「Sample」に関連した英語例文の一覧と使い方(103ページ目)

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Sampleを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 30668件

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例文

In the dispensation of the standard sample, the sample-dispensing pump 16a aspirates the standard sample of the total amount of a predetermined amount of air, a common dummy amount, and the dummy amount and the dispensation amount set on the sample dispensation conditioning screen 43 and then delivers the standard sample of the aspirated dispensation amount.例文帳に追加

そして、サンプル分注ポンプ１６ａは、標準試料の分注では、所定量の空気、共通ダミー量、並びにサンプル分注条件設定画面４３に設定されたダミー量及び分注量を総和した量の標準試料を吸引した後、吸引した分注量の標準試料を吐出する。 - 特許庁

A display rack main body having an installation part of the solid merchandise sample and a front end board which restricts a front end lower part position of the solid merchandise sample on the front end of the installation part is provided with a sample support for selectively supporting the solid merchandise sample or the sheet-like merchandise sample to be freely movable in its forward and backward directions.例文帳に追加

立体商品見本の載置部を有し、上記載置部の前端に立体商品見本の前端下部位置を規制する前端板を備えた展示棚本体に、立体商品見本またはシート状商品見本を選択的に支持する為の見本支持体をその前後方向に可動自在に備える。 - 特許庁

The flow cytometer 10 provided with the sample container 12, filled with the sample solution 30 to be supplied to the flow cell 16, on the out side of the sample container 12 a sound flow is made to generate to the sample solution 30, and the ultrasound oscillator 38 for stirring the sample solution 30 is provide.例文帳に追加

フローサイトメータ１０は、フローセル１６に供給されるサンプル溶液３０が入れられたサンプル容器１２を備えたフローサイトメータ１０であって、前記サンプル容器１２の外側に、前記サンプル溶液３０に音響流を発生させて、前記サンプル溶液３０を攪拌する超音波発振子３８を設けた構成である。 - 特許庁

The test method for a sample of the viscoelastic body includes: a process for fixing the sample to a sample holding means in the state where at least 10% of the initial strain is imparted; and a process for performing a test by using a test means provided separately from the sample holding means, relative to the fixed sample.例文帳に追加

粘弾性体の試料を試験する方法であって、試料を、少なくとも１０％の初期歪みを与えた状態で試料保持手段に固定する工程と、固定された試料に対し、試料保持手段とは別に設けられた試験手段を用いて試験を行う工程とを含む試験方法である。 - 特許庁

例文

To provide a sample solution decompression device which includes a sample solution flow-in tube into which the sample solution flows in, a core wire inserted into the sample solution flow-in tube in a front/back movable manner; and a controller for controlling the movement of the core wire, and in which biting of the sample solution flow-in tube and core wire is prevented.例文帳に追加

試料液が流入する試料液流入管と、試料液流入管内に進退可能に挿入された芯線と、芯線の動作を制御する制御部とを有する試料液減圧装置において、芯線を前進させるときに、試料液流入管と芯線との噛み込みが発生することを防止する。 - 特許庁

例文

The laser ablation system 10 is provided with a sample cell 11 in which a sample 15 is disposed; a floodlight 12 which irradiates the sample 15 with laser light L and carries out its laser ablation; inlet paths (P1, P2) through which carrier gas is fed to the sample cell 11; and an outlet section 19 which is connected to the sample cell.例文帳に追加

本発明のレーザーアブレーション装置１０には、試料１５が内部に配される試料セル１１と、試料１５にレーザ光Ｌを照射してレーザーアブレートする投光器１２と、試料セル１１にキャリアガスを供給するための導入路（Ｐ１，Ｐ２）と、試料セルに接続された導出部１９とが設けられている。 - 特許庁

To provide a method for treating the surface of a three-dimensional polymer sample, comprising setting a conductive metal grid on a sample table and injecting plasma ions into the surface of the three-dimensional polymer sample, to modify the surface of the polymer sample and improve the electric conductivity of the surface of the polymer sample, and to provide equipment therefor.例文帳に追加

伝導性をもった金属グリッドを試料台上に設置して立体高分子試料の表面にプラズマイオン注入が行われるようにすることで、高分子表面改質を成し、これにより高分子表面の電気伝導度を向上させる方法及びその装置を提供すること。 - 特許庁

When a digital signal is processed at a new sample rate, controllers 24 and 26 determine a new coefficient of an adaptative digital filter according to the ratio of the initial sample rate and a new sample rate and the initial coefficient, so that the frequency response may become fixed at both the initial sample rate and the new sample rate.例文帳に追加

制御器２４、２６は、デジタル信号が新たなサンプル・レートで処理される際に、周波数応答が初期サンプル・レート及び新たなサンプル・レートの両方で一定になるように、初期サンプル・レート及び新たなサンプル・レートの比並びに初期係数に応じて、適応デジタル・フィルタの新たな係数を決定する。 - 特許庁

To provide a method allowing any person to manufacture a proper sample slide as a sample by controlling a degree of dryness as parameter related to the manufacturing method for sample slide and provide a sample slide manufacturing device capable of stabilizing quality of the sample slide and enabling mass production.例文帳に追加

標本スライドの作製方法に係る関連パラメータとしての乾燥度を制御することによって、誰にでも検体として適当な標本スライドを作製できる方法と、その標本スライドの品質が安定しており、更に大量生産をも可能とする標本スライド作製装置とを提供すること。 - 特許庁

例文

The evaluating method of the internal defect of the sample comprises a dipping process of dipping the sample in molybdenum-containing solution containing molybdenum; a depressurizing process of depressurizing the molybdenum-containing solution in which the sample is dipped; a drying process of drying the sample; and a detecting process of detecting the distribution of the molybdenum in the sample.例文帳に追加

本発明は、モリブデンを含むモリブデン含有溶液に試料を浸漬する浸漬工程と、試料が浸漬されたモリブデン含有溶液を減圧する減圧工程と、試料を乾燥する乾燥工程と、試料中の前記モリブデンの分布を検出する検出工程とを含む試料内部欠陥の評価方法である。 - 特許庁

例文

In the simulation processor 12, a sample image from the pattern image information stored in the main storage device 11 is extracted, the extracted image is decomposed into a pattern per unit and a plurality of scale/angle images, a scale/angle image to be a sample color scheme is added to the sample image, and the sample image is colored with respective colors to prepare a sample display image.例文帳に追加

シミュレーション処理装置１２では、主記憶装置１１に記憶された柄画像情報からサンプル用の画像が抽出されて単位当たりの柄と複数の尺角画像に分解され、該サンプル用の画像にサンプル配色となる尺角画像が追加され、それぞれに色付けされて、サンプル用の表示画像が作成される。 - 特許庁

A sample fixing jig 1 and a picking base (KBr crystal) fixing jig 9 are built in a sample fixing pedestal 13 for an XY stage, so that the sample face and the picking face exist on the same plane, and fixing a magnetic head 25 for the sample and picking an object to be picked up from this sample are performed on this sample fixing pedestal 13.例文帳に追加

試料面と採取面とが同一面上に存在するように、試料固定治具１と採取台（ＫＢｒ結晶）固定治具９とが、ＸＹステージ用試料固定台座１３に組み込まれ、ＸＹステージ用試料固定台座１３上で、試料用の磁気ヘッド２５の固定と、この試料からの採取物４４の採取とが行われるように構成したこと。 - 特許庁

The method of fabricating the acicular sample for field ion microscopy includes a process for machining the desired part of the sample to be observed with a field ion microscope into an acicular shape by irradiating the sample with a focused charged-particle beam, a process for cutting the acicular sample away from a sample base, and a process for fixing the cut acicular sample to an electrode bar.例文帳に追加

電界イオン顕微鏡観察用針状試料の作製方法は、集束した荷電粒子ビームを照射することにより電界イオン顕微鏡で観察する所望の箇所を針状に加工する工程と、針状試料を試料基板から切り離し摘出する工程と、摘出した針状試料を電極棒に固定する工程を含むことを特徴とする。 - 特許庁

In this sample temperature control device for controlling sample temperature to exchange heat between a gas flow and a measuring sample, by supplying the gas flow supplied from a gas source to the periphery of the measuring sample via a heater, a condensing means for condensing an infrared ray radiated from the heater to the measuring sample is arranged between the heater and the measuring sample.例文帳に追加

ガス源から供給されるガス流を加熱器を介して測定試料の周辺に供給し、該ガス流と測定試料との間で熱交換を行なわせることによって試料温度を制御する試料温度制御装置において、加熱器と測定試料との間に、加熱器から輻射される赤外線を測定試料に集光するための集光手段を設けた。 - 特許庁

Then, a block constituted of a plurality of adjacent sample points including the movement sample point of a predetermined ratio or more is detected as a movement block, and the existence sample point away from the movement block is detected as a congestion sample point, and a block constituted of the plurality of adjacent sample points including the congestion sample points of the predetermined ratio or more is detected as a congestion block.例文帳に追加

次いで、所定の割合以上の移動サンプル点を含む互いに隣接する複数のサンプル点から構成されるブロックを移動ブロックとして検出し、移動ブロックから外れた存在サンプル点を渋滞サンプル点として検出し、所定の割合以上の渋滞サンプル点を含む互いに隣接する複数のサンプル点から構成されるブロックを渋滞ブロックとして検出する。 - 特許庁

The electric characteristics measurement device 1 comprises a sample holder 31 holding a measured sample 45a, a pair of electrodes 33 sandwiching the measured sample 45a, and a separating drive part 36 moving at least one of the sample holder 31 and the pair of electrodes 33 to separate the measured sample 45a and the sample holder 31.例文帳に追加

本発明に係る電気特性測定装置１は、被測定試料４５ａを保持するための試料ホルダー３１と、被測定試料４５ａを挟持するための一対の電極３３と、被測定試料４５ａと試料ホルダー３１とを離間させるように試料ホルダー３１及び一対の電極３３の少なくとも一方を移動させる離間駆動部３６とを備えることを特徴とする。 - 特許庁

This sample holder having a sample holding space 55 arranged between an electron beam-permeable film 11 and a base 12 facing to the film, and supply passages 54 used for supplying a sample to the sample holding space 55 is provided, in at least either of the supply passages 54 and the sample holding space 55, with a filter structure separating a constituent in the sample.例文帳に追加

電子線が透過する膜１１と該膜に対向するベース１２との間に設けられた試料保持空間５５と、該試料保持空間５５に試料を供給するための供給路５４とを有する試料保持体において、該供給路５４及び該試料保持空間５５のうちの少なくとも一方に試料中の構成物を分別するフィルター構造を備える。 - 特許庁

A sample machining method includes a process for machining one portion of a sample 14 into a micro sample 6 by irradiating it with a first ion beam radiated from a first ion source for scanning; a process for separating the micro sample machined by the first ion beam from the sample; and a process for machining the micro sample 6 by using the second ion beam through irradiation with an ion beam from a second ion beam machining apparatus 17.例文帳に追加

第１のイオン源から放出される第１のイオンビームを照射し走査して試料１４の一部をマイクロサンプル６に加工する手段と、前記第１のイオンビームにより加工された前記マイクロサンプルを前記試料から分離するプローブと、第２のイオンビーム加工装置１７から照射し、前記マイクロサンプル６を前記第２のイオンビームを用いて加工する方法。 - 特許庁

In this electron beam application device, the sample holding mechanism to hold the sample by applying a negative voltage to the sample has a support pedestal where the negative voltage is applied and which supports the sample from its lower part and a pressing part to press the sample from its upper part while the negative voltage is applied to the sample, and the pressing part is formed along the fringe part of the sample.例文帳に追加

上記目的を達成するための一態様として、電子線応用装置内にて、試料に負電圧を印加して試料を保持する試料保持機構において、負電圧が印加されると共に前記試料を下部から支持する支持台と、前記試料を上部から押圧する押圧部を有し、当該押圧部は前記試料の縁部に沿って形成されていると共に、前記負の電圧が印加されることを特徴とする試料保持機構を提案する。 - 特許庁

In the sample transfer device for transferring the sample to be observed and analyzed by irradiating the charged particle beam, the sample transfer device includes an expansible hollow member capable of internally storing the sample holder where the sample is mounted, a fixing member for fixing the sample holder inside the expansible hollow member, and a sealing member for opening and closing an opening communicating with the inside of the expansible hollow member and used for passing the sample holder.例文帳に追加

荷電粒子線を照射して観察及び分析する試料を搬送するための試料搬送装置であって、試料が設置される試料ホルダを内部に収容可能な伸縮部材と、前記試料ホルダを前記伸縮部材の内部で固定する固定部材と、前記伸縮部材内部と接続し試料ホルダが通過する開口部の開閉を行う封止部材を備えたことを特徴とする試料搬送装置を提供する。 - 特許庁

This sample preparation device includes: a storage chamber capable of storing a liquid sample containing an analyte which is an analysis object; a concentrated sample storage chamber disposed in communication with the storage chamber, for storing a liquid sample having a higher concentration of the analyte which is the analysis object than the liquid sample; and an analyte moving part for moving the analyte contained in the liquid sample stored in the storage chamber into the concentrated sample storage chamber.例文帳に追加

分析対象となる分析物を含む液体試料を収容可能な収容室と、前記収容室に連通して配設され、前記液体試料よりも分析対象となる分析物の濃度が高い液体試料を収容する濃縮試料収容室と、前記収容室に収容された液体試料に含まれる分析物を前記濃縮試料収容室に移動させる分析物移動部と、を備えた試料調製装置。 - 特許庁

To perform image generation of a sample in high resolution and high speed.例文帳に追加

高分解能且つ高速に試料の画像生成を行う。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND SAMPLE CHAMBER THEREFOR例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子ビーム装置用試料室 - 特許庁

PREPARATION METHOD OF ANALYTICAL SAMPLE AND QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD OF ELEMENT例文帳に追加

分析用試料の調製方法及び元素の定量方法 - 特許庁

To dispense respective components of a sample in separate containers.例文帳に追加

試料中の各成分を別々の容器に分取可能にする。 - 特許庁

A sample hold circuit 13 holds detected output Sx.例文帳に追加

サンプルホールド回路１３により検出出力Ｓｘを保持する。 - 特許庁

The sample electrode 11 is exposed to the bottom surface of the recess 16.例文帳に追加