「TEM」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To simplify the processes including the collection and molding of a sample piece for a transmission electron microscope(TEM) or scanning electron microscope(SEM) observation from an original sample and the installation of an observation holder and to consistently conduct the processes in a sample processing chamber.例文帳に追加

元試料から、TEMまたはSEM観察のための試料片の採取、成形および観察ホルダ設置までの工程を簡素化し、試料処理室において一貫して行なう。 - 特許庁

In order to reconstruct the boundary from of a sample structure constructed by piling up several kinds of materials, the borderline of the sample structure extracted from the TEM images is inversely projected on a 3D space.例文帳に追加

数種の材料を積み重ねて構築された試料構造の界面形状再構築を目的とし、TEM像から抽出したの試料構造の境界線を３次元空間に逆投影する。 - 特許庁

The silver fine powder is formed of silver particles which have an average particle diameter D_TEM of 3-20 nm or X-ray grain sizes D_X of 1-20 nm and are covered with the organic protective material constituted by a 6-12C primary amine B.例文帳に追加

炭素数６〜１２の１級アミンＢで構成される有機保護材に被覆された平均粒子径Ｄ_TEM：３〜２０ｎｍまたはＸ線結晶粒径Ｄ_X：１〜２０ｎｍの銀粒子からなる銀微粉。 - 特許庁

The ratio of d/D of the innermost diameter (the diameter of the smallest diameter part of a hollow void part observed by TEM) of the void part to the diameter D of a fiber observed by TEM is ≤0.5.例文帳に追加

中空空洞部の最内径（ＴＥＭによって観測された該空洞部の最も小径の部分の直径）ｄと、ＴＥＭによって観測された繊維の直径Ｄとの比ｄ／Ｄが、０．５以下である。 - 特許庁

To provide a TEM (transmitance electron microscope) sample preparation method capable of preparing a sample changing the TEM observation direction, and improving the workability of the sample preparation.例文帳に追加

この発明は、ＴＥＭ観察方向を変えた試料作製を可能にし、かつ試料作製における作業性を向上させたＴＥＭ試料作製方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

One piece of the optimal TEM image for each testpiece tilted angle is selected by visual judgement of an operator, and the three-dimensional image construction circuit 16 constructs a three-dimensional image based on the selected TEM image.例文帳に追加

各試料傾斜角度につき１枚の最適なＴＥＭ像がオペレーターの目視判断によって選択され、３次元像構築回路１６は、その選択されたＴＥＭ像に基づいて３次元像を構築する。 - 特許庁

To simplify steps through collecting a sample piece for a TEM or SEM observation from an original sample up to molding it and setting an observation holder, and carry out the steps consistently in a sample treatment chamber.例文帳に追加

元試料から、TEMまたはSEM観察のための試料片の採取、成形および観察ホルダ設置までの工程を簡素化し、試料処理室において一貫して行なう。 - 特許庁

The silver powder obtained by the reduction treatment has an average particle size D_TEM of preferably 50 nm or smaller, and is coated with the organic protective agent.例文帳に追加

還元処理で得られる銀粒子粉末は平均粒径Ｄ_TEMが好ましくは５０ｎｍ以下であり、粒子表面には前記の有機保護剤が被着している。 - 特許庁

The new 200 kV TEM features a high-brightness Schottky field emission electron gun that produces a probe size of less than 0.15 nm. 例文帳に追加

その新型200kV-TEMは、0.15nmよりも小さなプローブサイズを生み出す高輝度のショットキー電界放出型電子銃を特徴とする。 - 科学技術論文動詞集

In a high-voltage TEM, many more Bragg reflections are excited simultaneously when a specimen is illuminated near a low-indexed zone axis. 例文帳に追加

高圧電子顕微鏡では、試料が低次指数の晶帯軸の近くで(電子ビームで)照射されるとき、より多くのブラッグ反射が同時に励起される。 - 科学技術論文動詞集

The Moellenstedt electrostatic energy analyzer developed in 1949 was added to conventional TEMs in several laboratories. 例文帳に追加

1949年に開発されたメーレンシュテットの静電エネルギー分光器は、いくつかの研究所にある通常型の(通常使われている)TEMに追加された。 - 科学技術論文動詞集

The tem "imperial inscription" ('chokugaku' in Japanese) refers to inscriptions at temples which were written by rulers such as the emperor and typically given to temples throughout the country. 例文帳に追加

勅額（ちょくがく）とは、皇帝・天皇などの為政者が国内の寺院に特に与える直筆の書で記された寺額。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To easily prepare a plane TEM sample selectively remaining a specific surface between layers of a sample comprising a multilayer film.例文帳に追加

多層膜からなる試料の層間にある特定面を選択的に残存させた平面ＴＥＭ試料を容易に作製する。 - 特許庁

A Fourier transform part 42 executes Fourier transform of a TEM image and an image read by a magnification reading part 41.例文帳に追加

フーリエ変換部４２は、ＴＥＭ像と倍率読み込み部４１により読み込まれた画像のフーリエ変換を行う。 - 特許庁

The metallic nickel particulates produced thereby have an average particle diameter of 1-50 nm based on TEM observation.例文帳に追加

この方法により生成される金属ニッケル微粒子は、ＴＥＭ観察に基づく平均粒子径が１ｎｍ〜５０ｎｍの範囲内にあることを特徴とする。 - 特許庁

To enable mode conversion between the TEM mode and another mode to be performed among a plurality of waveguides.例文帳に追加

複数の導波路間において、ＴＥＭモードとその他のモードとのモード変換を良好に行うことができるようにする。 - 特許庁

A neatly arranged graphite structure which corresponds to that shown in TEM having a high degree of resolution is shown in a single nanotube by Raman Microscopic Spectroscopy.例文帳に追加

単一ナノチューブのラマン顕微分光分析は、高解像度ＴＥＭと合致するよく揃ったグラファイト構造を呈する。 - 特許庁

In such a structure, a suitable sample for use for the TEM can be made without using a shielding plate.例文帳に追加

このように構成すれば、ＴＥＭに用いて好適な試料を遮蔽板を使用せずに作製することができる。 - 特許庁

To provide a method for creating a sample for electron microscope observation for making precise observation by TEM.例文帳に追加

ＴＥＭによる観察を正確に行うことが可能な電子顕微鏡観察用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope which can always project TEM image correctly on a light-receiving face of a TV detector without monitoring by a fluorescent screen.例文帳に追加

蛍光板でモニターしなくても、ＴＶ検出器の受光面にＴＥＭ像を常に正しく投影可能な電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

It is preferable that particulate iron having a particle diameter of ≥1 nm is not observed by microscopic observation with a transmission electron microscope (TEM).例文帳に追加

好ましくは、透過電子顕微鏡（ＴＥＭ）観察により、粒子径１ｎｍ以上の粒子状の鉄が観測されない多孔質構造体。 - 特許庁

When using strain analysis at the TEM, there is a possibility that the distortion can restrain the detection of such strain.例文帳に追加

また、ＴＥＭにおいてストレイン解析を用いるとき、歪はストレインの検出を制限する可能性がある。 - 特許庁

To constitute a dielectric filter which has a superior spurious characteristics by decreasing a spurious mode other than a TEM mode, using a simple configuration.例文帳に追加

ＴＥＭモード以外のスプリアスモードを低減して、優れたスプリアス特性を有する簡素な構造の誘電体フィルタを構成する。 - 特許庁

To automatically correct sample drift at X-ray mapping in a TEM/ SEM which is capable of performing the X-ray mapping.例文帳に追加

Ｘ線マッピングが可能なＴＥＭ／ＳＥＭにおいて、Ｘ線マッピング時の試料ドリフトを自動的に補正する。 - 特許庁

The sample fixing plate 110 to adhere a TEM sample 140 is formed on the upper side of the sample mounting table 120.例文帳に追加

また、試料装着台１２０の上部は、ＴＥＭ試料１４０を接着するための試料固定板１１０が形成されている。 - 特許庁

By this method, the analytical sample 1 suitable for performing analysis using, for example TEM can be prepared.例文帳に追加

これにより、例えばＴＥＭを用いた解析をおこなうのに適した解析用試料１を作製することができる。 - 特許庁

A TEM single-mode resonator RS, composed of the cavity body 1 and the conductor bars 4, is installed together with the resonators RW, thus constituting the filter device.例文帳に追加

これと共に、キャビティ本体１と導体棒４からなるＴＥＭ１重モード共振器ＲＳを設けて、フィルタ装置を構成する。 - 特許庁

To provide a band pass filter using a TEM mode dielectric resonator which has good filtering performance and can be miniaturized.例文帳に追加

フィルタの性能が良好で、小型化できるＴＥＭモード誘電体共振器を用いたバンドパスフィルタを提供する。 - 特許庁

To provide a simple and high-accuracy drift correction mechanism in a cross-section processing and an TEM sample processing with the use of a focused ion beam device.例文帳に追加

集束イオンビーム装置を使った断面加工やＴＥＭ試料加工における簡便且つ高精度なドリフト補正機構の実現する。 - 特許庁

To improve a TEM flake observation capacity, and to efficiently control the positioning and posture of a sample in its structure.例文帳に追加

ＴＥＭ薄片観察の能力を向上させ、かつその構成において効率よく試料の配置と姿勢を制御することを図ること。 - 特許庁

To provide an inexpensive stage of a small sized device capable of preparing a sample for a TEM and a sample for a SEM quickly in response to requirement.例文帳に追加

ＴＥＭ用試料、ＳＥＭ用試料を必要に応じて迅速に作成可能であり、装置も小型で、低コストのステージを提供することである。 - 特許庁

Thus the resonance frequency in the TEM mode is equalized to that in the TM mode and the TE mode.例文帳に追加

これにより、ＴＥＭモードの共振周波数をＴＭモードとＴＥモードの共振周波数に揃える。 - 特許庁

To provide a sample preparation method and a sample preparation device capable of preparing surely a favorable thin film sample suitable for TEM observation or the like.例文帳に追加

ＴＥＭ観察などに適した良好な薄膜試料を確実に作製できる試料作製方法および試料作製装置を提供する。 - 特許庁

To provide a TEM with a corrector (330) to improve image quality and a phase plate (340) to improve contrast.例文帳に追加

当該発明は、像の質を改善するための補正器（３３０）及びコントラストを改善するための位相板（３４０）を備えたＴＥＭに関係する。 - 特許庁

Preferred embodiments of the present invention deposit material onto the face of a TEM sample during the process of preparing the sample.例文帳に追加

本発明の好ましい実施形態は、試料を作製するプロセスの最中に、ＴＥＭ試料の面に材料を付着させる。 - 特許庁

This corrector corrects chromatic aberration in a particle lens used for an SEM/TEM.例文帳に追加

本発明は、ＳＥＭ又はＴＥＭに使用されるもののような、粒子レンズにおける色収差の補正用の補正器を記載する。 - 特許庁

The TEM sample 3 is attached to an end part of the second surface side in the attaching table 1a out of the attaching face 2a.例文帳に追加

ＴＥＭ試料３は、取付面２ａのうち取付台１ａの第２表面側の端部に取り付けられている。 - 特許庁

To make compactness by mounting all of the parts of an intake sys tem from an air cleaner to an intake port of an engine.例文帳に追加

エアクリーナからエンジンの吸気ポートまでの吸気系のすべての部品を装着してコンパクト化する。 - 特許庁

To provide an X-ray analyzer mountable on a SEM, a TEM or the like, and measuring a plurality of elements simultaneously with high sensitivity and high resolution.例文帳に追加

ＳＥＭ、ＴＥＭなどにも取り付け可能で、複数の元素を高感度、高分解能で同時に測定可能なＸ線分析装置を提供する。 - 特許庁

The thickness of the sample fixing plate 110 is thinner than that of the sample mounting table 120 by one space for adhering the TEM sample 140.例文帳に追加

試料固定板１１０の厚みは、ＴＥＭ試料１４０を接着させるための空間の分だけ、試料装着台１２０の厚みより小さい。 - 特許庁

To provide a technique capable of enhancing the productivity of tem pered glass having high strength and suppressing cost.例文帳に追加

強度の高い強化ガラスの生産性を上げることができ且つコストを抑えることができる技術を提供する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for preparing TEM samples in a manner that reduces or prevents bending and curtaining.例文帳に追加

曲りおよびカーテニングを低減させまたは防ぐような方式でＴＥＭ試料を作製する方法および装置を提供すること。 - 特許庁

An average particle diameter obtained from the TEM photograph of the pulverulent body is 5 to 200 nm, preferably 10 to 100 nm.例文帳に追加

この粉体のＴＥＭ写真から求まる平均粒子径は５〜２００ｎｍ、好ましくは１０〜１００ｎｍである。 - 特許庁

A shared sample holder 5 of FIB device is set to a sample jogging device of 9 TEM, and the orientation of a sample 6 is detected.例文帳に追加

ＦＩＢ装置共用試料ホルダ５をＴＥＭの試料微動装置にセットして、そのときの試料6の向きを検出する。 - 特許庁

Diffraction lines attributed to metallic Si and Si compound cannot be detected in the texture structure by the pattern analysis by X-ray diffraction method and granular texture is unrecognizable by the observation with a transmission electron microscope(TEM).例文帳に追加

また、その組織構造は、Ｘ線回折法によるパターン解析により金属Ｓｉ及びＳｉ化合物に帰属する回折線が検出されず、透過型電子顕微鏡(TEM)の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えている。 - 特許庁