「Sample」に関連した英語例文の一覧と使い方(102ページ目) - Weblio英語例文検索

After that, the probe is moved in a direction for separating from the sample surface (2); a servo system for constantly maintaining the gap between the probe and the sample surface is stopped, and the probe is moved to a measurement point in a direction along the sample surface while the probe is being separated from the sample (3).例文帳に追加

その後、探針を試料表面から離れる方向に移動させ（ ）、探針と試料表面との間隙を一定に保つサーボ系を停止させ、探針を試料から離した状態で試料表面に沿う向に測定点まで移動させる（ ）。 - 特許庁

This device 1 for treating the sample 15 has an observation device 2 for observing the sample, a sample holder 3 for receiving the sample to be treated, and a tool holder 6 suitable for attaching a tool 5 for a different treating step.例文帳に追加

試料（１５）を処理するための装置（１）であって、試料を観察するための観察装置（２）と、処理すべき該試料を受入れるための試料ホルダ（３）と、異なる処理ステップのための工具（５）を取付けるのに適した工具ホルダ（６）とを有する。 - 特許庁

A sample preparing means 14 extracts a sample pattern 12 from the objective area 27 assigned by the area assigning information input from the area assigning information input means 23 to prepare the sample 26 including the sample pattern 12.例文帳に追加

サンプル作成手段１４は、領域指定情報入力手段２３から入力した領域指定情報によって指定された対象領域２７からサンプル図形１２を抽出して、このサンプル図形１２を含むサンプル２６を作成する。 - 特許庁

The surface of a sample object 2 of a decoration sample 1 mounted on a sample display portion Aa of a vending machine A includes a sample portion 4 formed as a longitudinal half-split can shape which corresponds to half the front side of the merchandize vended by the vending machine A.例文帳に追加

自動販売機Ａの見本陳列部Ａａに設置される装飾見本１の見本体２の表面には、該自動販売機Ａが販売する商品の前側半分と対応する縦断半割り形状の缶型の見本部４が設けられている。 - 特許庁

A sample blowoff port 8 for discharging the sample ground by the rotary grinding blades 3 and passed through the eyes of the sieve of the sieve ring 4 out of the sample grinding chamber 1 is provided to the side wall of the sample grinding chamber 1.例文帳に追加

試料粉砕室１の側壁には、回転式粉砕刃３により粉砕され、次いで篩いリング４の篩い目を通過してきた粉砕後試料が試料粉砕室１からその室外へ排出するための試料吹出し口８を備える。 - 特許庁

The image processing apparatus includes a functional section for estimating a pigment amount of the dye sample, based on the image of the dye sample obtained by multiband imaging of the dye sample; and a functional section for transmitting the estimated pigment amount of the dye sample to the image processing terminal.例文帳に追加

画像処理装置は、染色標本をマルチバンド撮像した染色標本画像から染色標本の色素量を推定する機能部と、推定された染色標本の色素量を画像処理端末に送信する機能部とを備える。 - 特許庁

This sample collection tool has a sample collection member 1 comprising a sample collection part 11 having an opening 11a formed by bending in the long side direction of an elongate and thin-walled planar member, and an elongate gripping part 12 connected to the sample collection part 11.例文帳に追加

細長且つ薄肉の板状部材の長辺方向が曲げられて形成された開口１１ａを有する試料採取部１１と、試料採取部１１に接続する細長状の把持部１２とからなる試料採取部材１を有する。 - 特許庁

At least the upper portion of a sample stage 1 is formed out of a highly thermal conductive material, and a thermocouple 2 and the surface of a sample 4 are respectively brought into contact with the sample stage 1 to heat by thermal conduction and the difference in temperature from the sample stage 1 is removed.例文帳に追加

試料ステージ１の少なくとも上部を高熱伝導性材料で形成し、熱電対２および試料表面４をそれぞれ試料ステージ１に接触させることにより熱伝導で加熱し、試料ステージ１との温度差をなくす。 - 特許庁

At least during suction operation of the liquid sample by the sample suction part 11, the high purity gas supply part 13 supplies the high purity gas more than the suction volume of the liquid sample to the sample container through the gas feeding needle 7.例文帳に追加

高純度ガス供給部１３は、少なくとも試料吸引部１１の液体試料の吸引動作時に、ガス送り用ニードル７を介して、体積で液体試料が吸引される量以上の高純度ガスを試料容器内へ供給する。 - 特許庁

Next, the filter container 21 is put in the sample container 11 from the upper port of the sample container 11, and the ion exchange resin 23 is immersed in the sample solution 13, to make the target element adsorbed in the sample solution 13 by the ion-exchange resin 23.例文帳に追加

次いで、フィルター容器２１を、試料容器１１の前記上口から試料容器１１内に入れ、イオン交換樹脂２３を試料溶液１３中に浸漬させて、試料溶液１３中の目的元素をイオン交換樹脂２３に吸着させる。 - 特許庁

This method for pretreating the biological sample is characterized by separately immobilizing various enzymes necessary for analyzing various molecules contained in the sample on a solid phase for each enzyme as a sample pretreating technique, and then collectively reacting the sample with the enzymes.例文帳に追加

試料中に含まれている各種分子を解析するためのサンプル前処理技術として必要な複数の各種酵素を固相上に酵素ごとに分離して固定化し、それらを一括して酵素反応させることを特徴とする。 - 特許庁

To diversify sample images without deteriorating workability upon selecting the sample images in a camera device displaying several sample images in the order, and setting photographing conditions corresponding to the sample images that a user selects.例文帳に追加

複数の見本画像を順に表示し、使用者が選択した見本画像に対応する撮影条件を設定するカメラ装置において、見本画像の選択時の作業性を低下させることなく、見本画像の多様化を図ることを可能とする。 - 特許庁

To provide a sample preparation apparatus having high durability, capable of reducing greatly contamination of a constitutive material into the sample, and hardly influenced by a sample used in the past, a sample preparation method and a highly-accurate elemental analysis method.例文帳に追加

耐久性が高く、構成材料の試料へ混入を著しく減少でき、かつ過去に使用した試料による影響を受けることが少ない試料調整器具、試料調整方法、及び高精度の元素分析方法を提供することできる。 - 特許庁

The terahertz optical measuring apparatus 100 is provided with a housing apparatus 1, an optical surface plate 2, a transmission-side measured sample holding plate 11 for holding a transmission-side measured sample S1, and a reflection-side measured sample holding plate 21 for holding a reflection-side measured sample S2.例文帳に追加

テラヘルツ光測定装置１００は、筺体装置１と、光学定盤２と、透過測定試料Ｓ１を保持する透過測定試料保持板１１と、反射測定試料Ｓ２を保持する反射測定試料保持板２１とを備える。 - 特許庁

When clogging of the sample probe is not detected by the clogging detection means when discharging the cleaning water (S6:No), the same liquid sample is sucked again by the sample probe (S10), and clogging of the sample probe is detected by the clogging detection means (S2).例文帳に追加

また、洗浄水の吐出時に詰まり検知手段によってサンプルプローブの詰まりを検知しなかった場合（Ｓ６：Ｎｏ）、サンプルプローブで再度同じ液体試料を吸引させて（Ｓ１０）詰まり検知手段によってサンプルプローブの詰まりを検知する（Ｓ２）。 - 特許庁

To provide a sample-preparing device for standardizing the preparation of a sample for testing soldering material and for improving the reliability by stabilizing a series of operations from the pull-up of the sample from a heating bath to the cooling of the sample solder.例文帳に追加

試料を加熱槽から引き上げ、試料はんだを冷却させるまでの一連の操作を安定して行えるようにし、はんだ付材料試験用の試料作成の標準化と信頼性の向上を実現可能な試料作成装置を提供する。 - 特許庁

The sample holder 14 allows the sample surface 32a of the sample stand 32 to approach the incident surface 20a of the light guide member 20 accompanied by the mounting to the sample holder housing part 22 and brings the peripheral part 34b of the support member 34 into contact with the upper inner surface of the sample holder housing part 22 to cut off disturbance light.例文帳に追加

試料ホルダ１４は、試料ホルダ収容部２２への装着に伴って、導光部材２０の入射面２０ａに対して試料台３２の試料面３２ａを近接させるとともに、支持部材３４の周囲部３４ｂを試料ホルダ収容部２２の上部内面に当接させて外乱光を遮光する。 - 特許庁

An ion milling device comprises; a sampling stage 1 where a sample S is placed; an ion source 2 for generating an ion beam with which the sample S is irradiated; a sample chamber 3 maintaining a storage space of the sampling stage 1 as a predetermined vacuum; and refrigerant supplying means 5 for supplying a gaseous refrigerant to cool the sample S inside the sample chamber 3.例文帳に追加

試料Sが設置される試料台1と、試料Sに照射するイオンビームを発生させるイオン源2と、試料台1の収納空間を所定の真空に保持する試料チャンバ3と、試料Sを冷却するための気体冷媒を試料チャンバ3内に供給する冷媒供給手段5とを備えるイオンミリング装置である。 - 特許庁

The grinding sample preparation jig 1 for holding a sample S comprises a sample bonding recess 3 formed on the surface of a holding base 2 and a groove 4 formed in a bottom periphery of the recess 3, wherein the recess 3 has a larger outer dimension than a plan view outer dimension of the sample S and a depth d corresponding to a thickness of the sample S at completion of grinding.例文帳に追加

保持台２の表面に試料Ｓの平面視外形より大きい外形で、かつ試料Ｓの研磨完了時厚み相当の深さｄを有する試料接着用凹部３を形成すると共に、この凹部３の底面外周域に溝４を形成して、試料Ｓを保持する研磨試料作成治具１とする。 - 特許庁

An image pickup condition setting part 33 lists up a plurality of sample images held in the sample image holder 34 on an LCD 9, and sets the image pickup condition corresponding to a selected sample image when the sample image is selected by the user among the listed sample images.例文帳に追加

一方、撮影条件設定部３３は、サンプル画像保持部３４に保持された複数のサンプル画像をＬＣＤ９に一覧表示し、この一覧表示したサンプル画像の中からいずれかのサンプル画像がユーザにより選択されると、この選択されたサンプル画像と対応づけられた撮影条件の設定を実行する。 - 特許庁

The other sample image data 102 stored to prescribed CD-ROM can be selectively copied by using a personal computer or the like at need in the custom sample image area 20b, and diversification of the sample image is contrived without increasing the number of the sample image of the initial sample image area 20a by adding and modifying it.例文帳に追加

カスタム見本画像領域２０ｂには、所定のＣＤ−ＲＯＭに記録されていた他の見本画像データ１０２を、必要に応じパソコン等を用いて選択的にコピー可能とし、それを追加変更することにより、初期見本画像領域２０ａの見本画像の数を増やすことなく、見本画像の多様化を図る。 - 特許庁

Then, the sample water is continuously supplied to the substrate by the sample water-supplying means, at the same time the sample water is continuously dried by the sample water-drying means, thus sampling impurities contained in the sample water as a residue on the substrate, and then analyzing the impurities on the substrate.例文帳に追加

そして、試料水供給手段によって基板に試料水を連続的に供給するとともに、この試料水を試料水乾燥手段によって連続的に乾燥させることにより、試料水中に含まれる不純物を基板上に残渣として採取した後、基板上の不純物を分析する。 - 特許庁

The automatic analyzer includes sample disks for installing the samples which have a more than double concentric ring structure, and a control mechanism for controlling, when installation of a new sample into each sample disk is detected during the analysis operation, to activate the sample disk of the side on which the new sample has been installed and to perform the analysis.例文帳に追加

試料を架設するサンプルディスクが２重以上の同心円構造であり、分析動作中に、それぞれのサンプルディスクに新たな試料が設置されたことを、検知した場合は、当該新たな試料が設置されたサンプルディスク側を駆動して分析を実行するように制御する制御機構を備えた自動分析装置。 - 特許庁

The surface of the sample that is a hard film is adsorbed and fixed on the film-like sample-holding surface of a fixing plate and processed by a cutting blade from the through-hole provided to the fixing plate, to prevent the sample processing trouble caused by the deformation of the soft substrate at the time of pressing of the cutting blade to the sample, and thereby enables a desired sample processing.例文帳に追加

硬質な膜である試料表面を固定板のフィルム状試料保持面に吸着固定し、固定板に設けられた貫通穴側から切削刃により加工することにより、切削刃を試料に押し付けた際の軟質基板の変形による試料加工不具合を防止し、所望の試料加工を可能とする。 - 特許庁

The electron microscope is equipped with a sample stage capable of slanting a sample, a camera photographing an electron microscope image of the sample, a monitor displaying an electron microscope image of the sample, and an area means calculating a sharp image area depending on the slanting angle of the sample, and the sharp image area is displayed on the monitor.例文帳に追加

本発明によると、電子顕微鏡は、試料を傾斜させる試料ステージと、試料の電子顕微鏡像を撮影するカメラと、試料の電子顕微鏡像を表示するモニタと、試料の傾斜角に基づいてボケがない領域を計算する領域手段と、を有し、上記モニタに上記ボケがない領域を表示する。 - 特許庁

To enable sample preparation capable of shortening a time for preparing a micro-sample, having high reliability at the EDX analysis time, and having a clean processing surface competent for high power observation, concerning a sample preparation device enabling analysis or observation of a micro-region by extracting a fine sample from a parent sample by utilizing FIB.例文帳に追加

ＦＩＢを利用して母試料から微細試料を摘出して微小領域の分析や観察を可能にする試料作製装置において、微小試料を作製する時間を短縮でき、ＥＤＸ分析時に高い信頼性を有し、高倍率の観察に耐えられる清浄な加工面を有する試料作製を可能とする。 - 特許庁

This hair quality condition indicating device 1 includes: an artificial hair sample 2 showing the hair quality condition sensed by the sense of touch; a sample holding member 3 holding the artificial hair sample 2; and an indicating portion 4 showing the level of hair quality condition of the artificial hair sample 2 corresponding to the artificial hair sample 2 by characters.例文帳に追加

髪質状態表示具１を、触感で感知可能な髪質状態を示す人工毛髪見本２と、この人工毛髪見本２を保持する見本保持部材３と、人工毛髪見本２に対応して人工毛髪見本２の髪質状態の程度を文字で示す表示部４とを備えたものとする。 - 特許庁

To provide a sample manufacturing method for analyzing of a micro region, observing or measuring by separating or preparing for separation of a minute sample containing a desired specific region from a sample of an electronic components or the like such as a semiconductor wafer or a device without inclining a sample stage, as well as a sample manufacturing device thereof.例文帳に追加

試料ステージを傾斜することなく、半導体ウェーハやデバイスなどの電子部品等の試料から所望の特定領域を含む微小試料を、分離または分離準備して、微小領域分析や観察、計測用の試料作製方法およびその試料作製装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a sample holder for a charged particle beam device and a reserve exhaust chamber for a charged particle beam device capable of properly and surely conveying a sample and a sample holder into a sample chamber, regarding the sample holder for a charged particle beam device and the reserve exhaust chamber for a charged particle beam device.例文帳に追加

本発明は荷電粒子ビーム装置用試料ホルダ及び荷電粒子ビーム装置の予備排気室に関し、試料と試料ホルダを正しくそして確実に試料室内に搬送することができる荷電粒子ビーム装置用試料ホルダ及び荷電粒子ビーム装置の予備排気室を提供することを目的としている。 - 特許庁

The kinds of harmful substances contained in sample water are discriminated by comparing the detection output of the biosensor at the time of the direct supply of the sample water to the biosensor with the detection output of the biosensor when pretreatment for removing the specific harmful substance contained in the sample water is applied to the sample water to supply the pretreated sample water to the biosensor.例文帳に追加

バイオセンサに試料水を直接供給したときのバイオセンサの検出出力と、試料水をこれに含まれる特定の有害物質を除去する前処理を施してバイオセンサに供給したときのバイオセンサの検出出力との比較により試料水に含まれる有害物質の種類を識別する。 - 特許庁

This sample holding device is equipped with a transmission type sample holder support member 42 capable of mounting detachably a transmission type sample holder 40 adaptable to the X-ray diffraction measurement by the transmission method, and a reflection type sample holder support member capable of mounting detachably a reflection type sample holder adaptable to the X-ray diffraction measurement by the reflection method.例文帳に追加

透過法によるＸ線回折測定に適合する透過型試料ホルダ４０を、着脱自在に装着可能な透過型試料ホルダ支持部材４２と、反射法によるＸ線回折測定に適合する反射型試料ホルダを、着脱自在に装着可能な反射型試料ホルダ支持部材とを備える。 - 特許庁

The sample holder 10 and the protection pipe 40 can travel relatively while being separated, and a gas circulation path that passes through the hollow section of the sample holder 10 via the inside of the sample retention container 20 from the hollow section of the protection pipe 40 is formed at the protection pipe 40, the sample retention container 20, and the sample holder 10.例文帳に追加

試料ホルダ１０と保護管４０とは分離して相対移動可能であり、さらに保護管４０、試料保持容器２０、および試料ホルダ１０には、保護管４０の中空部から試料保持容器２０の内部を経由して試料ホルダ１０の中空部に抜ける気体流通路が形成してある。 - 特許庁

The sample analyzer 10 includes a first analysis part 2a for holding the first analyzing medium, a sample recovery part 11 for recovering the sample component, after the first analysis and a second analysis art 3a for analyzing the sample components recovered in the sample recovery part 11.例文帳に追加

また、本発明のサンプル分析装置１０は、上記方法を実行するために、第１分析媒体を保持する第１分析部２ａ；第１分析後のサンプル成分を回収するサンプル回収部１１；およびサンプル回収部１１にて回収したサンプル成分を分析する第２分析部３ａ、を備えている。 - 特許庁

A liquid sample and a carrier liquid (solvent) are introduced into a heated vaporization chamber 18, the sample and the solvent are sprayed in a mist from a sample gas supply opening 19, the solvent is ionized by the corona discharge of a discharge needle 21, and solvent ions and sample molecules are subjected to ion-molecule reaction to ionize the sample.例文帳に追加

液体試料とキャリア液（溶媒）が加熱された気化室１８に導入され、試料及び溶媒が試料ガス吹出口１９からミスト状に吹出し、溶媒が放電ニードル２１のコロナ放電によってイオン化され、溶媒イオンと試料分子とがイオン−分子反応を起こし試料がイオン化する。 - 特許庁

Further, after the powdery sample is held at a temperature of ≥100°C in the environment where moisture is present and the adhered moisture of the sample is removed by drying, heat is applied to the sample and the mass change quantity of the sample during temperature rise or before and after temperature rise is measured to evaluate the hydration degree of the sample.例文帳に追加

また、粉状の試料を水分が存在する環境で１００℃以上の温度に保持し、該試料の付着水分を乾燥除去した後、該試料に熱を加えて昇温中又は昇温前後における質量変化量を測定することにより試料の水和度を評価する方法である。 - 特許庁

To provide a sample preparing system with superior operability, with regard to a sample preparation system in which the machining surface of a sample is irradiated with an ion beams, while the machining surface of the sample is being rotated about an axis that is orthogonal with respect to the surface of the sample, which is in a non-orthogonal state to the ion beams inside a vacuum chamber.例文帳に追加

真空チャンバ内で、イオンビームに対して試料の加工面が非直交の状態で、前記試料の加工面に対して直交する軸を中心に回転されながら、前記加工面にイオンビームが照射される試料作成装置に関し、操作性の良い試料作成装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

When the sampling needle 5 penetrates a septum in a sample container and is inserted into a sample container, a flat surface 22 that is extended axially over the length exceeding the thickness of the septum of the sample container is formed at one portion of the outer surface of the sample needle 5 for releasing the pressurized state inside the sample container to atmospheric pressure.例文帳に追加

このサンプリングニードル５が試料容器のセプタムを貫通して試料容器内に挿入されたとき、試料容器内部の加圧状態を大気圧に開放するために、サンプリングニードル５の外側面の一部には試料容器のセプタムの厚さ以上の長さにわたって軸方向に延びる平坦面２２が形成されている。 - 特許庁

To provide a method of preparing a sample and a device therefor wherein only a sample piece including a desired specific area from a semiconductor and a device chip is taken out, and the sample is mounted on the sample stage of an analyzer/measuring device, dispensing with a hand-working sample preparation process which requires experience, skills and time.例文帳に追加

半導体ウエハやデバイスチップから所望の特定領域を含む試料片のみをサンプリング（摘出）して、分析／計測装置の試料ステ−ジに、経験や熟練や時間のかかる手作業の試料作り工程を経ることなく、マウント（搭載）する試料作製方法およびその装置を提供すること。 - 特許庁

The spectrochemical analysis device for analyzing the state of the interface between materials receiving friction makes a first sample rub with a second thin-film-like sample, and radiates light to the interface between the first sample and second sample from the rear surface of the second sample, thereby performing the spectrochemical analysis.例文帳に追加

また、摩擦を受けている材料の間の界面の状態を分析する本発明の分光分析装置は、第１の試料と薄膜状の第２の試料とを摩擦しつつ、第２の試料の背面から、第１の試料と第２の試料との界面に対して光を照射して分光分析を行う。 - 特許庁

One of these opening parts is a sample liquid supply port, and the other one of them is an air port and a layer of a reagent dissolved in the sample liquid to increase the viscosity of the sample liquid is arranged between the air port and measuring region in the sample liquid transfer passage so as not to close the sample liquid transfer passage.例文帳に追加

これらの開口部のうち１箇所が試料液供給口であり、もう１箇所が空気口であって、前記試料液移送路内の前記空気口と測定領域との間に、試料液に溶解し試料液の粘性を増加させる試薬の層が前記試料液移送路を塞がないように配置されている。 - 特許庁

Hereby, the small quantity of the sample can be introduced without diffusing sample vapor uselessly, similarly to conventional PTV, and in the case of the large quantity of the sample, the sample completely vaporized in the preceding step is passed through the filler, thereby to prevent generation of a breakthrough occurring in such a case that the liquid sample is directly injected quickly into the PTV.例文帳に追加

これにより、少量試料は従来のＰＴＶと変わらず、徒らに試料蒸気を拡散させずに導入でき、多量試料の場合は前段で完全に気化した試料を充填剤に通すので、液体試料を直接ＰＴＶに急速に注入した場合のようなブレークスルーを起こすことがない。 - 特許庁

In this liquid chromatograph equipped with a column for holding a filling material, and a sample preparation means for preparing the sample to be introduced into the column, the sample preparation means is constituted so that the sample for preparation is collected from an upper layer part of a layer including many corpuscles in the sample including the corpuscles.例文帳に追加

充填剤を保持したカラムと、カラムに導入する試料を調製するための試料調製手段と、を備えた液体クロマトグラィ装置において、試料調製手段を、血球を含む試料における血球を多く含む層の上層部から調製用試料を採取するように構成した。 - 特許庁

A sample analyzer includes: a laser ablation section having a laser oscillation source with an oscillation output of 5 W or more, for irradiating the surface of a sample with a laser beam to make part of the sample into fine particles; and an element detection section to which the sample made into fine particles is introduced and a constituent element included in the sample is detected.例文帳に追加

試料の表面にレーザー光を照射して試料の一部を微粒子化させる、発振出力５Ｗ以上のレーザー発振源を有するレーザーアブレーション部と、微粒子化された試料を導入し、試料に含まれる構成元素を検出する元素検出部と、を備えた試料分析装置。 - 特許庁

To provide a fatigue testing device which vibrates a sample to detect presence or absence of a fatigue failure such as a crack in the sample and is capable of detecting occurrence of the crack in the sample without removing the sample even when the sample stops sympathetic vibration before reaching a prescribed vibration cycle.例文帳に追加

供試物におけるクラック等の疲労破壊の有無を検査するために供試物を振動させる疲労試験装置において、所定の振動サイクルに達する前に供試物が共振しなくなった場合に、供試物を取り外すことなく、供試物におけるクラック等の発生を検出することができるようにする。 - 特許庁

To provide a sample preparation method for sampling only a sample piece including a desired, specific region from a semiconductor wafer and a device chip for mounting on the sample stage of an analyzer/measuring device without going through the sample preparation process of manual work requiring experience, skill, and time, and to provide a sample preparation apparatus.例文帳に追加

半導体ウエハやデバイスチップから所望の特定領域を含む試料片のみをサンプリング（摘出）して、分析／計測装置の試料ステ−ジに、経験や熟練や時間のかかる手作業の試料作り工程を経ることなく、マウント（搭載）する試料作製方法およびその装置を提供すること。 - 特許庁