ＥＵＶマスクの欠陥修正工程において吸収層膜材の過度のエッチングを抑制し、高精度な修正が可能となるＥＵＶマスクの欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of detecting relatively large-sized defects with high sensitivity as well as fine defects whose amount of change in height or depth is equal to or less than 1 nm.例文帳に追加

比較的大きなサイズの欠陥を高感度で検出できると共に、高さ又は深さの変化量が１ｎｍ又はそれ以下の微細な欠陥も検出できる検査装置を実現する。 - 特許庁

To provide an organic electroluminescent element in which there is no generation and expansion of defects over a long period by providing an inorganic sealing film with superior barrier characteristics and with no defects.例文帳に追加

本発明は、バリア性に優れた欠陥のない無機封止膜を提供することにより、長期にわたり欠陥の発生、拡大のない有機エレクトロルミネッセンス素子を製造することとする。 - 特許庁

To surely inspect presence of defects on a circuit board, in a short time, and deposit a protective resin layer coating a circuit element, after the circuit element is incorporated only into the circuit board that is without defects.例文帳に追加

回路基板の欠陥の有無を短時間で確実に検査でき、欠陥のない回路基板のみに対して回路素子を組み込んだ後に回路素子を被覆する保護樹脂層を付着させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device for which crystal defects are eliminated in an element formation region and the crystal defects are left in a part different from the element formation region, and to provide the manufacturing method.例文帳に追加

素子形成領域では結晶欠陥を無くし、素子形成領域とは異なる部分で結晶欠陥を残存させた半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To reliably detect defects on the surface of an inspection object, which is represented by a semiconductor wafer or a glass substrate, reflecting the detection results on the defects on the backside of the inspection object.例文帳に追加

半導体ウェハやガラス基板に代表される被検査物の裏面における欠陥に関する検出結果を反映して、上述した被検査物の表面の欠陥を確実に検出する。 - 特許庁

To provide a fiber reinforced plastic panel that allows easily detecting defects inside the panel after curing, a method of detecting its defects, and a fiber reinforced base for use in the method.例文帳に追加

硬化後のパネル内部の異常を容易に検出できる繊維強化プラスチックパネル及びその異常検出方法並びに、異常検出方法に用いる繊維補強基材を提供する。 - 特許庁

To provide an article package device that makes it easy to find sewing defects, such as cut of a sewing thread and skip of a stitch, and prevents an adverse effect resulting from sewing defects.例文帳に追加

縫合糸の糸切れや目飛びなどの縫合欠陥を容易に発見することができ、縫合欠陥に起因する弊害を防止することができる物品包装具を提供する。 - 特許庁

To provide a voice data editing device which detects defects in the data of recorded voice and modifies the defects using synthesis voice data so that additional recording is not needed.例文帳に追加

収録音声の不具合箇所を検出し、不具合箇所を合成音声により修正することにより、再度音声を収録する必要のない音声編集装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for detecting defects capable of occurately detecting defects, such as flaws, cracks and the like formed on a spherical surface of an object to be inspected, even when their sizes are small.例文帳に追加

検査対象となる球面上に形成されたキズ、クラックなどの欠陥の大きさが小さい場合であっても高精度に検出することができる欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To obtain an image which is improved in quality and protected against the deteriorations caused by pixel defects in image quality by accurately detecting the pixel defects caused by defective pixels included in a solid-state image pick-up device.例文帳に追加

固体撮像素子の欠陥画素により発生した画素キズを精度良く検出して補正することにより画素キズによる画質の劣化の少ない高品質な画像を得る。 - 特許庁

To provide a hot rolling equipment train and rolling method of hot rolled steel strips by which the securement of finished temp. by rolling and prevention of surface defects such as scale-like scale defects are compatible.例文帳に追加

圧延仕上温度の確保とウロコ状スケール疵などの表面欠陥の防止を両立させることが可能な、熱間圧延設備列及び熱延鋼帯の圧延方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device and a manufacture thereof, wherein a junction leakage caused by crystal defects or dislocation of a substrate is reduced and data holding defects of a storage node is improved.例文帳に追加

基板の結晶欠陥・転位に起因した接合リークが低減され、記憶ノードのデータ保持不良が改善された半導体記憶装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspecting apparatus for easily, accurately, and quickly detecting defects contained in a quartz glass material, especially minute defects, such as bubbles, and foreign objects.例文帳に追加

石英ガラス材の内部に含まれる欠陥、特に泡、異物等の微小な欠陥を容易に、正確に、短時間で検出できる欠陥検査方法および欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

The detection of defects of the surfaces is executed by detecting the defects of the particles and the other surfaces by acquiring the transmitted and darkfield reflected images and using the upper part of the bonds.例文帳に追加

表面の欠陥の検出は透過及び暗視野反射画像を取得すると共に結合上方を使用して粒子及び他の表面の欠陥を検出することにより行われる。 - 特許庁

To provide an observation condition determination support apparatus that enhances the accuracy for classification of defects based on the inspection data about the defects of a semiconductor device detected by an inspection apparatus.例文帳に追加

検査装置で検出された半導体装置の欠陥に関する検査データに基づいて、欠陥の分類精度の向上が可能な観察条件決定支援装置を提供する。 - 特許庁

To prevent degradation of image quality due to the increase of defects of pixel over aging without generating problems in accordance with generation of time lag to be generated due to detection of detect data for compensation of the defects of pixel.例文帳に追加

画素欠陥補償のための欠陥データ検出によって生じるタイムラグの発生に伴う問題点を生じることなく、経時的画素欠陥増加による画質劣化を防止する。 - 特許庁

If the appeal has formal defects which have not been raised in accordance with Section 139(2), the rapporteur shall set a time limit for the appellant to remedy such defects. 例文帳に追加

上訴状が第139条(2)の規定に従って指摘されていない様式上の欠陥を有しているときは，担当官は期間を指定して，上訴人にその修正を求めなければならない。 - 特許庁

To provide a preparation method of a solution containing a resin for a resist, in which foreign substances causing defects are decreased, and to provide a solution containing a resin for a resist capable of suppressing the occurrence of defects.例文帳に追加

ディフェクト要因となる異物が低減されたレジスト用樹脂含有溶液の製造方法、及びディフェクトの発生を抑制できるレジスト用樹脂含有溶液を提供する。 - 特許庁

To provide a cleaning device, a process cartridge and an image forming apparatus in which defects of a cleaning blade are prevented and defects such as cleaning failure can be reliably prevented regardless of environmental changes.例文帳に追加

環境変化が生じてもクリーニングブレードの不具合が生じないで、クリーニング不良等の不具合が確実に抑止される、クリーニング装置、プロセスカートリッジ、及び、画像形成装置を提供する。 - 特許庁

The image processing and control device 100 detects defects on the surface of the semiconductor chip 1 by the inputted image signal, and judges whether or not the defects are in compliance with the specifications thereof, based on the results of the inspection.例文帳に追加

画像処理／制御装置１００は、入力した画像信号から半導体チップ１の表面の欠陥を検出し、検出結果に基づいて半導体チップの合否を判断する。 - 特許庁

To provide a substrate for an electrooptical device capable of reducing mounting defects by preventing defects of electrical connection at a terminal part and to provide the electrooptical device and electronic equipment.例文帳に追加

端子部における電気的接続の不具合を防止することにより実装不良を減少させることができる電気光学装置用基板、電気光学装置および電子機器を提供する。 - 特許庁

To provide a device of inspecting fine-defects on a vehicle coated surface by a surface emitting body which can detect fine-defects by subjecting an image signal processing surface to image processing without masking.例文帳に追加

画像信号処理面に対してマスク処理無しの画像処理を行って微小欠陥を検知し得る面発光体による車両塗面の微小欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

Even if crystal defects occur, the crystal defects are kept away from the passage of the base current and thereby the junction leakage current can be reduced between the collector and the base.例文帳に追加

そして、結晶欠陥が発生した場合でも、ベース電流の通過経路から結晶欠陥を離間させることで、コレクタ−ベース間の接合リーク電流を低減させることができる。 - 特許庁

To efficiently prevent degradation of image quality due to increase of defects of pixels over aging by preventing generation of duplication with detected pixels already registered in the case of detection of new defects.例文帳に追加

新規欠陥の検出に際して既に登録されている検出画素との重複が生じないようにし、経時的画素欠陥増加による画質劣化を効率よく防止する。 - 特許庁

To provide a continuous casting method for molten steel where the improvement effect of slab surface defects and inside defects can be stably obtained while obtaining the lubrication improvement effect of a mold and a solidified shell.例文帳に追加

鋳型と凝固シェルの潤滑改善効果を得つつ、鋳片表面欠陥と内部欠陥の改善効果を安定して得ることのできる溶鋼の連続鋳造方法を提供する。 - 特許庁

To detect both small defects formed in a part of an individual recess part and convex part, and defects larger than the lattice pitch formed straddling the recess part and convex part.例文帳に追加

個々の凹部や凸部の一部に形成されている小さな欠陥と、凹部と凸部とにまたがって形成されている格子ピッチよりも大きな欠陥とを両方一緒に検出する。 - 特許庁

To precisely detect defects by illumination suitable for detecting the respective defects, as to the defect on a surface of a coating layer and the defect between the coating layer and a molding.例文帳に追加

コーティング層の表面の欠陥およびコーティング層と成形体との間の欠陥について、それぞれその欠陥の検出に適した照明を行って、欠陥を精度良く検出する。 - 特許庁

To provide an inspection method for evaluating defects in directionally solidified nickel-based alloy castings having at least partial coherence light scattering characteristics and crystal grain defects in other materials.例文帳に追加

少なくとも部分干渉性光散乱特性を有する方向性凝固のニッケル基合金鋳物や他の材料における結晶粒欠陥を評価する検査法を提供する。 - 特許庁

A different method for selecting defects for defect analysis includes selecting defects having the greatest diversity of defect characteristic(s) for defect analysis.例文帳に追加

欠陥解析のために欠陥を選択する別の方法は、欠陥解析のために、欠陥特性（１つ又は複数）のうち、もっとも多様なものを有する欠陥を選択することを含む。 - 特許庁

To manufacture a silicon carbide semiconductor element without any influence to element characteristics due to crystal defects by specifying the positions of dislocation and lamination defects in a wafer surface, and their types.例文帳に追加

ウェハ面内における転位、積層欠陥の位置およびその種類を特定し、これに基づいて、結晶欠陥による素子特性への影響がない炭化珪素半導体素子を製造する。 - 特許庁

To provide a pneumatic tire capable of suppressing defects such as defects of an open carcass cord and air intrusion by increasing the bonding strength of the starting end with the terminating end of an inner liner rubber, and reducing the blending quantity of a tackifier.例文帳に追加

インナーライナーゴムの始端部と終端部との接合強度を高め、粘着付与剤の配合量を減じながら、オープンカーカスコード不良やエアー入り不良等の不良を抑制する。 - 特許庁

To attain a semiconductor device in which breaking defects of a gate insulating film and digging defects of a substrate are hardly caused when two kinds of transistors different in the structure of a gate electrode are formed.例文帳に追加

ゲート電極の構造が異なる２種類のトランジスタを形成する際のゲート絶縁膜の突き抜け及び基板掘れが生じにくい半導体装置を実現できるようにする。 - 特許庁

To provide an apparatus for inspecting surface defects whereby positions where surface defects are generated can be partly specified even when a part of processing means fails by forming the processing means for processing positions and generation times of surface defects by independent modules.例文帳に追加

表面欠陥の位置や発生時刻を処理するための処理手段をそれぞれ独立したモジュールで形成することにより、一部の処理手段に故障が生じても表面欠陥の生じた位置を部分的に特定することが可能となる表面欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a ceramic reduced in pore defect by thoroughly preventing the generation of micropore defects, and to provide a forming raw material and a ceramic powder for obtaining the ceramic reduced in pore defects, and a method of obtaining the ceramic reduced in pore defects.例文帳に追加

微小気孔欠陥の発生を根本的に防止することによって、気孔欠陥を低減したセラミックスを提供するとともに、気孔欠陥を低減したセラミックスを得るための成形原料とセラミック粉末、および気孔欠陥を低減したセラミックスを得るための製造方法を提供する。 - 特許庁