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TEMを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 349



例文

To provide a fast breeder reactor cooling system building capable of securing apparatus integrity of each cooling system chamber and building integrity and maintaining a function as a cooling system by suppressing a tem perature rise of the building and liners, preventing dispersion of Na aerosol, and suppressing moisture discharge and hydrogen generation.例文帳に追加

建屋及びライナの温度上昇を抑制し、Naエアロゾルの拡散を防止し、水分放出及び水素発生を抑制するので、冷却系各室の機器健全性及び建屋健全性を確保し、冷却系としての機能を維持することができる高速増殖炉冷却系建屋を得ること。 - 特許庁

A server connected to an exclusive line or a PHS line is connected to the TEM, and an analytical data is made thereby to correspond immediately to a manufacturing process for the nano-structured hyper-fine raw material, so as to solve a problem on production and to determine an end point of reaction for the raw material.例文帳に追加

また、上記ナノ構造超微細素材の製造工程に分析データを即座に対応させるため、TEMに専用回線又はPHS回線が接続されたサーバを接続させることによって、製造上の問題の解決と該素材の反応の終点の確定をするものである。 - 特許庁

To provide a sample preparation device of small occupied area for large diameter wafers, realizing miniaturization of devices, equipped with an introductory means of a TEM holder, to which test pieces of several microns adhere without pressure increase or contamination in vacuum vessels, and having a sample chamber of the required minimum volume enabling quick observation.例文帳に追加

装置の小型化を実現し、かつ、真空容器内の圧力の増加や汚染が無く数μmの試料片が固着されるTEMホルダの導入手段を備え、迅速な観察を可能とする試料室容積が必要最小限の、占有面積の小さい、大口径ウエハ用の試料作製装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an electron microscope holder having high X-ray detection efficiency even in an EDX analysis by an X-ray analyzer of a low angle for extracting a sample for TEM observation in cross section produced by the FIB processing and to provide a spacer for use therefor.例文帳に追加

FIB加工により作製した断面TEM観察用試料の、低取り出し角のX線分析器によるEDX分析においても、高いX線検出効率を有する電子顕微鏡ホルダー及びこれに用いるスペーサーを提供する。 - 特許庁

例文

To realize sure information transmission and easy handling, in an analyzer including SEM and TEM devices which is used in off-line inspection separated from a semiconductor fabrication line and for which transmission of information and a reasonable handling means become problematic.例文帳に追加

半導体製造ラインから外れたオフライン検査となり、情報の伝達や合理的な取り扱い手段が問題となっているSEM,TEM装置を含む分析装置において、確実な情報伝達,容易な取り扱いを実現することを目的とする。 - 特許庁


例文

A TEM cell 29b is used as an antenna to be used for an on-vehicle communication system in which a frequency of radio waves to be output from a communication means is set to a shut-off frequency or lower of a waveguide in a case an opening frame of a vehicle is regarded as the waveguide.例文帳に追加

信手段から出力される電波の周波数を、車両の開口部枠を導波管と見立てた場合に、該導波管の遮断周波数以下に設定した車載用通信システムに用いられるアンテナとして、TEMセル29bを用いる。 - 特許庁

In the whole process for preparing a TEM/STEM specimen, a processing work of a fine sample by utilizing FIB and a work for sampling the minute specimen and transferring it to a specimen holder are performed by different devices, and the processing work of the minute specimen and the sampling work of the minute specimen are performed in parallel.例文帳に追加

本発明は、TEM/STEM試料作製の全体工程を、FIBを利用した微小試料の加工作業と、微小試料の採取及び試料ホルダへの移設作業と、を別の装置で行い、微小試料の加工作業と、微小試料の採取作業と、を並行して行うことに関する。 - 特許庁

To provide a preparation method of a sample for observation, an observation method of the sample, the sample for observation, an observation device or the like capable of observation by TEM or FIB, even when an observation object is a molding prior to sintering, a porous body or the like having a weak shape-retaining force.例文帳に追加

観察対象が保形力の弱い、焼結前の成形体や多孔質体等であっても、TEMやFIBによる観察が行える観察用試料の作成方法、試料の観察方法、観察用試料、観察装置等を提供することを目的とする。 - 特許庁

Hereby, the sample 10 for analysis suitable for analyzing the surface state and the state of a plane parallel to the surface by using a SEM or a TEM can be formed easily and highly accurately without fouling the surface of an analysis object film pattern 14.例文帳に追加

これにより解析対象膜パターン14の表面を汚すことなく、SEMやTEMなどを用いた表面状態および表面と平行な面内における状態の解析に好適な解析用試料10を、高精度かつ容易に形成することができる。 - 特許庁

例文

To obtain a resonator and a filter in which reduction of a higher-order resonant frequency in TEM mode can be suppressed by obtaining the effect equal with SIR by tilting an outer conductor constituting the resonator, and resonance in TE11 mode can be suppressed without damaging no load Q by partially reducing the resonator.例文帳に追加

共振器を構成する外導体に傾斜をつけることで、SIRと同等な効果を得てTEMモードの高次共振周波数の低下を抑えるともに、部分的に共振器を小さくして無負荷Qを損なうことなくTE_11モードの共振を抑えることができる共振器及びフィルタを得る。 - 特許庁

例文

The alloy carrying material is formed in such a manner that alloy particles composed of two or more metals are carried by a carrier, and an A-value indicating a variation of a composition rate which is obtained by measuring a constituent metal ratio of the carrying alloy particles by TEM-EDX is not larger than 0.12.例文帳に追加

2種以上の金属よりなる合金粒子が担体に担持されてなる合金担持物であって、TEM−EDXによって担持合金粒子の構成金属比率を測定して求められた組成比のばらつきを示すA値が0.12以下である合金担持物。 - 特許庁

To provide a method of fixing a sample table for restraining secondary fluorescent excitation caused by the irradiation of X ray excited on a sample on the sample table when applying X-ray analyzing to the sample produced by a micro sampling method by TEM, and to provide the sample table for the fixing method.例文帳に追加

マイクロサンプリング法で作製された試料をTEMでX線分析した場合、試料上で励起されたX線が試料台に照射され二次的に蛍光励起されるのを抑えるための試料台に固定する方法および固定方法に用いる試料台を提供する。 - 特許庁

A shield case 2, having ground pin holes 1 bored at equal spacings into the topside, is mounted on a board 3, and ground pins 4 are inserted in the ground pin holes 1 on function block partitions, thus making tem connectable to a ground on the board 3.例文帳に追加

上面に等間隔で複数開けられたアースピン穴1を有するシールドケース2が基板3上に取り付けられ、機能ブロック仕切り上のアースピン穴1にはアースピン4が差し込まれており、基板3上のアースと接続できる状態となっている。 - 特許庁

Since the embedded trench 1c can be formed into a thin piece from a side surface direction by this alteration of an FIB processing direction, a processing depth is set to about trench width (5 μm) and the conversion of an observation region to an amorphous state or the like is not caused and the observation sample of good quality for TEM can be manufactured.例文帳に追加

FIB加工方向をこのように変更することで、埋め込みトレンチ1cを側面方向から薄片化できるため、加工深さはトレンチ幅(5μm)程度で済み、観察部位の非結晶化等は発生せず、良質なTEM用観察試料を作製可能である。 - 特許庁

A gap 112 is specified between the channel 102A and the channel 102B and in a 'TEn 0' mode, in which (n) is an odd number, an electromagnetic wave is propagated along with the axial line of a waveguide but in a 'TEm 0' mode, in which (m) is an even number, the electromagnetic wave is suppressed.例文帳に追加

ギャップ112は、チャンネル102Aとチャンネル102Bとの間に規定され、nが奇数のTEn,0モードで電磁波を導波管の軸線に沿って伝搬するが、しかし、mが偶数のTEm,0モードで電磁波を抑制する。 - 特許庁

Also, when the programming period Tpr is changed over to a light emitting period Tem, the 1st and 2nd switching transistors are switched to the OFF-state, and thereby the capacitive element is made to hold a charge amount which is independent of the threshold voltage of the driving transistor but dependent on the data signal voltage.例文帳に追加

また、プログラミング期間Tprから発光期間Temに切り替わる際は、第1と第2のスイッチングトランジスタをオフ状態に切り換えることによって、容量素子に、駆動トランジスタのしきい値電圧に依存せず、かつ、データ信号の電圧に依存する電荷量を保持させる。 - 特許庁

To provide a standard sample for evaluating silicon single crystal wafers containing octahedral BMD (bulk micro defects) in high density, of which the sizes can be found by LST (laser scattering tomography) and which can be measured by TEM (transmission electron microscopy) for size definition, its manufacturing method, and an evaluating method by using the correlation sample.例文帳に追加

LSTで欠陥サイズを求めることができ、かつサイズ定義に必要なTEMで測定できる八面体のBMDを高密度で含むシリコン単結晶ウェーハ評価用の標準サンプル、その製造方法及び標準サンプルを用いた評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample preparation device for a large diameter wafer, equipped with an introduction means of a TEM holder capable of preventing pressure increase in a vacuum vessel and contamination, for fixing a sample piece having the size of several μm, enabling quick observation, and having a sample chamber having a small volume.例文帳に追加

真空容器内の圧力の増加や汚染が無く数μmの試料片が固着されるTEMホルダの導入手段を備え、迅速な観察を可能とする試料室容積が小さい、大口径ウエハ用の試料作製装置を提供する。 - 特許庁

Thus, a resonance frequency in a spurious mode, such as a TE101 mode, is shifted toward a lower frequency band so as to cause the resonance frequency to shift in the spurious mode from a frequency band requiring attenuation, such as around a second order higher harmonic wave band in a TEM mode that is an operating mode.例文帳に追加

これによりTE_101モード等のスプリアスモードの共振周波数を低域側へシフトさせて、使用モードであるTEMモードの2次高調波付近などの、減衰を必要とする帯域からスプリアスモードの共振周波数をずらせる。 - 特許庁

The Si dispersed vitreous carbon material is provided with structural performance that a crystalline structure except graphite structure does not exist practically in the structure, the diffraction line attributed to metal Si or an Si compound is not detected in an X-ray diffraction method and granular structure is not discriminated by the observation by a transmission electron microscope(TEM).例文帳に追加

また、その組織中には実質的に黒鉛構造以外の結晶構造が存在せず、X線回折法により金属SiおよびSi化合物に帰属する回折線が検出されず、透過型電子顕微鏡(TEM)の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えている。 - 特許庁

When any one of detected temperatures θ1-θ3 from the respective temperature sensors exceeds a preset temperature, a controller CU reduces the present ratio of a torque command value Tem (Teg) to the electric drive device part with respect to a torque command value Tm to the hydraulic drive device part.例文帳に追加

コントローラCUは、各温度センサからの検出温度θ1〜θ3のいずれか1つでも予め設定された温度を超えたときは、現在の、油圧駆動装置部に対するトルク指令値Tm、電動駆動装置部に対するトルク指令値Tem(Teg)の比率を低減する。 - 特許庁

To provide a TEM capable of memorizing a plurality of conditions regarding each of three modes in an MDS in order to reduce electron beam damage of a sample, carrying out repetition work simply, and setting the optimum condition according to the sample and purpose arbitrarily.例文帳に追加

試料の電子線損傷を低減するためのMDSにおける三つのモードのそれぞれについて複数の条件を記憶して、繰り返し作業を簡単に行うと共に、試料や目的に応じて最適な条件を任意に設定できるTEMを提供する。 - 特許庁

Dielectric cores 3, into which conductor bars 4 are inserted, are mounted into a cavity body 1, a TEM mode by a cavity and conductor bars and a TM mode by the cavity, the dielectric cores 3 are coupled, and dual-mode resonators RW are installed.例文帳に追加

キャビティ本体1内に、導体棒4が挿通する誘電体コア3を設けて、キャビティおよび導体棒によるTEMモードと、キャビティおよび誘電体コアによるTMモードとを結合させて、2重モード共振器RWを設ける。 - 特許庁

To provide a sample stand for making a sample, so to speak, with little redeposition, in which sample stand materials are attached on a surface of the sample as ion beams sputter the stand, in making a sample used for TEM observation by an ion milling method.例文帳に追加

本発明は、TEM観察に用いる試料をイオンミリング法により作製するに当たり、イオンビームが試料台をスパッタすることにより生じる試料台物質が試料表面に付着するいわゆるリデポジッションの少ない試料を作製する試料台を提供する。 - 特許庁

vi) The technology (excluding programs) pertaining to the design, manufacture or use of rockets or unmanned aircraft that are capable of carrying a payload over a distance of 300 kilometers or more (excluding those capable of carrying a payload of 500 kilograms or more) or the goods that fall under any of Article 3, item (iii) through tem (xxvii 例文帳に追加

六 ペイロードを三〇〇キロメートル以上運搬することができるロケット若しくは無人航空機(五〇〇キログラム以上のペイロードを運搬することができるものを除く。)又は第三条第三号から第二十七号までのいずれかに該当する貨物の設計、製造又は使用に係る技術(プログラムを除く。) - 日本法令外国語訳データベースシステム

In recent years the crisis-hit Asian countries have enjoyed a rapid recovery and have significantly lessened their vulnerability by reducing their short-tem external debt and increasing their foreign reserves. However, since the latter half of last year their stock and exchange markets have softened and growth has decelerated noticeably as a result of the worsening world economic environment. 例文帳に追加

危機に見舞われたアジア諸国は、これまで急速な回復を遂げるとともに、短期対外債務の減少や外貨準備の増加等経済の脆弱性も大きく減少しましたが、昨年後半から世界経済環境が悪化している影響を受け、株式・為替市場が軟化し、成長に顕著な減速が見られます。 - 財務省

The method for photoresist characterization includes a step 102 of forming a photoresist on a supportive structure, a step 104 of baking the photoresist, a step 106 of staining the photoresist with a staining agent, and a step 108 of characterizing the photoresist using at least one of TEM, SEM and AFM.例文帳に追加

フォトレジストの特性化方法は、支持構造上にフォトレジストを形成する工程102と、フォトレジストをベーキングする工程104と、フォトレジストを染色剤により染色する工程106と、TEM、SEMおよびAFMのうちの少なくとも1つを利用し、フォトレジストを特性化する工程108と、を含む。 - 特許庁

The irradiation portion 3 is composed of a TEM mode resonator having a center conductor 22 arranged by axially extending and to which the microwave generated by the solid microwave source is supplied, and a cylindrical outer conductor 23 formed around the center conductor 22 concentrically with the center conductor 22.例文帳に追加

照射部3は、固体マイクロ波源で発生したマイクロ波が供給される、軸方向に延在して配置された中心導体22と、この中心導体22の周囲に設けられてこの中心導体22と同心円状に形成された円筒状の外側導体23と、を有してなるTEMモード共振器からなっている。 - 特許庁

To provide an ink dispersant suitable for inorganic and organic pigments, which shows small increase in a solution viscosity, even when the pigment concentration is increased with high long-tem storage stability, causes no redispersion to water, after the ink is printed to recording media, without oozing during the printing and has excellent abrasion resistance.例文帳に追加

本発明の目的は、有機顔料及び無機顔料の分散性に優れ、インク溶液中の顔料濃度を高くしても溶液粘度の上昇が小さく、かつ、長期保存安定性に優れ、被記録体にインクを印刷、乾燥後は水に対して再分散性が無い、所謂、耐水性が高く、印刷時の滲み問題が無く、更に、耐擦過性に優れた無機顔料、有機顔料に好適なインク用分散剤を提供することである。 - 特許庁

Braking for rear wheels is released (S210), when an output torque Tem, that is the sum of a torque output, from an engine to front wheels and an output torque from the motor to the rear wheels, becomes larger than a target torque Td* based on the road face slope θ, and the torque output from the motor is started to gradually release the braking for the front wheels (S230-S290).例文帳に追加

そして、エンジンから前輪に出力されるトルクとモータから後輪に出力可能なトルクとの和の出力可能トルクTemが路面勾配θに基づく目標トルクTd*より大きくなったときに後輪のブレーキを解除すると共に(S210)、モータからのトルク出力を開始して徐々に前輪のブレーキを解除する(S230〜S290)。 - 特許庁

The TEM sample having a length l and a width b is cut out from a solid state material, a flowable type curable adhesive is applied onto a surface 7 of a sample surface side, and fibers 2 of a diameter d are thereby aligned along a longitudinal direction of the sample on the sample surface 7, so as to be fixed in the substantially center as to the width b.例文帳に追加

固相状態の材料から長さ(l)および幅(b)のTEM試料を切出し、この試料表側の表面(7)に対して流動タイプの硬化性接着剤を塗布することにより、直径(d)の繊維(2)を、試料表面(7)上において、試料の長手方向で整列して、幅(b)について実質的に中心に固定する。 - 特許庁

To provide a carbon nano structure called CNT, CNF and GNF having superior durability, allowing high measuring accuracy and inexpensively and nonvariably manufacturable in a short time; its manufacturing method; its cutting method; a probe for STM and AFM having this structure or an electric field electron emitting source such as FED, an X-ray device, SEM and TEM.例文帳に追加

優れた耐久性を備え、高い測定精度を可能とし、短時間・低コストでばらつき無く作製できるCNT、CNF、GNFという炭素ナノ構造体、その製造方法、その切断方法、それを有するSTMやAFM用の探針あるいはFED、X線装置、SEM、TEM等の電界電子放出源を提供する。 - 特許庁

Thereby, since a TEM-wave transmission line is formed continuously with the stem section 6 and the wiring substrate 11, a high-frequency signal can be transmitted from a preamplifier 5 that is connected to a photodiode 4 in the metal-can package by the signal transmission line constituted by the signal transmission pin 8a and the signal transmission wire 12a.例文帳に追加

これにより、TEM波伝送線路がステム部6と配線基板11とに連続して形成されることになるため、信号伝送ピン8a及び信号伝送配線12aを信号伝送ラインとして、メタルキャンパッケージ3内のフォトダイオード4が接続されたプリアンプ5から高周波信号を伝送することが可能になる。 - 特許庁

A cover body is detachably provided to an upper opening portion of a metallic housing 51, a dielectric resonator 53 for a TEM-mode band-reject filter and a dielectric resonator 54 for the band-pass filter are adjacently stored in the housing 51, and the circuit board 55 where signal line 56a and 56b are formed is provided above them.例文帳に追加

金属製の筐体51の上部開口部に蓋体を着脱可能に設け、上記筐体51内にTEMモードの帯域除去フィルタ用誘電体共振器53及び帯域通過フィルタ用誘電体共振器54を隣接して収納し、その上方に信号線路56a、56bが形成された回路基板55を設ける。 - 特許庁

The high frequency dielectric resonator is a λ/4 dielectric resonator resonated in a TEM mode and provided with a rectangular dielectric block having an upper face, a lower face and 4 side faces, a 1st metallic layer applied on the upper face, a 2nd metallic layer applied on the lower face, and a 3rd metallic layer applied to one of the 4 side faces.例文帳に追加

TEMモードで共振するλ/4誘電体共振器であって、上平面、下平面及び4つの側面を有する矩形誘電体ブロックと、上平面にコーティングされた第1の金属層と、下平面にコーティングされた第2の金属層と、4つの側面のうちの1つの側面にコーティングされた第3の金属層とを備えている。 - 特許庁

The period of holes by the period measurement of the porosity with the Fourier transformed image of the sectional TEM image of the porous silica thin film is 11.5 nm or less in the horizontal direction of a film surface and 9.0 nm or less in the vertical direction thereof, and also the ratio of the horizontal direction/the vertical direction is 1.35 or less.例文帳に追加

多孔性シリカ薄膜の断面TEM像のフーリエ変換像による空孔の周期測定による空孔の周期が、膜面水平方向に11.5nm以下、膜面垂直方向に9.0nm以下、かつ、水平方向/垂直方向の比が1.35以下であることを特徴とする多孔性シリカ薄膜およびその製造方法。 - 特許庁

The method allows a dual beam FIB/STEM system with a typical tilt stage having a maximum tilt of approximately 60 to be used to extract a STEM sample from a substrate, to mount the sample onto a TEM sample holder, to thin the sample using FIB milling and to rotate the sample so that the sample face is perpendicular to a vertical electron column for STEM imaging.例文帳に追加

方法は、約60度の最大傾斜を有する典型的な傾斜ステージを有するデュアル・ビームFIB/STEMシステムが、基板からSTEMサンプルを抜き出し、TEMサンプル・ホルダ上にサンプルを搭載し、FIBミリングを使用してサンプルを薄化し、かつサンプル面がSTEM撮像のために垂直電子カラムに垂直であるように、サンプルを回転するために使用されることを可能にする。 - 特許庁

A controller 1 for controlling an operation of the air conditioner 10 is provided with a changing section 5 for changing a setting temperature Tem to a setting change temperature Tes higher than a present value, when a minimum target superheat degree SHsm of the target superheat degrees SHs determined by every indoor heat exchanger 27 is higher than a prescribed value SHt.例文帳に追加

空気調和装置(10)の運転制御を行うコントローラ(1)に、各室内熱交換器(27)ごとに定められた目標過熱度SHsのうち最小目標過熱度SHsmが所定値SHtよりも大きい場合には、設定温度Temを現在よりも高い値である設定変更温度Tesに変更する変更部(5)を設ける。 - 特許庁

An audio data stream is configured by periodically inserting 3-bit coded ADPCM audio data, with 1-bit being added to tem as control information to a 4-bit coded ADPCM audio data stream, a receiver side detects the audio data stream as a control information bit stream, so as to transmit the control information at the same time, when the ADPCM audio data are transmitted.例文帳に追加

4ビット符号化されたADPCM音声データストリーム中に、制御情報として1ビット付加した、3ビット符号化されたADPCM音声データを周期的に挿入して音声データストリームを構成し、受信側で制御情報ビット列として検定することにより、ADPCM音声データと同時に制御情報を伝送することができる。 - 特許庁

To provide a sample production device for a large-diameter wafer, having a small occupied area, requiring a necessary minimum sample chamber volume capable of quick observation, equipped with an introduction means of a TEM holder on which a sample piece of several μm is fixed and which is free from pressure increase or contamination in a vacuum container, and capable of realizing miniaturization of the device.例文帳に追加

装置の小型化を実現し、かつ、真空容器内の圧力の増加や汚染が無く数μmの試料片が固着されるTEMホルダの導入手段を備え、迅速な観察を可能とする試料室容積が必要最小限の、占有面積の小さい、大口径ウエハ用の試料作製装置を提供すること。 - 特許庁

In a data sending system, a mail client 1 as a sender of an e-mail separates the attached file from the e-mail to which the attached file is attached and transmits the separated attached file to a TEM server 2, and the e-mail of which attached file is separated is transmitted to a mail client 3 as a recipient of the e-mail.例文帳に追加

データ送付システムでは、電子メールの送り手であるメールクライアント1は、添付ファイルが添付された電子メールから添付ファイルを分離し、分離された添付ファイルをTEMサーバ2に送信し、添付ファイルが分離された電子メールを電子メールの受け手であるメールクライアント3に送信する。 - 特許庁

Namely, by combining FIB processing using a high accelerating voltage with FIB finishing using a low accelerating voltage, the thick amorphous layer formed on the side of the membrane part by the FIB processing using the high accelerating voltage is thinned by the FIB finishing using the low accelerating voltage, and hereby the TEM image having high resolution suitable for evaluation of a manufacturing process of a minute semiconductor device can be acquired.例文帳に追加

すなわち、高い加速電圧を用いたFIB加工と低い加速電圧を用いたFIB仕上げ加工とを組み合わせることにより、高い加速電圧のFIB加工で薄膜部の側面上に形成された厚い非晶質層を低い加速電圧のFIB仕上げ加工で薄くすれば、微細化された半導体装置の製造工程の評価に適した分解能の高いTEM像を得ることができる。 - 特許庁

The TEM resonator type RF coil is provided with a first conductive pattern 302 connected to a line element 118, symmetrical second conductive patterns 304, capacitors 502 for connecting them and a connecting means 602 for connecting the second conductive patterns over adjacent partial annulus rings concerning the plurality of partial annulus rings which are obtained by division by the slits 116 of orifice parts.例文帳に追加

TEMレゾネータ型のRFコイルであって、オリフィス部のスリット116によって分割されてできる複数の部分円環を、ラインエレメント118が接続される第1の導電パターン302と、左右対称的な第2の導電パターン304と、それらを接続するキャパシタ502と、隣り合う部分円環にまたがって第2の導電パターン同士を接続する接続手段602とを設ける。 - 特許庁

The silicon substrate is tilted so that the side surface opposite to the former points upward, a converged ion beam is radiated to the upward pointing side surface from the perpendicular direction to cut it into a thin-film-like thin piece including the fault place, thereby preparing the flat TEM sample including the fault place from the semiconductor integrated circuit having the wiring layer on its surface.例文帳に追加

そして、前記側面とは反対側の側面が上を向くようにシリコン基板を傾け、上を向いた側面に対し垂直方向から収束イオンビームを照射して不良箇所を含む薄膜状の薄片に切り出すことにより、表面に配線層が形成された半導体集積回路から不良箇所を含む平面TEMサンプルを作製する。 - 特許庁

In this constitution, microwaves transmit through the rectangular waveguide 10 in a TE11 mode to be converted to a coaxial TEM mode by the coaxial waveguide converter 12 to transmit to a plasma forming chamber as it is and, therefore, plasma 17 becomes a doughnut shape and a film can be uniformly formed on a substrate 18.例文帳に追加

このような構成において、マイクロ波は矩形導波管10内をTE_11モードで伝わり、同軸導波管変換器12で同軸TEMモードに変換されて、そのままプラズマ生成室まで伝わるため、プラズマ17はドーナツ状となり、基板18上に均一の成膜を形成することができる。 - 特許庁

To provide a TEM improved significantly in vibration resistance by weighting an influence of each part of a lens barrel for image migration due to environmental disturbance from an electronic optical standpoint and performing such design that the rigidity of the part having the highest influence on vibration resistance is chiefly is enhanced in consideration of moment by inertial force.例文帳に追加

環境外乱による像移動に対する鏡筒各部の影響度を電子光学的観点から重み付けし、また慣性力によるモーメントを考慮して最も耐振性に影響を及ぼす部分の剛性を重点的に高める設計を行なうことにより、顕著に耐振性を向上させたTEMを提供する。 - 特許庁

A transmission electron microscope with an irradiation system Cs collector mounted thereon is structured such that, when a mode is changed from a TEM system to an STEM system, a lens relaxation treatment by a predetermined frequency to gradually reduce the amplitude thereof to positive and negative sides centering a predetermined value is executed to a lens constituting the transmission electron microscope.例文帳に追加

照射系Csコレクターを搭載した透過電子顕微鏡において、モードをTEM系からSTEM系に変化させた場合に、透過電子顕微鏡を構成するレンズに所定の値を中心として正負にその振幅が漸次減少していくような所定の周波数によるレンズ緩和処理を行なう、ように構成する。 - 特許庁

(4) Notwithstanding the provisions of paragraph (1), item (i), for food listed in item 2. of appended table 3, food packed in glass bottles (excluding glass bottles with paper caps) or polyethylene containers and packaging among those listed in item 3. of the same table, food listed in tem 11., (b) of the same table (excluding food which has been canned, bottled, barreled, or jarred), food listed in (c) of the same item, food of farm products listed in item 12. of the same table, and additives listed in item 14. of the same table, the date indicated with the letters meaning an expiration date or a freshness date (hereinafter referred to as the "time limit") and the preservation methods do not have to be indicated (for food or additives for which the criteria for the preservation methods have been established pursuant to the provisions of Article 11, paragraph (1) of the Act, the time limit does not have to be indicated). 例文帳に追加

4 第一項第一号の規定にかかわらず、別表第三第二号に掲げる食品、同表第三号に掲げる食品のうちガラス瓶(紙栓を付けたものを除く。)又はポリエチレン製容器包装に収められたもの、同表第十一号ロに掲げる食品(缶詰、瓶詰、たる詰又はつぼ詰のものを除く。)、同号ハに掲げる食品、同表第十二号に掲げる作物である食品及び同表第十四号に掲げる添加物にあつては、消費期限又は賞味期限である旨の文字を冠したその年月日(以下「期限」という。)及びその保存の方法の表示(法第十一条第一項の規定により保存の方法の基準が定められた食品又は添加物にあつては、期限の表示)を省略することができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

例文

List of Those Subject to Sanctionsis limited to those which accurately record the content of a public notice, including the names (including aliases) and addresses of those subject to sanctions such as asset freeze and are searchable by an electromagnetic means. However, if an institution has a system whereby an Asset Freeze Administrator determines whether a person falls under those subject to economic sanctions such as asset freeze in consideration of not only ames but also attribute information, including addresses, etc., based on theList f Those Subject to Sanctions,” the institution shall be deemed to fulfill the check tem even if theList of Those Subject to Sanctionsthat is used by the Sales ivision and sales branches for the primary confirmation does not include attribute information, including addresses. 例文帳に追加

「制裁対象者リスト」は、資産凍結等経済制裁対象者の氏名(別称を含む)、住所等告示の内容が正確に記録されており、かつ電磁的な方法により検索できるものに限られる。ただし、資産凍結等責任者が資産凍結等経済制裁対象者か否かを判断するにあたって、「制裁対象者リスト」により、氏名のみならず、住所等の属性情報も勘案して判定する体制となっていれば、営業部店が第一次的な確認のために使用する「制裁対象者リスト」には住所等属性情報がなくても、チェック項目を満たすものとする。 - 財務省

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※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
  
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