| 意味 | 例文 |
Test operationの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2158件
To provide an electrode and a working electrode substrate which can detect a test substance with high reproducibility and a manufacturing method of obtaining the electrode with a simple operation.例文帳に追加
高い再現性で、被検物質を検出することができる電極及び作用電極基板並びに簡便な操作で前記電極を得ることができる製造方法を提供する。 - 特許庁
To carry out the performance test of the earthquake control operation for each of a plurality of elevators connected to one earthquake sensor.例文帳に追加
一つの地震感知器に接続された複数台のエレベーターにつき、地震管制運転の動作試験を一台毎に行うことを可能にしたエレベーターの地震管制運転動作試験システムの提供。 - 特許庁
To prevent that erasure operation is carried out in each nonvolatile semiconductor memory device unnecessarily when erasure test is carried out for a plurality of nonvolatile semiconductor memory devices simultaneously.例文帳に追加
複数の不揮発性半導体記憶装置を同時に消去試験する場合に、不揮発性半導体記憶装置の各々において消去動作が必要以上に実施されることを防止する。 - 特許庁
To provide an index head of a semiconductor element test handler which quickly controls the pressing force and the temperature of a semiconductor element to smoothly position and arrange it, thereby quickly performing the index operation.例文帳に追加
半導体素子の加圧力及び温度をすみやかに制御し、円滑な位置整列ができ、インデックスの動作を早くできる半導体素子テストハンドラーのインデックスヘッドを提供する。 - 特許庁
The testing circuit 14 includes a variable ring oscillator, performs a series of parameter tests at a nominal operation frequency of the integrated circuit, and transmitting a test result to the testing unit 12 for analysis.例文帳に追加
試験回路14は、可変リング発振器を含み、集積回路の公称動作周波数での一連のパラメータ試験を実行し、試験結果を分析のために試験ユニット12に送信する。 - 特許庁
To obtain a signal processor capable of simultaneously observing an output signal and an evaluation signal at normal operation and not needing to provide a special purpose test terminal for obtaining the evaluation signal.例文帳に追加
通常動作時の出力信号と、評価信号とを同時に観測することができ、しかも、評価信号を得るための専用のテスト端子を設ける必要のない信号処理装置を得る。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit which can easily detect short circuit failure of a switch for supplying an operation voltage to a logic circuit, and to provide a test method for the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加
論理回路に動作電圧を供給するスイッチのショート不良を容易に検出することが可能な半導体集積回路、および、半導体集積回路検査方法を提供する。 - 特許庁
By collating the output of the comparator CMP with expected-value data 11, it is possible to test whether the operation of switching gain control signals to each amplifier is normal or anomalous.例文帳に追加
コンパレータCMPの出力を期待値データ11と照合することで、各アンプに対するゲイン制御信号の切り換え動作が正常であるか、異常であるかをテストすることが可能になる。 - 特許庁
Signals SO outputted from scan chains of logic circuits 12 of memory chips MC1 and MC2 during the test operation are simultaneously outputted from respective data output terminals 4a and 4b.例文帳に追加
テスト動作時にメモリチップMC1,MC2の各論理回路12のスキャンチェーンから出力される信号SOは、それぞれのデータ出力端子4a,4bから同時に出力される。 - 特許庁
To make performable communication tests of group communication as well as individual communication and to enable an operation center to tolalize test results when communication tests are performed on different date and hours.例文帳に追加
個別通信だけでなくグループ通信の通信試験も行えるようにし、かつ異なる日時で通信試験を行ったとき、試験結果を司令センタで集計できるようにする。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory in which influence of a noise caused by simultaneous operation of plural output buffers can be confirmed in a test mode and reliability can be improved.例文帳に追加
複数の出力バッファが一斉に動作する事に伴うノイズの影響をテストモードにおいて確認でき、信頼性の向上を図り得る半導体記憶装置を提供することにある。 - 特許庁
In an operation confirmation test of the analog-to-digital converter for comparing an input voltage with a reference voltage, another reference voltage having a different voltage value is utilized instead of the input voltage.例文帳に追加
参照電圧と入力電圧とを比較するA・Dコンバータの動作確認テストにおいて、入力電圧に代わって、電圧値の異なる別の参照電圧を利用する。 - 特許庁
Accordingly, such a troublesome operation that a large-sized machine and materials such as a hydraulic pump is carried in and out of an installation site for the speed governor 4 when the abnormality detection operational test of the speed governor 4 is performed can be eliminated.例文帳に追加
このため、調速機4の異常検出動作試験時に油圧ポンプ等の大形機材を調速機4の設置現場に搬出入する煩雑な作業を省くことができる。 - 特許庁
A developer sets a recording trigger event (specific operation or the like) which seems to be beneficial for the specification of the occurrence of any defect and an observation object (input/output or the like) prior to a test.例文帳に追加
開発者は、試験前に不具合発生の特定に有用であると思われる記録契機事象(特定の操作など)と観察対象(入出力など)とを設定しておく。 - 特許庁
To provide a probing apparatus that is capable of reducing the time period (maximum of five hours) when the production test is unable to be carried out by using adaptation of the probing apparatus, and to provide an operation method for such a probing apparatus.例文帳に追加
プローバ装置の順応化によって、生産試験を行うことが出来ない時間(最大5時間)を、短縮することができるプローバ装置及びその操作方法を提供する。 - 特許庁
For setting the sorting performance Pon2Las, a component after use for the first period W1 is subjected to an accelerated degrading test for a second period W2, and the operation performance Pon2, V2 is measured.例文帳に追加
選別性能Pon2Lasを設定するために、第1期間W1の使用後の部品に、第2期間W2の促進劣化試験を行い、この動作性能Pon2,V2を測定する。 - 特許庁
To provide a reaction control simulator of a fuel gas of a fuel cell to carry out a reaction test of the fuel gas necessary at operation in place of a solid oxide fuel cell.例文帳に追加
固体酸化物燃料電池に代わって運転時に必要な燃料気体の反応テストを実施する燃料電池の燃料気体の反応制御模擬装置を提供する。 - 特許庁
A remote diagnostic signal is inputted from the managing device 15 to a remote operation control means 19, and a photosensitive drum 1 and respective process units are operated to form a test pattern on a recording material P.例文帳に追加
管理装置15から遠隔診断信号を遠隔動作制御手段19に入力して感光ドラム1、各プロセス機器を動作させて記録材P上にテストパターンを形成させる。 - 特許庁
In this method, mass and a Z position of the mass which are required to add to the system to statically balance and dynamically balance the system are determined in trial run and test operation.例文帳に追加
試運転及び試験運転により、システムの静的バランス及び動的バランスを取るために該システムに追加する必要のある質量及び該質量のZ位置が決定される。 - 特許庁
While, at operation test time, read/write to either one of a pair cell can be made by activation of desired one line from word lines WL1 to WL6.例文帳に追加
一方、動作試験時においては、ワード線WL1〜WL6のうち、所望の1本を活性化することにより、ペアセルのうち、何れか一方に対してのみ読み書きを可能とする。 - 特許庁
Signals IN 1 to IN M at a logic value '0' or '1' for a test operation are input to the input ends of a core 31 (an internal logic) from external terminals on the input side of an FB 30.例文帳に追加
FB30の入力側の外部端子から試験動作のための論理値「0」又は「1」の信号IN_1…Mが、コア部31(内部ロジック)の入力端に入力される。 - 特許庁
To provide a memory rest circuit for which a test time can be shortened, which can be tested with actual operation speed, and of which testability can be improved as compared with the conventional one.例文帳に追加
メモリーに対するテスト時間を短縮するとともに、メモリーをその実動作速度でテストすることができ、従来に比べてテスタビリティを向上させることができるメモリーテスト回路を提供する。 - 特許庁
The optical disk recording and reproducing device constituted to perform the operation to set the laser output by recording test signals in a trial writing region disposed on the inner peripheral side of the disk 1 and to record the signals in a signal recording region by the set laser output performs the operation to set the laser output by performing the operation to record the test signals in the signal recording position of the signal recording region.例文帳に追加
ディスク1の内周側に設けられている試し書き領域にテスト信号を記録することによってレーザー出力の設定動作を行うとともに設定されたレーザー出力によって信号記録領域に信号を記録するように構成された光ディスク記録再生装置において、信号記録領域の信号記録位置にてテスト信号の記録動作を行うことによりレーザー出力の設定動作を行う。 - 特許庁
Of SCAN test circuits implementing scan test in semiconductor integrated circuits, the SCAN test circuit is characterized by generating scan cell enable signal of a plurality of timings from a scan enable external input signal and controlling formation of a launch clock and a capture clock for detecting delay failure from real operation speed based on the scan cell enable signal of the plurality of timings.例文帳に追加
半導体集積回路におけるスキャンテストを行うSCANテスト回路であって、スキャンイネーブル外部入力信号から複数タイミングのスキャンセルイネーブル信号を生成し、上記複数タイミングのスキャンセルイネーブル信号により、実動作速度による遅延故障検出のためのラウンチクロック及びキャプチャクロックの生成が制御されることを特徴とするSCANテスト回路を開示する。 - 特許庁
The semiconductor testing device including the top plate in contact with a prober, and a test head body for supporting the top plate in the floating state, also includes a fixing means provided between the top plate and the test head body, for fixing the top plate and the test head body after bonding operation between the prober and the top plate.例文帳に追加
プローバに接するトッププレ−トと、このトッププレ−トをフローティング支持するテストヘッド本体とを具備する半導体試験装置において、前記トッププレ−トと前記テストヘッド本体との間に設けられ前記プローバとトッププレ−トとの結合動作後に前記トッププレ−トと前記テストヘッド本体とを固定する固定手段を具備したことを特徴とする半導体試験装置である。 - 特許庁
In the protective relay 1, a processing unit 11 inputs a digital signal of a DC voltage which is converted from an AC voltage of the power transmission system L1 from an analog/digital converter A/D, inputs an output voltage of an AC from a power supply unit 15, and inputs inspection data (test current, test voltage and operation time) from a test device 2 which is connected at inspection via an external interface 14.例文帳に追加
保護継電器1において、処理部11は、アナログデジタル変換器A/Dから送電系統L1の交流電圧を変換した直流電圧のデジタル信号を入力し、電源ユニット15から直流の出力電圧を入力し、点検時に接続される試験装置2から外部インタフェース部14経由で点検データ(試験電流、試験電圧、動作時間)を入力する。 - 特許庁
Many block selecting circuits CBS0-CBSn are selected by test block signals ST0-STn from a test block specifying means 1 activated at the time of test access operation comparing with the block selecting circuits CBS0-CBSn selected by the column block addresses CAq-CAq+k, thus more column blocks CB0-CBn can be activated.例文帳に追加
試験アクセス動作時に活性化される試験ブロック指定手段1からの試験ブロック信号ST0乃至STnによりコラムブロックアドレスCAq乃至CAq+kで選択されるブロック選択回路CBS0乃至CBSnに比して多数のブロック選択回路CBS0乃至CBSnが選択され、より多数のコラムブロックCB0乃至CBnを活性化することができる。 - 特許庁
To reduce the cost and size while enhancing regeneration efficiency of a motor drive for driving an AC motor and having a function for regenerating excessive energy during brake operation as electric energy, a load test supporting device for setting predetermined load test conditions to these AC motor and motor drive and a generator driven through the AC motor entirely or partially, and a load test device for achieving the load test.例文帳に追加
本発明は、交流モータを駆動し、制動時における余剰のエネルギーを電気エネルギーとして回生する機能を有するモータ駆動装置と、これらの交流モータおよびモータ駆動装置と、この交流モータによって駆動される発電機との全てまたは一部に所定の負荷試験の条件を設定する負荷試験支援装置と、その負荷試験を実現する負荷試験装置とに関し、回生の効率の向上に併せて、低廉化および小型化が図られることを目的とする。 - 特許庁
When performing the test involving the configuration change, the number of virtual machines required in an unprocessed configuration variation of a plurality of configuration variations is specified, the number of the virtual machines is reflected, the operation system of the virtual system and the virtual machine to be added to the operation system are arranged, and thereby, the test system regarding the unprocessed configuration variation is established.例文帳に追加
構成変更を伴うテストを実施する際には、複数の構成バリエーションのうち未処理の構成バリエーションにおいて必要な仮想マシンの台数を特定し、当該仮想マシンの台数を反映させた形で、仮想システムの運用系システムと当該運用系システムに追加すべき仮想マシンとを配備することによって上記未処理の構成バリエーションについてのテスト系システムを構築する。 - 特許庁
The selection signal generating circuit activates one signal out of selection signals corresponding to each of word line voltage in accordance with an external selection code signal for specifying word line voltage used for an external instruction signal indicating a test operation mode and word line voltage used for the memory device during the test operation mode for discriminating whether the word line voltage has a required level or not.例文帳に追加
選択信号発生回路は、ワードライン電圧が要求するレベルを有するか否かを判別するためのテスト動作モードの間に、テスト動作モードを示す外部命令信号及び前記メモリ装置に使用されるワードライン電圧を指定するための外部選択コード信号に応じてワードライン電圧の各々に対応する選択信号のうちの1つを活性化する。 - 特許庁
In an image formation engine which can be loaded both in an image forming apparatus with the predetermined function and in the other image forming apparatus without the predetermined function, before function information related to whether or not it has the predetermined function is received from a printer controller 201, if an indication of the operation test is inputted, the operation test is carried out by a safe transfer mode.例文帳に追加
所定の機能を有する画像形成装置と所定の機能を有しない他の画像形成装置との双方に搭載可能な画像形成エンジンにおいて、プリンタコントローラ201から所定の機能を有するか否かに関連する機能情報を受信する前に、動作テストの指示が入力された場合には、無難な搬送モードにて動作テストを実行する。 - 特許庁
To provide an information processing system, server device, information processor, and their control method enabling an operation checker to select a specific server from among a plurality of servers on a load balancing system and to accept a request for a server test or operation monitoring.例文帳に追加
サーバテストや動作監視等のために、動作確認者が、負荷分散システム上の複数サーバの中から特定のサーバを容易に選択してリクエストに応じさせることができる情報処理システム、サーバ装置、情報処理装置及びそれらの制御方法を提供する。 - 特許庁
A mode determination circuit 22 determines the operation mode to the rewrite mode when each level of the operation mode selecting terminal T1 and a test mode transition enable terminal MD0, where a latch circuit L1 is latched when a reset signal becomes inactive, is L and H respectively.例文帳に追加
モード決定回路22は、リセット信号が非アクティブになったときにラッチ回路L1がラッチした動作モード選択端子T1およびテストモード遷移イネーブル端子MD0の各レベルがそれぞれL,Hである場合に、動作モードを書換えモードに決定する。 - 特許庁
If the switch device 1 is not in the operation position and the test position, i.e. while the switch device is pushed in and pulled out, the interlock contact S1 is turned off, and the operation position indicating lamps R3, R4 are turned off regardless of an on/off state of the position limit switch LS3.例文帳に追加
開閉機器1が運転位置及び試験位置の何れでもない場合、つまり開閉機器を出し入れしている最中はインターロック接点がオフとなって位置リミットスイッチLS3のオン/オフ状態に係わらず各表示ランプR3,R4が消灯状態となる。 - 特許庁
A test pattern converter 26 reads data for conversion out of the conversion library for CPU series according to a CPU series name inputted from an operation part 25 and reads data for conversion out of the parameter file for product according to a type number inputted from the operation part 25.例文帳に追加
テストパタンコンバータ26は、操作部25から入力されたCPUシリーズ名に基づいてCPUシリーズ用変換ライブラリから変換用データを読み出し、また、操作部25から入力された型番に基づいて、製品用パラメータファイルから変換用データを読み出す。 - 特許庁
The completion of the test cycle is determined by measuring the time period of at least the same length as the longer time required for detecting the normal operation of the system to be monitored and the malfunctional operation of the system to be monitored.例文帳に追加
テストサイクルの完了は、被監視システムの正常動作を検出するために必要な時間と、被監視システムの動作不良を検出するために必要な時間の、より長い方の時間と少なくとも同じ長さの期間を時間計測することによって判断される。 - 特許庁
To provide a signal continuity test system that confirms an operation of an ATM terminal including a processing operation from an ATM layer up to a host AAL layer and channel quality of an ATM channel between ATM terminals connected oppositely each other to the ATM channel.例文帳に追加
ATM回線に接続され対向するATM端末装置間で、ATMレイヤより上位のAALレイヤまでの処理動作を含むATM端末装置の動作と、ATM回線の回線品質を確認するための信号導通試験方式を提供する。 - 特許庁
For the purpose of returning a system to a regular operation state after the test is terminated, the backup memory 3 storing switching information in the regular operation state is selected by backup memory control part 4, and switching information of the backup memory 3 is transferred to the switching information storage memory 5.例文帳に追加
試験終了後通常運用状態へ戻すため、通常運用状態のスイッチング情報を格納しているバックアップメモリ3をバックアップメモリ制御部4により選択し、そのバックアップメモリ3のスイッチング情報をスイッチング情報格納メモリ5に転送する。 - 特許庁
When a test operation is performed, the memory divides the n-bit data output pins into eight groups to make the groups correspond to respective area in the memory, when a failure memory cell is relieved, failure relieving operation is performed for each memory area corresponding to data output pins of the eight groups.例文帳に追加
メモリはテスト動作時にnビットデータ出力ピンを8個のグループに分割して内部のメモリ領域に対応させ、欠陥メモリセルを欠陥救済する場合、8個のグループのデータ出力ピンに対応するメモリ領域別に欠陥救済動作を行う。 - 特許庁
A test script correction part 13 corrects a moving original side screen element and a moving destination side screen element corresponding to a cursor moving operation according to a changed application when the objective application is changed, and instructs the retrieval of a cursor moving procedure to an operation control means 14.例文帳に追加
対象アプリケーションが変更されると、テストスクリプト修正手段13は、カーソル移動操作に対応する移動元画面要素と移動先画面要素を変更アプリケーションに合わせて修正し、カーソル移動手順の探索を操作制御手段14に指示する。 - 特許庁
To provide a motor control circuit that can prevent the erroneous operation of a motor that likely occurs at the start of a power supply, in the motor control circuit for controlling the drive and the stop of the motor, and a durability test device for an endoscope operation part provided with the motor control circuit, the motor and a jig.例文帳に追加
モータの駆動および停止を制御するためのモータ制御回路及び、モータ制御回路とモータと治具を備えた内視鏡操作部耐久試験装置において、電源の起動時に起こりうるモータの誤動作を防止可能なものを提供する。 - 特許庁
By the inside RAS guarantee signal generating circuit 56, the inside RAS guarantee signal RASLOCK is activated until the lapse of specified period to guarantee the restoring operation in a normal operation mode, and the inside RAS guarantee signal RASLOCK is inactivated in the test mode.例文帳に追加
内部RAS保証信号発生回路56は、通常動作モード時、リストア動作を保証する所定期間が経過するまで内部RAS保証信号RASLOCKを活性化し、テストモード時は、内部RAS保証信号RASLOCKを不活性化する。 - 特許庁
To provide an image forming method in which error is prevented in an adjusting operation (copy) using an original other than a given test chart when a servicing person executes the adjusting operation, the waste of consumables is kept down and in which down sizing of production cost and an apparatus are possible.例文帳に追加
サービスマンが調整作業を実施する際に,所定のテストチャート以外の原稿を使用した間違った調整作業(コピー)を防止し,消耗品の浪費を抑え得る画像形成方法であって,生産コスト及び装置の小型化が可能なものを提供すること。 - 特許庁
To provide a testing method capable of checking the characteristic of a DLL circuit resulting from an internal operation of an integrated circuit device having a built-in DLL circuit, and to provide an integrated circuit device allowing the test.例文帳に追加
DLL回路を内蔵する集積回路装置の内部動作に起因するDLL回路の特性をチェックできる試験方法及びかかる試験ができる集積回路装置を提供する。 - 特許庁
To provide a magnetic resonance imaging apparatus allowing high-accuracy positioning operation of a desired imaging face of a heart as reducing burdens on a test subject and an operator of an MRI apparatus.例文帳に追加
被検体とMRI装置の操作者双方の負担を軽減したまま、高精度に心臓の所望の撮像面の位置決め操作を行うことができる磁気共鳴イメージング装置を提供する。 - 特許庁
An evaluation following actual operation is therefore ensured by implementing an evaluation test while keeping the process chamber P and the vacuum chamber R at atmospheric pressure, so that it is possible to sharply save a labor of an adjustment.例文帳に追加
従って、プロセス室Pと減圧室Rとを大気圧に維持したままで評価試験を行うことで、実動作時に即した評価を行えるため、調整の手間を格段に省くことができる。 - 特許庁
In performing the operation test of a resolution converting part 21, the resolution of pseudo input picture data ina are converted by a resolution converting part 21, and a resolution converted result S21 is outputted from the resolution converting part 21.例文帳に追加
解像度変換部21の動作テストを行う場合、擬似入力画像データinaは、解像度変換部21で解像度が変換され、該解像度変換部21から解像度変換結果S21が出力される。 - 特許庁
A leakage test circuit 35 is connected to between the terminal V and the terminal E to check the operation of a ground-fault circuit interrupter and comprises a series circuit in which a thyristor 39 and a manual switch 19 are connected in series.例文帳に追加
漏電テスト回路35は、漏電遮断器の動作を確認するため端子Vと端子Eとの間に接続され、サイリスタ39と、手動スイッチ19とが直列に接続された直列回路を備えている。 - 特許庁
Under a secondary distortion characteristic calibration mode, during supply of the first test signal to the receiving mixer, the calibration circuit 42 varies an operation parameter of the receiving mixer to calibrate secondary distortion characteristics into the best state.例文帳に追加
2次歪特性校正モードでは、第1テスト信号の受信ミキサへの供給の間に、校正回路42は受信ミキサの動作パラメータを可変して2次歪特性を最良の状態に校正する。 - 特許庁
By displaying the line test data and the reception level reported from the slave station on a display device, the master station can recognize details of a line condition of the slave station without stopping the operation of this communication system.例文帳に追加
親局は、子局から通知された回線試験データと受信レベルを表示装置に表示することにより、通信システムの運用を停止せずに子局の回線状態の詳細を把握可能である。 - 特許庁
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