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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Test dataの意味・解説 > Test dataに関連した英語例文

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Test dataの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 3606



例文

Since a data base 14 has plural pieces of fault data respectively corresponding to plural faults, the test unit 13 can specifically test the cause of the individual fault on the basis of the fault data corresponding to the individual fault detected by the fault detection unit 10.例文帳に追加

データベース14は、複数の障害にそれぞれに対応する複数の障害データを有しているので、試験ユニット13は、障害検出ユニット10が検出した個別的障害に対応する障害データに基づいて個別的障害の原因を具体的に試験することができるようになる。 - 特許庁

Each output is compared with an output of a 2nd test image generating circuit whose start is delayed against the 1st test image generating circuit by a delay of the selected check object data to discriminate whether or not data transfer timing and a bit check of a data line are acceptable.例文帳に追加

この選択した検査対象のデータの遅延分だけ第1のテスト画像発生回路よりスタートを遅らせている第2のテスト画像発生回路の出力と比較することでデータ転送のタイミングおよびデータラインのビットチェックがOKか判定ができるようにしたものである。 - 特許庁

Then, the CPU 10 finds the reference value of the optimum recording power, based on the states of reproduced respective test signals, and moves the PU unit 15 to the data write-in position of the data area of the disk 2 and performs recordings of test signals of plural steps around the reference value to the data area.例文帳に追加

その再生された各テスト信号の状態に基づいて最適記録パワーの基準値を求め、PUユニット15をデータ領域のデータ書き込み位置へ移動させ、そのデータ領域へ上記基準値を中心にした複数段階のテスト信号の記録を行なう。 - 特許庁

When the semiconductor integrated circuit is operated for test, input data TI for test are given to the scan registers 21 and 24 at the front ends of the divided chains synchronously to a multiplied clock signal CKD which is obtained by doubling a clock signal CK after the data are converted into parallel data S41 and S42 by means of a serial/parallel conversion circuit 40.例文帳に追加

試験動作時には、試験入力データTIがクロック信号CKの2倍の逓倍クロック信号CKDに同期して与えられ、直列並列変換回路40で並列データS41,S42に変換されて、各分割チェーンの先端のスキャンレジスタ21,25に与えられる。 - 特許庁

例文

The system is provided with a pseudo random number generating part for generating the pseudo random number, a test data creating part for creating a key and receiving the pseudo random number created by the pseudo random number generating part, and a security factor data creating part for receiving the pseudo random number and a plaintext from the test data creating part and processing encryption, etc.例文帳に追加

疑似乱数を生成する疑似乱数生成部と,鍵を生成し前記疑似乱数生成部から生成する疑似乱数を受け取るテストデータ作成部と,テストデータ作成部からの疑似乱数と平文とを受け取って暗号化等の処理を行うセキュリティ要素データ作成部とを備える。 - 特許庁


例文

To provide an information reader for automatically generating and storing test data, conducting a test and informing a customer about the result on the occurrence of a transmission error between the information reader and an information processor in a data collection system comprising the information reader and the information processor for collecting data from the information reader.例文帳に追加

情報読取装置と、情報読取装置からデータを収集する情報処理装置から構成されるデータ収集システムに関し、情報読取装置と情報処理装置間の送信エラー発生時に、自動的にテストデータを生成格納し、テストを行い結果を顧客に通知する。 - 特許庁

When the recording opeartion is executed, digital audio data are stored up in a memory 24 in order after compressing the data by a data compression circuit 22, and also a test signal is supplied to a recording head 31 to execute the recording and reproducing operations of the test signal with respect to a calibration area of a magneto-optical disk 11.例文帳に追加

記録の操作が行われたとき、デジタルオーディオデータをデータ圧縮回路22によりデータ圧縮してからメモリ24に順にため込んでいくとともに、記録ヘッド31にテスト信号を供給して光磁気ディスク11のキャリブレーションエリアに対してテスト信号の記録および再生を実行する。 - 特許庁

When all DRAM cores MCR0-MCR2 are specified as objects of an operation test, test output data from each DRAM core are compared with each other for coincidence in a data comparing circuit 16, and outputted to the outside as discrimination flag data FLG reflecting a comparison coincidence result.例文帳に追加

DRAMコアMCR0〜MCR2の全てが動作テストの対象に指定された場合においては、各DRAMコアからのテスト出力データは、データ比較回路160において一致比較され、一致比較結果を反映した判定フラグデータFLGとして外部に出力される。 - 特許庁

To provide a test support system for an estimation business system, capable of automatically performing a confirmation test of data update so that an operator can easily and efficiently treat data with a minimized burden in a revision operation of estimation standard which needs simultaneous revision operations of massive amounts of data.例文帳に追加

膨大な量のデータ改定作業を一時に行わなければならない積算基準の改定作業において、操作者にとって負担が少なく容易に扱えるように、かつ効率的に、データ更新の確認テストを自動的に行うことができる積算業務システムのテスト支援システムを提供する。 - 特許庁

例文

In a test vector formation support part 13, a test cycle time, a delay time of an input signal value and an expected value checking time are extracted from a pseudo peripheral circuit model, and a file for specifying extraction timing of test data is formed based thereon.例文帳に追加

テストベクタ作成支援部13において、疑似周辺回路モデルから、テストサイクル時間、入力信号値の遅延時間及び期待値照合時間を抽出しこれらをもとにテスト用データの抽出タイミングを指定するファイルを生成する。 - 特許庁

例文

Next, the test disk 30 is mounted in a test object drive, and a testing device inquires of the test object drive, a start position of the middle area, a recording end position of file data, a recordable start position of the disk and a recordable capacity (spare capacity).例文帳に追加

このテストディスク30を検査対象ドライブに装着し、ミドルエリアの開始位置、ファイルデータの記録終了位置、当該ディスクの追記開始位置および追記可能容量(空き容量)を、検査装置から検査対象ドライブに問い合わせる。 - 特許庁

An individual test pattern preparing means 11 prepares a pin information table 15 on the basis of LSI pin assign information 1 and adds pattern data having a pattern in regard to a no-pattern logic pin to a common test pattern 2 for preparing an individual test pattern 7.例文帳に追加

個別テストパターン作成手段11は、LSIピンアサイン情報1に基づいてピン情報テーブル15を作成し、パターンなし論理ピンに対するパターンを有するパターンデータを共通テストパターン2に対し追加して個別テストパターン7を作成する。 - 特許庁

To provide a real time automatic monitoring control system for an artificial satellite test capable of performing data evaluation on a real time basis and improving safety/reliability for a ground test without requiring personnel involved in the ground test to go to the execution place for testing.例文帳に追加

地上試験に関わる人員が試験実施場所に赴むくことなく、リアルタイムでのデータ評価を行い、地上試験の安全性/信頼性の向上を図ることが可能な人工衛星試験リアルタイム自動監視制御システムを提供する。 - 特許庁

When a test pattern is applied to a memory 101 after relieving processing from a test pattern generating section 105, a data input value is converted utilizing defective address information of a fail information storing section 108 in which fail information of a memory at a wafer test.例文帳に追加

テストパターン生成部105からテストパターンを救済処理後のメモリ101に印加する際に、ウエハテスト時のメモリのフェイル情報を格納したフェイル情報格納部108の不良アドレス情報を利用し、データ入力値を変換する。 - 特許庁

ELectronic data of verification object DUT specifications 21, a various DUT specification libraries 26, a test item library 22, a test specification library 27, a verification library 24, a test template group 25, correspondence information 28, and a DUT library 29 are stored in the database part 20.例文帳に追加

データベース部20は、検証対象DUT仕様21、各種DUT仕様ライブラリ26、テスト項目ライブラリ22、テスト仕様ライブラリ27、検証ライブラリ24、テストテンプレート群25、対応情報28、DUTライブラリ29の電子データを格納する。 - 特許庁

When receiving a memory test pattern for a pattern input period, the flash ROM 40 latches the memory test pattern in its inside, and the latched data of memory test pattern are written in a memory cell array for a nonvolatile program period after a lapse of the pattern input period.例文帳に追加

フラッシュROM40は、メモリテストパターンをパターン入力期間に入力すると、これが内部でラッチされ、パターン入力期間経過後の不揮発性プログラム期間において、ラッチされたメモリテストパターンのデータがメモリセルアレイに書き込まれていく。 - 特許庁

When notified through the control channel that the test begins, the end-point node N3 carries out the connectivity verification test, based on whether or not it can receive the verification data through the logical link L1 to be verified, and returns a test result message to the start-point node N1 (steps B7, B8, B9).例文帳に追加

終点ノードN3は、コントロールチャネルを介して試験開始が通知されると、試験対象論理リンクL1を介してデータを受信できたか否かに基づいて、接続性検証試験を行い、試験結果メッセージを始点ノードN1に返す(ステップB7,B8,B9)。 - 特許庁

A mobile station test section of the mobile station automatically test a voice system of a radio channel connected at actual communication among a control station, a base station and the mobile station when the voice system makes no speech and transmits test result data to the control station.例文帳に追加

制御局、基地局、移動局間で実際の通信に接続する無線回線に、移動局の移動局試験部は、音声系が通話しない時に、自動的に音声系に対する試験を行い、試験の結果データを制御局へ送出する。 - 特許庁

To provide an optical measuring device capable of detecting a moving speed of a test piece 3 to change a data sampling interval for a reflected light or a scattered light generated by irradiating the test piece 3 with a measuring light in response to the moving speed of the test piece 3.例文帳に追加

試験片3の移動速度を検知し、試験片3に測定光を照射して発生する反射光または散乱光のデータサンプリング間隔を試験片3の移動速度に応じて変更することのできる光学測定装置を提供する。 - 特許庁

The data conversion method includes steps of: identifying a character string the output as text data of which should be avoided from content data to be processed; converting the identified character string into substitution data other than test data while maintaining the content of the character string; and creating disclosure content data for maintaining a disclosure content of the content data by use of the data other than the character string in the content data and the substitution data.例文帳に追加

本データ変換方法は、処理すべきコンテンツデータからテキストデータとしての出力を回避すべき文字列を特定する工程と、特定された文字列を、当該文字列の内容を維持し、テキストデータ以外の置換データに変換する工程と、コンテンツデータにおける文字列以外のデータと置換データとを用いて、コンテンツデータの公開内容を維持するための公開コンテンツデータを生成する工程とを含む。 - 特許庁

A non-volatile storage means 7 generates correction data at the time of an analog test operation or at the time of periodic inspection, stores correction data corresponding to conversion data and reads correction data corresponding to a request from the input/output controller 51.例文帳に追加

非揮発性記憶手段7は、アナログ試運転時や定検時に補正データを作成し、変換データに対応する補正データを記憶し、入出力制御装置51からの要求に応じる補正データの読出しがされる。 - 特許庁

The correlation data creating part 302 reads block level design data 310, a block level test bench 311, a measuring setting file 312, and a clock-RAM specifying file 313, and creates correlation data 323 as intermediate data.例文帳に追加

相関関係データ作成部302は、ブロックレベル設計データ310、ブロックレベルテストベンチ311、計測設定ファイル312、およびクロック・RAM指定ファイル313を読み込んで、相関関係データ323を中間データとして作成する。 - 特許庁

Accordingly, the memory cell array can operate at the first data transfer rate while allowing the output circuit to output data to an external terminal at the second data transfer rate that is lower than the first data transfer rate, in a test mode of operation.例文帳に追加

これにより、テストモードで、前記メモリセルアレイは前記第1データ転送速度で動作する一方、前記出力回路は前記第1データ転送速度より低い前記第2データ転送速度でデータを前記外部ターミナルに出力しうる。 - 特許庁

A sound model generating device 1 receives phoneme HMM data, needed to generate test data "Hello" for decision from respective sound model DBs and generates cancatenated phoneme data representing an array of "Hello" from the received phoneme data.例文帳に追加

音響モデル生成装置1は、判断用テストデータ「こんにちは」の生成に必要な音素HMMデータを各音響モデルDBから受け取り、受け取った音素HMMデータから「こんにちは」と並べた連結音素データを生成する。 - 特許庁

A testing method includes the steps of: creating design specifications 11 and 12 indicating a plurality of individual specifications and a plurality of common specifications distinguishably; causing a computer to execute the operation of generating test specifications and test data from the design specifications 11 and 12; and testing a program created according to the design specifications 11 and 12 on the basis of the test specifications and test data.例文帳に追加

複数の個別仕様と複数の共通仕様とを判別可能に示す設計書11、12を作成するステップと、設計書11、12に基づいてテスト仕様書とテストデータとを生成する動作をコンピュータに実行させるステップと、設計書11、12に基づいて作成されたプログラムをそのテスト仕様書とそのテストデータとに基づいてテストするステップとを備えている。 - 特許庁

In the past POR processing , accurate test data is written previously in respective recording planes of a magnetic disk with the skewness.例文帳に追加

過去のPOR処理において、予め正確なテスト・データを、スキューをつけて磁気ディスクの各記録面に書き込んでおく。 - 特許庁

To provide a material testing machine which enables even a beginner to distinguish a data failure in an elongation/test force characteristic.例文帳に追加

伸び−試験力特性におけるデータ異常を初心者でも判別できるようにした材料試験機の提供。 - 特許庁

When executing a test of the data memory 2, the selecting means 8 selects the pseudo- command code 7a, and supplies the code to a decoder 6.例文帳に追加

データメモリ2のテスト実行時には、選択手段8は擬似命令コード7aを選択して、デコーダ6へ供給する。 - 特許庁

To provide a system including a non-invasive structure for injecting a test jitter into a data bit stream, and a method thereof.例文帳に追加

データビットストリーム中にテストジッタを注入するための非侵襲的な構造を有するシステムおよび方法の提供。 - 特許庁

To provide a data transmission reception circuit, the test of which for surely warranting its operations in an actual application can be executed.例文帳に追加

実際のアプリケーションでの動作を確実に保証するテストを行なうことができるデータ送受信回路を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for using a single electrical fuse (eFuse) bank in order to preserve test data continuously.例文帳に追加

テスト・データを連続的に保存するために単一の電気的ヒューズ(eFuse)バンクを使用するための装置および方法の提供。 - 特許庁

The station can send messages to the access point during a test period, where the messages can be sent as data frames.例文帳に追加

ステーションは、試験期間の間にアクセスポイントへメッセージを送信でき、ここでは、メッセージをデータフレームとして送信できる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of switching combinations of degenerate data for a degeneration test.例文帳に追加

縮退テスト時の縮退データの組み合わせを切り換えることのできる半導体集積回路を得ることを目的とする。 - 特許庁

A third and final synchronization test is met when a second synchronization word is detected in the received data.例文帳に追加

第3及び最後の同期テストは、第2の同期テスト同期ワードが、受信されたデータで検出される時に満たされる。 - 特許庁

To provide an integrated circuit having an on-chip resource for supporting the test of data stored in an integrated circuit.例文帳に追加

集積回路上に格納されたデータのテストをサポートするためのオンチップ・リソースを有する集積回路を提供する。 - 特許庁

A user does not generate signal data 32 itself through an input device 1, but specifies environmental conditions of a test.例文帳に追加

利用者は、入力装置1から、信号データ32そのものを作成するのではなく、試験の環境条件を指定する。 - 特許庁

After the digital camera 24 completes photo taking, a card reader / writer 37 or a scanner 38 enters test data to the system.例文帳に追加

デジタルカメラ24によって写真撮影終了後、カードリーダ/ライタ37またはスキャナ48によりテキストデータを入力する。 - 特許庁

When the value of the test data DT is increased by one at each time, the analog voltage VA becomes higher than the held voltage VH.例文帳に追加

テストデータDTの値を順次1ずつ増加した場合、保持電圧VHよりもアナログ電圧VAの方か高くなる。 - 特許庁

To flexibly generate a large amount of test data used for verifying a document file retrieval system at low cost.例文帳に追加

文書ファイルの検索システムの検証のために用いられるテストデータを、安価に且つ柔軟に、大量に作成する。 - 特許庁

To provide a control system and the like allowing a communication test of protocol data to be conducted without creating a control instruction program.例文帳に追加

制御指令プログラムを作成することなく、プロトコル・データの交信テストをすることができる制御システム等を得る。 - 特許庁

To shorten a test time for detecting failure in a plurality of data holding circuits mounted in a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置に搭載される複数のデータ保持回路の故障を検出するためのテスト時間を短縮すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device wherein the worst data pattern of a memory cell array can be written even in a contracted/parallel test.例文帳に追加

縮約・パラレルテストにおいてもメモリセルアレイのワーストデータパターンを書き込むことができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The subject 18 is scanned in the given arrangement as substitute for the test object to determine the projection data.例文帳に追加

それから、対象(18)が、試験対象の代わりに、与えられた配置において走査されて、投影データが求められる。 - 特許庁

Therefore, concentration of excessive current to the data output pad can be prevented and stable burn-in test can be realized.例文帳に追加

これにより、データ出力パッドへの過度な電流の集中が防止でき、安定したバーン−インテストを行うことができる。 - 特許庁

Then the maintenance personnel sets a demarcation switch at a point to a LOOP state and a host transmits test data to the demarcation switch.例文帳に追加

次に保守者は、ある地点の分界スイッチ10をLOOPに設定し、ホストから試験用データを送信する。 - 特許庁

Second test data TWD2 is written not only in a second regular memory block MB2 but also in a parity memory block PMB.例文帳に追加

第2試験データTWD2は、第2レギュラーメモリブロックMB2だけでなくパリティメモリブロックPMBにも書き込まれる。 - 特許庁

A control unit 15 detects the evaluation data (jitters or modulation degree) of the reproduced test signal from an RF signal processing section 14.例文帳に追加

制御部15は、RF信号処理部14からの再生テスト信号の評価データ(ジッタや変調度)を検出する。 - 特許庁

A flip flop 21 is provided to store a test data output from the circuit 2 toward the bidirectional terminal.例文帳に追加

組み合わせ回路2から双方向端子に向けて出力されるテストデータを記憶するフリップフロップ21が設けられている。 - 特許庁

An input buffer 12 outputs an output of the phase comparing circuit to a data output terminal in a test mode.例文帳に追加

入出力バッファ12はテストモードにおいて位相比較回路18の出力をデータ出力端子に出力する。 - 特許庁

例文

For example, if the track pitch of the data area 23 is taken as 0.6 μm, the track pitch of the test area 22 is made to be 0.55 μm.例文帳に追加

例えば、データ領域23のトラックピッチが0.6μmとすると、テスト領域22のトラックピッチを0.55μmとする。 - 特許庁




  
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