「TEM」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

To enhance stability of a TEM sample contacting on an attaching face, and to reduce an influence affected by a characteristic X-ray from the attaching table resulting from a scattered electron beam.例文帳に追加

取付面上に接触されたＴＥＭ試料の安定性が高く、散乱電子線に起因する取付台からの特性Ｘ線による影響も少ないＴＥＭ試料取付台を得る。 - 特許庁

To provide a high-frequency module which can convert an electromagnetic wave of a TE mode into an electromagnetic wave in a balanced TEM mode without adjustment, and can be easily miniaturized.例文帳に追加

ＴＥモードの電磁波を平衡型のＴＥＭモードの電磁波に無調整で変換して出力でき、しかも小形化の容易な高周波モジュールを提供する。 - 特許庁

When a failure pat is detected, a sample region including the failure part is picked up by microsampling method and a sample piece thus picked up is sliced to obtain a sample for TEM observation.例文帳に追加

不良部が検出されたら、該不良部を含む試料領域をマイクロサンプリング法により摘出し、この摘出試料片を薄片化加工してＴＥＭ観察用サンプルとする。 - 特許庁

To fix a thin section sample on a sample holder without tilting a stage and to efficiently prepare a TEM sample in a shorter time with increasing throughput.例文帳に追加

ステージを傾けることなく薄片試料を試料ホルダに固定でき、スループットを高めてより短時間で効率良くＴＥＭ試料を作製すること。 - 特許庁

To provide a method capable of simply and efficiently manufacturing various ultra-thin segments such as a sample for transmission type electron microscope (TEM) observation in a short time and at a low cost.例文帳に追加

透過型顕微鏡（ＴＥＭ）観察用試料等をはじめとする各種超薄切片を、短時間、低コスト、簡便かつ効率的に製造し得る方法の提供。 - 特許庁

When the exhaust temperature reaches the first prescribed temperature (Tmax), a delay time up to an increase of fuel corresponding to a time lag until the exhaust manifold reaches a heat resistance allowable temperature Tem is set in response to a variation of the exhaust temperature.例文帳に追加

排気温度が第１の所定温度Ｔmax に達した時に、排気温度の変化率に応じて、エキマニが耐熱許容温度Ｔemに達するまでのタイムラグに相当する燃料増量までのディレイ時間を設定する。 - 特許庁

When a TEM (transmission electron microscope) image is photographed at each testpiece tilted angle, the image is photographed by changing the defocus amount Δf into a plurality of defocus amounts Δf_1, Δf_2, Δf_3.例文帳に追加

各試料傾斜角度においてＴＥＭ像を撮影する際、デフォーカス量Δｆが複数のデフォーカス量Δｆ_１，Δｆ_２，Δｆ_３に変えられて像撮影が行われる。 - 特許庁

To provide a wafer inspection device which can achieve high-speed, high-resolution visual test of semiconductor wafer and consistently prepares samples for TEM observation or various analyses with high accuracy of position from the area where any foreign material or defect exists.例文帳に追加

半導体ウエハの高速で高分解能な外観検査と、異物や欠陥の存在部位からＴＥＭ観察や各種分析のための試料を高い位置精度で一貫して作製することのできる検査装置を提供すること。 - 特許庁

To shorten a time required for the analysis of a multiple-conductor coupling line constituted of a TEM line, and to more easily perform the analytic processing than a conventional manner.例文帳に追加

ＴＥＭ線路からなる多導体カップリング線路の解析に要する時間を短縮し、その解析処理を従来に比べ容易に行うことができるようにする。 - 特許庁

The upper surface 1A1 of the fitting part 1A and a wall surface 41A of a bottom wall 41 around the opening part 42 of a TEM cell 4 are constituted, in such a way as to be flush with the fitting part 1A of the metal frame 1 fitted into the opening part 42.例文帳に追加

金属枠１の嵌合部１Ａを開口部４２に嵌合させた状態で、嵌合部１Ａの上面１Ａ１と、ＴＥＭセル４の開口部４２の周囲の底壁４１の壁面４１Ａとは同一面をなすように構成されている。 - 特許庁

To correct surface inclination errors of an observation sample, in the installation of the sample on FIB processing sample stand, with high accuracy, in the manufacture of the sample for TEM for thinning a plate by the FIB processing.例文帳に追加

ＦＩＢ加工による薄板化を行うＴＥＭ用観察試料の作製において、ＦＩＢ加工試料台への試料設置における試料表面の傾斜誤差を精度高く補正する。 - 特許庁

The thin section of test piece is pulled toward the tip of the probe for sampling and holding by electrostatic attraction, and reverse voltage is given between them when loaded on the TEM sample pedestal to generate repulsive force between them, so that the test piece are to be easily removed from the probe.例文帳に追加

静電引力によってプローブ先端に薄片試料を引き寄せて採取、保持し、ＴＥＭ試料台に載置する際は逆電圧を与えることで両者の間に斥力を生じさせ、容易に試料をプローブから離脱させる。 - 特許庁

To provide a conveyor facility capable of eliminating loss of time caused by transferring articles by stopping the facility when branching and merging tem.例文帳に追加

物流の分岐・合流の際に、設備を停止させて移載を行わなければならないことに起因する時間のロスを解消可能な搬送設備を提供する。 - 特許庁

To provide an information technology means from a management plan level, into which the change of an industrial structure is integrated, to a small and middle-scaled enterprise in an inexpensive Internet utilization sys tem.例文帳に追加

中小企業者に、産業構造の変化を組み込んだ経営計画レベルからの情報技術化手段を低コストのインターネット活用方式で提供する。 - 特許庁

At the construction of the three-dimensional image, the image data stored in the image memory 15 are transmitted to a CRT 20 and the TEM images photographed under the defocus amount Δf_1, Δf_2, Δf_3 are displayed on the CRT 20.例文帳に追加

３次元像構築にあたっては、画像メモリ１５に記憶された画像データがＣＲＴ２０に送られ、デフォーカス量Δｆ_１，Δｆ_２，Δｆ_３のもとで撮影されたＴＥＭ像がＣＲＴ２０上に表示される。 - 特許庁

Retreating amount L1 of the tatami facing 1 of the rear surface 13 to the tatami facing 1 of the front surface 10 of the two tatami mats becomes L1', L1" by laying of tem into the tatami horizontal member, and the two tatami mats are compressed to each other at the rail parts 12b, 12c.例文帳に追加

畳イ、ロの表側１０の畳表１に対する裏側１３の畳表１の後退量Ｌ_1は、畳寄せに敷き込むことでＬ_1’、Ｌ_1”となり、畳イと畳ロとがカマチ部１２ｂ、１２ｃで互いに圧縮される。 - 特許庁

The sample is fixed by the abutment part 302a, the side surface holding member 302b and the back surface holding member 303, and since the abutment part works as a positioning stopper, insertion length of the TEM sample 103 can be fixed.例文帳に追加

この当接部３０２ａと側面保持部材３０２ｂと裏面部保持部材３０３により試料が固定され、位置決めストッパーとしての役割を果たすので、ＴＥＭ用試料１０３の挿入長を一定にすることができる。 - 特許庁

This process is repeatedly carried out, and the image data of the inclined image series S_2, S_3, ... S_m constituted of the TEM images I(θ_1), I(θ_2), ... I(θ_n) are stored in the image memory 16.例文帳に追加

このような処理が繰り返し行われ、ＴＥＭ像Ｉ（θ_１），Ｉ（θ_２），…Ｉ（θ_ｎ）で構成される傾斜画像シリーズＳ_２，Ｓ_３，…Ｓ_ｍの画像データが、画像メモリ１６に記憶される。 - 特許庁

To provide a method for preparing a sample reduced in its surface unevenness in preparing a cross-sectional sample for use in observing TEM or SEM by an ion beam etching method, and to provide a sample preparing apparatus.例文帳に追加

本発明は、ＴＥＭやＳＥＭ等の観察に用いる断面試料をイオンビームエッチング法により作製するに当たり、試料表面の凹凸の少ない試料を作製する方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device, capable of performing the visual inspection of a semiconductor at a high speed with high resolution and uniformly preparing a sample for TEM observation and various analyses, with high position accuracy, from a region where foreign matters or defects exist.例文帳に追加

半導体ウエハの高速で高分解能な外観検査と、異物や欠陥の存在部位からＴＥＭ観察や各種分析のための試料を高い位置精度で一貫して作製することのできる検査装置を提供すること。 - 特許庁

The mail client 3 decodes the encoded distributed pieces at gathering of the distributed pieces sent from the TEM server 2, and restores the attached file from the decoded distributed pieces and the sent pieces without encoding.例文帳に追加

メールクライアント３は、ＴＥＭサーバ２から送られた分散片が揃った時点で、暗号化された分散片を復号し、復号した分散片と暗号化されずに送られた分散片とから添付ファイルを復元する。 - 特許庁

The standard sample for the charged particle beam containing different two samples for magnification or dimension calibration, and the charged particle beam device using the standard sample are formed, in a TEM, an STEM (scanning transmission electron microscope), or an SEM for observing a sample by using electrons transmitted through it.例文帳に追加

本発明では、上記目的を達成するために、倍率、或いは寸法校正のための異なる２つの試料が含まれている荷電粒子線用標準試料及びそれを用いる荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

In the inequalities, d_50x1 is the average major axis (maximum aspect diameter) in μm of the platy particle obtained by the TEM image and Sw is the BET specific surface area (m^2/g) obtained by the nitrogen absorption method.例文帳に追加

但し、ｄ_50ｘ１：ＴＥＭ写真より求めた板状粒子の平均長径（定方向最大径）（μｍ）、Ｓｗ：窒素吸着法によるＢＥＴ比表面積（ｍ^2 ／ｇ） - 特許庁

There is a possibility that distortion may restrain a resolution of the TEM when especially performing the 3D reconstruction of a feature by using a tomography.例文帳に追加

当業者が知っているように、特に、トモグラフィを用いて特徴の３Ｄ再構成を行うときに、歪は、ＴＥＭの分解能を制限する可能性がある。 - 特許庁

To realize an RF coil of a TEM resonator type, which is operated stably, an RF signal transmitter/receiver using such an RF coil and a magnetic resonance imaging equipment using such an RF signal transmitter/receiver.例文帳に追加

動作の安定なＴＥＭレゾネータ型のＲＦコイル、そのようなＲＦコイルを用いるＲＦ信号送受信装置、および、そのようなＲＦ信号送受信装置を用いる磁気共鳴撮像装置を実現する。 - 特許庁

To provide a data communication device, a data communication sys tem, and a storage medium which make it possible to efficiently use applications by allowing slave machines to share application programs of a master machine.例文帳に追加

本発明の課題は、親機のアプリケーションプログラムを複数の子機が共有することにより、アプリケーションを効率的に利用することを可能としたデータ通信装置、データ通信システム、及び記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

To provide a complex electron capable of obtaining accurate correspon dence between the SEM/STEM image and TEM image.例文帳に追加

本発明は複合電子顕微鏡に関し、ＳＥＭ／ＳＴＥＭ像とＴＥＭ像との対応を正確にとることができる複合電子顕微鏡を提供することを目的としている - 特許庁

To sample quickly a slice specimen processed for analyzing by observation, instrumental analysis or the like by means of TEM or STEM, a foreign matter or a defect existing on the surface of a semiconductor wafer or the like or inside thereof.例文帳に追加

本発明の目的は、半導体ウェハ等の表面や内部にある異物や欠陥などをＴＥＭもしくはＳＴＥＭで観察や分析など解析するために加工された薄片試料を迅速に採取することに関する。 - 特許庁

To form a section on a desired position of a semiconductor device having a fine structure without impairing the original section shape, and to enable section analysis by a SEM, a TEM or the like.例文帳に追加

本来の断面形状を損なうことなく、微細構造を有する半導体装置の所望位置に断面を形成し、ＳＥＭあるいはＴＥＭ等による断面解析を可能とする。 - 特許庁

In the obtained composite, the silica particles of 5-50 nm are uniformly dispersed in the observation of transmission electron microscope (TEM), and both bending and tensile strengths are remarkably improved.例文帳に追加

得られたコンポジットをＴＥＭで観察したところ５ｎｍ〜５０ｎｍのシリカ粒子が均一に分散しており、曲げ強度、引張強度とも大幅に向上した。 - 特許庁

An integration circuit 17 extracts the TEM images of the same test piece inclination angles from the inclined image series S_1, S_2, ... S_m, and integrates these and obtains the integrated image for every test piece inclination angles θ_1, θ_2, ... θ_n.例文帳に追加

積算回路１７は、傾斜画像シリーズＳ_１，Ｓ_２，…Ｓ_ｍから同じ試料傾斜角度のＴＥＭ像を抽出してそれらを積算し、試料傾斜角度θ_１，θ_２，…θ_ｎごとに積算像を取得する。 - 特許庁

To provide a defocusing amount measuring method in which defocusing amount can be stably measured by eliminating image movement which is not caused by electron beam tilting with respect to a defocusing amount measuring method of a TEM.例文帳に追加

本発明はＴＥＭのデフォーカス量測定方法に関し、電子線傾斜によらない像移動を無くしてデフォーカス量を安定に測定することができるようにしたデフォーカス量測定方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

The advantage of the method according to the invention is that the TEM without a scanning unit can be used, and also that the entire crystal obtains the diffraction pattern, while the volume of the diffraction does not depend on the orientation of the crystal when being illuminated.例文帳に追加

当該発明に従った方法の利点は、走査するユニット無しのＴＥＭが、使用されることができると共に、全体の結晶が、回折パターンを得る一方で、照明される際に、回折のボリュームが、結晶の配向に依存するものではないというものである。 - 特許庁

To provide metal nickel particle powder made of fine metal nanonickel particle which has a mean particle diameter obtained according to TEM (Transmission Electron Microscope) of ≤30 nm, and which has satisfactory dispersibility in a solvent, and has sintering temperature suppressed to low.例文帳に追加

ＴＥＭにより求まる平均粒子径が３０ｎｍ以下の微細な金属ナノニッケル粒子からなる粉末であって、溶媒中での分散性が良好であり、かつ焼結温度を低く抑えることが可能な金属ニッケル粒子粉末を提供する。 - 特許庁

The exhaust gas cleaning catalyst is held by composite oxide particles in which particulates of a noble metal contain CeO_2 and a photograph, which is measured Pd fine particles on a support from a side face by a transmission electron microscope (TEM), exhibits trapezoidal shaped nanoparticles having smooth tips.例文帳に追加

貴金属微粒子がＣｅＯ_２を含有する複合酸化物粒子に担持された排ガス浄化触媒であって、担体上のＰｄ微粒子を側面から透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）により測定した写真が平坦な頂部を有する台形状のナノ粒子を示す、前記排ガス浄化触媒。 - 特許庁

The carbon electrode containing a metal element has a content of the metal element, in a region where particles with a size of 5 nm or more containing the metal element are not observed in observation with a TEM, of 5 at% or more to carbon.例文帳に追加

金属元素を含有する炭素電極であって、ＴＥＭで観察したときに、金属元素を含む粒径５ｎｍ以上の粒子が観測されない領域における金属元素の含有量が、炭素に対して５ａｔ％以上である、炭素電極。 - 特許庁

Since magnetic fields are coupled so that the direction of the magnetic field of the first waveguide and that of the magnetic field of the second waveguide are matched with each other in an E plane, mode conversion between the TEM mode and other modes is excellently performed between the waveguides.例文帳に追加

第１の導波路と第２の導波路との磁界の方向を、Ｅ面内において一致させて磁界結合するようにしたので、各導波路間において、ＴＥＭモードとその他のモードとのモード変換を良好に行うことができる。 - 特許庁

Since magnetic fields are coupled so that the direction of the magnetic field of the first waveguide and that of the magnetic field of the second waveguide are matched with each other in an H plane, mode conversion between the TEM mode and another mode can be excellently performed between the waveguides.例文帳に追加

第１の導波路と第２の導波路との磁界の方向を、Ｈ面内において一致させて磁界結合するようにしたので、各導波路間において、ＴＥＭモードとその他のモードとのモード変換を良好に行うことができる。 - 特許庁

To accurately perform sampling work of a sample piece performed after the sample piece is formed by focusing ion beam in the atmosphere at a low cost by a simple method, to realize the high magnification observation of TEM and to also enable the additional processing of the sample piece.例文帳に追加

集束イオンビームによる試料片作成後に行われる試料片のサンプリング作業を、大気中下で簡易な手法により低コストで的確に行うことができ、しかも、ＴＥＭの高倍率観察を実現でき、試料片の追加工も可能にする。 - 特許庁

To provide a method capable of performing film thickness control set by FIB processing without a processing recipe for film thinning, and performing simply fine processing of a TEM sample or the like by a skill in some degree, and a system for executing the method.例文帳に追加

本発明の課題は、薄膜加工の加工レシピなしでも、ＦＩＢ加工で設定した膜厚制御を行い、有る程度のスキルがあれば、簡単にＴＥＭ試料などの微細加工を行うことが出来る方法と、それを実行するシステムを提示することにある。 - 特許庁

After performing a secret distribution process to the attached file sent from the mail client 1, the TEM server 2 performs an encoding process to one of distributed pieces and transmits the distributed pieces to the mail client 3 with a different timing for each piece.例文帳に追加

ＴＥＭサーバ２は、メールクライアント１から送られた添付ファイルに対して秘密分散処理を行った上で、分散片の１片に暗号化処理を行ない、分散片を１片ずつタイミングを変えてメールクライアント３に送信する。 - 特許庁

To perform TEM observation and secondary particle image observation in an identical observing position by irradiating an observed surface formed by a focused ion beam with a charged particle beam to form an observed image and then thin-processing to make transparent while supporting the observed surface.例文帳に追加

集束イオンビームで形成した観察面に荷電粒子ビームを照射し、観察像を取得し、観察面を保持したまま、さらに透過可能になるように薄片化加工を行うことで、同一観察位置のＴＥＭ観察と二次粒子像観察を図ること。 - 特許庁

To arrange an electron microscope and a sample so that the distance therebetween is optimum, in a device which prepares a thin sample by focused ion beam for use in observation by a transmission electron microscope (TEM) and removes a damaged layer on the sample surface using a gaseous ion beam at a low acceleration voltage.例文帳に追加

集束イオンビームでＴＥＭ観察用の薄片化試料を作製し、低加速電圧の気体イオンビームで試料表面のダメージ層を除去する装置において、電子顕微鏡と試料とを最適な距離に配置すること。 - 特許庁

To provide a standard sample for charged particle beam and a charged particle beam device using the same, allowing measurement of fine dimensions of an image in a submicrometer to tens of micrometers in high accuracy in TEM and/or STEM for observation by using electrons transmitted through a sample, or SEM.例文帳に追加

本発明の目的は、試料を透過した電子を用いて観察するＴＥＭやＳＴＥＭ、或いはＳＥＭにおいて、画像のサブミクロンから数１０μｍの微小寸法を高い精度で測定可能にする荷電粒子線用標準試料及びそれを用いる荷電粒子線装置を提供することにある。 - 特許庁

In the conversion between the microstrip line of TEM wave transmission and the waveguide of TE01 mode wave transmission, if the cross-sections of the microstrip line and the waveguide are substantially the same size, in the case of a 40 Ω microstrip line when the characteristic impedance of the waveguide is about 80%, i.e., 40 Ω, the line conversion loss can be optimally reduced.例文帳に追加

マイクロストリップ線路のＴＥＭ波と導波管のＴＥ０１の伝播モード線路変換において、断面形状がほぼ同サイズで、５０Ωのマイクロストリップ線路の場合、導波管の特性インピーダンスとしては８割程度の４０Ωの時、線路変換損失の最適化が実現できる。 - 特許庁