「Test operation」に関連した英語例文の一覧と使い方(28ページ目) - Weblio英語例文検索

Replacement of the logic constitution or optimization of an operation frequency is performed based on the route delay test result to a target frequency corresponding to connection between the processor elements.例文帳に追加

前記、プロセサエレメント間の接続に対応したターゲット周波数に対する経路遅延テストの結果をもとに、論理構成の入れ替え、あるいは、動作周波数の最適化を行う。 - 特許庁

In bothe modes of the normal operation mode and the test mode, the output buffer 10 is operated and data from the output control circuit 1 is outputted from the output terminal 6.例文帳に追加

通常動作モードとテストモードの両方において、出力バッファ１０を動作させて出力制御回路１からのデータを出力端子６から出力させる。 - 特許庁

To obtain a semiconductor integrated circuit having a redundancy data output function capable of performing a normal/defective condition test on the selection operation of a redundancy output selecting circuit of redundancy output data.例文帳に追加

冗長出力データの冗長出力選択回路の選択動作の良否テストが可能な、冗長データ出力機能を有する半導体集積回路を得る。 - 特許庁

A CCD 44 comprises a test terminal 57 used for confirming the operation of the CCD 44 and a temperature sensor 60 for detecting the temperature of the CCD 44.例文帳に追加

ＣＣＤ４４は、このＣＣＤ４４の動作確認に用いられるテスト用端子５７と、ＣＣＤ４４の温度を検出するための温度センサ６０とを備えている。 - 特許庁

To hold actual data at a secondary site even if a test using a primary site is under execution, and to rapidly synchronize the secondary site with the primary site after resuming operation.例文帳に追加

プライマリサイトを用いたテストを実行中であっても、セカンダリサイトで実データを保持できるとともに、運用再開後にセカンダリサイトをプライマリサイトと迅速に同期させる。 - 特許庁

A test pattern is applied simultaneously to all the semiconductor devices 81 to 84, and the result of the measuring operation is processed.例文帳に追加

ここで、ＡＣパラメトリック試験が終了していないと判定された半導体装置に対しては、次回のパターン印加のタイミングが設定され、パターン印加処理が繰り返し実行される。 - 特許庁

To shorten a test time of a logic circuit part for a control operation in a semiconductor device having a plurality of memory chips of the same configuration disposed in a common package.例文帳に追加

同一構成のメモリチップを共通のパッケージ内に複数個配置した半導体装置において、制御動作を行う論理回路部分のテスト時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a communication control circuit, where an LSI tester can easily conduct the operating test of the communication control circuit, including a PHY(physical layer driver) circuit at a high-speed equal to that in an actual operation.例文帳に追加

ＰＨＹ回路を含む通信制御回路の動作テストをＬＳＩテスタ上で、容易に、実動作と同等の高速動作で行える通信制御回路を提供する。 - 特許庁

To speed up the quality test of the magnetic body patterning and stabilize the servo operation when a magnetic recording medium is loaded in a magnetic recorder.例文帳に追加

磁性体のパターニングの品質検査を高速化するとともに、磁気記録媒体を磁気記録装置に搭載した際のサーボ動作を安定化させることを課題とする。 - 特許庁

To provide a private branch exchange, with which reliability and convenience in operation are improved by automatically and normally recovering the channel when abnormality is confirmed in a channel test.例文帳に追加

通話路試験時に異常を確認すると、通話路を自動的に正常に復旧させ、運用上の信頼性ならびに利便性に優れた構内交換装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for automatically measuring valve open and close time capable of accurately measuring open and close operation time accompanying an open and close test of a main steam stop valve or the like in power generating facilities.例文帳に追加

発電設備における主蒸気止弁等の開閉テストに伴う開閉動作時間を正確に測定し得る弁の開閉時間の自動測定装置を提供する。 - 特許庁

To reduce load on workmen by preventing the occurrence of errors due to operation errors by the workmen in the case of rewriting firmware 15 written in a test unit 4 into another version.例文帳に追加

試験ユニット４に書込まれたファームウエア１５を別バージョンに書換える場合における操作者の誤操作によるエラー発生の防止と作業負荷軽減とを図る。 - 特許庁

To evaluate maintainability and continuity regarding inner control periodically requested to a company, and reduce operation load and cost for test and evaluation process.例文帳に追加

会社が定期的に求められる内部統制について、維持・継続性を評価し、テスト・評価過程の作業負荷・コストの軽減を図る業務プロセス統制テスト計画作成システム。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which erroneous entry for a test mode at the time of ordinary use can be surely prevented and various operation tests can be surely performed at the time of shipping.例文帳に追加

通常使用時におけるテストモードへの誤エントリーを確実に防止しながら、出荷時には各種動作試験を確実に行い得る半導体装置を提供する。 - 特許庁

To execute a scan test mode while holding delay for one stage of latch for operating speed in a mode for fetching input data where high-speed operation is required.例文帳に追加

高速動作が要求される入力データの取り込みモード時の動作速度を、ラッチ１段分の遅延を保ったまま、スキャンテストモードを実行することができるようにする。 - 特許庁

To allow detection of an air leaking point of an air tube when an air leak is recognized in the air tube by performing an operation test of a differential distribution type heat sensor of an air tube type.例文帳に追加

空気管式の差動式分布型熱感知器の作動試験を行って、空気管に漏気が認められた場合、その漏気箇所を検出することができるようにする。 - 特許庁

When an operator inputs a start instruction from an input unit 1, a controller 2 checks if the test operation of an IC tester 4 has paused or not upon receipt thereof.例文帳に追加

オペレータが入力装置１から起動指示を入力すると、それを受けた制御部２がＩＣ試験装置４の試験動作が一時停止中か否かを確認する。 - 特許庁

In test operation, tilt angles of power rollers 6, 6 in one cavity 38b and those of power rollers 6, 6 in the other cavity 38a are made different from each other.例文帳に追加

試験運転時には、一方のキャビティ３８ｂの各パワーローラ６、６の傾転角と、他方のキャビティ３８ａの各パワーローラ６、６の傾転角とを、互いに異ならせる。 - 特許庁

To determine a non-defective product by simplifying an operation confirmation to test an analog-to-digital converter, and externally variable changing a comparison accuracy to meet a circumferential condition at inspection.例文帳に追加

Ａ／Ｄ変換器の試験にあたり、動作確認を簡素化し、検査時の周囲条件に合わせて比較精度を外部から可変できるようにし、良品判定を容易にする。 - 特許庁

November, 1996: The voltage of the overhead wiring of the Ishiyama-Sakamoto Line was increased from 600V to 1500V at midnight, when no trains ran during the time between the last train and the first train, and the test operation of model 800 electric cars commenced (it continued until July of the following year). 例文帳に追加

1996年（平成8年）11月-終電～始発間の深夜に石山坂本線の架線電圧を600Vから1500Vに昇圧し、800系電車の試運転開始（翌1997年7月まで）。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To provide a driver monolithic liquid crystal panel which is excellent in resistance to static electricity trouble and exactly conducts test of operation during manufacture and a simple method for manufacturing the same.例文帳に追加

静電気トラブル耐性に優れ、製造中に動作検査を的確に行うことが可能なドライバーモノリシック液晶パネルと、その簡便な製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an information processing device and an image formation device capable of easily executing test printing and real printing without executing a complicated operation.例文帳に追加

煩雑な操作を実行することなく簡易にテスト印刷および本番印刷を実行することが可能な情報処理装置および画像形成装置を提供する。 - 特許庁

Thereby, a dynamic coupling noise is given to the TTRAM, or acceleration test of erroneous operation at the data read and data write can be performed and so on.例文帳に追加

これによって、ダイナミックなカップリングノイズをＴＴＲＡＭに与えたり、データ読出およびデータ書込時におけるの誤動作の加速試験を行なったりすることができる。 - 特許庁

At the time of verifying a high speed operation logic circuit, a high speed test pattern is inputted as the input data 6 for setting register directly from a bypass signal 5 to the selector section 2.例文帳に追加

一方、高速動作論理回路検証時には、レジスタ設定用入力データ（６）としての高速テストパターンをバイパス信号（５）からセレクタ部（２）へ直接に入力する。 - 特許庁

To provide a signal generating device which intermittently outputs a variety of discrete signals for easily performing confirmation operation of an electronic circuit or a verification test without extra costs.例文帳に追加

電子回路の動作の確認や検証試験を容易にかつコストをかけずに行える間欠的に多様な非連続信号を出力する信号発生装置を提供する。 - 特許庁

In a fifth step, the test pattern of the semiconductor memory in which reappearance of the occurrence of defective operation is confirmed is incorporated in the evaluation pattern of the semiconductor memory of the semiconductor memory tester.例文帳に追加

第５ステップでは、動作不良発生の再現が確認された半導体メモリへのテストパターンを半導体メモリテスタの当該半導体メモリの評価パターンに組み込む。 - 特許庁

To reduce the power consumption of a logic circuit by making its clock gated, and to improve observability of a control circuit which outputs a clock enable signal in a scan test operation.例文帳に追加

ゲーテッドクロック化により、論理回路の消費電力を低減するともに、スキャンテスト時において、クロックイネーブル信号を出力する制御回路の観測性を向上させる。 - 特許庁

To provide a medical apparatus connection emulator system executing a connection test allowing rapid coping when finding a problem at low cost, without disturbing operation on the spot.例文帳に追加

現地での運用を妨げることなく、問題を発見した場合には迅速に対応可能な接続試験を低コストで実行する医用機器接続エミュレータシステムの提供。 - 特許庁

To provide semiconductor integrated circuits which can be driven by respectively different power supply voltages in accordance with manufacturing dispersion, and provide a test method for guaranteeing the operation.例文帳に追加

製造ばらつきに応じて異なる電源電圧で動作させることが可能な半導体集積回路およびその動作を保証するための試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system LSI having the function capable of rightly reading data of an external device when performing a high-speed test with a clock signal higher in speed than in general operation.例文帳に追加

通常動作時よりも高速なクロック信号で高速試験を行う時に、外部装置のデータを正しく読み込むことができる機能を備えたシステムＬＳＩを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of performing an operation test of an internal circuit such as a ROM by a simple means by using a pulse having a narrower pulse width than a system clock.例文帳に追加

ＲＯＭなどの内部回路の動作試験を簡便な手段で、システムクロックよりもパルス幅の狭いパルスなどを用いて行える半導体装置を提供する。 - 特許庁

The energy source 26 of a thermal tissue operation system 10 executes self test by using the simulation heating element and jaw heating element of the tissue grasping jaws 14 and 16 of a handpiece 12.例文帳に追加

熱組織手術システム１０のエネルギ源２６が、ハンドピース１２の組織把持ジョー１４、１６のシミュレーション加熱素子およびジョー加熱素子を用いて自己診断を実施する。 - 特許庁

To provide a correlation and demodulation circuit for a receiver for a signal modulated with a code that can reduce a test time representing the circuit operation to the utmost.例文帳に追加

回路の動作を表す試験時間を可能な限り低減することができる、コードによって変調された信号に対する受信器の相関および復調回路を提供する。 - 特許庁

Deterioration of the semiconductor device can be predicted with high accuracy by separating off-stress and on-stress in the AC stress test assuming the CMOS operation.例文帳に追加

またＣＭＯＳ動作を想定したＡＣストレス試験においてオフストレスやオンストレスを分離することにより、半導体装置の劣化予測を高精度で行うことができる。 - 特許庁

A net list simulation means inputs the working rate calculation test pattern of the gate and a net list edited for operation rate calculation, and calculates the working rate data of the gate.例文帳に追加

ネットリストシミュレーション手段は、ゲートの動作率算出用テストパタンと動作率算出用に編集されたネットリストを入力し、ゲートの動作率データを算出する。 - 特許庁

To provide an operator safety testing apparatus capable of performing safety test of an operator who solely performs an operation at an indoor working place by image processing.例文帳に追加

画像処理により屋内作業場所において単独作業を行う作業者の安全検査を行うことができる作業者安全検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide the operation system of study data which includes the preparation mode of test questions for attaining a remarkable learning effect while improving the efficiency of preparing the questions.例文帳に追加

問題作成の効率化を図る一方で、顕著な学習効果を得ることを可能とするテスト問題の作成態様を含む学習データの運用システムを提供する。 - 特許庁

To achieve the improvement of the debugging efficiency of program components including macro description by providing an environment for achieving the efficiency of the unit test operation of ladder program components including macro.例文帳に追加

マクロを含むラダープログラム部品の単体テスト作業を効率化する環境を提供し、マクロ記述を含むプログラム部品のデバッグ効率の向上を実現すること。 - 特許庁

To provide an operation test system of a protective relay system capable of easily and accurately measuring the action time of a plurality of protective relays.例文帳に追加

本発明の目的は複数の保護リレーの動作時間測定を簡便かつ正確に行なうことができる保護継電装置の動作試験装置を提供することにある。 - 特許庁

Then, the host 4 collates the error code with maintenance information and returns fault analysis program and on the basis of that program, the laundry equipment control part carries out test operation.例文帳に追加

すると、ホスト４は、エラーコードとメインテナンス情報とを照合して故障解析プログラムを返信し、それに基づいてランドリー機器制御部はテスト運転を実行する。 - 特許庁

An input clock CI is divided by a dividing means 101 to generate a divided clock Cn used for an actual operation and a testing clock TC used for the test.例文帳に追加

入力クロックＣＩを分周手段１０１により分周して実動作に用いる分周クロックＣｎと試験時に用いる試験用クロックＴＣを生成する。 - 特許庁

The device for testing the semiconductor integrated circuit includes a pattern data generating means which generates test pattern data for testing a write operation in a memory of the semiconductor integrated circuit; and a write means which writes the test pattern data into a storage area of the semiconductor integrated circuit for storing the test pattern data.例文帳に追加

上記課題は、半導体集積回路のメモリへの書き込みを試験するための試験パタンデータを生成するパタンデータ生成手段と、前記試験パタンデータを前記半導体集積回路の該試験パタンデータを格納する記憶領域へ書き込む書き込み手段と、を有することを特徴とする半導体集積回路の試験装置により達成される。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device for driving a magnetic recording and reproducing device and a magnetic recording and reproducing device, where the circuit device can be put into a test mode by inputting a test signal for putting each function of the semiconductor integrated circuit device into the test mode to a terminal to be used at ordinary operation.例文帳に追加

半導体集積回路装置の各機能のテストモードにするためのテスト信号を通常動作時に使用される端子に入力することによって、半導体集積回路装置をテストモードにすることのできる磁気記録再生装置ドライブ用半導体集積回路装置及び磁気記録再生装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

In this scan test circuit device, an initialization reset means performs in a scan mode, initialization reset in the integrated circuit constituted of a combination circuit 11 and scan test circuits S1 to Sn+m, and D-FF-1 to D-FF-n+m, based on an initialization reset signal CL synchronized with a scan clock pulse CK for performing operation of a scan test.例文帳に追加

本発明のスキャンテスト回路装置では、初期化リセット手段は、スキャンテストの動作を行うスキャンクロックパルスＣＫと同期する初期化リセット信号ＣＬに基づいて、組み合わせ回路１１と、スキャンテスト回路Ｓ１〜Ｓｎ＋ｍおよびＤ−ＦＦ−１〜Ｄ−ＦＦ−ｎ＋ｍにより構成される集積回路内の初期化リセットをスキャンモードにより行う。 - 特許庁

An interface enables verifying of incorporating memory-macro design using a test interface, the test interface enables that an input signal from a tester of a half rate and a narrow word performs all memory macro- operation over width of a wide memory-macro input/output architecture (I/O) by comprising an on-chip test circuit being separated from a memory-macro.例文帳に追加

インターフェイスは、テストインターフェイスを用いて組込みメモリマクロ設計の検証を可能にし、該テストインターフェイスはメモリマクロと別々のオンチップテスト回路を含むことにより、ハーフレートで狭いワードのテスタからの入力信号が、広いメモリマクロ入力／出力アーキテクチャ（「Ｉ／Ｏ」）の幅をわたってすべてのメモリマクロ動作を行なうことを可能にする。 - 特許庁