「FIB system」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a system of which the secondary electrons emitted by FIB irradiation are prevented from turning into noise of an SEM detection signal when observing a process of implementing FIB work in real time by an SEM, in a system including an FIB lens barrel and an SEM lens barrel.例文帳に追加

本発明が解決しようとする課題は、ＦＩＢ鏡筒とＳＥＭ鏡筒を備えたシステムにおいて、ＦＩＢ加工を実行している過程をリアルタイムでＳＥＭ観察する際に、ＦＩＢ照射によって放出される二次電子がＳＥＭ検出信号のノイズとならないようなシステムを提供することにある。 - 特許庁

To provide a system with an FIB tube and a SEM tube, wherein influence of a secondary electron excited by an FIB does not come out as noise in a SEM image, when performing SEM observation of FIB processing on a real time basis.例文帳に追加

本発明が解決しようとする課題は、ＦＩＢ鏡筒とＳＥＭ鏡筒を備えたシステムにおいて、ＦＩＢ加工をリアルタイムでＳＥＭ観察する際に、ＦＩＢによる励起二次電子の影響がＳＥＭ画像中でノイズとして出ないようなシステムを提供することにある。 - 特許庁

When using the FIB system, charging of electric charges to be accumulated in the conductive patterns is dispersed through the conductive lines.例文帳に追加

ＦＩＢシステムを用いるに際し、導電性パターンに形成される電荷のチャージングを導電ラインを介して分散させる。 - 特許庁

An irradiation axis of an FIB irradiation system 16 and an irradiation axis of a STEM observation electron beam irradiation system 5 are made almost orthogonal, and the sample 7 is arranged at the intersection position and the FIB cross-section working face of the sample is made a thin-film face of the STEM observation sample.例文帳に追加

ＦＩＢ照射系１６の照射軸とＳＴＥＭ観察用電子ビーム照射系５の照射軸をほぼ直交させ、その交差位置に試料７を配置して、試料のＦＩＢ断面加工面をＳＴＥＭ観察用試料の薄膜面にとる。 - 特許庁

An irradiation axis of an FIB irradiation system 16 is made to almost perpendicularly cross with that of an electron beam irradiation system for STEM observation 5, the sample 7 is arranged on the crossing position, and an FIB cross section processing face is used for a thin film face for STEM observation.例文帳に追加

ＦＩＢ照射系１６の照射軸とＳＴＥＭ観察用電子ビーム照射系５の照射軸をほぼ直交させ、その交差位置に試料７を配置して、試料のＦＩＢ断面加工面をＳＴＥＭ観察用試料の薄膜面にとる。 - 特許庁

To enable additional processings in FIB system, while observing with high magnification and high resolution by separating a thin piece processed on an wafer with FIB equipment from the wafer, and in order to observe with TEM equipment, it is integrated to a grid with adhesion.例文帳に追加

ＦＩＢ装置でウエハー上に加工された薄片をウエハーから分離してＴＥＭ装置で観察するため、グリッドに接着一体化し、高倍率高分解能で観察するとともにＦＩＢ装置での追加工を可能とする。 - 特許庁

To provide a method for performing milling and imaging in a focused ion beam (FIB) system employing an inductively coupled plasma ion source.例文帳に追加

誘導結合プラズマ・イオン源を使用した集束イオン・ビーム（ＦＩＢ）システムにおいてミリングおよび画像化を実行する方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for STEM sample preparation and analysis that can be used in a FIB-STEM system without a flip stage.例文帳に追加

フリップステージなしにＦＩＢ−ＳＴＥＭシステムで使用されることができるＳＴＥＭサンプル作製および解析のための方法を提供する。 - 特許庁

An electrode of the 4PAFM probe is constituted by manufacturing three slits on a chip of a cantilever using a focused ion beam system (FIB).例文帳に追加

４ＰＡＦＭのプローブの電極は、集束イオンビームシステム（ＦＩＢ）を用いたカンチレバーのチップ上に、３つのスリットを作製することにより構成されている。 - 特許庁

To install a micromachining function of an FIB (focused-ion beam) system and a non-destructive and excellent image forming function of an SEM (scanning electron microscope) into a single apparatus suitable for mass production of high-precision nanodevices.例文帳に追加

ＦＩＢシステムのマイクロマシニング機能と、ＳＥＭの非破壊かつ優れた像形成機能とを、高精度なナノデバイスの大量生産に適した１台の装置に組み込む。 - 特許庁

To provide a charged particle source for a focused particle beam system such as a transmission electron microscope (TEM), scanning transmission electron microscope (STEM), scanning electron microscope (SEM), or focused ion beam (FIB) system.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）、走査透過型電子顕微鏡（ＳＴＥＭ）、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）、集束イオン・ビーム（ＦＩＢ）システムなどの集束粒子ビーム・システム用の荷電粒子源を提供すること。 - 特許庁

In a dual beam system, the FIB is then adjusted accordingly to slice and mill a new face in the subsequent slice and view iteration, and the SEM images the new face.例文帳に追加

デュアル・ビーム・システムでは、次いで、これに応じてＦＩＢを調整して、後続のスライス・アンド・ビューの繰返しにおいて新しいフェースをスライシングし、ミリングし、ＳＥＭが、この新しいフェースを画像化する。 - 特許庁

The charged particle beam device comprises a first element ion beam optical system device performing first FIB processing for forming a sample piece from a sample, a second element ion beam optical system device performing second FIB processing for removing a damage layer formed on the surface of a sample piece, and a first element detector which detects a first element existing in the damage layer.例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置は、試料から試料片を形成する第１のＦＩＢ加工を行う第１の元素イオンビーム光学系装置と、試料片の表面に形成されたダメージ層を除去する第２のＦＩＢ加工を行う第２の元素イオンビーム光学系装置と、ダメージ層に存在する第１の元素を検出するための第１の元素検出器と、を有する。 - 特許庁

With regard to the items in the operational control system which are required to be provided under the provisions of Article 306(1) of the FIB Cabinet Office Ordinance, credit rating agencies need to develop a system of a certain depth and level that is appropriate to the characteristics, size, complexity and other attributes of its own business. 例文帳に追加

信用格付業者は、金商業等府令第306条第１項各号において整備することが求められている業務管理体制の各項目につき、自社の業務の特性・規模・複雑性等に応じた適切な水準・深度となるよう体制を整備する必要がある。 - 金融庁

Cases where the facts that fit the following descriptions are recognized with regard to computer system management by securities companies, etc., shall be deemed to fall under the category of “situations in which computer system management is not adequate” as specified under Article 123(1)(xiv) of the FIB Cabinet Office Ordinance. 例文帳に追加

証券会社等の電子情報処理組織の管理について、次に掲げる場合に該当する事実が認められる場合には、金商業等府令第123条第１項第14号「電子情報処理組織の管理が十分でないと認められる状況」の規定に該当するものとする。 - 金融庁

The method allows a dual beam FIB/STEM system with a typical tilt stage having a maximum tilt of approximately 60 to be used to extract a STEM sample from a substrate, to mount the sample onto a TEM sample holder, to thin the sample using FIB milling and to rotate the sample so that the sample face is perpendicular to a vertical electron column for STEM imaging.例文帳に追加

方法は、約６０度の最大傾斜を有する典型的な傾斜ステージを有するデュアル・ビームＦＩＢ／ＳＴＥＭシステムが、基板からＳＴＥＭサンプルを抜き出し、ＴＥＭサンプル・ホルダ上にサンプルを搭載し、ＦＩＢミリングを使用してサンプルを薄化し、かつサンプル面がＳＴＥＭ撮像のために垂直電子カラムに垂直であるように、サンプルを回転するために使用されることを可能にする。 - 特許庁

To provide a method capable of performing film thickness control set by FIB processing without a processing recipe for film thinning, and performing simply fine processing of a TEM sample or the like by a skill in some degree, and a system for executing the method.例文帳に追加

本発明の課題は、薄膜加工の加工レシピなしでも、ＦＩＢ加工で設定した膜厚制御を行い、有る程度のスキルがあれば、簡単にＴＥＭ試料などの微細加工を行うことが出来る方法と、それを実行するシステムを提示することにある。 - 特許庁

To provide a composite apparatus which is an integral system of a probe microscope and a charged particle beam device, such as an FIB or the like, and has a means, capable of easily and stably processing a probe head section being worn or damaged, by using own charged particle beam device.例文帳に追加

ＦＩＢ等の荷電粒子ビーム装置とプローブ顕微鏡が一体システムとなった複合装置において、プローブ先端部の摩耗や欠損に対して自前の荷電粒子ビーム装置を用いて容易に安定して加工が施せる手段を備えた装置を提供する。 - 特許庁

Furthermore, based on Article 306(5) of the FIB Cabinet Office Ordinance, in cases where credit rating agencies that conduct business as a group jointly develop an operational control system as a group, they need to ensure that there is appropriate cooperation between the board of directors and so forth of each credit rating agency. 例文帳に追加

また、グループとして業務を行う信用格付業者が、金商業等府令第306条第５項に基づき、グループで共同して業務管理体制を整備する場合においては、各信用格付業者の取締役会等の適切な連携を確保する必要がある。 - 金融庁

Under Article 306(5) of the FIB Cabinet Office Ordinance, credit rating agencies that conduct business as a group are, under certain conditions, permitted to jointly develop an operational control system as a group; however, even in this case, they need to develop an appropriate system in view of the characteristics, size, complexity and other attributes of the business conducted by each individual credit rating agency. 例文帳に追加

なお、グループとして業務を行う信用格付業者については、金商業等府令第306条第５項において、一定の条件の下で、グループで共同して業務管理体制を整備することが認められているが、この場合にも、個々の信用格付業者が行う業務の特性・規模・複雑性等を踏まえて、適切な体制整備を行う必要がある。 - 金融庁

The correcting method for a photomask to correct a white defect in a photomask is characterized in that: a deposition film 11 is formed at a white defect portion C by a FIB-CVD (focused ion beam chemical vapor deposition) system; if the film protrudes a desired pattern, the protruding portion 2 is shaved off with a needle; and the needle is preferably a probe of a scanning probe microscope.例文帳に追加

フォトマスクの白欠陥を修正するフォトマスク修正方法において、白欠陥部ＣにＦＩＢ−ＣＶＤ方式でデポジション膜１１を形成し、膜の形状が所望の形状よりはみ出た場合、はみ出た部分２を針で削りとり、好ましくは前記針は、走査プローブ顕微鏡の探針であることを特徴とする。 - 特許庁

(d) Whether the credit rating agency has clearly established in advance the criteria for which cases correspond to cases where “a person in charge of rating conducts a sale, purchase or other transaction of securities, etc. with a potential conflict of interest” as prescribed in Article 306(1)(vii)(A)1. of the FIB Cabinet Office Ordinance, and “cases where there is a potential conflict of interest between an officer or employee and a rating stakeholder” as prescribed in clause (A)2. of the same article; and in applicable cases, whether there is a system in place to prevent officers and employees from being involved in processes relating to the determination of the credit rating. 例文帳に追加

ニ．どのような場合が金商業等府令第306条第１項第７号イ（１）の「格付担当者が利益相反のおそれのある有価証券の売買その他の取引等」を行っている場合及び同号イ（２）の「役員又は使用人と格付関係者との間で利益相反のおそれのある場合」に該当するかの基準をあらかじめ明確にし、これらに該当する場合には、役職員が信用格付の付与に係る過程に関与しない態勢となっているか。 - 金融庁

(ii) Whether there is a system in place to prevent officers and employees from being involved in processes relating to the determination of a credit rating, not only in cases where the relationship between the credit rating agency and its officers and employees and a rating stakeholder correspond to a “close relationship,” but also in cases where “a person in charge of rating conducts a sale, purchase or other transaction of securities, etc. with a potential conflict of interest” as prescribed in Article 306(1)(vii)(A)1. of the FIB Cabinet Office Ordinance, and “cases where there is a potential conflict of interest between an officer or employee and a rating stakeholder” as prescribed in clause (A)2. of the same article. 例文帳に追加

②信用格付業者及びその役職員と格付関係者との関係が「密接な関係」に該当する場合のみならず、金商業等府令第306条第１項第７号イ（１）の「格付担当者が利益相反のおそれのある有価証券の売買その他の取引等」を行っている場合及び同号イ（２）の「役員又は使用人と格付関係者との間で利益相反のおそれのある場合」についても、役職員が、信用格付の付与に係る過程に関与しないような態勢となっているか。 - 金融庁

In cases where a securities company, etc., has failed to provide explanations regarding the following items related to investment trust switching and where it has failed to establish an internal control system for compiling and storing records on their explanations and monitoring explanations, the situation shall be deemed to fall under the category of “situations in which explanations regarding important items related to switching have not been provided to customers in the solicitation for switching of investment trust beneficiary certificates, etc.,” as specified under Article 123(1)(ix) of the FIB Cabinet Office Ordinance.” 例文帳に追加

証券会社等が、乗換えに関する次に掲げる事項について説明を行っていない場合において、説明の実績について社内記録の作成及び保存並びにモニタリングを行う等の社内管理体制を構築していないと認められるときは、金商業等府令第123条第１項第９号の規定「投資信託受益証券等の乗換えを勧誘するに際し、顧客に対して、当該乗換えに関する重要な事項について説明を行っていない状況」に該当するものとする。 - 金融庁

In cases where a securities equivalents seller, etc., has failed to provide explanations regarding the following items related to investment trust switching, and where it has failed to establish an internal control system for compiling and storing records on its explanations and monitoring explanations, the situation shall be deemed to fall under the category of “situations in which explanations regarding important items related to switching have not been provided to customers in the solicitation for switching of investment trust beneficiary certificates, etc.,” as specified under Article 123(1)(ix) of the FIB Cabinet Office Ordinance.” 例文帳に追加

みなし有価証券販売業者等が、乗換えに関する次に掲げる事項について説明を行っていない場合において、説明の実績について社内記録の作成及び保存並びにモニタリングを行う等の社内管理体制を構築していないと認められるときは、金商業等府令第123条第１項第９号の規定「投資信託受益証券等の乗換えを勧誘するに際し、顧客に対して、当該乗換えに関する重要な事項について説明を行っていない状況」に該当するものとする。 - 金融庁

(i) Whether the securities company, etc. has formulated a conflict of interest management policy (referring to the policy prescribed in Article 70-3(1)(iii) of the FIB Cabinet Office Ordinance; the same shall apply hereinafter), while taking into consideration the contents, characteristics, scales, etc. of the securities company, etc. and its parent/subsidiary financial institutions, and whether such policy specifies the following matters: the types of transactions with the risk of conflict of interest; major examples and the identification process of such transactions; the methods of conflict of interest management (if conflict of interest management is conducted at different levels and to different extents, the content of and reasons for such difference); the conflict of interest management system (including the responsibility and independence of the person who controls the company-wide management system for identifying transactions involving the risk of conflict of interest and conducting conflict of interest management (hereinafter referred to as the “conflict of interest manager”), as well as the review system for the methods of identifying transactions involving the risk of conflict of interest and conducting conflict of interest management); and the scope of companies subject to conflict of interest management. 例文帳に追加

① 利益相反管理方針（金商業等府令第 70条の３第１項第３号に規定する方針をいう。以下同じ。）は、証券会社等及びその親金融機関等又は子金融機関等の業務の内容・特性・規模等を勘案した上で、利益相反のおそれのある取引の類型、主な取引例及び当該取引の特定のプロセス、利益相反管理の方法（利益相反管理の水準・深度に差異を設ける場合は、その内容及び理由を含む。）、利益相反管理体制（利益相反のおそれのある取引の特定及び利益相反管理に関する全社的な管理体制を統括する者（以下「利益相反管理統括者」という。）の職責及びその独立性並びに利益相反のおそれのある取引の特定及び利益相反管理の方法についての検証体制）並びに利益相反管理の対象となる会社の範囲を記載したものとなっているか。 - 金融庁